「Test operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

In the SRAM block, an error in a memory cell having a small operating margin which is caused by a variation in threshold voltage is generated intentionally by an acceleration test, so as to previously perform a predictive diagnosis of an error that occurs during a normal operation.例文帳に追加

ＳＲＡＭブロックにおいて、しきい値電圧のバラツキによって生じた動作マージンの小さいメモリセルにおけるエラーを、加速試験によって意図的に発生させ、通常動作時に発生するエラーを事前に予知診断することを図る。 - 特許庁

To enable immediate coping with abnormalities, by timely transmitting a maintenance manager the occurrence of abnormality during a burn-in test; and to enable grasping the operating state of the burn-in device, even if the maintenance manager is located at a remote location, and starting up of the operation thereof.例文帳に追加

バーンイン試験中の異常の発生を保守管理者にタイムリーに伝達して、異常に直ちに対応できるようにし、また、遠隔地にいても保守管理者がバーンイン装置の稼動状況等を把握したり起動できるようにすること。 - 特許庁

Preferably, the size of the medium is automatically decided by a printer, and when the test pattern is printed, the printer automatically interprets it and sets or adjusts operation parameters such as a color calibration parameter.例文帳に追加

好ましくは、媒体のサイズはプリント装置によって自動的に判定され、テストパターンのプリントがプリントされるとプリント装置によって自動的に解釈されてプリント装置の、例えば色校正パラメータのような動作パラメータを設定あるいは調節する。 - 特許庁

To provide an exhaust treatment device capable of being used for an operation test of a fuel cell system, and free from the deterioration of the performance of a fuel cell even if a fuel cell system is in an idling stop state or power generation stop state at running of a vehicle.例文帳に追加

燃料電池システムの運転試験に用いることができるものであって、燃料電池システムがアイドルストップ状態や走行中発電停止になったとしても燃料電池の性能を劣化させることのない排気処理装置を提供する。 - 特許庁

A guarantee information storage part 12 of a guarantee information management server 11 stores guarantee information showing a test result of operation confirmation for whether image data to each CD-R is properly writable or not for every kind of CD-R.例文帳に追加

保証情報管理サーバ１１の保証情報記憶部１２には、各ＣＤ−Ｒに対する画像データの書き込みが適正に行われるか否かの動作確認のテスト結果を示す保証情報が、ＣＤ−Ｒの各種類毎に記憶されている。 - 特許庁

To provide an optical disk evaluating apparatus in which a test in the same position of an optical disk can be repeated with simple constitution by obtaining a position at which a signal is recorded and reproduced by arithmetic operation based on address information recorded in the optical disk.例文帳に追加

光ディスクに記録されたアドレス情報に基づいて信号を記録および再生する位置を演算により求めることにより簡単な構成で光ディスクの同じ位置のテストを繰り返し行うことができる光ディスク評価装置を提供する。 - 特許庁

A means is provided for controlling the operation of the nozzles, etc., so as to recognize the images of the components sucked at the component transfer position P2 and position the components at predetermined positions on the test head at once, based on the recognition result.例文帳に追加

さらに、部品受渡し位置Ｐ２において吸着した各部品を画像認識し、この認識結果に基づいてテストヘッドの予め定められた位置に各部品を同時に位置決めすべくノズル部材等を動作制御する制御手段を備えている。 - 特許庁

To prevent the generation of malfunction such as increase in error in recording parameter to be obtained or the obtainment of erroneous values, when the property of a recording track (sector) to be used is deteriorated due to defect or expiration of its life at test recording or reproducing operation to obtain recording pulse condition.例文帳に追加

記録パルス条件を求めるテスト記録再生時に、使用する記録トラック（セクタ）が、ディフェクトや寿命などで特性劣化していると、求まる記録パラメータの誤差が大きくなったり、誤った値を求めてしまう不具合が起こる。 - 特許庁

To easily and accurately carry out an output characteristic test in a short time in a turbine controller inputting an analog signal to control operation and supervision of a turbine where accuracy control of the analog signal affects apparatus protection and an output of the gas turbine and it is a very important factor in operation of a plant.例文帳に追加

