「Test operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

The radio communication terminal 1 loads a radio communication system for test/a communication protocol stack for test of which the operations are not yet completely guaranteed and both of an operation confirmed radio communication system/the communication protocol stack for test of which the operations are already completely guaranteed and stores a log indicating detailed information of the operations of itself in a nonvolatile memory 11 for log collection.例文帳に追加

無線通信端末１は、未だ動作が完全に保証されない試験用無線通信方式・試験用通信プロトコルスタック、および、既に動作が完全に保証される動作確認済無線通信方式・試験用通信プロトコルスタックの両方を搭載し、自身の動作の詳細情報を示すログをログ採取用不揮発性メモリ１１にストアする。 - 特許庁

This center provides the training facilities for BWR operation simulators (PC simulators), non-destructive test training equipment,eddy current test (ECT) equipments for steam generator tubing, 3-Dimentional cut models of NPP major components, electrical and instrumentation training facilities, the e-learning system (to study the PWR system), loop test devices (incident simulating loop and process instrumentation loop), condition monitoring testing facility and classrooms for lecture.例文帳に追加

この研修センターには、研修設備として、BWR運転シミュレータ（PCシミュレータ）、非破壊検査実習機器、蒸気発生器伝熱管体積検査（ECT）装置、主要機器モデル、電気設備モデル、e-ラーニング（PWR系統の学習）、ループ試験装置（異常事象模擬ロープ、プロセス計装ループ）、状態監視試験設備及び座学用教室が設けられている。 - 経済産業省

A variable resistor (37) is turned into a low resistance state, during normal operation to reduce a signal delay and is switched to a high resistance state during test operation, since logic defects are generated by a leakage current.例文帳に追加

可変抵抗手段（３７）は、通常動作時には、信号遅延の低減を図るために低抵抗状態にされ、テスト動作時には、リーク電流に起因する論理不良を生じさせるために高抵抗状態に切り換えられる。 - 特許庁

A printer 15 has a microphone in the inside, executes a test pattern for measuring operation sound for driving each drive section of the printer 15 at each prescribed time independently, and records the operation sound at that time at a recording storage section.例文帳に追加

プリンタ１５は、その内部にマイクを備え、稼働音測定用のテストパターンを実行することによってプリンタ１５の各駆動部をそれぞれ所定の時間毎に単独で駆動させ、そのときの稼働音を録音記憶部に録音する。 - 特許庁

The enhanced display is canceled by an operation of designating the DUT again, and an operation of designating another specific target DUT is carried out, thereby easily changing DUTs having states of test results to be grasped.例文帳に追加

ＤＵＴを再度指定して操作することにより強調表示を解除し、他の注目したい特定のＤＵＴを指定して操作することで試験結果の状況等を把握するＤＵＴを容易に変更することができる。 - 特許庁

Thus, the holding test for judging whether the DSP core 4 precisely stops the operation can be conducted since the DSP core 4 itself can recognize the inner state of the DSP core 4 when the operation is resumed.例文帳に追加

従って、動作再開時のＤＳＰコア４の内部状態をＤＳＰコア４自身が認識することができるので、ＤＳＰコア４が正しく動作を停止しているか否かを判定するホールドテストを実施することが可能になる。 - 特許庁

To solve the problem that it is difficult to accurately or surely observe the presence/absence of the generation of any erroneous operation since the test of the erroneous operation of a microcomputer due to such an external factor as a noise used to be operated only by the observation of an oscilloscope in a conventional manner.例文帳に追加

ノイズ等の外的要因によるマイクロコンピュータの誤動作を試験する場合、従来はオシロスコープの観測のみにより行っていたので、誤動作の発生の有無を正確に、確実に観測することが困難である。 - 特許庁

The fuel cell device carrying out power generation by electrochemical reaction of fuel gas and oxidant gas is made provided with a leak test treatment means 71 executing a leak test of a fuel reforming line 61, and a control unit 55 controlling operation of each part of the device.例文帳に追加

燃料ガスと酸化剤ガスとの電気化学的反応により発電を行う燃料電池装置において、燃料改質ライン６１のリーク検査を処理実行するリーク検査処理手段７１を、装置の各部の動作を制御する制御装置５５に設ける。 - 特許庁

