「Test operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

In this multiple gear pump, individual pumps A1, A2 and A3 are tightened by four pump tightening bolts separate from a through bolt 19 even if the through bolt 19 is removed to perform running-in operation and the shipment test by a single pump.例文帳に追加

本発明の多連歯車ポンプでは、通しボルト１９を外しても個々のポンプＡ１、Ａ２、Ａ３は、通しボルト１９とは別の４本のポンプ締付けボルトで締結されており、慣らし運転、出荷試験はポンプ単体で行えるようになる。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device, by which a precise test corresponding to an actual using state can be performed to an accelerated semiconductor device, even if using a testing device of slow operation which is used conventionally.例文帳に追加

従来から使用していた動作速度の遅いテスト装置を用いても高速化された半導体装置に対して実際の使用状態に即した正確なテストを行うことができる半導体装置のテスト方法を提供すること。 - 特許庁

When the stick is operated normally and the contents of the operation input outputted from the stick is taken in by the game device normally, the test bar 30 is extended or shortened in the direction of bringing down the stick according to the way of bringing down the stick.例文帳に追加

スティックが正常に動作し、ゲーム装置がスティックから出力される操作入力の内容を正常に取り込んでいれば、テストバー３０はスティックを倒した方向に、その倒し方に応じて伸びたり縮んだりする。 - 特許庁

At least one circuit component can be tested independently of other circuit components, and data are not outputted into a bus during a test and/or other data are outputted into the bus instead of data outputted into the bus in usual operation.例文帳に追加

少なくとも１つの回路コンポーネントは他の回路コンポーネントとは独立にテスト可能であり、テスト中はデータはバスへは出力されず、および／または通常動作中バスへ出力されるデータに代えて別のデータがバスへ出力される。 - 特許庁

Accordingly, the memory cell array can operate at the first data transfer rate while allowing the output circuit to output data to an external terminal at the second data transfer rate that is lower than the first data transfer rate, in a test mode of operation.例文帳に追加

これにより、テストモードで、前記メモリセルアレイは前記第１データ転送速度で動作する一方、前記出力回路は前記第１データ転送速度より低い前記第２データ転送速度でデータを前記外部ターミナルに出力しうる。 - 特許庁

To provide a pattern generator and capable of generating test pattern data by an interleave method without having to analyze or creating internal operations for pattern generation for each interleave operation, and to provide a pattern generating method.例文帳に追加

パターン生成のための内部演算をインターリーブ動作の各々に対して分析して作成しなくても、インターリーブ方式でテストパターンデータの生成が可能な半導体テストのためのパターン生成装置及びパターン生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for confirming that a file concerning a received facsimile document can be normally stored into a shared folder before system operation in an image communication processing apparatus for storing the file into the shared folder.例文帳に追加

受信したファクシミリ文書に関するファイルを共有フォルダへ格納する画像通信処理装置において、共有フォルダへの格納が正常にできることをシステム運用前に確認するためのテスト方法を提供する。 - 特許庁

The acceleration of the container in which the flash is generated is large and the number of light emission display units mounted on the container which illuminate is large, so the container where the flash is generated can easily be specified from the number of the illuminating containers to improve the efficiency of the test operation.例文帳に追加

閃絡が発生した容器の加速度は大きく、当該容器に装着された発光表示器の点灯数が多いので、点灯数から閃絡が生じた容器を容易に特定でき、試験作業の能率が向上する。 - 特許庁

To provide a CAM design system capable of automating and automatically checking a series of manual operation such as an optimum blank layout, a test pattern design, a correction of a change in dimension, a confirmation of a manufacturing constraint, and a writing of a manufacturing work instruction or the like.例文帳に追加

板取の最適レイアウト、テストパターン設計、寸法変化の補正、製造上の制約確認、製造作業指示書の作成など、一連の人手介入作業を自動化し、自動チェックするＣＡＭ設計システムを提供する。 - 特許庁

Since a trimmed image and information such as the print condition are displayed on the same surface, the setting operation of the print condition is made efficient, and the number of test printing times is reduced to decrease amount of use of the photosensitive material.例文帳に追加

