「Test operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

The performance of reading out and comparing the data can be set in a test operation selecting part 2 after resuming the power supply to the memory 9, and this setting is effective even after resuming the power supply to the memory 9.例文帳に追加

メモリ９への給電再開後にデータの読出および比較を行うことを試験動作選択部２に設定することができ、この設定はメモリ９への給電再開後も有効である。 - 特許庁

In a dynamometer for controlling to drive a testing machine body, a shape of a test piece (round bar, rectangle, pipe) is selected from a panel face of an operation display panel part 1 of a control part 20c and a size is input.例文帳に追加

試験機本体を駆動制御する動力計において、制御部２０ｃの操作表示パネル部１のパネル面から試験片の形状（丸棒、矩形、パイプ）を選択し、寸法を入力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing the conversion characteristics artificially in the case of a high speed operation of an ADC (analog to digital converter) without actually operating the ADC at high speed, and to provide its test method.例文帳に追加

実際にＡＤＣを高速動作させることなく、その高速動作時の変換特性を疑似的にテストすることができる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

Log data at the performance of a manual operation are read from a log file 110, and continuous log data in which an input signal value and an output signal value are neither changed are identified, and integrated into one test vector.例文帳に追加

ログファイル１１０からマニュアル操作した際のログデータを読み込み、入力信号値と出力信号値とが共に変化していない連続したログデータを識別して１個のテストベクタに統合する。 - 特許庁

Since a level of a power source voltage VCC is not required to be lowered in the test mode, an operation of an input-output circuit supplied with the power source voltage VCC is carried out without getting unstable.例文帳に追加

しかも、この試験モードにおいては電源電圧ＶＣＣのレベルを低下させる必要がないため、電源電圧（ＶＣＣ）が供給される入出力回路の動作が不安定にならずに済む。 - 特許庁

To provide a PCS testing apparatus and a PCS testing method in which an operation test of a communication device can be performed in the case that a frame is transmitted and received at a specific inter-frame gap.例文帳に追加

本発明は、特定のフレーム間ギャップでフレームを送受信した場合における通信機器の動作試験を可能にするＰＣＳ試験装置及びＰＣＳ試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a server that performs operation test immediately before mounted on a system body, and reduces the time required for maintenance even if a failure occurs during transportation or the like, and to provide a blade server system and a transportation box.例文帳に追加

システム本体に実装する直前に動作確認を行い、輸送中等に故障が発生しても保守に要する時間を短縮することが可能なサーバ、ブレードサーバシステム及び輸送箱を提供する。 - 特許庁

A writing-in circuit 15 outputs a control signal RGT allowing writing-in of the data to the test register 16, in response to the writing-in command WR output from the operation control part 12.例文帳に追加

書き込み回路１５は、前記動作制御部１２から出力される書き込みコマンドＷＲに応答して、テストレジスタ１６へのデータの書き込みを許可する制御信号ＲＧＴを出力する。 - 特許庁

To provide a pretreatment system for preventing lowering of the pretreatment capability of a sample, such as dilution of a sample, in a clinical test that uses biological samples, and also to provide an operation method therefor.例文帳に追加

生体試料を用いた臨床検査の分野において、サンプルの希釈をはじめとするサンプル前処理の処理能力を低下させないための前処理システムおよびその動作方法を提供する。 - 特許庁

Further, a testing device 40 is placed indoors for making an operation test of the vehicle 20, and horse-power information outputted from the vehicle 20 is sent to a control part 3 from the testing device 40.例文帳に追加

また、屋内には、車両２０の運転試験をするための試験装置４０が設けられ、この試験装置４０によって車両２０から出力される馬力情報が制御部３に送られる。 - 特許庁

To enable a semiconductor memory constituted of plural memory banks to simultaneously write the same data in each memory cell, to reduce the number of times of write-in operation and to shorten a test time.例文帳に追加

複数のメモリバンクで構成される半導体記憶装置において、各メモリセルに対して同一データを同時に書き込むことを可能とし、書き込み動作回数を低減して、テスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

When the operation test of the user computer 10 is performed, a portable terminal 20 acquires a model number, a constitution equipment name, and the revision of an electronic circuit package from the user computer 10 via an infrared light transmission/reception port.例文帳に追加

