「Test operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

To solve the problem it is difficult to confirm whether there is a sufficient time difference between pieces of timing where the output of routes in a competitive relationship is connected to a common later-stage circuit in a normal operation test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の通常の動作テストで、競合関係にある経路の出力が共通の後段回路に接続されるタイミング間に十分な時間差があるか否かを確認することは難しい。 - 特許庁

An operation part 53 calculates a wave at a pile head from the measured wave measured in the dynamic load test as an input wave into a pile model by the characteristic curve method using an introduction position of the input wave as a pile head.例文帳に追加

演算部５３は、入力波の導入位置を杭頭とした特性曲線法による杭モデルへの入力波として、動的載荷試験において計測された計測波から杭頭での波を計算する。 - 特許庁

A microphone unit 10 is installed within an airfield, and window areas Wa-Wc are specified individually for each zone that may become a noise generation source such as a parking area 20, a taxing path 30, an engine test operation area 60 or the like.例文帳に追加

飛行場内にマイクロホンユニット１０を設置し、駐機エリア２０やタクシング路３０、エンジン試運転エリア６０等の騒音発生源となる区域ごとに窓領域Ｗａ〜Ｗｃを個別に規定する。 - 特許庁

The signal generating section 2 activates an ICLKBK signal 105 as an ICLKB signal 106 in a normal operation mode, and activates the ICLKB signal 105 as an ICLKBT signal 107 in a test mode.例文帳に追加

信号生成部２は、通常動作モード時にＩＣＬＫＢ信号１０５をＩＣＬＫＢＫ信号１０６として活性化し、テストモード時にＩＣＬＫＢ信号１０５をＩＣＬＫＢＴ信号１０７として活性化する。 - 特許庁

To provide an optical transmission device which suitably compensate for operation point variation of an optical modulator without causing a deterioration in the phase-modulated optical signal, and to provide an optical test device having the device.例文帳に追加

位相変調光信号の劣化を生ずることなく、光変調器の動作点変動を適切に補償し得る制御を行うことができる光送信装置、及び当該装置を備える光試験装置を提供する。 - 特許庁

And an external command of the discriminating circuit 31 is a mode register set command, the circuit 31 discriminates whether an illegal pattern of a normal operation test mode of external memory address signals A0-An is inputted or not, and outputs a discrimination signal SGX.例文帳に追加

そして、判定回路３１は、外部コマンドがモードレジスタセットコマンドであって、外部メモリアドレス信号A0〜Anが通常動作テストモードのイリーガルパターンが入力されたか否か判定して、判定信号SGXを出力する。 - 特許庁

To provide a console input keyboard device capable of automating key input operations to each event to be generated by a maintenance work of a UNIX (registered trademark) server system device and an operation work of a system test, etc.例文帳に追加

ＵＮＩＸ（登録商標）サーバーシステム装置の保守作業、システム試験のオペレーション作業などで発生するそれぞれの事象に対するキー入力操作を自動化できるコンソール入力キーボード装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tag creation system and a tag creation method that enable the creation and easy recognition of an action tag for the management of safety action and the like, in operation such as repair, maintenance inspection and test on the equipment of a power plant or the like.例文帳に追加

発電プラント等の機器の補修や保守点検、試験等の作業の際、安全処置等を管理するための処置タグを作成し、容易に確認可能なタグ作成システムおよびタグ作成方法。 - 特許庁

Therefore, it is characterized in that a device includes a cell array including many memory cells, a BIST block performing BIST operation for the cell array, a BISR block performing BISR operation for the cell array, and an instruction decoder generating a first control signal selecting BIST operation by the BIST block or a test by the external tester and a second control signal controlling BISR operation by the BISR block.例文帳に追加

このため、多数のメモリセルを含むセルアレイと、前記セルアレイに対するＢＩＳＴ動作を行なうＢＩＳＴブロックと、前記セルアレイに対するＢＩＳＲ動作を行なうＢＩＳＲブロックと、前記ＢＩＳＴブロックによるＢＩＳＴ動作又は外部テスタによるテストを選択する第１の制御信号、及び前記ＢＩＳＲブロックによるＢＩＳＲ動作を制御する第２の制御信号を発生する命令ディコーダとを含むことを特徴とする。 - 特許庁

