「Test operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

A mask for dividing a back ground (a low signal) region and a subject region of the image by using a sensitivity image on the whole test region is prepared and based on this mask, an operation for turning removal is performed.例文帳に追加

計測領域全体の感度画像を用いて画像の背景（低信号）領域と被検体領域を分けるマスクを作成し、このマスクに基づいて折り返し除去の演算を行なうものである。 - 特許庁

Using these test blocks, it is made possible to integrate a periodic test or on-demand test of the field devices to normal and continuous operations of the process control system or safety system without causing any scheduling problem or connection problem and without the need for relying on a maintenance person or other workers, thereby enabling better monitoring of the operation status of the field devices.例文帳に追加

これらの試験ブロックを用いることにより、フィールドデバイスの定期試験またはオンデマンド試験を、スケ−ジュール問題または接続問題を引き起こすことなく、また保守作業員または他の作業員に依存する必要もなく、プロセス制御システムまたは安全システムの通常のかつ継続した動作に統合することが可能になり、それにより、フィールドデバイスの動作ステータスをよりよく監視することが可能になる。 - 特許庁

Priority of a section for feeding a sheet at the time of test print is preset in a priority memory means 33 and test print is executed by one action for operating an executing signal generating section without requiring a troublesome operation for setting a priority at the paper feed section while looking a manual.例文帳に追加

テスト印字の際に給紙する給紙部の優先順位を優先順位記憶手段３３に予め設定し、テスト印字に際しては、マニュアルを見ながら給紙部の優先順位を設定する面倒な操作をすることなく、実行信号発生部を操作するワンアクションでテスト印字を実行するようにする。 - 特許庁

To provide an air actuator for eliminating an abnormal operation of a piston, surely and immediately stopping a test piece W and preventing the test piece W from being damaged even if an air supply is suddenly stopped so as to urgently stop the air actuator when the air actuator is used as an actuator of a load mechanism in a material tester.例文帳に追加

材料試験機の負荷機構等のアクチュエータとして、エアアクチュエータを用いた場合、エアアクチュエータを緊急停止させるべくエア供給を急激に停止した場合でも、ピストンが異常動作することなく、その位置で確実に停止することにより、試験片Ｗを損傷させることがないエアアクチュエータを提供する。 - 特許庁

Comparison processing 7 for attributes comprises: comparing an attribute extract result 5 extracted by circuit operation attribute extracting processing 2 in specifications with an attribute extract result 6 extracted by circuit test attribute extracting processing 3 for a test program on an attribute basis; and generating an attribute comparison result collecting a difference between the attributes.例文帳に追加

属性の比較処理７では、仕様書内の回路動作属性抽出処理２にて抽出された属性抽出結果５と、テストプログラムの回路テスト属性抽出処理３にて抽出された属性抽出結果６とを属性毎に比較し、属性の差異を収集した属性比較結果を生成する。 - 特許庁

The water treating apparatus includes a switching mechanism such that, upon the stop of water treatment operation in the water treating part 1, the sensing part 4 is switched, from the state of contact with water within the test water container 3, to the state of noncontact with water, and is then switched again to the state of contact with water within the test water container 3.例文帳に追加

水処理部１における水の処理動作を停止した場合に感応部４が検水容器３内の水と接触している状態から感応部４が水に接触していない状態へと切り替え、次いで感応部４が検水容器３内の水と接触している状態へと切り替える切替機構を具備する。 - 特許庁

To provide an electronic ground-fault interrupter having an overcurrent determination function and a ground fault determination function which are integrated into a CPU that can suppress a tripping operation based on ground fault determination during a test of overcurrent characteristics for each pole unit of the interrupter through unipolar energization, and conducting a correct test of the overcurrent characteristics.例文帳に追加

過電流判定機能と漏電判定機能とを一つのＣＰＵに集約した電子式漏電遮断器において、単極通電による遮断器各極単位での過電流特性試験時に漏電判定に基づくトリップ動作を抑制し、過電流特性試験を正しく行うことができる電子式漏電遮断器を得る。 - 特許庁

A memory 6 of the IC tag 3 records individual identification information of each electric motor 1 to which the IC tag 3 is attached, test result information (scanning data of a test result list before shipping from a factory) of the electric motor 1, manufacture history information in a factory, and equipment information including operation history information.例文帳に追加