ユーザコンピュータ１０の動作テストを実施するとき、携帯端末２０は、赤外線送受信ポートを介してユーザコンピュータ１０から型番、構成装置名、電子回路パッケージのレビジョンとを取得する。 - 特許庁

When the distribution of the contents with the high image quality is specified from an operation unit 27, transmission of test data for transfer speed confirmation is requested from a transfer rate confirmation part 22 to a video distribution device 10.例文帳に追加

操作部２７から高画質でのコンテンツの配信が指定されると、転送レート確認部２２から動画配信装置１０に対して転送速度確認用の試験データの送信を要求する。 - 特許庁

To shorten the time required for displaying, by simplifying operation for displaying a physical map from a result of a memory test of a semiconductor integrated circuit device(IC), mixed in plural memory blocks.例文帳に追加

複数のメモリブロックが混在する半導体集積回路装置（ＩＣ）のメモリテストの結果から、物理マップを表示するための作業を簡略化し、表示までの時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

The provision of a switching transistor, a selector, a fuse, or a connector brings the test stub wiring into conduction during testing, and out of conduction during normal operation, thus maintaining signal quality of the signal wiring.例文帳に追加

スイッチ用トランジスタ、セレクタ、ヒューズ、プローブまたはコネクタを設けることで、テスト用スタブ配線をテスト時には導通させ、通常動作時には非導通とすることで信号線の信号品質を確保する。 - 特許庁

To provide a router itself to easily and accurately investigate the routing operation by assigning one routing processor or more to be a test processor among routing processors.例文帳に追加

複数のルーティングプロセッサの内、一つ又は、一つ以上のルーティングプロセッサをテスト用として割り当てることにより、ルータ装置単体で、ルーティング動作を容易に且つ、正確に検証することを可能とする。 - 特許庁

To acquire a driving capacity required at the wafer test time, and to acquire a drive size enabling to drive another semiconductor device, while preventing generation of a drive noise and suppressing current consumption in ordinary operation.例文帳に追加

ウェハテスト時に要求されるドライブ能力を得ることができ、かつ通常動作時のドライブノイズ発生の防止と消費電流を抑えて別の半導体装置をドライブできるドライブサイズを得る。 - 特許庁

To enable testing by pin-multiplex function by applying the operation of a logic circuit for example to the test, and effectively evading decrease of the number of measurable channels.例文帳に追加

本発明は、半導体試験装置に関し、例えば論理回路の動作を試験に適用して、測定可能なチャンネル数の減少を有効に回避してピンマルチにより試験することができるようにする。 - 特許庁

Next, the single operation prevention part superposes a test pulse (Pt) on a waveform of an output voltage of a commercial power system, and the superposed waveform (W1) is transmitted to the inverter as a waveform (W0) of a control target.例文帳に追加

単独運転防止部は次に、テストパルス（Pt）を商用電力系統の出力電圧の波形（W0）に重畳し、その重畳波形（W1）を制御目標の波形としてインバータ部に送出する。 - 特許庁

A tester 1 and a plurality of sensors 2-1-2-n are provided with functions for performing the test of the plurality of sensors 2-1-2-n in a batch or continuously by a single operation in the tester 1.例文帳に追加

試験器１および複数の感知器２−１〜２−ｎは、試験器１における単一操作で、複数の感知器２−１〜２−ｎの試験を、まとめて、あるいは、連続して、行なう機能を有している。 - 特許庁

Hereby, the combinational circuit part 4 can be operated individually by propagating an individual signal at the test time, relative to the same signal linking to the combinational circuit part 4 at the ordinary operation time.例文帳に追加

これにより、通常の操作時には組合せ回路部４に繋がる同一信号に対して、テスト時には個別信号を伝播させて組合せ回路部４を個別に動作させることができるようになる。 - 特許庁

The checking PC 600 receives data memory information about the PLC 300 after alarm monitoring system operation test from the PLC, and an intermediate file generation part 651 generates an intermediate file to store it in a memory 610.例文帳に追加

チェック用ＰＣ６００は、警報監視システム動作試験後のＰＬＣ３００のデータメモリ情報を、ＰＬＣから受信し、中間ファイル生成部６５１が、中間ファイルを生成してメモリ６１０に格納する。 - 特許庁

The switch is configured in the first state during normal operation of the integrated circuit die, and is configured in the second state to permit test access to the internal signal pad via the peripheral signal pad.例文帳に追加