In a printing control part, a test printing mode is provided whereby a solid image is printed as a test image to one side surface of the recording paper (process in step 4 is carried out), and a predetermined mark is printed to a specific position which passes a printing position at the time of the switching operation of the one side surface (processes in step 8 and step S9 are carried out).例文帳に追加

プリント制御部において、記録紙の一側面にテスト画像としてベタ画像を印刷する（ステップ４の処理を実行する）とともに、該一側面のうち踏換え動作時に印刷位置を通過する特定位置に所定マークを印刷する（ステップ８及びステップＳ９の処理を実行する）テスト印刷モードを備えるようにした。 - 特許庁

An axis to be effective corresponding to a designated test is preliminarily stored in the effective axis selection table memory part 11 and a signal to decide whether or not operation signals from an interface i/f 6 to the effective axis selection gate part 7 corresponding to the state a test procedure selection switch group 9 is designated.例文帳に追加

有効軸選択テーブル記憶部１１では指定された検査に応じて有効とすべき軸があらかじめ記憶され、検査手技選択スイッチ群９の指定された状態に応じて、有効軸選択ゲート部７に対してインターフェースｉ／ｆ６からの操作信号を、制御駆動部８に出力すべきか、否かを決めるための信号を出力する。 - 特許庁

The control part 14 for the vehicle model finds a vehicle load, braking torque, etc. by using the running model based on the running conditions from the operation panel 12, gives these findings to the dynamometer 22, and performs torque control for the dynamometer 22 in synchronization with torque control for a driving motor 56 of a test vehicle by communicating with an ECU 52 of the test vehicle.例文帳に追加

車両モデル・ＥＣＵＩ／Ｆ制御部１４は、操作盤１２からの走行条件に基づき、車両走行モデルを用いて車両の負荷や制動トルク等を求め、これらの結果を動力計２２に与え、また試験車両のＥＣＵ５２と交信することで、動力計２２のトルク制御と、試験車両の駆動モータ５６のトルク制御とを同期して行う。 - 特許庁

This one-chip microcomputer 10 is provided with a starting register 18 for starting test operation for an incorporation self-checking function, and an incorporation self-check starting pattern generator 19 for setting an initial value to a test control circuit (a pseudo random number generator 14, a logic circuit checking compressor 15, a pattern generator 16 and a memory checking compressor 17).例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ１０は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ１８と、テスト制御回路（疑似乱数発生器１４、論理回路検査用圧縮器１５、パターン発生器１６、メモリ検査用圧縮器１７）に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器１９とを備えている。 - 特許庁

A media access control (MAC) section 13 of the wireless LAN device comprises a mode switching means 13a for switching ordinary wireless LAN operation to a transmission test mode and a burst timing control means 13b for stopping ordinary media access control during the transmission test mode and controlling a burst timing so that a frame transmission timing includes a frequency component of specific audible sound.例文帳に追加

無線ＬＡＮ機器のメディアアクセス制御（ＭＡＣ）部１３は、通常の無線ＬＡＮ動作から送信テストモードへ切り替えるモード切替手段１３ａと、送信テストモードにおいて通常のメディアアクセス制御を停止し、フレームの送信タイミングが特定の可聴音の周波数成分を含むようにバーストタイミングを制御するバーストタイミング制御手段１３ｂを備えている。 - 特許庁

In an operation test of a semiconductor integrated circuit 200, an oscillation inverter 20 used for an oscillation circuit is put into a state of high impedance, signal collision between an output signal of the oscillation inverter 20 and a clock signal input from an output terminal Xout is avoided, a test clock that is not affected by the oscillation inverter 20 is supplied to an internal circuit 26.例文帳に追加

半導体集積回路２００の動作テストの際に、発振回路に用いる発振インバータ２０をハイインピーダンスの状態とし、発振インバータ２０の出力信号と出力端子Ｘｏｕｔから入力されるクロック信号との信号衝突を回避し、発振インバータ２０の影響を受けないテストクロックを内部回路２６に供給する。 - 特許庁

A test data recording part 15 is provided to store the digital data on electricity quantity of all digitalized plant operating patterns (accident data, normal operation data, plant starting data, plant stopping data, etc.), and the data required by a test data selection signal 16 is selected from these data and is outputted to a relay part 11 for testing.例文帳に追加

