「Test operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

During the test operation of an integrated circuit 10, TIN2, 3 and TOUT2, 3 are not used, TIN1 is connected to IN1 and the input D of an FF circuit 13, and the outputs Q of the FF circuits 13, 14 are connected to TIN2, 3 via selecting circuits 15, 16.例文帳に追加

集積回路は、テスト回路と論理回路で構成されており、テスト動作時には、ＣＬＫを停止させＴＩＮ１からＩＮ３、ＩＮ２の入力データの順にシリアルに入力されたデータを、フリップフロップ回路１３，１４によりパラレルに変換しＩＮ３、２の入力に供給する。 - 特許庁

A life of the dropping weight body 11 is prolonged because the collision part 13 constituting the dropping weight body 11 and colliding with the body 10 to be tested is arranged separately in the lower part, an impact test cost is thereby restrained from getting high, and an operation rate of the dropping weight type impact testing machine is also restrained thereby from getting low.例文帳に追加

落錘体１１を構成する、被試験体１０に衝突する衝突部１３を、支持部１２の下部に分けて配置するので、落錘体１１の延命を図ることができ、これにより、衝撃試験コストの上昇や落錘衝撃試験機の稼働率の低下をいずれも抑制できる。 - 特許庁

In this fire alarm, a battery 13, a sensor part which detects fire, an alarm part which raises an alarm when the fire is detected by the sensor part and a test part which confirms an operation of the alarm part are provided inside a main body 1 in the shape of a flat box, equipped with a locking part 4 for wall hanging on its upper end.例文帳に追加

火災警報器は、壁掛け用の係止部４を上端に備えた扁平箱型の本体１の内部に、バッテリー１３と、火災を検出するセンサ部と、センサ部で火災を検出した際に警報を発する警報部と、警報部の動作を確認する試験部とを設ける。 - 特許庁

Note: Among the assessments of IT application controls, for automated internal controls using IT, in accordance with the above, if the management can continue using past fiscal years' assessment results, this can include performing a test of operation once in a certain number of accounting periods. 例文帳に追加

（注）ＩＴに係る業務処理統制の評価のうち、ＩＴを利用して自動化された内部統制については、上記に従い、過年度の評価結果を継続して利用できる場合、一定の複数会計期間に一度の頻度で運用状況のテストを実施する方法も含まれる。 - 金融庁

To provide a method for appropriately evaluating the degree of influence of a chemical substance in each hormone system in a single test (for example, without allowing operation to an angrogen receptor to interfere with influence to thyroid gland) without independently executing a plurality of tests.例文帳に追加

複数の試験を独立して実施することなく、単一試験の中で（例えば、雄性ホルモン受容体に対する作用と甲状腺に対する影響とを互いに干渉することなく）各ホルモン系における化学物質の影響度を適正に評価できる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a system and method for testing simultaneously a column of a semiconductor memory and a redundant column by adding temporarily an additional parallel signal bit giving wider band width during test mode operation to an input/output data bus connected to a semiconductor memory.例文帳に追加

試験モード動作中により広い帯域幅を与える追加の並列信号ビットを半導体メモリに連結された入出力データ・バスに一時的に追加することによって、半導体メモリの列と冗長列とを同時に試験するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a software generating device capable of generating software that can correctly verifying an RTL description even in the RTL description of an LSI for sequentially executing processing to each of a plurality of input values by using a test program for verifying an operation description.例文帳に追加

複数の入力値それぞれに対する処理を順次実行するＬＳＩのＲＴＬ記述であっても、そのＲＴＬ記述を正しく検証することが可能なソフトウェアを、動作記述の検証用のテストプログラムを用いて生成することができるソフトウェア生成装置を実現する。 - 特許庁

To overcome the problem such that, related to a functional test for an A/D converter in a semiconductor integrated circuit, testing of a fast A/D converter at an actual operation speed is difficult because wiring delay in the semiconductor integrated circuit from the output of A/D converter to the input of a tester affects much.例文帳に追加

半導体集積回路内のＡ／Ｄ変換器の機能テストでは、Ａ／Ｄ変換の出力からテスタ入力までの半導体集積回路内の配線遅延が大きく影響を与えるため、高速Ａ／Ｄ変換器の実動作スピードでのテストが困難である。 - 特許庁