ＩＣタグ３のメモリ６には、ＩＣタグ３が取り付けられた各電動機１の個体識別情報、当該電動機１の試験成績情報（工場出荷前の試験成績書のスキャンニングデータ）、工場における製作履歴情報、及び運転履歴情報を含む機器情報が記録されている。 - 特許庁

A host CPU 130 as a processor for a mobile phone 100 applies a regulated input test signal to a GPS reception part 110 as a digital circuit part, and tests operation of the GPS reception part 110 on the basis of an output signal from the GPS reception part 110 which responds to the input test signal.例文帳に追加

携帯型電話機１００のプロセッサーであるホストＣＰＵ１３０は、規定の入力テスト信号をデジタル回路部であるＧＰＳ受信部１１０に印加し、当該入力テスト信号に応答するＧＰＳ受信部１１０からの出力信号に基づいて、ＧＰＳ受信部１１０の動作を検査する。 - 特許庁

This electrode prober 19 is arranged between an tested IC package 4 having a plurality of electrodes 8 and an IC mounting face 3 in an IC test device testing an operation of the IC package for conduction between respective electrodes 2 on the IC mounting face in the IC test device with the respective electrodes 8 in the IC package 4.例文帳に追加

複数の電極８が形成された試験対象のＩＣパッケージ４と、このＩＣパッケージの動作試験を行うＩＣ試験装置のＩＣ取付面３との間に介挿され、ＩＣ試験装置のＩＣ取付面３の各電極２とＩＣパッケージ４の各電極８とを導通させる電極プローバー１９である。 - 特許庁

In order to shorten the time required for testing overcharge detecting operation of an IC 1 for protecting a secondary battery test by shortening the delay time for overcharge detection by increasing the frequency of an oscillation circuit 7, a test control circuit 20 for increasing the level of a constant current determining the oscillation frequency of the oscillation circuit 7 is provided.例文帳に追加

２次電池保護用ＩＣ１の過充電検出動作のテスト時に、発振回路７の周波数を高くして過充電検出のための遅延時間を短縮し、テストに要する時間を短縮するために、発振回路７の発振周波数を決めている定電流の値を増加させるテスト用制御回路２０を設ける。 - 特許庁

This disaster-preventive reception board 1 is constituted by connecting optical fiber detectors 3 to a transmission line which is led out, and a disfeaturement monitor part 100 receives and monitors disfeaturement analog value signals which are sent as the fire detectors 3 are placed in test operation with a test command and show the degree of disfeaturement of light- transmitting windows.例文帳に追加

外部に引き出された伝送路に光学式火災検知器３を複数接続した防災受信盤で１あって、汚損監視部１００は、試験コマンドによる火災検知器３の試験動作に伴って送信される透光性窓の汚損度合いを示す汚損アナログ値信号を受信して監視する。 - 特許庁

In the semiconductor device 1, at the time of a test mode, a signal for controlling operation is inputted to only one part of input pads 12 out of a plurality of pads, the pad for inputting this signal and input pads 13-15 other than an input pad 11 for inputting signal for starting execution of the test mode are not used.例文帳に追加

半導体装置１では、試験モード時においては、複数のうちの一部の入力パッド１２にのみ動作の制御用の信号が入力され、この信号の入力用と、試験モードの実行を開始させるための信号入力用の入力パッド１１以外の入力パッド１３〜１５は使用されない。 - 特許庁

Thereby, when a same test writing region of the optical disk is used repeatedly in OPC operation, positions irradiated with the laser beam having high light emitting power are dispersed, consequently, deterioration of the test writing region can be delayed.例文帳に追加

これにより、ＯＰＣ動作で光ディスクの同じ試し書き領域を繰り返して使用するときに、試し書き領域内の同じ位置に常に発光パワーの高いレーザ光が照射されることがなく、発光パワーの高いレーザ光の照射される位置が分散され、その結果、試し書き領域の劣化を遅らせることができる。 - 特許庁

To provide a heat-resisting fatigue test method for a ceramics sintered body and its device, capable of simplifying a measurement operation, and capable of obtaining a high-precision measurement result of a measurement of the change on standing of thermal fatigue or the like, concerning a heat-resisting fatigue test of a ceramics sintered body receiving repeated heating and cooling.例文帳に追加