また、トリミング画像とプリント条件等の情報とが同じ面に表示されるため、プリント条件の設定作業の効率化を図ることができ、試し焼きの回数を減らして感光材料の使用量を削減する。 - 特許庁

To provide a transmitter-receiver for a radio base station device that occurs no HALT state of a CPU (Central Processing Unit) when a personal computer being a high-speed high-end machine on the market is used as tools for an operation confirmation test and maintenance of the transmitter-receiver.例文帳に追加

送受信機の動作確認試験や保守点検用のツールとして、市販の高速ハイエンドマシンのパソコンを使用した場合に、ＣＰＵのＨＡＬＴ状態を生じさせない無線基地局装置の送受信機を提供する。 - 特許庁

By this stop operation, the system power supply IC and the load are protected, and the investigation of the cause of the abnormality and the reproducing test can be carried out easily by using the power supply, the abnormal condition and the time data stored in the non-volatile memory.例文帳に追加

これにより、システム電源ＩＣ及び負荷等を保護するとともに、不揮発性メモリに記憶された電源回路、異常状態、時刻データを利用して異常状態の原因究明や再現実験を容易にする。 - 特許庁

The disturb-strength matrix can be determined by the device conducting a self-test in which changes in the measured dispersion value are provoked by executing a selected operation until a detectable change occurs.例文帳に追加

障害強度マトリクスは、デバイスがセルフテストを実行し、その中では、検出可能な変化が発生するまで選択された動作を実行することによって、測定された分散値の変化を起こすようにすることによっても決定できる。 - 特許庁

To provide a simultaneous determination method of atoropine and scopolamine dispensing with complicated pretreatment operation not only to simplify a quantitative analyzing method of a scopolia extract but also to conserve labor in a quality evaluation test of a digestive preparation.例文帳に追加

煩雑な前処理操作を不要としたアトロピン及びスコポラミンの同時定量方法を提供し、もってロートエキスの定量分析方法を簡易化し、胃腸薬製剤の品質評価試験の省力化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with temperature detection function detecting the prescribed temperature with less dispersion and optimizing an operation state in accordance with the detected prescribed temperature, a test method, and a refresh-control method.例文帳に追加

所定温度をばらつき少なく検出し、検出された所定温度に応じて動作状態を最適化する温度検出機能を備えた半導体装置、試験方法、及びリフレッシュ制御方法を提供することを目的とすること - 特許庁

To provide a technique as to a test for a semiconductor device, capable of reducing lot switching work to enhance an operation rate of a semiconductor testing device, when testing the semiconductor devices of small lot multi-product.例文帳に追加

少量多品種の半導体デバイスを試験する場合、ロットの切り替え作業を削減して、半導体デバイス試験装置の稼働率を向上を可能とする半導体デバイスの試験に関する技術を提供することを課題とする。 - 特許庁

In the semiconductor tester for implementing the automatic calibration of a test execution section at a predetermined interval at which a stable measurement operation is ensured, the automatic calibration is implemented in parallel with overhead factors other than the automatic calibration.例文帳に追加

安定した測定動作を保証する所定の周期でテスト実行部の自動校正を行う半導体テスト装置において、前記自動校正を、自動校正以外のオーバーヘッド要因と並行に行うことを特徴とするもの。 - 特許庁

Besides, by outputting the audio signals of the desired frequency band with the desired volume level through prescribed operation, the configuration is simplified and the rattling test at the time of shipping from the factory can be easily executed.例文帳に追加

また、所定の操作により所望の周波数帯域の音声信号を所望の音量レベルで出力することにより、簡易な構成であるとともに容易に工場出荷時のビビリ試験を実施することが可能になる。 - 特許庁

To provide a semiconductor chip for measuring CDM resistance, a CDM resistance measuring circuit, and a CDM resistance measuring method having a short TAT from design up to the CDM resistance measurement by easily preparing the operation of a CDM test.例文帳に追加