To provide fire alarm equipment which facilitates confirmation operation that there is no omission in checking of terminal devices in the fire alarm equipment which is equipped with functions of automatic or manual examinations of the terminal device and accumulates and stores a history of the above test results.例文帳に追加

端末機器の自動試験または手動試験の機能を具備し、上記試験結果の履歴を蓄積保管する火災報知設備において、端末機器の点検漏れの無いことを確認する作業が容易である火災報知設備を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To safely carry out a voltage-withstanding test by separating a ground fault detecting circuit from a main circuit by a simple switch operation for a ground fault breaker of a single structure having a body case with a shared component with a wiring breaker, and components of a ground fault detecting/separating device mounted therein.例文帳に追加

本体ケースに配線用遮断器との共用部品，および漏電検出，引外し用部品を内装した単体構造の漏電遮断器を対象に、簡単なスイッチ操作で漏電検出回路を主回路から切り離して耐電圧試験を安全に行えるようする。 - 特許庁

A special-purpose water sprinkler for spraying water to a vehicle body of an automobile is provided to a car washing machine body 1 so as to execute a water-spray testing action for spraying water from a water sprinkler to test leakage of water of an automobile separately from car washing operation with a car washing processing unit.例文帳に追加

洗車機本体１に自動車の車体に向けて水を吹き付ける専用の散水装置を備え、洗車処理装置による洗車動作とは別に、散水装置から散水して自動車の水漏れ検査を行う散水検査動作を実行可能にしたものである。 - 特許庁

Thus, with one door 11 or 12 of doors 11 and 12 opened, connection operation with piping is carried out while the work 1 is placed on the placement stage 11a (12a), resulting in improved space efficiency, easier connecting of piping, and improved test efficiency.例文帳に追加

これにより、開閉扉１１，１２の一方１１（１２）を開扉状態で載置台１１ａ（１２ａ）にワーク１を載置した状態で配管の接続作業ができるようになるため、スペース効率が向上するとともに、配管の接続作業も容易となって、試験効率が向上する。 - 特許庁

An address setting control part 11 in the receiver 1 displays a transition screen for an address setting mode when it is recognized that the address of the analog fire sensor 3-5 making an alarm as a test alarm and the like is the disabled address, and then, the address setting operation for the analog fire sensor 3-5 is allowed.例文帳に追加

受信機１のアドレス設定制御部１１は、試験などにより発報したアナログ火災感知器３−５のアドレスが使用禁止アドレスであることを認識した場合に、アドレス設定モードの移行画面を表示し、アナログ火災感知器３−５のアドレス設定操作を可能とする。 - 特許庁

The test is performed in an actual operation mode or at an actual operating frequency.例文帳に追加

ＣＰＵ内蔵ＬＳＩ１１をセルフテストさせるための制御プログラムを格納するフラッシュメモリ１２と、ＣＰＵ内蔵ＬＳＩ１１との通信を制御する通信制御回路と、テストデータを格納したＦＰＧＡ１４と、ＦＰＧＡ用のコンフィグレーションデバイス１３とを有して、実動作モードまたは実動作周波数でのテストを行う。 - 特許庁

When a test signal is inputted to a state-transiting means 8 from the outside, the state transiting means 8 stops an operation clock to be supplied to each part of a controller, also stops each part of the controllers for a CPU 1, a ROM 2, a RAM 3, etc., and transits the microcontroller to a standby mode.例文帳に追加

外部から状態遷移手段８にテスト信号が入力されると、状態遷移手段８がコントローラ各部に供給する動作クロックを停止させ、かつＣＰＵ１、ＲＯＭ２、ＲＡＭ３等のコントローラ各部を停止状態にしてマイクロコントローラをスタンバイモードに遷移させる。 - 特許庁

When a test signal TST of 'H' is applied to an electrode 11, pulse width of the enable-signal EN is shortened to pulse width corresponding to a delay time (e.g. 10 ns) of a delay section 12 and an enable-signal ENX is generated, and outputted as an operation permission signal for a column decoder 5.例文帳に追加

電極１１に“Ｈ”のテスト信号ＴＳＴが印加されていると、イネーブル信号ＥＮは遅延部１２の遅延時間（例えば、１０ｎｓ）に相当するパルス幅に短縮されてイネーブル信号ＥＮＸが生成され、カラムデコーダ５に対する動作許可信号として出力される。 - 特許庁