An electronic component testing device 1, which performs a test pressing an IC terminal against a contact part 51 of a test head 5, comprises a temperature operation means 501 which calculates an actual temperature of the IC based on a signal from a temperature sensor 2D provided in the IC.例文帳に追加

ＩＣの端子をテストヘッド５のコンタクト部５１へ押し付けてテストを行う電子部品試験装置１であり、ＩＣに設けられた温度感応素子２Ｄからの信号に基づいて、当該ＩＣの実際の温度を演算する温度演算手段５０１を有する。 - 特許庁

The information processor 100 has the function of performing the authentication test for transmitting data to the server (e.g., POP server or SMTP server) (e.g., for making a provider accept data), and performs this authentication test by one operation.例文帳に追加

本発明の情報処理装置１００は、サーバ（例えばＰＯＰサーバまたはＳＭＴＰサーバ）にデータを送信するための（例えば、プロバイダーにデータを受け付けてもらうための）認証テストを行なう機能をもち、この認証テストを１回の操作で行なうようになっている。 - 特許庁

To provide an IC in which the power supply of a test circuit can be controlled independently, even at low voltage for performing evaluation of high-speed operation or the voltage margin of a function macro circuit and the function macro circuit can be evaluated accurately, without lowering performance of the test circuit.例文帳に追加

機能マクロ回路の高速動作評価、電圧マージン評価を行なう際の低電圧時でも、テスト回路の電源を独立に制御することができ、テスト回路のパフォーマンスを落とさずに機能マクロ回路の正確に評価し得るＩＣを提供する - 特許庁

In a developer execution environment, a defect reproduction part 36 reproduces the defective operation of the test object program based on the test log 3, and a display part 25 displays circumstances of the defect so that the change of the observation object can be clarified with respect to the recording object event.例文帳に追加

開発者実行環境の下では、不具合再現部３６が試験ログ３に基づいて試験対象プログラムの不具合動作を再現し、記録対象事象に対し観察対象の変化が明確になるように表示部２５上に表示がなされる。 - 特許庁

An internal voltage switching control circuit 110 generates control signals VUP and VWD in accordance with test mode signals /TACU, /TACD and /TSBU, and /TSBD set independently in an active state and a standby state respectively at the time of an operation test.例文帳に追加

内部電圧切換制御回路１１０は、動作テスト時において、アクティブ状態およびスタンドバイ状態のそれぞれにおいて独立に設定されるテストモード信号／ＴＡＣＵ，／ＴＡＣＤおよび／ＴＳＢＵ，／ＴＳＢＤに応じて、制御信号ＶＵＰおよびＶＤＷを生成する。 - 特許庁

A scan chain circuit 1 temporarily holds data output and input to a combination logic circuit 2 during normal operation, and serially transfers a test pattern signal SCANIn by making a plurality of flip-flops F/F function as a shift register during execution of the scan test.例文帳に追加

スキャンチェーン回路１は、通常動作時には、組み合わせ論理回路２に入出力されるデータを一時保持する一方、スキャンテスト実行時には、複数個のフリップフロップＦ／Ｆをシフトレジスタとして機能させテストパターン信号ＳＣＡＮＩｎをシリアル転送する。 - 特許庁

A test result decision circuit 185 generates a test result signal TR1 indicating a normal operation wherein there is no deviation between the timing where the WAIT signal is disabled and the timing where the level decision signal EOR1 varies.例文帳に追加

テスト結果判定回路１８５は、複数個のデータの論理レベルがすべて一致し、かつＷＡＩＴ信号が非活性化されるタイミングとレベル判定信号ＥＯＲ１が変化するタイミングとの間にずれがない正常か否かを示すテスト結果信号ＴＲ１を生成する。 - 特許庁

Even when the receiving circuit is mounted on a tester board and placed in operation, no large current flows to the input circuit from the test output circuit, the receiving circuit does not oscillate to improve the test precision, and the minute current signal recognition variation of the optical interconnecting devices is reduced.例文帳に追加