ＣＤＭ試験の作業準備が容易で、設計からＣＤＭ耐量測定の実施までのＴＡＴが短いＣＤＭ耐量測定用半導体チップ、ＣＤＭ耐量測定回路、及び、ＣＤＭ耐量測定方法を提供する。 - 特許庁

The disturb-strength matrix can be determined by the device conducting a self-test in which charge-disturb errors are provoked by executing a selected operation until a detectable error occurs.例文帳に追加

障害強度マトリクスは、デバイスがセルフテストを実行し、その中では、検出可能なエラーが発生するまで選択された動作を実行することによって、測定された障害誘発エラーを起こすようにすることによっても決定できる。 - 特許庁

To provide a sheet-like medium having resolved such problems involved in conventional media for detecting microorganisms that both labor and time are required for culture operation, a plenty of plastic wastes are produced, and a various test uses cannot be dealt with.例文帳に追加

培養に手間と時間がかかったり、多量のプラスチック廃棄物がでるような形態であったり、多種の検査用途に対応できないといった従来の微生物検出用培地の問題点を解決したシート状培地を提供すること。 - 特許庁

The device 10 is equipped with an operation oblique surface 24 arranged on a test carriage 13 and capable of moving the sensor 11 from a first position for detecting existence of the rope 12 to a second position for detecting absence of the rope 12.例文帳に追加

試験用キャリッジ１３上に配置され、ロープ１２の存在を検出する第１の位置からロープ１２の不在を検出する第２の位置までセンサ１１を移動させることができる作動斜面２４を装置１０が備える。 - 特許庁

In this way, control is carried out so that signal is not transmitted by the input/output cells, to which the LSI chips 220 and 260 are connected, and connection of the scan path and the input/output cell is switched for performing simultaneous operation of the scan test.例文帳に追加

これにより、ＬＳＩチップ２２０、２６０を接続する入出力セルが信号のやりとりを行わないように制御し、スキャンテストの同時実行を可能なようにスキャンパスと入出力セルの接続を切り替える。 - 特許庁

In the case of a test other than speedy selection or a normal operation, the proper level is given to the signal EN and switching is executed so that the selector 1 selects the input side, to thereby cut a negative-feedback path for executing negative feedback of the output of F/F4 to F/F2.例文帳に追加

スピード選別以外のテストや通常動作の時は信号ＥＮに適切レベルを与え、セレクタ１が入力側を選択するように切替えることで、Ｆ／Ｆ４の出力がＦ／Ｆ２に負帰還する負帰還パスをカットする。 - 特許庁

When an optical system performance test is performed, a reception signal is transmitted to the input of a sampling and holding part 110 by a signal switch 160, and the frequency spectrum of jitter components of the reception signal is obtained by an FFT operation part 120.例文帳に追加

光学系性能テスト時に、信号スイッチ１６０によって、受信信号はサンプルホールド部１１０の入力へ伝達され、ＦＦＴ演算部１２０によって受信信号のジッタ成分の周波数スペクトルが求められる。 - 特許庁

When an internal resistance control part 13 becomes a test mode, output voltage V_OUT this time is compared with a threshold used in the case of presence/absence judgment of the touch operation in a main control part 12 to judge whether or not the output voltage V_OUT is less than the threshold.例文帳に追加

内部抵抗制御部１３がテストモードになった際、この時の出力電圧Ｖ_OUTと、メイン制御部１２でタッチ操作有無判定の際に用いる閾値とを比較し、出力電圧Ｖ_OUTが閾値を下回っているか否かを判定する。 - 特許庁

To provide a simulating function capable of quickly coping with, for example, a case where a failed apparatus exists, in an actual device operation confirming test of a control program for sequentially operating the divices like a fully automated plant control program.例文帳に追加

全自動化されたプラント制御プログラムのようにシーケンシャルに機器を動作させていく制御プログラムの実機動作確認試験において、動作できない機器がある場合などに迅速に対応できるシミュレーション機能を提供する。 - 特許庁

Discharge circuits 4, 6 for discharging the accumulated charge in a cable connected to a measuring object are provided, and operation of the discharge circuits 4, 6 is controlled by a low-order program according to a test instruction by a control program.例文帳に追加

