| 意味 | 例文 |
Test operationの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2158件
To provide a radiation detector and its test method capable of confirming soundness of operation of a discrimination level or the like, without using a bug source which is a feeble radiation source.例文帳に追加
微弱な放射線源であるバグソースを使用することなく、弁別レベル等の動作の健全性を確認することのできる放射線検出器およびその試験方法を提供する。 - 特許庁
A user checks the recording medium with a test image drawn for missing positions, and inputs an identification code representing such a position and an error checking code from an operation part 16.例文帳に追加
利用者が、試験画像が描画された記録媒体を参照し、消失位置を確認して、その位置を示す識別符号及び誤り判定符号を操作部16から入力する。 - 特許庁
Thus, the wrong set of the test mode during user's normal use can be prevented, and stability of the operation of the device and improvement in the security protection of the user program can be realized.例文帳に追加
これによって、ユーザが通常の使用中に誤ってテストモードに入ることを防止でき、半導体装置の動作の安定性及びユーザプログラムの機密保持性の向上を実現できる。 - 特許庁
To provide a down-sized and inexpensive scramble circuit by which sufficient generality for performing a test of a semiconductor memory is obtained, and which is capable of high speed operation.例文帳に追加
半導体メモリの試験を行う分には十分な汎用性が得られ、回路規模が小さく、高速動作可能で、且つ、低コストに製造することのできるスクランブル回路を提供することにある。 - 特許庁
A BIOS executes an operation test, regarding data transfer between a first device controller 20 and a device 21 while varying the combination of the value of interface voltage and the value of operating voltage.例文帳に追加
BIOSは、第1のデバイスコントローラ20とデバイス21との間のデータ転送に関する動作テストを、インターフェース電圧の値と動作電圧の値の組み合わせを変化させながら実行する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing individually a functional block out of a plurality which are provided, reducing the number of terminals for setting an operation mode to a minimum when a test is performed.例文帳に追加
テスト時の動作モードを設定するための端子数を最小限に抑えたうえで、複数備えられる機能ブロックを個別にテストすることができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
To provide an intercom capable of performing the connection of a tester with a terminal for an operation test of a fire sensor from the front surface and performing the adjustment of a position (angle) of a camera from the front surface.例文帳に追加
火災感知器の動作試験用端子への試験器の接続を前面から行うことができ、また、カメラの位置(角度)の調整を前面から行うことのできるドアホンを提供する。 - 特許庁
Two cooling coil units are installed in the cooling test device, and while one cooling coil unit is operated, the other cooling coil unit is defrosted, and each operation is performed alternately.例文帳に追加
冷却コイルユニットは、冷却試験装置内において2機設置し、一方の冷却コイルユニットの運転中において他方の冷却コイルユニットの除霜を行い、前記動作を交互に繰り返す。 - 特許庁
To provide a clamp mechanism for an IC tester which is lower cost and can be united to the body portion of its test head by a single lever operation, even when the shape of a board pressing portion is not circular.例文帳に追加
ボード押さえ部の形状が円形以外の場合であっても一回のレバー操作によりテストヘッド本体部と連結できコスト削減したICテスタのクランプ機構を提供する。 - 特許庁
To improve exactness in the operation confirmation of a characteristic test and a client trouble characteristic analysis at slipping inspection or introduction of a set by directly confirming the switching time of a transmitting/ receiving signal.例文帳に追加
送受信信号のスイッチング時間を直接確認できるようにし、出荷検査やセット導入時での特性試験、顧客不具合特性解析の動作確認の正確性を向上させる。 - 特許庁
To dispense with a line testing device exclusive for FCS check and to enable a normal operation confirmation test of FCS check during service in which a subscriber device is constantly stored.例文帳に追加
FCSチェック専用の回線試験装置を不要にし、かつ、加入者装置を常時収容している運用中でのFCSチェックの正常動作確認試験を可能にする。 - 特許庁
To perform the operation check of a FIFO memory consisting of dynamic elements by making a controlling part access a test data memory consisting of static elements.例文帳に追加
制御部から直接にバスを介して2値化回路のダイナミック素子からなるFIFOメモリに対して動作(読み書き)チェックを実施することができる方法およびOCR装置の提供。 - 特許庁
To realize downsizing of an apparatus and to reduce the decrease in productivity due to carrying out of a patch formation which does not receive any shock from a rotary or the like in a patch test in continuous operation.例文帳に追加