ディジタル化されたあらゆるプラント運転パターン（事故データ，通常、運転データプラント起動時データ，プラント停止時データなど）のディジタル電気量データを記憶した試験データ記録部１５を設け、これらのデータの中から試験データ選択信号１６によって必要とするデータを選択し、これをリレー部１１に出力して試験するようにした。 - 特許庁

To evaluate the remaining life of equipment based on actualy measured values from the viewpoint of soundness maintenance of the incore equipment in an atomic power plant or the like by sampling a material exposed to neutron irradiation of the nuclear reactor incore equipment as a test piece corresponding to evaluation object portion, operation period, test method or the like in the minimum range wherein a structural material function is not lost.例文帳に追加

原子炉炉内機器の中性子照射を受けた材料を評価対象部位、運転期間、試験方法等に対応して、かつ構造材の機能を失わない最小限度の範囲で試験片としてサンプリングし、原子力プラントなどの炉内機器の健全性維持の面から機器の余寿命を実測値に基づいて評価する。 - 特許庁

The contact input/output control device 1 includes a digital output test switch 15 and is configured so that a digital output is kept on for a predetermined period of time when the test switch 15 is operated, so that it is possible to check the connected state and the operation of devices 6, 7, 8 to be controlled that are connected to the contact input/output control device 1.例文帳に追加

接点入出力制御装置１にデジタル出力テストスイッチ１５が備えられ、該テストスイッチ１５を操作することにより、デジタル出力が所定の時間オンとなるように構成されて、接点入出力制御装置１に接続された制御対象機器６，７，８の接続状態や動作の確認を行うことができるようになされている。 - 特許庁

Voice data for test generated by test voice data generation part 22, echo data recorded in an echo data recording part 24 and voice data of a speaker, recorded in a transmitted voice recording part 25 are analyzed and the operation parameter used when an echo suppressor 12 of an echo component suppression part 2 suppresses echo components is adjusted according to analysis results.例文帳に追加

試験用音声データ生成部２２により生成された試験用の音声データと、エコーデータ記録部２４に記録されているエコーデータと、送話音声記録部２５に記録されている話者の音声データとを分析し、その分析結果にしたがってエコー成分抑圧部２のエコーサプレッサ１２がエコー成分を抑圧する際に使用する動作パラメータを調整する。 - 特許庁

The operation management server is provided with: a first processing means for performing processing to prepare the site of the portable terminal; a second processing means for executing a test by connecting to a predetermined authority concerned for testing the prepared site; and a third processing means for notifying the application server so as to publicly opening the site matched with a test by the second processing means on the network.例文帳に追加

運用管理サーバは、携帯端末のサイトを作成する処理を行なう第１処理手段と、作成されたサイトをテストするための所定の関係先に接続してテストを実施する第２処理手段と、第２処理手段によるテストに適合したサイトをネットワーク上へ公開するために、アプリケーションサーバに通知する第３処理手段と、を有する。 - 特許庁

The receiving circuit detects the minute current signal by an input circuit 81 and outputs a voltage signal having its logical value from an output circuit 83, and has a test circuit 84 having a smaller amplification gain than the output circuit and a test control circuit 86 which controls its output operation so as to measure the threshold current of the input circuit.例文帳に追加

受信回路は、入力回路（８１）で微小電流信号を検出し、その論理値の電圧信号を出力回路（８３）から出力するが、入力回路の閾値電流計測のために、出力回路よりも小さな増幅利得を持つテスト出力回路（８４）とその出力動作を制御するテスト制御回路（８６）とを有する。 - 特許庁

The risky portion extracting part 110 extracts a risky portion with a risk of generating the malfunction in the test caused by the IR drop of an electric power source, from the semiconductor integrated circuit, and the ATPG 150 generates the test pattern to restrain an operation rate of an instance included in the risky portion, in the risky portion extracted by the risky portion extracting part 110.例文帳に追加

危険箇所抽出部１１０は、半導体集積回路から、電源のＩＲドロップに起因してテスト時に誤動作が生じうる危険箇所を抽出し、ＡＴＰＧ１５０は、危険箇所抽出部１１０により抽出された危険箇所に対して、該危険箇所に含まれるインスタンスの動作率を抑制するようにテストパターンを生成する。 - 特許庁