テスタボードに受信回路を搭載して動作させても、テスト出力回路から大きな電流が入力回路に回り込まず、受信回路は発振せずテスト精度が高くなり、光インタコネクト装置の微小電流信号認識ばらつきが少なくなる。 - 特許庁

The driving operation assistance device for the vehicle generates a test pattern from a side support of a seat back part of a driver's seat when a main switch is turned on and presumes the physique of the driver on the basis of a side support angle and a motor input current during generation of the test pattern.例文帳に追加

車両用運転操作補助装置は、メインスイッチがオンされると運転席シートのシートバック部のサイドサポートからテストパターンを発生し、テストパターン発生中のサイドサポート角度およびモータ入力電流とに基づいて、運転者の体格を推定する。 - 特許庁

The bar code of a container housing a liquid to be dispensed and the bar code of an empty test container to which the liquid is to be dispensed are read prior to each operation of dispensation to verify whether the specimen is mistaken or not and whether the test container is mistaken or not by a computer.例文帳に追加

各分注操作の前には、分注すべき液体が入っている容器のバーコード及び液体を分注すべき空の試験容器のバーコードを読み取り、検体の取り違えや試験容器の取り違えがないか否かをコンピューターにより確認する。 - 特許庁

To provide a method for measuring a test item using a specific affinity between bio-related molecules, which is capable of accurately, quickly, and easily measuring a test item in a very short time without requiring complicated operation, and to provide a measurement kit.例文帳に追加

生体関連分子間の特異的親和性を利用する被験物質の測定方法において、煩雑な操作を要求せず被験物質を極めて短時間に正確に測定できる、迅速簡便かつ高精度な被験物質の測定方法、及び測定キットの提供。 - 特許庁

To read quickly by a simple operation a bar code stuck on each test tube in the state where test tubes to the number of a hundred to several hundred are stored in a rack not for an automatic analyzer but for general use and arrayed not in one row but on an X-Y plane on a pallet.例文帳に追加

自動分析装置ではなく、一般的な用途として１００ないし数１００の試験管がラックに収納され、一列ではなくパレット上Ｘ・Ｙ平面に配列された状態のままで試験管に貼られたバーコードを簡単な操作で素早く読取る。 - 特許庁

The shutoff valve testing device for testing each normally opened or normally closed shutoff valve arranged in a pipeline executes an operation test by sending a valve control signal of a degree not fully closing or fully opening the valve to the valve at the time of receiving a test command.例文帳に追加

パイプラインに設置される常時開または常時閉の遮断弁をテストする遮断弁テスト装置において、テスト指令を受けて全閉または全開にならない程度の弁制御信号を前記遮断弁に送出して動作テストを行う遮断弁テスト装置。 - 特許庁

To provide an on-chip test interface being integrated and always enabled which is used for verifying a function of high speed incorporated memory such as a synchronous dynamic random access memory(SDRAM) enabling performing a test with an existing tester having comparatively low operation speed (therefore, low cost), or the like.例文帳に追加

既存の比較的低速度の、（よって低コストの）テスタでテストを行なうことを可能にする、シンクロナスダイナミックランダムアクセスメモリ（「ＳＤＲＡＭ」）などの高速組込みメモリの機能を検証するために用いる、統合され常に可能化されたオンチップテストインターフェイスを提供する。 - 特許庁

Since digital units of the disk interface device can be operated at the actual operation speed though the test instruction word information and debugging data are inputted and outputted at a sufficiently lower speed, digital circuits operating at a high speed can be tested by using general low-cost test equipment.例文帳に追加

これにより、十分に遅い速度でテスト命令語情報とデバッギングデータとが入出力されるが、ディスクインターフェース装置のデジタルユニットを実際の動作速度で動作させうるので、一般的な低コストのテスト装備で高速動作デジタル回路をテストすることができる。 - 特許庁

To provide a controller part operation verification device, a controller part operation verifying method, a recording medium, and a program which are more useful for users by enabling execution of various tests, such as continuous operation test of a controller part from the remote place, without the need for monitoring the controller part operation verification device in the vicinity.例文帳に追加