連続時のパッチ検においてロータリー等のショックを受けないパッチ形成を行い、装置の小型化の実現と連続時にパッチ形成を行うことによるプロダクティビティダウンを低減する。 - 特許庁
To automatically always set a master station and a slave station to optimal states, regardless of procedures taken when changeover from the state of all terminals being out of operation to an operating state and a local station test are performed.例文帳に追加
自局試験及び全端子休止状態から運用状態に切換える際の手順に関係なく、主・従局の設定を常に最適な状態に自動設定したい。 - 特許庁
As a result, among external circuits from 11-1 to 11-n, the external circuit corresponding to the transistor executing the on-operation becomes invalid, and the current path to a test power source 22 will not be established.例文帳に追加
その結果、外付け回路11−1〜11−nのうち、オン動作をしているトランジスタに対応する外付け回路が無効となり、試験用電源22への電流路は形成されない。 - 特許庁
To transmit data to a plurality of physical layer protocols PHY having a UTOPIA 1 interface from an ATM layer chip with a universe test and operation physical layer interface for ATM UTOPIA level 2 interface.例文帳に追加
UTOPIAレベル2インタフェースを有する1つのATMレイヤchipより、UTOPIAレベル1インタフェースを有する複数のPHYに対しデータの送信を可能とする。 - 特許庁
A test start instruction is transmitted to all the fire alarms 10 from a central monitor panel 20 via a radio repeater 1 and operation tests can be performed by the respective fire alarms 10.例文帳に追加
中央監視盤20から無線中継器1を介して全ての火災感知器10に試験開始命令を送信し、各火災感知器10に動作試験を行わせることができる。 - 特許庁
The image forming apparatus is equipped with a switching means for switching a normal operation mode and a test mode.例文帳に追加
画像形成装置の通常動作モードとテストモードを切り替える切替手段を設け、このテストモード時に、AFE等の変換手段の利得(ゲイン)を上限値または下限値に設定する設定手段を設ける。 - 特許庁
To reduce the workload of a person in charge of a test by clarifying a processing unit implicitly and automatically generated by a compiler, and making an operation verification of the pertinent processing unit easily executable.例文帳に追加
コンパイラが暗黙的に自動生成した処理単位を明示して、当該処理単位の動作検証を容易に実施可能にして、テスト担当者の作業量の軽減を図る。 - 特許庁
The liquid crystal display equipped with the alignment layer has the improved voltage holding characteristics in a reliability test and exhibits excellent operation characteristics even when a liquid crystal with high dielectric anisotropy is used.例文帳に追加
この配向膜を備えた本発明の液晶ディスプレイは、信頼性試験における保持特性が改善され、高誘電率異方性の液晶を使用しても、動作特性に優れる。 - 特許庁
Therefore, attachment and detachment of the connector cap 31 to the test connector 30 can be performed with single operation, and the attachment and detachment can be facilitated.例文帳に追加
従って、コネクタキャップ31の試験用コネクタ30に対する着脱をワンタッチで行うことができ、コネクタキャップ31の試験用コネクタ30に対する着脱を簡単にすることができる。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and a manufacturing method of the same capable of nicely maintaining the workability of a test process and reducing the generating probability of faulty operation of a semiconductor element.例文帳に追加
テスト工程の作業性を良好に維持するとともに、半導体素子の動作不良の発生確率を低減することが可能な半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a temperature-testing device, capable of quickly performing an operation confirming test at the accurate temperature by directly setting a part of an object to be tested to the predetermined temperature.例文帳に追加
試験対象の部品を直接、所定の温度にすることができ、正確な温度での動作確認試験をしかも速く行うことが可能な温度試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory which even when mounted on a memory module conforming to FB-DIMM, enables the memory module to output a verification result of circuit operation by a test mode.例文帳に追加
FB−DIMMに準拠したメモリモジュールに搭載された場合であっても、テストモードによる回路動作の検証結果をモジュールから出力可能とする半導体メモリを提供する。 - 特許庁
To provide a printing system which is capable of simultaneously executing a default setting operation and a test printing of a printing device by transmitting a single printing job from a printing job transmitting device.例文帳に追加
印刷ジョブ送信装置からの一つの印刷ジョブの送信により、印刷装置のデフォルト設定操作とテストプリントとを同時に実行することの可能な印刷システムを提供する。 - 特許庁