To provide a wide area automatic fire alarm system capable of performing a simulated fire reporting test for a display operation device and fire receiver concerned without having any effect on other display operation devices and the like in spite of that it comprises a plurality of automatic fire alarm systems through a communication network.例文帳に追加

複数の自動火災報知システムを通信ネットワークで接続した広域自動火災報知システムでありながら、関係する表示操作装置、火災受信機を選択して、他の表示操作装置等に影響を与えないで模擬火災発報試験をすることができる広域自動火災報知システムを提供する。 - 特許庁

A pattern element showing an operation summary to be executed in a pseudo program performing multi-task communication with a test object program is disposed on a scenario chart editing screen by use of a scenario chart editing means 101, and details of an operation shown by the pattern element is input to form a scenario chart.例文帳に追加

シナリオチャート編集手段１０１を用いて、シナリオチャート編集画面上に、試験対象プログラムとマルチタスク通信を行う擬似プログラムにおいて実行されるべき動作概要を表す図形要素を配置するとともに、前記図形要素が表す動作の詳細を入力し、シナリオチャートを作成する。 - 特許庁

Thus, a scan path for operation verification of the entire system LSI is constructed by inputting the definition information on the scan path to a register and a memory to be required for the operation verification of the system LSI, and the production test of the entire system LSI is performed via the scan paths (#13).例文帳に追加

このため、システムＬＳＩの動作検証に必要とされるレジスタやメモリに対するスキャン・パスの定義情報を入力することにより、システムＬＳＩ全体の動作検証用のスキャン・パスを構築することができ、これらのスキャン・パスを介してシステムＬＳＩ全体の実機テストを行うことができる（＃１３）。 - 特許庁

For a line number and a data format type selected during operation of the line interface apparatus, test data is communicated through a path for processing signals of the selected data format type and a non-selected line number and normality of the apparatus is tested for the selected line number and data format type during operation.例文帳に追加

回線インタフェース装置の運用中の選択された回線番号とデータフォーマット種類に対し、選択された運用中の回線番号とデータフォーマット種類に対し、選択データフォーマット種類と非選択回線番号の信号を処理する経路に試験データを疎通させ装置の正常性試験を行う。 - 特許庁

In normal operation, the reference voltage Vrw is set to reference voltage Vri1 from an internal reference voltage generating circuit 206 by a data write-in current adjusting circuit 200, on the other hand, in test operation, the voltage is set to reference voltage Vre1 applied to a reference voltage external input terminal 202 from the outside.例文帳に追加

基準電圧Ｖｒｗは、データ書込電流調整回路２００によって、通常動作時には、内部基準電圧発生回路２０６からの基準電圧Ｖｒｉ１に設定される一方で、テスト動作時には、基準電圧外部入力端子２０２に外部より印加された基準電圧Ｖｒｅ１に従って設定される。 - 特許庁

The output buffers 15a and 16a are configured so as to be controlled during normal operation by a coincidence detection signal DET obtained by detecting coincidence between a set signal SET and the most significant bit MSB of an address signal ADR bonded and to be controlled during test operation by a signal resulting from decoding the set signal SET.例文帳に追加

出力バッファ１５ａ、１６ｂは、通常動作時には、ボンディング設定された設定信号ＳＥＴとアドレス信号ＡＤＲの最上位ビットＭＳＢの一致検出で得られた一致検出信号ＤＥＴで制御され、テスト動作時には、この設定信号ＳＥＴをデコードした信号で制御するように構成する。 - 特許庁

Expected values are stored in a data input latch 2 serving both as the data input latch of a memory used for usual operation and the data input latch of expected values of a test circuit, read data of the memory are stored in a data output latch 3 serving as both the output latch of the memory used for usual operation and the compared data latch.例文帳に追加

通常動作に使うメモリのデータ入力ラッチとテスト回路の期待値のデータ入力ラッチを兼用するデータ入力ラッチ２に期待値を記憶し、通常動作に使うメモリの出力ラッチとテスト回路の被比較データラッチを兼用するデータ出力ラッチ３にメモリのリードデータを記憶する。 - 特許庁

The automatic operation unit (2) is capable of moving a container (5) by previously defined operation sequence and extracting a liquid medium from the container (5) during a test process in accordance with a request, and extraction following the request is embodied by an adjustment device (6) for conveying the liquid medium in accordance with previously defined condition.例文帳に追加