Repaired, replaced, or extended hardware is disconnected from the main OS 8, and the operation of repaired, replaced, or extended hardware is confirmed by a test and maintenance program 10 of the sub-OS 9 while the main OS 8 executes normal processing, and thereafter, the control of hardware is transferred to the main OS 8.例文帳に追加

修理，交換，増設されたハードウェアをメインＯＳ８から切り離し、メインＯＳ８が通常の処理を実行している状態で、サブＯＳ９のテスト＆メンテナンスプログラム１０によって、修理，交換，増設されたハードウェアの動作を確認した後、ハードウェアの制御をメインＯＳ８に制御を引き渡す。 - 特許庁

This tester, used for testing the position indicator 100 for the control rod drive mechanism comprising a plurality of reed switches 201 provided at prescribed spaces, is equipped with a position indicator placing stand 300 for placing thereon the position indicator 100 in an operation checking test for the position indicator 100.例文帳に追加

所定間隔を置いて設けられた複数のリードスイッチ２０１を有する制御棒駆動機構用位置指示装置１００を試験する本発明の試験装置は、位置指示装置１００の動作確認試験時に、位置指示装置１００を設置する位置指示装置設置架台３００を備える。 - 特許庁

As a reset signal is transmitted to a plurality of indoor machines 5, 6 from an outdoor machine 3 through a communication wire, and a microcomputer 1 of the entire system can be reset, the air conditioner improved in workability in a test operation and engineering work performance by the service man in occurrence of abnormality, can be provided.例文帳に追加

室外機から通信線を介して複数の室内機にもリセット信号を送信し、システム全体のマイコンをリセットすることができ、試運転時の作業性や、異常発生時におけるサービスマンの工事性向上を改善した空気調和機を提供することができる。 - 特許庁

To provide a leak test method used for the respective filters for purifying a dialyzate in a dialysis system in which the dialyzate fed from its source into a dialysis means is purified with purification means each of which has a built-in filter for purifying the dialyzate and simplified in equipment and in operation.例文帳に追加

透析液供給源から透析手段に供給される透析液を、それぞれに透析液浄化フィルタが内臓された浄化手段で浄化してなる透析システムにおけるそれぞれの透析液浄化フィルタの、装備的に簡素化され、かつ、操作が簡素化されたリークテスト方法の提供。 - 特許庁

This semiconductor memory activates column decoders 221, 222 of all banks 111, 112 based on a write-command WR or a read-command RD supplied after a refresh command REF is supplied at the time of a test operation of a refresh counter 15.例文帳に追加

開示される半導体記憶装置は、リフレッシュ・カウンタ１５のテスト動作時には、リフレッシュ・コマンドＲＥＦが供給された後に供給されるライト・コマンドＷＲ又はリード・コマンドＲＤに基づいて、すべてのバンク１１__１及び１１_２のカラム・デコーダ２２_１及び２２_２を活性化する。 - 特許庁

By an operation PC, condition values of a plurality of testing conditions for evaluation test against the virtual vehicle composed of the simulator and a frame car which is the actual machine are set in the simulator (S200), and the value of the control parameter for controlling actuation of the virtual vehicle is set in an ECU of the frame car (S202).例文帳に追加

オペレーションＰＣは、シミュレータと実機部であるフレームカーとからなる仮想車両に対する評価試験用の複数の試験条件の条件値をシミュレータに設定し（Ｓ２００）、仮想車両の作動を制御するための制御パラメータの値をフレームカーのＥＣＵに設定する（Ｓ２０２）。 - 特許庁

When an internal enable signal 13 is outputted from the PLL circuit 3 to the BIST circuit 5, a test at the actual operation speed is started, corresponding to the phase lock time of the PLL circuit mounted in each IC, thus preventing useless idle time during the self testing of function.例文帳に追加

ＰＬＬ回路３が内部イネーブル信号１３をＢＩＳＴ回路５に出力することにより、ＩＣ個々に搭載されるＰＬＬ回路の位相ロック時間に対応して実動作速度によるテストが開始されるので、自己機能テスト中に無駄な空き時間が発生しない。 - 特許庁