繰り返し加熱、冷却を受けるセラミックス焼結体の耐熱疲労性テストについて熱疲労の経時変化が計測できる等高精度の測定結果を得ることができると共に計測操作が簡便になるセラミックス焼結体の耐熱疲労性テスト方法及びその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An infrared receiving/emitting part diagnosing part 162 diagnoses the operation of an infrared receiving/emitting part 140 by causing the infrared light emitting diode 141 of the infrared receiving/emitting part 140 to emit an optical signal obtained from the modulation of test data, then receiving the optical signal at a photodiode 142, and comparing the received data to the test data.例文帳に追加

赤外線受発光部診断部１６２は、テストデータを変調した光信号を赤外線受発光部１４０の赤外線発光ダイオード１４１から発光するとともに該光信号をフォトダイオード１４２で受信し、受信したデータとテストデータを比較することで赤外線受発光部１４０の動作診断を行う。 - 特許庁

When ICs 1 are collectively tested in a state housed in a feed pallet 2, a windshield plate 7 for preventing the flying-out of the IC is used in a test part 3 to prevent the flying-out of the IC 1 from the positioning part on the way of push-up operation or the positional shift thereof to stably test the extremely small and lightweight IC 1.例文帳に追加

ＩＣ１を搬送パレット２に収納した状態で一括テストを行なうに際し、テスト部３にＩＣ飛び出し防止用の風止板７を用いることにより、押し上げ動作途中での位置決め部からのＩＣ１の飛び出しや位置ずれを防止し、極小・軽量ＩＣ１のテストを安定して行なう。 - 特許庁

Thus, by sending out the test signal to the control part 14, a test mode is recognized, and when an ON-OFF control signal is made to High, operation of a latch circuit 15 is stopped, and clock is sent out to a clock output terminal 6 from the control part 14 via an AND circuit 16 and a buffer 8, to be externally outputted.例文帳に追加

このようにテスト信号が制御部１４に送出されることによって、テストモードを認識し、ＯＮ／ＯＦＦ制御信号をＨｉとするとラッチ回路１５の動作が停止しするとともに、クロックを制御部１４よりＡＮＤ回路１６、バッファ８を介してクロック出力端子６に送出して外部に出力する。 - 特許庁

When a test transmitting message 6 is outputted from a processing function based on a development object program 3 that is an object of operation confirmation (step S4), a computer selects the message history 1a matched to the test transmitting message 6 as a model message 7 according to a preset selection rule 1b (step S5).例文帳に追加

コンピュータは、動作確認の対象である開発対象プログラム３に基づく処理機能からテスト用送信メッセージ６が出力される（ステップＳ４）と、予め設定された選択ルール１ｂに従って、テスト用送信メッセージ６に応じたメッセージ履歴１ａを雛形メッセージ７として選択する（ステップＳ５）。 - 特許庁

When the test pattern layout is determined and the operator performs a specified data-forming operation, the dot is formed on the recording face of the recording sheet P by an arrangement of a test pattern TP displayed on the screen of the liquid crystal monitor 302 by a data-forming function 12, and the record controlling data 13 for performing the recording are generated.例文帳に追加

テストパターンレイアウトを決定し、操作者が所定のデータ作成操作を行うと、データ作成機能１２によって、液晶モニタ３０２の画面上に表示されたテストパターンＴＰの配置で記録紙Ｐの記録面にドットが形成されて記録が実行される記録制御データ１３が生成される。 - 特許庁

The burn-in test is performed using a memory BIST circuit 202, designed so as to preliminarily perform all tests necessary for confirming the operation of a memory device 201 for not only enhancing the toggle ratio in the burn-in test of the memory device, but also to suppress the developing time of the burn-in testing.例文帳に追加

あらかじめメモリ装置２０１の動作確認のために必要な全ての試験を実施するように設計されたメモリＢＩＳＴ回路２０２を用いてバーインテストを行うことにより、メモリ装置のバーインテストにおけるトグル率を向上させると共に、バーインテストの開発時間を抑制することができる。 - 特許庁

To provide an image processor and control method of image processing capable of directing a next print setting to be performed by a user knowing only direction of a last test sheet output in a sequence of operation procedure to print a photography with a test or real printing by using a sheet scanning system.例文帳に追加