本発明によれば、自動動作ユニットは、容器を事前定義された動作シーケンスで動かし、試験プロセス中に要求に従って容器（５）から液体媒体が抽出されることが可能であり、要求に従う抽出は、事前定義された条件に従って液体媒体を搬送する調整装置（６）によって具現化される。 - 特許庁

In each of output buffer circuit (OKT0-OKTn) arranged corresponding to each output pad (OPD0-OPDn), a first output buffer (8) having small driving capability by current for normal operation mode, and a second output buffer (10) having large driving capability by current for test operation mode, are arranged in parallel.例文帳に追加

出力パッド（ＯＰＤ０−ＯＰＤｎ）それぞれに対応して配置される出力バッファ回路（ＯＫＴ０−ＯＫＴｎ）各々において、通常動作モード用の電流駆動能力の小さな第１の出力バッファ（８）と、テスト動作モード時用の電流駆動能力の大きな第２の出力バッファ（１０）を並列に配置する。 - 特許庁

When communication for timing is carried out, an operation state management part 302 of the device A receives timing demands from the devices B, C, D in the same operation mode, and timing equivalence is carried out between the devices, while the devices E, F in the test mode receive no timing demand from the devices A, B, C, D.例文帳に追加

装置Ａの運転状態管理部３０２は、時刻合わせの通信を行う場合、同じ運転モードの装置Ｂ，Ｃ，Ｄからは時刻合わせの要求を受け付けて、装置間での時刻等価が行われるが、試験モードの装置Ｅ，Ｆは装置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄからの時刻合わせ要求は受け付けない。 - 特許庁

The wafer inspection equipment comprises a means A for carrying a wafer under test to a stage 6, a means for regulating operation of the stage 6, and a means 3 for controlling the operation of the stage 6 through the regulation means until carriage of the wafer to the stage 6 is finished by the carrying means A.例文帳に追加

検査対象のウエハをステージ（６）へ搬送する搬送手段（Ａ）と、前記ステージ（６）の動作を規制する規制手段と、前記搬送手段（Ａ）による前記ウエハの前記ステージ（６）への搬送が完了するまで、前記規制手段により前記ステージ（６）の動作を規制するよう制御する制御手段（３）と、を具備。 - 特許庁

The switch groups SD0a-SD7a connect whole data lines DQ0-DQ63 to the outside of a memory module MMa at the time of a memory operation, and connect them to the input terminal of an exclusive NOR circuit EXa after common one bit data are written into each memory devices MD0-MD7 at the time of a test operation.例文帳に追加

スイッチ群ＳＤ０ａ〜ＳＤ７ａはデータ線ＤＱ０〜ＤＱ６３の全てを、メモリ動作時にはメモリモジュールＭＭａの外部に接続し、検査動作時には各メモリデバイスＭＤ０〜ＭＤ７に共通の１ビットデータが書き込まれた後にエクスクルーシブＮＯＲ回路ＥＸａの入力端に接続する。 - 特許庁

This method is arranged so that the set operation of the laser output is executed by recording a test signal on a trial writing area provided at an inner peripheral side of the disk 1 while changing the laser output and also so as to decide whether an automatic adjusting circuit is made to operate or not based on the result of the adjusting operation.例文帳に追加

ディスク１の内周側に設けられている試し書き領域にテスト信号をレーザー出力を変化させながら記録することによりレーザー出力の設定動作を行うとともにその調整動作の結果に基づいて自動調整回路を動作させるか否かを決定するようにしたものである。 - 特許庁

In the testing method, the abrasion gage is mounted on test fixtures, a tape is positioned to adjust an overlapping angle in the end of the abrasion surface, desired tape tension, a speed, and operation time are selected, and the tape is run preferably in a single direction in effective contact with the abrasion surface for the desired operation time.例文帳に追加

テスト方法は、テスト治具に磨耗ゲージを装着し、テープを位置決めして磨耗表面の端部におけるオーバラップ角を調節し、所望のテープ張力、速度、及び動作時間を選定し、テープを所望の動作時間の間、磨耗表面と実効的に接触したまま、望ましくは単一方向に走らせる。 - 特許庁