アナログ信号を入力してタービンの運転、監視制御を行うタービン制御装置においては、アナログ信号の精度管理はガスタービンの出力と機器保護に影響を与え、プラントを運用していく上で非常に重要な要素であり、短時間の内に容易且つ正確に出力特性試験を行えることが望まれている。 - 特許庁

This successive approximation type A-D converter stores a value stored in a conversion midway result register 701 to a conversion result register 702 on the way of A-D conversion and outputs the conversion midway result of the A-D converter to discriminate a defective operation on the way of the operation test.例文帳に追加

逐次比較型のＡＤ変換装置（１）で、テスト時、ＡＤ変換の途中に変換の途中結果レジスタ（７０１）へ格納される値を、変換結果レジスタ（７０２）にも格納し、ＡＤ変換装置の変換途中の結果を出力することにより、動作テストの途中で動作不良の判定が可能な逐次比較型ＡＤ変換装置により達成できる。 - 特許庁

The first and second switches M1 and M2 are used to switch between a normal operation mode to detect charge from an input terminal 11 at the trace charge detecting circuit and a test operation mode to convert a voltage signal from the input terminal 11 into charge at the capacitance Ct for converting charge and to detect the converted charge at the trace charge detecting circuit 3.例文帳に追加

そして、第１,第２のスイッチＭ１,Ｍ２によって、入力端子１１からの電荷を上記微小電荷検出回路で検出する通常動作モードと、入力端子１１からの電圧信号を電荷変換用容量Ｃtで電荷に変換して、変換された電荷を微小電荷検出回路３で検出するテスト動作モードとを切り換える。 - 特許庁

In a judgment time measurement test, a control section 9 causes multiple signs to be randomly selected and displayed on a display screen 6 according to the operation input from the person into the input button 7 and sequentially detects, as a judgment time, the time from the start of display of a displayed sign to the first operation input from the person into the input button 7.例文帳に追加

判断時間の測定テストでは、制御部９は、複数の記号を入力ボタン７に対する被験者からの操作入力に応じてランダムに切り替えて表示画面６に表示させ、表示した記号の表示開始から被験者からの入力ボタン７への最初の操作入力までの時間を判断時間として順次検出する。 - 特許庁

This switch operation test system 100 comprises this operation tester 10, a camera for photographing a member mounted with a switch, a computer 82 for determining the position of a prescribed switch by converting the coordinates of an image consisting of a photographed image into a three-dimensional coordinate consisting of the frame structure, and a controller 83 for transmitting a positional command to a moving unit.例文帳に追加

スイッチ操作試験システム１００は、このスイッチ操作試験装置１０と、スイッチが装着された部材を撮影するカメラと、撮影画像からなる画像座標をフレーム架構からなる３次元座標に変換して所定のスイッチの位置を特定するコンピュータ８２と、移動ユニットに位置指令を送信するコントローラ８３とから構成される。 - 特許庁

To reduce the test pattern required for analyzing the failure of a semiconductor integrated circuit while enhancing the efficiency of failure analysis by interrupting the operation at a moment at the time of observing the internal condition and making it possible to resume the operation after the internal condition of the semiconductor integrated circuit was observed from the outside thereof.例文帳に追加

内部状態を観察したい時点で動作を停止させ、半導体集積回路の外部から該半導体集積回路の内部状態を観察した後に、該動作停止を続行再開させることができるようにして、半導体集積回路の故障解析のテストパターン削減、及び故障解析能率向上を図ることができる。 - 特許庁

This device is provided with a fuse 13 to stop the normal operation of an internal circuit by re-connecting to a connection path of a terminal 11 for test and an internal circuit and a dummy fuse 16 which is provided near the fuse 13, has the same shape as the fuse 13, and by which normal operation of the internal circuit cannot be performed by re-connecting.例文帳に追加