本発明は、測定対象に接続されたケーブルの蓄積電荷を放電させる放電回路４、６を設け、制御プログラムによる試験の指示に対応して、この放電回路４、６の動作を下位のプログラムにより制御する。 - 特許庁

This vehicle bench test machine 10 comprises an operation panel 12 for inputting vehicle running conditions thereto, an ECU I/F control part 14 for a vehicle model, a storage device 16 for storing a vehicle running model therein, etc., and a dynamometer 22, etc.例文帳に追加

車両台上試験機１０は、車両走行条件を入力する操作盤１２と、車両モデル・ＥＣＵＩ／Ｆ制御部１４と、車両走行モデル等を記憶する記憶装置１６と、動力計２２等を含んで構成される。 - 特許庁

To provide an inspection device which inspects the electric properties of an object of inspection such as an semiconductor wafer, is capable of surely carrying out a probe aligning operation after a test head is operated, and inspecting the object of inspection with proper accuracy.例文帳に追加

半導体ウエハなどの被検査体の電気的特性を検査する検査装置において、テストヘッド操作後における針合わせ作業を確実に行い、適正な精度を維持した検査を行うことが可能な検査装置を提供する。 - 特許庁

A non-volatile storage means 7 generates correction data at the time of an analog test operation or at the time of periodic inspection, stores correction data corresponding to conversion data and reads correction data corresponding to a request from the input/output controller 51.例文帳に追加

非揮発性記憶手段７は、アナログ試運転時や定検時に補正データを作成し、変換データに対応する補正データを記憶し、入出力制御装置５１からの要求に応じる補正データの読出しがされる。 - 特許庁

According to the operation of the image forming device, it is determined at a step 400 whether or not print data for printing the test pattern are inputted, and if the print data are inputted, it is determined at a step 402 whether or not a yellow head 12Y is driven from the print data.例文帳に追加

ステップ４００で、テストパターンを印字するための印字データが入力されたか否かを判断し、印字データが入力されると、ステップ４０２で、印字データに基づいてイエローヘッド１２Ｙが駆動されるか否かを判断する。 - 特許庁

An appropriate level is given to a signal EN in a test other than speed selection or in normal operation, and switching is made so that a selector 1 selects an input side, thus enabling the output of the F/F4 to cut a negative feedback path to be fed back to the F/F2.例文帳に追加

スピード選別以外のテストや通常動作の時は信号ＥＮに適切レベルを与え、セレクタ１が入力側を選択するように切替えることで、Ｆ／Ｆ４の出力がＦ／Ｆ２に負帰還する負帰還パスをカットする。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus in which a test pattern optimal for deciding whether an normal operation is carries out or not is selected automatically upon occurrence of a state change, e.g. replacement of an unit or elimination of trouble, at each section.例文帳に追加

ユニット交換やトラブル解消等のように各部に状態変化が生じた後に、正常動作を行うか否かの確認を行うための最適なテストパターンを自動的に選択して作成する画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

Switching elements 131 and 132 short-circuit between the plurality of power supply terminals 103 to 105 in a normal operation mode; and performs separation between the plurality of power supply terminals 103 to 105 in a test mode.例文帳に追加

スイッチング素子１３１、１３２は、通常動作モードにおいて、複数の電源供給端子１０３〜１０５のそれぞれの間を短絡し、テストモードにおいて、複数の電源供給端子１０３〜１０５のそれぞれの間を分離する。 - 特許庁

When performing a test, the signals recorded in the data recording device 14 are reproduced by a plant data reproduction apparatus 23, and a reproduced operation amount signal and a reproduced state feedback signal are inputted to a control apparatus 21 to be tested.例文帳に追加

試験時には、プラントデータ記録装置１４により記録された信号をプラントデータ再生装置２３によって再生し、再生操作量信号及び再生状態フィードバック信号を被試験制御装置２１に入力する。 - 特許庁

The bill validator main body 2 has a control part 24, and the communication I/F 15 connects a vending machine control part 10 for transmitting instruction information of the series of bill validation operations or instruction information of a test operation and the control part 24 by communication.例文帳に追加