Then, retrieval test data being different mutually are stored in a word memory of the plurality of associative memory word circuits 6A by boosting the operation voltage VDD1, and the VDD2 at different times.例文帳に追加
そして、動作電圧VDD1,VDD2の立ち上げに時間差を設けることにより、前記複数の連想メモリワード回路6Aのワードメモリに、互いに異なる検索テストデータを記憶する。 - 特許庁
To set tests of a plurality of kinds of IC's by a simple operation, and to perform the tests automatically, concerning an automatic test method and a program of the IC.例文帳に追加
本発明はICの自動試験方法及びプログラムに関し,複数の品種のICの試験を簡単な操作により設定して自動的に試験を実行できることを目的とする。 - 特許庁
To provide an ion beam processing device and a sample processing method in which a test piece can be extracted from a sample in a short time without moving a stage while carrying out a sampling operation.例文帳に追加
サンプリング動作中にステージを移動させることなく試料から試料片を短時間に取り出すことができるイオンビーム加工装置及び試料加工方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for testing an integrated circuit capable of accurately performing an operation test of the integrated circuit even when the integrated circuit operates at a low voltage or a high frequency.例文帳に追加
集積回路の動作が低電圧化や高周波数化した場合でも、当該集積回路の動作テストを正確に行うことができる集積回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide constitution of a semiconductor integrated circuit device which can perform efficient detection of a fault by arbitrarily adjusting internal power source voltage in accordance with a purpose of an operation test.例文帳に追加
動作テストの目的に応じて、任意に内部電源電圧を調整することによって、効率的な不良検出が可能な半導体集積回路装置の構成を提供する。 - 特許庁
In the scan moving phase 320, a scan moving operation including data scan into and out of a plurality of scan chains arranged between the functional logic sections of the device during the test is performed.例文帳に追加
走査移動フェーズ320では、テスト中のデバイスの機能ロジックの部分間に配設された複数の走査チェーン中へ及び外へデータを走査することを含む、走査移動動作が行われる。 - 特許庁
To perform an operation test efficiently in a short time without preparing expected values to the number corresponding to the number of circuits, relative to a semiconductor device equipped with many circuits having the same constitution.例文帳に追加
同一構成の回路を多数具備する半導体装置に対して、回路数に応じた数の期待値を用意することなく、短時間で効率よく動作試験を行うようにする。 - 特許庁
This pseudo error signal generating circuit 30 converts an output signal of the memory circuit in accordance with a setting signal, and supplies a pseudo error signal required for verifying operation of the self-test circuit.例文帳に追加
この擬似エラー信号発生回路30は、メモリ回路の出力信号を設定信号に応じて変換して、自己テスト回路の動作検証に必要な擬似エラー信号を供給する。 - 特許庁
The power supply voltage V1 and timing of operation reference signals CLK, DQS are varied, and a test program is executed via an information processor 3 on which a memory board 2A is mounted.例文帳に追加
本発明は、電源電圧V1及び動作基準信号CLK、DQSのタイミングを可変して、メモリボード2Aを実装する情報処理装置3を介して試験プログラムを実行する。 - 特許庁
To provide an automatic switch with a heat ray sensor, capable of arbitrarily and precisely setting an operation time of a timer circuit, without using a variable resistor and facilitating a test work.例文帳に追加
可変抵抗器を用いることなくタイマ回路の動作時間を任意にかつ精度よく設定可能とするとともに試験作業を容易にする熱線センサ付き自動スイッチを提供する。 - 特許庁
To provide a backflow preventive device of a fuel filter connection port, for preventing backflow of fuel during the operation of an engine, without leakage of fuel during prestart test of the engine.例文帳に追加
エンジンのプレ始動試験過程での燃料漏出がなく、また、エンジン運転過程での燃料の逆流が防止できる燃料フィルタ連結口の逆流防止装置を提供する。 - 特許庁
During the burn-in test operation a word line selecting means 605 logically combines the signals to be impressed to the first to third pins A0 to A2 to selectively activate a plurality of word lines of a memory array 601.例文帳に追加
ウェハバーンインテスト時、ワードライン選択手段605 が第1乃至第3ピンA0〜A2に印加される信号を論理組合してメモリセルアレイ601 の複数本のワードラインを選択的に活性化させる。 - 特許庁
If a wafer burn-in test operation is performed under such power supply system, a DC current path formed by a latch-up phenomenon of a memory cell can be surely cut off.例文帳に追加
このような電源システムの下で、ウェハバーンインテスト動作が実行される場合に、メモリセルのラッチアップ現象により生じるDC電流経路を確実に遮断することができる。 - 特許庁