検査用端子１１と内部回路との接続経路上に、再接続することにより内部回路の正常動作が不可能になるヒューズ１３と、ヒューズ１３の近傍に設けられ、ヒューズ１３と同形状で、且つ再接続することにより内部回路の正常動作が不可能になるダミーヒューズ１６とが設けられている。 - 特許庁

Respective visible images are respectively formed on image forming operation conditions which are different for at least one or more means out of an exposure means, a developing means, a primary transfer means, a secondary transfer means and a fixing means, and each operation condition is properly corrected in accordance with the density information of a test pattern formed on an intermediate transfer body or a transfer material.例文帳に追加

各々の可視像はそれぞれ、露光手段、現像手段、１次転写手段、２次転写手段、定着手段の少なくとも一以上の手段について相異なる画像形成動作条件をもって形成され、各動作条件は、中間転写体上及び転写材上に形成されたテストパターンの濃度情報に応じて適宜補正される。 - 特許庁

To remote control operation of a structure vibrator by switch operation for safe and sure vibration test, and to freely and selectively adjust a load applied on a rope-shaped body such as a wire so that the rope-shaped body such as a wire is disrupted under an arbitrary tensile or load.例文帳に追加

本発明は、スイッチ操作により構造物起振装置の作動の遠隔操作ができるようにして、安全かつ確実に振動試験を遂行することができるようにし、ワイヤー等の索条体にかかる荷重を自由に選択的に調整しながら任意の張力あるいは荷重でワイヤー等の索条体を分断することができるようにしたものである。 - 特許庁

Particularly, the combustion control device (40) previously creates prediction model equations as linear equations for the plurality of control parameters on the basis of data acquired during test operation, solves the prediction model equations during actual operation to find adequate values for the plurality of control parameters corresponding to the target values and calculate correction amounts, and controls the plurality of control parameters on the basis of the correction amounts.例文帳に追加

特に、試運転時の取得データに基づいて予測モデル式を複数の制御パラメータの一次式として予め作成し、実運転時に該予測モデル式を解くことにより、前記目標値に対応する複数の制御パラメータの適正値を求めて補正量を算出し、該補正量に基づいて複数の制御パラメータを制御する。 - 特許庁

The operation of the automating tools includes simulation of the operation of a reactor by using the test reactor core design, to generate a plurality of outputs on the basis of the restrictions, comparison of the outputs with the restrictions, and provision of data which indicate the restriction breached by the reactor core design during the simulation, on the basis of the comparison.例文帳に追加

選択された自動化ツールの動作は、試験炉心設計を用いて原子炉運転をシミュレートすること、制約に基づいて複数の出力を生成すること、制約を基準にして出力を比較すること、および、比較に基づいて、シミュレーション中に、試験炉心設計によって違反された制約を指示するデータを提供することを含む。 - 特許庁

The semiconductor storage device is equipped with control circuits (116, 118 and 121) which at test time and in the 1st mode, always generates refresh just before the read/write operation and sets always the latency as a 1st fixed value, and in the 2nd mode, always generates refresh just after the read/write operation and sets always the latency as a 2nd fixed value.例文帳に追加

半導体記憶装置は、テスト時に、第１のモードでは、リフレッシュを決まってリード／ライト動作の直前に発生させ、レイテンシーを常に第１の固定値に設定し、第２のモードでは、リフレッシュを決まってリード／ライト動作の直後に発生させ、レイテンシーを常に第２の固定値に設定する制御回路（１１６、１１８、１２１）を備えている。 - 特許庁

To continuously conduct a liquid drop delivery operation test over a long period, and to automatically carry out confirmation of defective discharge such as omission of delivery, restoration of the defective discharge, and setting for a voltage waveform for a delivery head.例文帳に追加

液滴吐出動作試験を長期間連続的に行うと共に、吐出抜け等の吐出不良の確認と、当該吐出不良の復旧と、吐出ヘッドの電圧波形の設定とを自動的に行うことが可能となる液滴吐出評価試験装置を提供する。 - 特許庁