シートスキャン方式でテスト印刷と本番印刷とを使い分けて写真印刷する一連の操作手順において、ユーザは、最後に出力されたテストシートの指示だけを注目すれば、次に行うべき印刷設定を指示することができる画像処理装置およびその制御方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

When this test case generation device makes the transition phenomena sequentially occur based on system operation specification description to generate the system state transition system, the test case generation device makes a scenario state transition system representing order restriction of the transition phenomena be simultaneously transited, and restricts the transition phenomenon made to sequentially occur to the transition phenomenon capable of transiting in the scenario state transition system.例文帳に追加

システム動作仕様記述に基づいて遷移事象を順次生起させてシステム状態遷移系を生成する際に、遷移事象の順序制約を表現するシナリオ状態遷移系も同時に遷移させ、順次生起させる遷移事象を、当該シナリオ状態遷移系で遷移可能なものに制限する。 - 特許庁

A load test system includes: a client terminal 100 used for normal operation; a GW server 120 for analyzing request information from the client terminal 100 to send back a reply; and a retrieval server 130, wherein normal data usable as load test data is only stored in a storage device 123 on the GW server 120.例文帳に追加

通常運用時に使用されるクライアント端末１００と、クライアント端末１００からの要求情報を解析して応答を返すＧＷサーバ１２０と、検索用サーバ１３０と、負荷試験データとして使用できる正常データのみＧＷサーバ１２０上の記憶装置１２３に保存する。 - 特許庁

Subsequently, the substrate 1 is pressed against a test board 10 in an atmosphere of a specified temperature and the operation of an electronic device comprising a unit region 7 of the substrate 1 and the chip 2 is inspected by supplying a predetermined electric signal to the chip 2 from the test board 10 through an outer electrode 19 before the substrate 1 is cut along an imaginary line 9 to complete an electronic device.例文帳に追加

その後、所定の温度雰囲気中でテストボード１０に基板１を圧接し、テストボード１０から外部電極１９を介してチップ２に所定の電気信号を供給して基板１の単位領域７とチップ２とからなる電子部品の動作を検査し、仮想線９で切断して電子部品を完成させる。 - 特許庁

In the semiconductor test device wherein a measurement operation part and a controller are connected via a system bus, and which is so configured that a plurality of interrupt processings are performed between the measurement operation part and the controller, the operation part includes an interrupt control means which performs control giving priorities to a plurality of interruptions to the controller.例文帳に追加

測定演算部と制御部がシステムバスを介して接続され、測定演算部と制御部との間で複数の割込み処理をかけるように構成された半導体検査装置において、前記演算部に前記制御部に対する複数の割込みに優先順位をつけて制御する割込み制御手段を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

The crystal oscillator predicts long-term aging through an acceleration test with temperature taken into account, stores into a memory compensation data corresponding to operation times and temperatures, measures an operation time and an ambient temperature, reads from the memory the compensation data corresponding to the operation time and the temperature, and compensates for output frequency aging and the temperature.例文帳に追加

水晶発振器は、温度を考慮した加速試験により長期経時変化を予測し、動作時間および温度に対応した補償データをメモリに記憶し、動作時間および周囲温度を計測し、前記メモリより動作時間および温度に対応した補償データを読み出して、出力周波数の経時変化および温度を補償する。 - 特許庁

The output circuit is configured to serially output the data bits to an external terminal at the first data transfer rate in a normal mode of operation, and to serially output the data bits to the external terminal at a second data transfer rate that is lower than the first data transfer rate in a test mode of operation.例文帳に追加

出力回路は、正常モードでは、前記データビットを前記第１データ転送速度で外部ターミナルに直列に出力し、テストモードでは、前記第１データ転送速度より低い第２データ転送速度で前記データビットを前記外部ターミナルに直列に出力する。 - 特許庁

To provide an operation testing device for a microprocessor accurately judging whether or not the prescribed processing of a test object can be operated within unit time during the operation of a real time processor for the real time processor performing the prescribed processing by a microprogram within the unit time by using the microprocessor.例文帳に追加