コントローラ部動作検証装置の近くで当該装置を監視する必要がなく、離れた場所からコントローラ部に関する連続動作試験などの各種試験を実施することを可能とする等、利用者にとってより利便性の高いコントローラ部動作検証装置、コントローラ部動作検証方法、記憶媒体、及びプログラムを提供する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit incorporated with the circuit achieving the prescribed function includes: a test circuit simulating operation of the circuit; and a voltage control circuit for specifying a minimum voltage which is applied to the test circuit as drive power and wherein the operation of the circuit simulated by the test circuit is normal, and for setting a voltage of the drive power supplied to the circuit to be a value not less than the minimum voltage.例文帳に追加

所定の機能を実現する回路が組み込まれた半導体集積回路であって、前記回路の動作を模擬する試験回路と、前記試験回路に駆動電力として印加され、かつ前記試験回路によって模擬される前記回路の動作が正常である最小の電圧を特定し、前記回路に供給される駆動電力の電圧を前記最小の電圧以上の値に設定する電圧制御回路とを備える。 - 特許庁

To provide a leakage detector equipped with an inexpensive and compact test device for checking performance of the leakage detector without using resistor components of high rated power or high heat resistance, while reducing heat generated by test operation, possibility of disconnection and burning of electric wires due to heat generation, and impact on periphery components by heat as much as possible, thereby reducing power consumption for test operation.例文帳に追加

漏電検出器の動作を確認するためのテスト装置を，定格電力や耐熱性能の高い抵抗部品を用いることなく安価で小型に構成でき，また，テスト動作に伴う発熱や，該発熱に伴う電線の断線や焼損が起こる可能性，ならびに熱による周辺部品への影響を極力低減でき，しかも，テスト動作のために消費する電力を低減できるテスト装置を備えた漏電検出器を提供すること。 - 特許庁

The selection signal generation circuit activates one of selection signals corresponding to each of word line in accordance with an external command signal indicating a test operation mode and an external selection code signal for specifying word line voltage used for the memory device, during the test operation mode for discriminating whether the word line voltage is a desired level or not.例文帳に追加

選択信号発生回路は、ワードライン電圧が要求するレベルを有するか否かを判別するためのテスト動作モードの間に、テスト動作モードを示す外部命令信号及び前記メモリ装置に使用されるワードライン電圧を指定するための外部選択コード信号に応じてワードライン電圧の各々に対応する選択信号のうちの１つを活性化する。 - 特許庁

When receiving the command from an operation device O3 that is a test object, the simulator decides whether simulation data corresponding to the command are stored in the nonvolatile memory 13 or not, and sends the reply being made to correspond to the command and written in the nonvolatile memory 13 to the operation device O1 that is the test object when the simulation data are stored.例文帳に追加

また、試験対象のオペレーション装置Ｏ３からコマンドを受信すると、このコマンドに対応したシミュレーションデータが不揮発性メモリ１３に記憶されているか否かを判定し、記憶されている場合には、当該コマンドに対応付けて不揮発性メモリ１３に書き込まれた応答を試験対象のオペレーション装置Ｏ１へ返信する。 - 特許庁

During the shifting operation of a scan path in time from setting of a write value to the setting completion of a read value in a scan flip-flop for setting a value in a test target memory, a value for a refreshing operation is included in a value passed through a flip-flop for setting a value in a test target memory.例文帳に追加

テスト対象メモリに対し値を設定するスキャンフリップフロップに対し、書き込み値を設定し、その後の一連のシフト動作を介して、読み出し値の設定が完了するまでの間の、スキャンパスのシフト動作中に、テスト対象メモリに対し値を設定するフリップフロップを通過してゆく値に対して、リフレッシュ動作を行わせる値を含ませる。 - 特許庁

The defective memory cell is detected by continuing dummy read operation on the same memory cell immediately after write operation on the memory cell with an internal clock signal having a frequency increased with respect to a test mode clock signal responsive to each write access request issued according to a test pattern, and surely simulating the worst case.例文帳に追加

テスト・パターンにより発行される各ライト・アクセス要求に応答して、テスト・モード・クロック信号に対して増加された周波数を有する内部クロック信号を使用して、メモリ・セルに対してライト動作直後に、同一のメモリ・セルに対してダミー・リード動作を続け、最悪の場合の状況を確実にシミュレートして、欠陥メモリ・セルを検出する。 - 特許庁