When a test operation mode is designated by the mode signal MOD, each terminal B of the input side selector 15 and the output side selector 17 is selected, and the logic circuit 16 is disconnected, and the input buffer 14 and the output buffer 19 are connected together in one-to-one correspondence through a bypass circuit 18.例文帳に追加

モード信号ＭＯＤで試験動作モードを指定すると、入力側セレクタ１５と出力側セレクタ１７の端子Ｂが選択され、論理回路１６が切り離されて、バイパス回路１８を介して入力バッファ１４と出力バッファ１９が１対１に接続される。 - 特許庁

Thereby, after the master chip 1 and a subordinate chip 2 are jointed, the operation confirmation of only the master chip 1 or the subordinate chip 2 and the connection confirmation of the master chip 1 and the subordinate chip 2 are enabled, by pressing test probes P against the parts of the extending part 14 which is drawn out to the outside of the junction region 12.例文帳に追加

これにより、親チップ１と子チップ２とが接合された後であっても、延設部１４の接合領域１２の外方に引き出された部分にテストプローブＰを押し当てて、親チップ１または子チップ２のみの動作確認や親チップ１と子チップ２との接続確認を行うことができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, in which an increase of a chip area is restricted, failure of a depression type MOS transistor for output of a step-down circuit is prevented, and is capable of realizing an operation lower limit test of an internal circuit that operates by voltage lower than operating voltage of an external interface circuit, and a method of testing thereof.例文帳に追加

チップ面積の増加を抑え、また降圧回路の出力用デプレッション型ＭＯＳトランジスタの破壊を防ぎ、外部インタフェース回路の動作電圧より低い電圧で動作する内部回路の動作下限テストを実現することができる半導体装置、およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a semiconductor test method, which allow the control of power source supply to each block and the detection of a failure of a power switch inside LSI while suppressing the reduction in performance of LSI operation as a whole.例文帳に追加

ＬＳＩの全体動作のパフォーマンス低下を抑えながら各ブロックに対する電源供給の制御を行うことができ、且つＬＳＩ内部のパワースイッチの故障を検出することが可能な半導体装置及び半導体テスト方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

This device is a 64 Mb DRAM, and constituted with four banks Bank0-Bank3 of a reduction unit, at the time of reduction test, write operation is performed by developing writing data of data input/output pads IO2, IO6, IO9, IOD to each four IO in each bank Bank0-Bank3.例文帳に追加

６４ＭｂＤＲＡＭであって、縮約単位の４つのバンクＢａｎｋ０〜Ｂａｎｋ３から構成され、ＩＯ縮約テスト時に、書き込み動作は、各バンクＢａｎｋ０〜Ｂａｎｋ３において、データ入出力パッドＩＯ２，ＩＯ６，ＩＯ９，ＩＯＤの書き込みデータを各４ＩＯに展開して書き込み動作を行う。 - 特許庁

To make light a tester body instead of a conventional, large-scale tester, to accommodate the tester in a compact, strong package, to carry and install the tester easily, to perform unmanned test operation independently without receiving any power supply, and to automatically transmit data by radio for achieving remote monitoring.例文帳に追加

従来の大掛かりな装置でなく、装置本体が軽量かつ、コンパクトで頑丈なパッケージに収められており、持ち運びや、設置に容易であり、しかも、電力供給を受けずに無人独自で試験運転ができ、データも自動的に無線転送して遠隔監視を可能にする。 - 特許庁

To specify a cause of damage in an evaluation after test using the recording operation evaluation apparatus of the magnetic recording medium of a head load/unload system, by avoiding the mixture of the damage of a head on a medium to be tested during loading and unloading.例文帳に追加

本発明の課題は、ヘッドロード・アンロード方式の磁気記録媒体の記録動作評価装置において、被試験媒体上におけるヘッドの導入（ロード）動作時の損傷と待避（アンロード）動作時の損傷の混在を避け、試験後の評価において損傷原因の特定を可能にすることにある。 - 特許庁

A measurement pattern table 11 registers a measurement pattern for deciding the speed of the measurement of an execution start time for starting the execution of an operation pattern for a test, the execution end time, and a time from the execution start time to the execution end time for each time zone.例文帳に追加