マイクロプロセッサを用いて単位時間内にマイクロプログラムによる所定処理を行なう実時間処理装置に対し、実時間処理装置の稼動中に試験対象の所定処理が単位時間内で動作可能かどうか正確に判断するマイクロプロセッサの動作試験装置を提供すること。 - 特許庁

When operation firmware 211 in use which is running in a core 1 is updated into new updated firmware 221, a core 2 where the operation firmware 211 is not running is selected, and the updated firmware 221 and a test program 222 are loaded in an occupation memory area (memory 220 for the core 2) of the core 2.例文帳に追加

コア１で稼動している現用の運用ファームウェア２１１を新たな更新ファームウェア２２１に更新する際に、運用ファームウェア２１１を稼動中でないコア２を選択し、このコア２の占有メモリ領域（コア２用メモリ２２０）に更新ファームウェア２２１とテストプログラム２２２をロードする。 - 特許庁

In the semiconductor integrated circuit, during a predetermined normal operation a clock signal is supplied to each of flip-flop circuit not through a delaying element, and during a test operation a clock signal is supplied to each of latch circuit and is supplied to each of flip-flop circuit through the delaying element.例文帳に追加

クロック信号供給手段によって、所定動作時には各フリップフロップ回路に遅延素子を介さずにクロック信号を供給し、テスト動作時には各ラッチ回路にクロック信号が供給されると共に各フリップフロップ回路に遅延素子を介してクロック信号を供給する。 - 特許庁

Thus, by inputting the operation inhibiting signal EN fixed to an activated level to the external signal terminal EN by a semiconductor testing apparatus and also inputting the external clock CK to the external clock terminal CK, the functional block 12 can be shifted to the test mode from the normal operation mode.例文帳に追加

このため、半導体試験装置により、活性レベルに固定された動作禁止信号ＥＮを外部信号端子ＥＮに入力するとともに、外部クロックＣＫを外部クロック端子ＣＫに入力することで、機能ブロック１２を通常動作モードからテストモードに移行させることができる。 - 特許庁

A database storage part 51 stores an input item for operation at a computing part 60, an operation item, and a data group including each datum related to simulation results based upon the arithmetic result (to be concrete, patient information, remaining renal function, peritoneal dialysis, hemodialysis, the computed indicator and clinical test data).例文帳に追加

データベース記憶部51に、演算部60で演算するための入力項目、演算項目、演算結果に基づくシミュレーション結果に係る各データを含むデータ群（具体的には患者情報、残腎機能、腹膜透析、血液透析、前記演算した指標、臨床検査データ）を格納する。 - 特許庁

An eyelet button holing machine can execute an automatic mode of automatically performing the operation of eyelet button holing, a manual mode of performing the sewing operation stitch by stitch by having an operator rotate a manual pulley and a test mode of stopping the vertical movement of a needle bar and operating only a feed base.例文帳に追加

鳩目穴かがりミシンは、鳩目穴かがり縫いの動作を自動で行う自動モード、作業者が手動プーリを回転操作することにより一針ずつ縫製動作を行う手動モード、針棒の上下動を停止し送り台のみを動作させるテストモードの実行が可能である。 - 特許庁

In such a case that a predetermined time is passed after a test printing of the previous time when a next manual cleaning indication is received, a cleaning controlling part 306 judges that the received manual cleaning indication is an indication caused by the erroneous operation, and carries out a flushing operation smaller in the amount of ink consumption than the ink suction.例文帳に追加

クリーニング制御部３０６は次のマニュアルクリーニング指示を受信したときに前回のテスト印刷から所定時間が経過している場合には、受信したマニュアルクリーニング指示は誤操作による指示であると判断し、インク吸引よりもインク消費量の少ないフラッシング動作を行う。 - 特許庁

In the verification of the logical operation of the information processor, the verification of the logical operation is realized with high accuracy, by generating more transaction competitive patterns by making an I/O emulator work together with a test program, and also by automatically preparing input data to the I/O emulator.例文帳に追加

情報処理装置の論理動作の検証において、Ｉ／Ｏエミュレータとテストプログラムを連動させ、且つＩ／Ｏエミュレータへの入力データは自動で作成することで、より多くのトランザクション競合パターンを発生させることにより、論理動作の検証を高精度に実現する。 - 特許庁