スイッチは集積回路ダイの通常動作中に第１の状態で構成され、周辺信号パッドを介した内部信号パッドへのテスト・アクセスを可能にするために第２の状態で構成される。 - 特許庁

The test mode can be used at the time of identifying an defective part for maintenance and the presence or absence of deficiencies can easily and precisely be identified by observing an operation by a single article.例文帳に追加

このテストモードは、メンテナンスにあたって、不具合箇所の識別を行うときに利用することができ、単品での動作を観察することにより、不具合の有無を簡単、かつ正確に認識できる。 - 特許庁

To improve an operation ratio by eliminating a system stop in renewing each device and equipment configuring a digital control system, and to shorten a renewal interval by facilitating a characteristic test after renewal.例文帳に追加

ディジタル制御システムを構成する各装置・機器の更新時に、系統停止を不要にして稼働率を向上し、更新後の特性試験を容易に行なえるようにして、更新期間を短縮する。 - 特許庁

Special single bit obstacles caused by a leakage current, a junction current, or a threshold value leakage current are characterized by varying (p) well voltage 32 of a memory device during reading operation of a test.例文帳に追加

漏れ電流、接合電流、または閾値漏れ電流による特別な単一ビット障害は、テストの読取り動作中にメモリ・デバイスのｐウェル電圧３２を変化させることによって特徴付けられる。 - 特許庁

To provide an IC tester, an IC testing method and a production method of semiconductors which can shorten the testing time by improving the flow of the control in the certification test of the operation voltages of ICs.例文帳に追加

ＩＣの動作電圧検定試験における制御の流れを改善し、テスト時間の短縮が図れるＩＣ試験装置及びＩＣ試験方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Also, at the time of an operation test before shipping, the number of write and erase pulses and an optimum value of drain voltage and source voltage in a range in which over-stress is not given to a memory cell are measured.例文帳に追加

また、工場出荷前の動作試験時に、書き込みまたは消去パルス数の測定と、メモリセルに過剰ストレスを与えない範囲でのドレイン電圧やソース電圧の最適値の測定と、を行う。 - 特許庁

Further, at the time of automatic refresh operation of a test mode, as the address selector 15 selects an external address TAiB and outputs it, word lines of main cells and word lines of spare cells can be sequentially accessed by adjusting externally the external address TAiB.例文帳に追加

アドレス選択器は、前記テストモードの自動リフレッシュ動作時には前記モードレジスターセット信号の活性化に応答して外部から印加される外部アドレスを選択してメモリセルアレイに出力する。 - 特許庁

To grasp a screen transitional situation by a screen transition diagram even when a screen transition setup is changed for executing a test according to an operation checking environment and a development progress situation.例文帳に追加

動作確認環境や開発の進捗の状況に応じて、テスト実行用に画面遷移設定が変更された場合においても、画面遷移図による画面遷移状況の把握を可能とする。 - 特許庁

In a test operation, a potential difference between the bit-line pair BLm, NBLm is reduced by grounding the bit-line BLm conducting to an H-side memory holding node of a memory cell Mn_m.例文帳に追加

テスト動作時において、メモリセルＭｎ＿ｍのＨ側記憶保持ノードと導通するビット線ＢＬｍを所定時間接地することによって、ビット線対ＢＬｍ，ＮＢＬｍ間の電位差を小さくする。 - 特許庁

Also, the test recording operation is carried out to the optical disk by using the recording power series rearranged so that the adjacent recording powers are discontinuous in magnitude, in consideration of a periodicity of sensitivity unevenness of the optical disk.例文帳に追加

また、光ディスクの感度ムラの周期性を考慮しつつ、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いて光ディスクにテスト記録を行う。 - 特許庁

In order to permit a special operation mode such as a test mode or the like, it can be incorporated in a memory device provided with a circuit requiring over-voltage excursion (deviation) of plural pieces of special terminals.例文帳に追加

テストモード等のような特別動作モードをイネーブルさせるために特定の端子の複数個の過電圧エクスカーション（振れ）を必要とする回路を具備するメモリ装置内に組込むことが可能である。 - 特許庁

To provide a learning method of the pedal play quantity in an automobile automatic operation device capable of acquiring the play quantity of an accelerator pedal or a brake pedal in a short time and even before cold test driving.例文帳に追加

アクセルペダルやブレーキペダルの遊び量を、短時間にしかもコールドテストの走行前においても求めることができる自動車自動運転装置におけるペダル遊び量の学習方法を提供すること。 - 特許庁