An MPU 8 watches the state of an ejecting button 5 under the condition that a test compact disk is not loaded at startup, and when it is detected that the ejecting button 5 is pushed continuously or multiply within a prescribed period of time, the optical disk device 1 is laid under a testing operation.例文帳に追加

ＭＰＵ８は起動時にテスト用のコンパクトディスクが搭載されていない状態でイジェクト釦５の状態を監視し、所定時間内に連続又は多重にイジェクト釦５が押されたことが検出されると、光ディスク装置１は試験動作状態となる。 - 特許庁

After a test signal is sounded from a master unit speaker 22 on receipt of a prescribed operation of a master unit 2, a reception offset continuation time is set if a transmission voice detector 49 detects a time in which an input level of a master unit microphone 21 becomes lower than the transmission voice threshold.例文帳に追加

受話オフセット継続時間は、親機２の所定の操作を受けて、テスト信号を親機スピーカ２２から報音させた後、親機マイク２１の入力レベルが送話音声閾値を下回るまでの時間を送話音声検出部４９が検出して設定される。 - 特許庁

The hot-cold shock testing device includes first control means for stopping at least one of the refrigerator, the first heater and the second heater to start a test interruption before starting the next hot-cold cycle operation after the end of the high temperature exposure state.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置は、高温さらし状態が終了した後、次の冷熱サイクル動作を開始する前に、冷凍機、第１加熱器および第２加熱器のうちの少なくとも１つを停止させて試験の中断を開始する第１制御手段を備える。 - 特許庁

The loss per unit length is acquired at the time point when the electronic test device is calibrated, the loss per unit length is acquired again at fixed time interval during an operation of the device, so as to determine the change by an environmental condition in the calibration of the device.例文帳に追加

電子テスト装置が校正される時点で単位長さあたりの損失を取得し、そしてこの装置の動作中に一定時間間隔でそれを再度取得することにより、その装置の校正の環境条件による変化を決定することが出来る。 - 特許庁

Thus, a test does not need to be performed to each of the alarms at an installation place of the respective fire alarms 10 as it used to be, the operation tests of the fire alarms 10 can simultaneously be performed from the remote place, and time and labor needed for the tests can largely be reduced.例文帳に追加

従って、従来例のように個々の火災感知器１０の設置場所で１台ずつ試験を行う必要がなく、火災感知器１０の動作試験を遠隔から一斉に行うことができて試験に要する時間及び手間を大幅に減らすことができる。 - 特許庁

To provide a microtest chip having a high degree of freedom in disposing flow channels and wasting less specimens and reagents for accurately quantitating and dividing specimens and reagents individually for respective flow channels with a simple operation, and a liquid quantitation method of the microtest chip and a test device.例文帳に追加

簡単な動作で検体や試薬等を流路毎に個別に正確に定量しながら分割もでき、流路の配置の自由度も高く、検体や試薬等の無駄も少ないマイクロ検査チップ、マイクロ検査チップの液体定量方法および検査装置を提供すること。 - 特許庁

A circuit element of a logic circuit which is designed so that a scan pass test can be performed and has shift register constitution in a shift operation mode is utilized for an address register 3, a data input register 4, and a compare-register 5 constituting a semiconductor integrated circuit provided with self-diagnosis.例文帳に追加

診断機能を備えた半導体集積回路を構成するアドレスレジスタ３、データ入力レジスタ４およびコンペアレジスタ５に、スキャンパステストが実行可能に設計されシフト動作モード時にシフトレジスタ構成となる論理回路の回路要素を利用する。 - 特許庁

To easily adjust the positional matching of the working head position with the scheduled position of working, to perform positional adjustment without adjusting feed and movement of a long sheet to be worked, and to eliminate consumption of the sheet by a test operation.例文帳に追加

加工ヘッドの位置と加工予定位置との位置整合の調整作業を容易にするとともに長尺状の加工用シートの送行移動調整を行うことなく位置調整ができ、試験運転による加工用シートの消耗を解消することにある。 - 特許庁