紙幣識別機本体２は、制御部２４を有し、通信Ｉ／Ｆ１５は、一連の紙幣識別動作の指示情報またはテスト動作の指示情報を送信する自販機制御部１０と制御部２４とを通信接続する。 - 特許庁

To provide a drip-testing method which can surely and clearly grasp a galvanizing condition for restraining the development of galvanized drip in an arbitary galvanized product to the minimum before galvanizing operation, and a test piece used for this testing.例文帳に追加

任意のめっき品のめっきタレの発生を最小限に抑制するめっき条件をめっき操業前に正確にかつ明瞭に把握することができるめっきタレ試験方法、およびそれに用いる試験片を提供する。 - 特許庁

To carry out a test for a mixed RAM in a CPU-built-in RAM-mixed LSI by a ususal operation of a built-in CPU to enhance inspection precision easily at a low cost, and to enhance a screening level for a deffective.例文帳に追加

ＣＰＵ内蔵ＲＡＭ混載ＬＳＩの混載ＲＡＭのテストを、内蔵ＣＰＵの通常動作にて行えるようにすることで、検査精度の向上を簡便かつ低コストで達成して、不良品のスクリーニングレベルを向上させ得ること。 - 特許庁

During the IDDQ test, a signal CUTP is set at an L-level, and a signal CUTN is set at an H-level, and when 0V is applied to each gate of FETs 11, 13, FETs 11, 12, 13 are switched off, and a bias current flowing in an operation amplifier 1 is cut off.例文帳に追加

ＩＤＤＱテスト時に、信号ＣＵＴＰをＬレベル、信号ＣＵＴＮをＨレベルとし、ＦＥＴ１１、１３のゲートに０Ｖを与えると、ＦＥＴ１１、１２、１３がオフとなり、オペアンプ１に流れるバイアス電流が遮断される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which stable operation is secured while reducing power consumption and a test of current consumption of a logic circuit can be performed, in a semiconductor device in which a logic circuit and the other macro are mix-loaded.例文帳に追加

ロジック回路とその他のマクロが混載された半導体装置において、消費電力の低減を図りながら、安定した動作を確保し、かつロジック回路の消費電流の試験を可能とする半導体装置を提供する。 - 特許庁

The detection means compares the voltage at a first spot in power source conductors with the voltage at a second spot at a distance from the first spot, to thereby detect the overcurrent flow during the burn-in operation test.例文帳に追加

この検出手段は、電源配線における第１の箇所の電圧と、前記第１の箇所から距離をおいた第２の箇所の電圧とを比較することで、バーンイン動作試験中に過電流が流れたことを検出する。 - 特許庁

To provide an operation method of a circulating fluidized bed combustion device capable of coping with new single-fuel combustion and mixed fuel combustion of various fuels only by implementing a test on typical conditions, and remarkably reducing labor hour and costs.例文帳に追加

代表的な条件についてのみ試験を実施するだけで新規の多種燃料の専焼或いは混焼に対応でき、手間とコストを大幅に削減し得る循環流動層燃焼装置の運転方法を提供する。 - 特許庁

To improve efficiency of program testing work by automatically judging whether results of a test of a program are correct or not without troubling human hands (eyes) in a testing operation of an interactive program involving input operations.例文帳に追加

入力操作を伴うような対話型プログラムのテスト作業において、プログラムのテスト結果が正しいか否かの判定を人の手(目)を煩わせることなく自動的に行うこことにより、プログラムテストの作業効率の向上を目的とする。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit device (100) includes a plurality of function blocks (125-127), a fetch unit (131), a detection unit (132) and a determination unit (150) and shifts to a test mode when an operation pattern is changed in accordance with a predetermined rule.例文帳に追加

半導体集積回路装置（１００）は、複数の機能ブロック（１２５−１２７）と、取り込み部（１３１）と、検出部（１３２）と、判定部（１５０）とを具備し、動作パターンが所定の規則に従って変化したときにテストモードに移行する。 - 特許庁