To provide a differential protection device comprising a differential current measuring means, processing means connected to the measuring means and including an operation ratio selecting means and time delay selecting means for selecting a trip curve, operation means, and test means connected to the measuring means, wherein the electric power consumption of the test means is made optimum.例文帳に追加

差動電流測定手段と、上記測定手段へと接続され、トリップ曲線を選択するために動作比率選択手段および時間遅延選択手段を備える処理手段、作動手段、および上記測定手段へと接続されたテスト手段を備える差動保護装置において、上記テスト手段の電力消費を最適にする。 - 特許庁

This medium is arranged with a plurality of test areas (TEST1- TESTn) to which trial write operation is performed by a light beam, and a plurality of power setting information recording areas (PREC1-PRECn), positioned between each of a plurality of these test areas to record an optimal power setting parameter and device identification information for a recording device, to which the trial write operation is performed.例文帳に追加

光ビームによって試し書きされる複数のテストエリア（ＴＥＳＴ１〜ＴＥＳＴｎ）と、この複数のテストエリアの夫々の間に配置されており、最適パワー設定パラメータと試し書きした記録装置の機器識別情報とを記録する複数のパワー設定情報記録エリア（ＰＲＥＣ１〜ＰＲＥＣｎ）と、を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

In this washing method for the servo valve 10 to remove the mineral-based hydraulic oil for the operation verification test remaining in the servo valve 10, phosphoric-ester-based hydraulic oil 100 for operating the servo valve 10 is allowed to flow in the servo valve 10 to remove the mineral- based hydraulic oil for the operation verification test from the inside of the servo valve 10.例文帳に追加

サーボ弁１０の内部に残留している動作確認試験用の鉱物系作動油を取り除くサーボ弁１０の洗浄方法であって、サーボ弁１０の稼働用のリン酸エステル系作動油１００をサーボ弁１０の内部に流通させることにより、サーボ弁１０の内部から動作確認試験用の鉱物系作動油を取り除くようにした。 - 特許庁

The portable terminal device 20 can output acceleration information for pitching test and acceleration information for rolling test via the elevator controller 1A and the earthquake emergency operation command device 12, and those pieces of acceleration information for the tests can be supplied to the seismic sensor 8 via the elevator controller 1A and the earthquake emergency operation command device 12.例文帳に追加

エレベータ制御装置１Ａと地震管制運転指令装置１２とを介して、携帯端末装置２０は、縦揺れ試験用加速度情報や横揺れ試験用加速度情報を出力可能であり、それら試験用加速度情報がエレベータ制御装置１Ａと地震管制運転指令装置１２を介して地震感知器８に付与可能になっている。 - 特許庁

To positively prevent recirculation of exhaust gas without using a special exhaust duct, thereby perform an exact confirmatory operation test without generating low-frequency noise, and safely and correctly perform the confirmatory operation test without allowing head wind to flow into noise insulation chambers even when the head wind is particularly strong.例文帳に追加

専用の排気ダクトを用いることなく排気ガスのリサーキュレーションを確実に防止することができ、これにより、低周波騒音を発生することなく、正確な確認運転試験ができ、かつ、特に逆風が強い場合でも、遮音室内に逆風が流れ込むことなく、安全かつ正確に確認運転試験ができるランナップ消音装置を提供する。 - 特許庁

To enhance safety by not only enabling the ultraviolet dose of the test region of a subject (patient) to be accurately measured by a single measurement operation but also eliminating a manual operation part of a measuring implement so as to prevent an examiner from being exposed to ultraviolet radiation.例文帳に追加

被験者（患者）の検査部位の紫外線照射量の正確な測定を一回の測定操作で可能とし、併せて測定具の手動操作部を皆無として検査員の紫外線被曝をなくし、安全性を高めることを課題とする。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit comprises a function macro circuit 11, performing the operation of function macro, and other circuits 12 and 13 where the functional macro circuit comprises function circuits (DRAM 111, I/F 112) performing function operation, and a test circuit 113, having a power supply separated from the function circuits and evaluating the function of the function circuits.例文帳に追加