The bending test device has a turn operation mechanism 7, reciprocatingly turning the movable frame body 6 around the support shaft 5 in a state with the respective wire harnesses 1 being retained between corresponding grommets of the respective fixed side retention panels 18 and corresponding grommets of the respective movable side retention panels 19.例文帳に追加

対応する各固定側保持パネル１８のグロメットと各可動側保持パネル１９のグロメット間にわたってそれぞれワイヤーハーネス１が保持された状態で、可動枠体６を支軸５回りに往復回動操作させる回動操作機構７が備えられてなる。 - 特許庁

A test signal generator 2 has a false random code generator 20 for generating false random codes in a burst form while holding the continuity of the codes and is allowed to intermittently operated by the burst form in response to an operation control signals from circuits 22, 24.例文帳に追加

テスト信号発生器２は、擬似ランダム符号を、バーストの形式でかつ符号の連続性を保持したままで発生するような擬似ランダム符号発生器２０を有し、回路２２、２４からの動作制御信号に応答してバースト形式で断続的に動作する。 - 特許庁

An elevator control board 7 starts the test operation of the car 2 for discriminating the necessity of the correction of control gains of the various sensors of the non-contact guide device 11 when it is recognized that the car 2 is stopped and there is no passenger in the car 2 when the car is stopped.例文帳に追加

エレベータ制御盤７は、乗りかご２が停止していて、乗りかご２内に乗客がいないと認められる場合には、非接触案内装置１１の各種センサの制御ゲインの補正の要否を判別するための乗りかご２のテスト運転を開始する。 - 特許庁

In the semiconductor integrated circuit, at the time of test operation of the variable delay circuit, a ring oscillator is constituted by the variable delay circuit to cause oscillation (S2), and the normality/abnormality of the variable delay circuit is determined by whether or not the ring oscillator satisfies predetermined monotonic increase conditions (S6) and linearity conditions (S7).例文帳に追加

可変遅延回路のテスト動作時には可変遅延回路によりリングオシレータを構成して発振させ（Ｓ２）、リングオシレータが所定の単調増加条件（Ｓ６）と線形性条件（Ｓ７）とを満たすか否かにより可変遅延回路の正常／異常を判定する。 - 特許庁

The power transmission system 100 is constituted to test the full-scale compressor rig 150 in a whole rate and load operation range and allows full compressor mapping from choke to stall, under a full load condition, a partial load (output turndown) condition, and a partial rate condition.例文帳に追加

動力伝達系１００は、速度及び負荷動作範囲全体にわたりフルスケール圧縮機リグ１５０を試験するよう構成され、チョークからストールまで全負荷、部分負荷（出力ターンダウン）及び部分速度条件でフル圧縮機マッピングを可能にする。 - 特許庁

Also in another example, an operation is performed as if the OOB signal control part 204 autonomously receives "COMWAKE", and the TEST-use state machine 251 which receives the information outputs the control signals for returning from the power-saving state to the state management part 222.例文帳に追加

また他の例では、ＯＯＢ信号制御部２０４が自発的に「ＣＯＭＷＡＫＥ」を受信したように動作し、この情報を受けたＴＥＳＴ用ステートマシーン２５１が、ステート管理部２２２に省電力状態から復帰するための制御信号を出力する。 - 特許庁

To provide a laminated semiconductor device having a favorable signal quality by structuring such that a test stub wiring is separated from a main signal wiring during normal operation.例文帳に追加

チップ積層された積層半導体装置のおいては、積層されるチップ間のみの接続で外部端子を備えていないパッドに対し個々のチップをテストするためのテスト用スタブ配線、テスト用信号ピンが付加されるため通常動作時において信号線の信号品質が劣化する。 - 特許庁

The test bench 1 used in verification processing of a circuit 100 for executing an access operation to the memory according to access requests to the memory from a plurality of access requesting origins, includes a plurality of memory models 503 corresponding to the plurality of access requesting origins.例文帳に追加