To perform a test by grasping a route (system) of a communication path in operation in a packet communication network having redundant packet communication paths, and acquiring accurate hop number of a node on the grasped route.例文帳に追加

パケットの通信路が冗長化されたパケット通信ネットワークにおいて運用中の通信路の経路（系）を把握し、把握した経路上のノードの正確なホップ数を取得して試験を行う。 - 特許庁

Article 46 (1) The Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism may have its designate (hereinafter referred to as "designated testing agency") conduct the services related to execution of the Operation Manager test (hereinafter referred to as "testing procedures"). 例文帳に追加

第四十六条　国土交通大臣は、その指定する者（以下「指定試験機関」という。）に、運行管理者試験の実施に関する事務（以下「試験事務」という。）を行わせることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The toner concentration of the formed test toner image is detected by a toner concentration sensor (S240), and a control parameter for controlling a toner image forming operation is set based on the detected toner density (S250).例文帳に追加

そして、形成された試験用トナー像のトナー濃度をトナー濃度センサで検出して（Ｓ２４０）、検出されたトナー濃度に基づいてトナー像形成動作を制御する制御パラメータを設定する（Ｓ２５０）。 - 特許庁

To provide a tape carrier module capable of inputting signals into the connection point of a plurality of mounted electronic parts or monitoring the signals at the connection point, for sufficient operation test.例文帳に追加

実装された複数の電子部品の接続点に信号を入力したり、接続点における信号をモニターすることにより、十分な動作テストを行うことが可能なテープキャリアモジュールを提供する。 - 特許庁

To provide a scan test circuit device and a flip-flop group initialization method inside an integrated circuit capable of reducing wiring by simplifying a constitution for initialization reset and by heightening operation speed.例文帳に追加

初期化リセットのための構成を簡単にし、動作速度を上げて、配線を少なくすることができるスキャンテスト回路装置および集積回路内部のフリップフロップ群初期化方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technique for dividing operation of adjustment of pitches between front and back or right and left of a semiconductor to be performed stepwise when loading the semiconductor element from a customer tray to a test tray.例文帳に追加

顧客トレイからテストトレイに半導体素子をローディングする時、段階的に行われる半導体素子の前後及び左右ピッチの調整を分業化することができる技術を提供する。 - 特許庁

To enable a user to check a printing result by test printing without requiring a complicated operation for the user when appending specified additional information that indicates importance to image data to print.例文帳に追加

印刷すべき画像データに重要であることを示す特定の付加情報を付加した場合に、利用者の煩雑な操作を必要とすることなく、試し印刷によって印刷結果を確認できるようにする。 - 特許庁

To provide a steam valve capable of removing foreign matter particles accumulated between a valve shaft and a valve rod bushing by performing a valve test without being limited by an operation condition of a steam turbine plant.例文帳に追加

蒸気タービンプラントの運転条件に制限されることなく弁テストを行い、弁棒と弁棒ブッシュとの隙間に堆積された異物粒子を除去することができる蒸気弁を提供する - 特許庁

Then the drive cable 9 for the TV set 1 is inserted into the drive circuit 11 and a characteristic test of the yoke 7' attached to the TV set 1 is executed in a state stopping the operation of the circuit 15.例文帳に追加

その後、テレビセット１のドライブケーブル９をドライブ回路１１に差し込み、かつディガウス回路１５の作動を停止させた状態で、テレビセット１に取り付けられた偏向ヨーク７’の特性試験を行う。 - 特許庁

To provide a preprocessing method for a semiconductor test program capable of shortening operation time as compared to a conventional program, and a semiconductor testing device equipped with a compiler for executing the preprocessing method.例文帳に追加

従来のプログラムに比べて動作時間を短縮可能とする半導体試験用プログラムの前処理方法および当該前処理方法を実行するコンパイラを備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In a normal operation where a test terminal 120 is low, input terminals 202, 212, 222, and 232 of first to fourth input circuits 200-230 are pulled up or down by transistors 208, 218, 228, and 238.例文帳に追加

テスト端子１２０がＬＯＷである通常動作では、第１〜第４の入力回路２００〜２３０の入力端子２０２，２１２，２２２，２３２を、トランジスタ２０８，２１８，２２８，２３８によりプルアップまたはプルダウンする。 - 特許庁