A step for stopping the real clock tree and a step for closing the phase lock loop feedback route by the copy clock signal are completed within a single clock cycle so as to maintain the lock during the period of switching from the normal operation mode to the test mode.例文帳に追加

リアルクロックツリーを停止するステップと、コピークロック信号で位相ロックループフィードバック経路を閉じるステップは、通常動作モードからテストモードへの切り換えの間ロックが維持されるように、単一クロックサイクル内で完了する。 - 特許庁

A pulse width is calculated just before erasing and writing are carried out, and the erasing and the writing operation are performed by the optimized pulse width, then the efficient I_ref trimming test is performed in a short period of time without causing any defect.例文帳に追加

消去、書き込みを行う直前に、パルス幅を計算し、最適化したパルス幅で消去及び書き込み動作を行い、不良発生を惹起することなく短時間で効率良くＩ_ｒｅｆトリミング試験を実行する。 - 特許庁

To a plurality of analogue circuit blocks (Anlg_Cir1... Anlg_CirN), a plurality of switching circuits for testing (Tcnt_Sw1... Tcnt_SwN) for switching the signal paths from normal signal path in the test mode to that in the normal operation mode are connected.例文帳に追加

複数のアナログ回路ブロックＡｎｌｇ＿Ｃｉｒ１…には、テストモードでの信号経路と通常動作モードでの信号経路とを切り換える複数のテスト用スイッチ回路Ｔｃｎｔ＿Ｓｗ１…Ｔｃｎｔ＿ＳｗＮが接続される。 - 特許庁

To obtain a control method capable of confirming whether or not the pressure of test hand of handler, operation speed and displacement are proper according to the kinds of an IC a socket and correcting in improper cases, a recording medium and a instrumentation and control system.例文帳に追加

ＩＣ及びソケットの種別に応じてハンドラーのテストハンドの押圧力、動作速度及び変位が適正化どうかを確認すると共に、不適性な場合は修正できる制御方法、記録媒体及び計測制御システムを提供する。 - 特許庁

Thereby, those inspections can be carried out continuously without implementing the operation for interrupting a process of the inspections and changing test contents, when there are two or more inspections which should be carried out to the ECU 100.例文帳に追加

これにより、ＥＣＵ１００に対して実施すべき検査が複数ある場合においても、検査の処理を中断して検査内容を変更するための作業を行うことなく、それらの検査を連続して実施することができる。 - 特許庁

To shorten the ONU installation work time by clarifying the start of an ONU continuity confirmation test and result checking procedures as well as eliminating a phone communication from the construction person in charge to an operator and any operation of a PC by the operator.例文帳に追加

ＯＮＵ導通確認試験の開始、結果確認手順を明確化し、上記工事担当者からオペレータへの電話連絡、オペレータのＰＣ操作を不要として、ＯＮＵ設置作業時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide an IC test handler with a contact transfer for drastically reducing a setting operation by eliminating the troublesome redoing of the mounting of an attachment and the piping of a negative pressure pipe, when changing the fitting position to the attachment of a contactor.例文帳に追加

コンタクターのアタッチメントへの装着位置替えの際、アタッチメントの取付や負圧管の配管の煩瑣なやり直し作業が無く、段取り作業の大幅軽減を可能とするコンタクトトランスファを備えたＩＣテストハンドラの提供。 - 特許庁

To calibrate a channel gain map using only dark image data obtained in a test mode in a digital imaging system, and to automatically calibrate the channel gain map in a non-operation time of the system to cope with an influence of an environment.例文帳に追加

ディジタル・イメージング・システムにおいて、試験モード時に得られる暗画像データのみを用いてチャネル・ゲイン・マップを較正し、また環境の影響に対処するようにシステムの非稼働時間にチャネル・ゲイン・マップを自動的に較正する。 - 特許庁

During steady operation, the damper is fixedly opened with a fixed opening, and a heat quantity in accordance with a temperature rise is discharged by ventilation (equivalent ventilation), and a relatively small control heater 13 is used to perform proportional control of a temperature in the test chamber.例文帳に追加

定常運転時には、ダンパーを一定の開度で固定的に開き、換気によって昇温に見合う量の熱量を排出し（等価換気）、比較的小型の制御ヒータ１３を使用して試験室内の温度を比例制御する。 - 特許庁