Referring to the test image, a user inputs a code that shows a disappearance position via an operation part 16 when there is the position where a line to be drawn disappears.例文帳に追加
利用者が上記試験画像を参照し、描画されるべき線が消失している消失位置があった場合に、その位置を示す符号を操作部16を介して入力する。 - 特許庁
To provide a line testing device capable of easily measuring signal distortion and transmission characteristics to be generated on a transmission path, and capable of performing a test without stopping any operation in a communication line.例文帳に追加
伝送路で生じる信号歪や伝送特性を容易に測定でき、通信回線の運用を停止せずに試験を実施することが可能な回線試験装置を提供する。 - 特許庁
In order to avoid it, this device comprises an operation margin test means capable of performing an inspection every port to specify the device having the possibility of causing a trouble, and a specifying function of failure site.例文帳に追加
これを回避すべく、不具合の生じる可能性のあるデバイスを特定するため、ポートごとに検査が可能な、動作マージンテスト手段と、障害部位の特定機能を具備する。 - 特許庁
The tube material is exposed to a stress corrosion cracking condition to generate the stress corrosion crack, by the inner pressure and the axial stress simulated with an operation condition, and the evaluation by an acceleration test is possible by this manner.例文帳に追加
管材は、操業条件に模した上記内圧と軸方向の応力により、応力腐食条件に晒されて腐食割れを発生し、加速試験による評価ができる。 - 特許庁
The other not depending on the number of times of start/stop but depending on a continuous operation time between start and stop is determined based on a high-temperature oxidation test result of a component constituting material.例文帳に追加
もう一方は、起動停止回数には依存せず起動停止間の連続運転時間に依存するものであり、部品構成材料の高温酸化試験結果をもとに求める。 - 特許庁
(3) No person shall be eligible for a competence test for an aircraft dispatcher unless he/she is of such age and has such experience in operation of aircraft as may be specified by Ordinances of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism 例文帳に追加
3 運航管理者技能検定は、国土交通省令で定める年齢及び航空機の運航に関する経験を有する者でなければ、受けることができない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
The normal operation confirmation test of the FCS inspection processing is performed based on the generation or no generation of the FCS error when the CRC polynomials of 16 bit, 32 bit are coincident or different.例文帳に追加
16ビット、32ビットのCRC多項式が一致又は相違した場合のFCSエラーの発生又は非発生に基づいてFCS検査処理の正常動作確認試験を行う。 - 特許庁
To provide a security device and a security method for reducing communication costs on inspection, and for improving the test precision in operation check, and for preventing omission of inspection.例文帳に追加
検査時の通信費用を削減しつつ、動作確認の試験精度を向上するとともに、検査の漏れを防止することができる警備装置および警備方法を提供すること。 - 特許庁
A device as one of embodiments of the present invention is provided with a control component for controlling a temperature test component for emulating the operation characteristic of the electronic device, to generate the environmental influence.例文帳に追加
本発明の一実施態様による装置は、電子デバイスの動作特性をエミュレートする温度試験構成要素を制御して、環境影響を生成する制御構成要素を備えている。 - 特許庁
Next, the BIOS selects one certain combination, which should actually be used among a plurality of combinations of the interface voltage and the operating voltage, based on the result of the operation test.例文帳に追加
次いで、BIOSは、動作テストの結果に基づいて、インターフェース電圧と動作電圧との複数の組み合わせの中から、実際に使用すべきある一つの組み合わせを選択する。 - 特許庁
To provide an operation tester for a smoke sensor that stably generates test smoke although having its whole structure simplified to be lightweight and low-cost, and further reduce running costs.例文帳に追加
全体構造を簡素化して軽量化と低コスト化を実現しながら、試験煙を安定して生成でき、しかもランニングコストを削減できる煙感知器用の作動試験器を提供する。 - 特許庁
To easily conduct a test of operation in case of trouble by causing dummy trouble without any anxiety about device breakage as to a computer system to which peripheral equipment is connected by an input/output interface.例文帳に追加
入出力インタフェースで周辺機器を接続するコンピュータシステムにおいて、装置破壊の懸念なく、簡便に疑似障害の発生による障害発生時運用試験等を行う。 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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