機能マクロの動作をする機能マクロ回路11と、他の回路12,13 とを備え、機能マクロ回路は、機能動作をする機能回路（DRAM111,I/F112）と、機能回路とは電源が分離され、機能回路の機能を評価するためのテスト回路113 を含む。 - 特許庁

A test operation management section 102 specifies a working state of the worker operating the remote controller and the air conditioner as the control target on the basis of the manipulation control signal intercepted by the communicating section 101 and operation analyzing defining information 1021a.例文帳に追加

試運転管理部１０２は、通信部１０１により傍受された操作制御信号と、操作分析定義情報１０２１ａと、に基づいて、当該リモコンを操作した作業者の作業状態と、制御対象の空調機と、を特定する。 - 特許庁

A G-G abnormality detection support device 30 acquires the content of an operation instruction from a simulation lighting device 60 when a lighting confirmation test is performed by use of the simulation lighting device 60, and display information in accordance with the content of the operation instruction on a signal plan.例文帳に追加

Ｇ−Ｇ異常検出支援装置３０は、模擬灯器６０を用いて点灯確認試験がなされるときに、模擬灯器６０から操作指示の内容を取得して、信号配置図上にその操作指示内容に対応させた表示を行う。 - 特許庁

In the test mode, the control part 2 executes the designated operation pattern by measuring a time from the execution start time to the execution end time decided by the measurement pattern made correspond to the operation pattern at the speed decided by the measurement pattern.例文帳に追加

制御部２は、テストモード時には、指定された運行パターンを、当該運行パターンに対応付けられた計時パターンで定められた実行開始時刻から実行終了時刻までの間を、当該計時パターンで定められた速さで計時して、実行する。 - 特許庁

In a first test operation mode, a row control circuit 121 and a column control circuit 131 in synchronization with an external clock after fetching the column address output a WORD control signal and a YSW control signal and perform memory cell selection operation.例文帳に追加

第１のテスト動作モードにおいては、ロウコントロール回路１２１及びカラムコントロール回路１３１は、カラムアドレスを取り込んだ後の外部クロックに同期して、ＷＯＲＤ制御信号、ＹＳＷ制御信号を出力し、メモリセル選択動作を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which, during a test operation, a voltage different from that during a normal operation is supplied to an internal power supply line, and in which a normal voltage, such as a precharge potential or the like, is stably supplied while suppressing an increase in chip area to a minimum level.例文帳に追加

テスト動作時において通常動作時とは異なる電圧が内部電源配線に供給される半導体装置において、チップ面積の増大を最小限に抑制しつつ、プリチャージ電位などの通常電圧を安定供給する。 - 特許庁

To provide a remote control system that conducts a loopback test and setting revision such as increase/decrease of speed without a maintenance personnel to visit to an installed place of network terminators even when both network terminators are installed in unattended stations where no maintenance/ operation personnel is resident and in operation.例文帳に追加

両方の網終端装置が保守・運用者が駐在していない無人局に置かれて運用される場合にも、該当網終端装置の設置場所に保守員が行かずに、ループバック試験や速度の増減速など設定変更を行う。 - 特許庁

Also, a voltage is applied between the displacement electrode 25 and the fixed electrode 15 for operating Coulomb force, and the output of the detection means is monitored to test the operation of the direction of Z axis while the operation part 321 is forcibly displaced in the direction of Z axis.例文帳に追加

また、変位電極２５と固定電極１５との間に電圧を印加してクーロン力を作用させ、作用部３２１をＺ軸方向に強制変位させた状態において、検出手段の出力をモニタしＺ軸方向の動作試験を行う。 - 特許庁

In an address generating section of an arithmetic logic operation section, an address of a semiconductor memory storing a test pattern is generated based on the prescribed calculating equation, this address is sent to a shift register 32 for inputting an address, and a test pattern is written in a semiconductor memory by specifying this address.例文帳に追加

算術論理演算部のアドレス発生部にて、テストパターンを格納すべき半導体メモリのアドレスを所定の演算式に基づいて発生させ、かかるアドレスをアドレス入力用シフトレジスタ３２に送り、このアドレスの指定により半導体メモリにテストパターンが書き込まれる。 - 特許庁