計時パターンテーブル１１には、テストを行う運行パターンの実行を開始する実行開始時刻、実行終了時刻、及び、実行開始時刻から実行終了時刻までの間の時間の計時をどのような速さで行うかを時間帯毎に定めた計時パターンが登録されている。 - 特許庁

To provide a facsimile test system capable of improving examination efficiency, and reducing examination cost, by automatically performing an operational direction, a measurement and the like to a facsimile device, without needing manual operation at the side of a facsimile device to be tested and also a special device for examination.例文帳に追加

被試験装置であるファクシミリ装置側で人の操作が不要で、且つ試験用の特別な装置を必要とせず、ファクシミリ装置に対する動作指示、測定等を自動的に行い、試験効率の向上と試験コストの低減を図るファクシミリ試験システムを提供すること。 - 特許庁

An offset is applied to a focal position on a semiconductor device 28 by changing the diameter of an electron beam irradiated to the semiconductor device 28 by the operation of an objective lens 11, or regulating the height of the objective lens 11 or a test piece 14 in response to the unevenness generated in the case of processing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を加工する際に生じた凹凸に応じて、対物レンズ11の作用により半導体装置28へ照射する電子線の径を変える、あるいは対物レンズ11や試料台14の高さを調整することで半導体装置28上の焦点位置にオフセットをかける。 - 特許庁

The write-in signal generating circuit 10 outputs a write-in activating signal WEd having shorter pulse width than a write-in control signal WE in a test mode and outputs a write-in activating signal WEd having the same pulse width as a write-in control signal WE in a normal operation mode.例文帳に追加

書込信号発生回路１０は、テストモードでは、書込制御信号ＷＥより短いパルス幅を有する書込活性化信号ＷＥｄを、通常動作モードでは、書込制御信号ＷＥと同一パルス幅の書込活性化信号ＷＥｄを出力する。 - 特許庁

To provide a multiple dwelling house interphone system for enabling a control unit, a room master unit and a control room master unit or the like corresponding to a plurality of systems to perform an operation test by a single unit, and for, even if erroneous setting is generated due to this, performing erroneous setting notification.例文帳に追加

複数のシステムに対応可能な制御機、居室親機、管理室親機等が単体で動作試験を可能とする構成とするとともに、それにより誤設定となってしまった場合であっても当該誤設定を知らせることができる集合住宅インターホンシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a scenario generation device, program, and scenario generation method for generating a test scenario for testing about wheter or not a tested device normally operates even when the tested device operates based on not only a manual operation but also an external signal.例文帳に追加

テスト被対象装置が人手の操作だけではなく外部信号に基づいて動作する場合であっても、そのテスト被対象装置が正常に動作するか否かについてテストするテストシナリオを生成することができるシナリオ生成装置、プログラム及びシナリオ生成方法を提供する。 - 特許庁

The communication control part 14A rewrites the application data generated by the communication software 15 to false application data for performing an abnormality test of the communication protocol on the basis of the abnormality generation operation condition stored in the storage part 14D, and sends the false application data to the protocol stack 13.例文帳に追加

通信制御部１４Ａは、記憶部１４Ｄに記憶された異常発生動作条件に基づいて、通信ソフトウェア１５が生成したアプリケーションデータを通信プロトコルの異常試験を行うための擬似アプリケーションデータに書き換えるとともに、この擬似アプリケーションデータをプロトコルスタック１３に送る。 - 特許庁

The imaging apparatus comprises a section 103 for developing inputted image data into bit data, and means 104 for forming an image on a recording medium based on the bit data wherein a signal for initialization the image developing section 103 and a test start signal for performing test operation of the imaging means are delivered to the image developing section 103 and the imaging means 104 through a signal line S1.例文帳に追加

入力された画像データをビットデータに展開する画像展開部１０３と、そのビットデータに基づいて記録媒体に画像形成を行う画像形成手段１０４とを備え、画像展開部１０３の初期化を行うための初期化信号と、前記画像形成手段の試験動作を行うためのテスト開始信号とを共用の信号線Ｓ１を通してそれぞれ画像展開部１０３と画像形成手段１０４に送出する。 - 特許庁