According to the specified value of the first specifying operation, the specified value of the second specifying operation is automatically read from the storage means 6a by a readout control means 6d, and a test program of a specified configuration is automatically generated under the specified generating conditions.例文帳に追加

そして、読み出し制御手段６ｄにより、上記第１の指定操作による指定値に基づき上記格納手段６ａから第２の指定操作による指定値を自動的に読み出し、指定された生成条件で、指定された構成のテストプログラムを自動的に生成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device of a design system which makes it possible to set read/write operation and refresh operation in a close state, and makes the accuracy of test and quality improvement realizable in the semiconductor storage device having a memory cell which requires refresh for holding data.例文帳に追加

データ保持のためにリフレッシュを要するメモリセルを有する半導体記憶装置において、リード／ライト動作とリフレッシュ動作とを接近した状態に設定することを可能とし、テストの精度、品質向上を実現可能とする設計方式の半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

Accordingly, in the functional inspection of the fire detector 24, the elevating body 2 is raised and lowered by the operation of the test control device to oppose the testing means 25 to the fire detector 24, whereby the fire detector 24 can be tested by the operation of the testing means to facilitate the functional inspection work.例文帳に追加

これによって、火災検出器２４の機能点検時に試験用制御装置の動作により、昇降体２が昇降して火災検出器２４に試験手段２５が対向し、試験手段の動作によって火災検出器２４を試験でき、機能点検作業を容易化する。 - 特許庁

When a terminal device PS1 inquires the standard time of a time managing device 11 according to need, the time managing device 11 sends standard time information to the terminal device PS1 having inquired the standard time together with an added flag indicating summertime operation time or test operation time.例文帳に追加

端末装置ＰＳ１が必要に応じて時刻管理装置１１に対し基準時刻を問い合わせると、時刻管理装置１１では、基準時刻を問い合わせた端末装置ＰＳ１に対して、基準時刻情報にサマータイム運用時／試験運用時を示すフラグを付加して送信する。 - 特許庁

The scan test circuitry comprises at least one scan chain having a plurality of scan cells, with the scan chain being configured to operate as a serial shift register in a scan shift mode of operation and to capture functional data from at least a portion of the additional circuitry in a functional mode of operation.例文帳に追加

スキャンテスト回路は、複数のスキャンセルを有する少なくとも１つのスキャンチェーンを備え、スキャンチェーンは、スキャンシフト動作モードではシリアル・シフトレジスタとして動作し、機能動作モードでは追加回路の少なくとも一部分からの機能データを捕捉するように構成される。 - 特許庁

A series list display part 26b displays to a display part 25 a series list to be a list of series to be a unit of image pickup in a test, and an operation receiving part 26c receives from the operator selection operation to select at least one of the series from the displayed series list.例文帳に追加

シリーズリスト表示部２６ｂが、検査において撮像の単位となるシリーズのリストであるシリーズリストを表示部２５に表示させ、操作受付部２６ｃが、表示されたシリーズリストの中から少なくとも一つのシリーズを選択する選択操作を操作者から受け付ける。 - 特許庁

To provide a numerical control device for correctly measuring a machine position during a test operation by using a measuring unit for measuring a machine position, obtaining a machine error from the measurement result, and correctly obtaining a parameter for correcting the machine error.例文帳に追加

試験動作時の機械位置を機械位置測定用計測器を用いて正確に測定し、測定結果から機械誤差を求め、機械誤差を補正するためのパラメータを正確に求める数値制御装置を得る。 - 特許庁

Shutting operation of the shut valve 16 in a test-shut process is performed in response to a shut signal from the outside when gas pressure on the secondary side lowers.例文帳に追加

工場出荷時は二次側のガス圧力は低下しており、また現場での開栓時は作業者により二次側のガス圧力を低下させることができるので、二次側のガス圧の低下をテスト遮断の条件に加えることができる。 - 特許庁

To allow differentiation diagnosis between tuberculous and non- tuberculous acid-fast bacteriosises, and to easily test a large number of specimens in a short time by a single operation at the substantially same time.例文帳に追加

結核と非結核性抗酸菌症との鑑別診断ができ、短時間で容易に一回の操作で多数の検体をほぼ同時に検査することができる抗酸菌症鑑別用試薬および鑑別方法を提供する。 - 特許庁