複数のアクセス要求元からのメモリに対するアクセス要求に応じてメモリに対するアクセス動作を実行する回路１００の検証処理で用いられるテストベンチ１において、複数のアクセス要求元に対応した複数のメモリモデル５０３を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a test function, capable of precisely evaluating the operation of each internal circuit, even if two or more internal circuits differed in function are mounted on a single chip, and the operating voltage varies with the internal circuits.例文帳に追加

１チップ上に機能の異なる複数の内部回路が搭載され、かつ、内部回路によって動作電圧が異なる場合においても、各内部回路の動作を正確に評価することが可能なテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk player using an optimization processing circuit (playback part) capable of optimizing an electric signal input from a PU (optical pickup part) without using a test signal generator or waveform observation equipment and without expanding an operation environment of genetic algorithm.例文帳に追加

テスト信号発生器や波形観測機器を用いず、かつ遺伝的アルゴリズムの動作環境を増設しなくても、ＰＵから入力した電気信号の最適化を行うことのできる最適化処理回路（再生部）を用いた光ディスク再生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a delay control circuit which delays a strobe signal by using a variable delay circuit including a plurality of unit delay elements and which performs an operation test of all the unit delay elements in a short time, not depending on the nonuniformity in the unit delay time of each chip.例文帳に追加

複数の単位遅延素子から構成される可変遅延回路を用いてストローブ信号を遅延させるものであって、チップ毎の単位遅延時間のばらつきによらず、全単位遅延素子の動作テストを短時間で行うことができる遅延制御回路の提供。 - 特許庁

To provide a mounting method of a package board and a flip chip device, which can eliminate high frequency operation failures of a MCM by taking a simple means and facilitate a test of a flip chip device as well as an exchange of a failure device easily.例文帳に追加

パッケージ基板及びフリップ・チップ型素子に関し、簡単な手段を採ることで、ＭＣＭに於ける高周波動作の不良が発生しないフリップ・チップ実装を可能とし、フリップ・チップ型素子の製品検査、及び、不良品の交換を容易に行うことができるようにする。 - 特許庁

Each write-in driver transmits voltage selected by the voltage switch circuit to a bit line of which a group is selected in accordance with a data bit signal applied to a corresponding input/output pad during a test operation mode for measuring a cell current, and cuts off it.例文帳に追加

各書き込みドライバは、セル電流を測定するためのテスト動作モードの間、対応する入出力パッドに印加されるデータビット信号に応じて電圧スイッチ回路によって選択された電圧をグループの選択されたビットラインに伝達したり、遮断する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of simultaneously carrying out CBR refreshing of a normal area and CBR refreshing of a redundancy area once for eachpredetermined frequency of CBR refresh operation of the normal area at the refresh test of the redundancy area.例文帳に追加

冗長領域のリフレッシュテスト時において、通常領域のＣＢＲリフレッシュ動作の所定回数ごとに１回、通常領域のＣＢＲリフレッシュと冗長領域のＣＢＲリフレッシュとを同時に行なうことができる、半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Decoded addresses are utilized to execute all the test of N times of read-miss, N times of write-miss, N times of line fill, and cast-out operation to N mutually different addresses of the data cache.例文帳に追加

そして、デコーディングされたアドレスを利用してデータキャッシュのＮ個の互いに異なるアドレスに対するＮ回のリード−ミス（ｒｅａｄ−ｍｉｓｓ）、Ｎ回の書き込み−ミス（ｗｒｉｔｅ−ｍｉｓｓ）、およびＮ回のラインフィルおよびキャストアウト動作に対するテストを全部実行する。 - 特許庁

The test master can vary an input timing of the command for competition evaluation into the evaluation object macro over a part or the whole of a time range from a starting point of time of operation of the evaluation object macro up to just before finish time with respect to the access.例文帳に追加

テストマスタは、前記アクセスに対する評価対象マクロの動作の開始時点から終了直前までの時間範囲の一部又は全部にわたって、前記評価対象マクロに対する前記競合評価用の命令の投入のタイミングを可変させる。 - 特許庁