The writable optical disk record reproducing device is structured so that a laser output can be set by recording a test signal to a trial writing area placed on the disk and can repetitively execute a record operation, in which the laser output is set by recognizing the record characteristics of the recorded signal after executing two times of operations recording the test signal by varying the laser output to the trial writing area.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録することによりレーザー出力を設定することが出来るように構成され、且つ記録動作を繰り返し行うことが出来る書き換え可能な光ディスク記録再生装置において、試し書き領域へレーザー出力を変化させてテスト信号を記録する動作を２回行った後、記録された信号の記録特性を認識することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁

This circuit is provided with a normal circuit for performing a scan test, a BIST control circuit having a mode 1 in which operation is automatically stopped after writing a pattern in the memory and a mode 2 in which a value written from the memory is read and compared with the prescribed expected value, and a memory write prohibiting circuit fixing an input signal to the memory while the normal circuit is in a scan test.例文帳に追加

スキャンテスト可能な通常回路と、前記通常回路に接続されるメモリとを有する半導体回路において、前記メモリにパターンを書き込みして自動に停止するモード１と前記メモリから書き込んだ値を読み出して所定の期待値と比較するモード２とを有するＢＩＳＴ制御回路と、通常回路がスキャンテストにある間、前記メモリへの入力信号を固定するメモリ書込禁止回路と、を備える構成とした。 - 特許庁

To provide a confirmation device confirming that each terminal normally operates in a state monitoring system including the plurality of terminals each detecting a prescribed state and a reception device receiving an operation signal from the terminal, and allowing certain confirmation of the operation signal generated when the terminal operates when test-operating the terminal.例文帳に追加

所定の状態を検知する複数の端末器と、上記端末器から動作信号を受信する受信装置とを具備する状態監視システムにおける上記端末器が正常に動作することを確認する確認装置において、端末器を試験動作させた場合に、その端末器が動作したときに生じる動作信号を確実に確認することができる確認装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In this program to be tested resources competition testing method for verifying an operation about competition of computer resources for a program 2 to be tested being a test target operating on a computer, a competitive program 4 having a function for creating a competing state of the computer resources gives disturbance to processing of the program 2 to be tested to verify the operation by intentionally using applicable resources to the computer resources.例文帳に追加

コンピュータ上で動作するテスト対象の被テストプログラム２に対し、コンピュータ資源の競合に関して動作検証する被テストプログラム資源競合テスト方法において、コンピュータ資源に対して意図的に該当資源を使用することで、コンピュータ資源の競合状態を作り出す機能を有する競合プログラム４により、被テストプログラム２の処理に外乱を与えて前記動作検証を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit that secures a timing margin at -40°C in the design of the semiconductor integrated circuit, guarantees normal operation under a low-temperature environment since design and a substantive test for securing appropriate operation under strict temperature conditions, such as -40°C, require a great number of working hours and time, and can reduce a design period, and to provide a system.例文帳に追加

半導体集積回路の設計において−４０℃でのタイミングマージンを確保するとともに、−４０℃というような厳しい温度条件での適切な動作を確保するための設計及び実証テストは非常に多くの工数、手間、及び時間がかかる問題があるため、低温環境下での正常動作を保証するとともに、設計期間を短縮することが可能な半導体集積回路及びシステムを提供する。 - 特許庁

The timing when the plurality of operation clocks inside the semiconductor integrated circuit have a prescribed phase relation is detected by a phase relation detection circuit, and a trigger signal is outputted, and an input timing of a test pattern, a start timing of the verification program and a comparison timing with the expectation data are used as a relative timing based on a trigger timing.例文帳に追加

半導体集積回路内部の複数の動作クロック１、２が所定の位相関係になるタイミングを位相関係検出回路により検出し、トリガー信号を出力して、試験パターンの入力タイミング、検証プログラムの開始タイミング、期待値データとの比較タイミングを、前記トリガータイミングを基準とした相対タイミングとする。 - 特許庁

In performing the test, an operation terminal 12 is operated to input the simulation data stored in the simulation data storing means 15, to the vibration judging means 12, to switch the same by the input signal switching means 18, whereby the vibration judging means 12 tests whether the motion is properly performed or not on various simulation data.例文帳に追加

試験を行うときは、模擬データ記憶手段１５に記憶された模擬データが振動判断手段１２に入力されるように操作端末２１を操作して入力信号切替手段１８により切り替え、種々の模擬データについて振動判断手段１２が、然るべく動作するか否かを試験する。 - 特許庁