「Test patterns」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

Additionally, the footprint equivalent patterns are directly connected with each other, where the footprint equivalent patterns are equivalent to the footprints of the fixture substrates connected via a device under test.例文帳に追加

そして、測定対象回路を介して接続されるフィクスチャ基板のフットプリントに相当するフットプリント相当パターン同士が直接接続されている。 - 特許庁

Since parallel input patterns are converted to series patterns and outputted from an output terminal, even when the number of output terminals are few, a connection test can be performed.例文帳に追加

並列の入力パターンを直列に変換して出力端子から出力するため、出力端子の数が少ない場合にも、接続試験を実行できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device by time for writing patterns in test is shortened.例文帳に追加

テスト時におけるパターンの書き込み時間を短縮することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The patterns on the referential substrate and on the test substrate are compared to decide whether the mask has a defect or not.例文帳に追加

参照基板およびテスト基板上のパターンを比較して、マスクに欠陥があるかどうか判断する。 - 特許庁

The test patterns for the LSI tester can be reduced without lowering the rate of failure detection.例文帳に追加

したがって、故障検出率を低下させずに、ＬＳＩテスタ用テストパターンを削減することが可能となる。 - 特許庁

The image forming apparatus comprises a control circuit 210 for acquiring test patterns 401 and 501 through the Internet 100, a memory 209 for storing the test patterns thus acquired, an image print section 207 for printing the test patterns 401 and 501 thus stored, and a control circuit 210 for executing calibration of an image reading section 206.例文帳に追加

画像形成装置は、インターネット１００を介してテストパターン４０１，５０１を取得する制御回路２１０と、取得された記憶するメモリ２０９と、記憶されたテストパターン４０１，５０１を印字する画像印字部２０７と、画像読取り部２０６のキャリブレーションを実行する制御回路２１０とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester for attaining the generation of test patterns different in working speed at a low cost.例文帳に追加

動作速度の異なるパターン発生を低コストで実現できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Desired test patterns therefore can be written by inputting data signals D0 to D3 of a 'H' level.例文帳に追加

したがって、「Ｈ」レベルのデータ信号Ｄ０〜Ｄ３を入力して、所望のテストパターンを書込むことができる。 - 特許庁

A printer draws unit patterns 31a-31f constituting the test pattern by one outward trip scanning.例文帳に追加

プリンタは、１回の往路走査により、テストパターンを構成する単位パターン３１ａ〜３１ｆの描画を行う。 - 特許庁

Test patterns T, each having electrodes to which the head of a probe is contacted, are formed on a wafer W.例文帳に追加

ウエハＷ上に、プローブの先端を接触させる電極を備えたテストパターンＴを形成する。 - 特許庁

Tester channels 301 to 30n are given serial patterns output from scan data memories SDM in synchronous with a cycle clock and primary patterns output from pattern memories so as to generate test patterns.例文帳に追加

テスタチャネル３０１〜３０ｎは、サイクルクロックに同期してスキャンデータメモリＳＤＭから出力されるシリアルパターンと、パターンメモリから出力されるプライマリパターンとを与えられて、テストパターンを発生していく。 - 特許庁

First, as shown in Fig. 2 (a), in a step St 11, the analysis of signal data is performed with respect to respective test patterns P_1-P_n contained in a test pattern group 150.例文帳に追加

まず、図２（ａ）に示すように、ステップＳｔ１１において、テストパターン群１５０に含まれる各テストパターンＰ_1〜Ｐ_nについて、信号データの解析を行なう。 - 特許庁

To provide a new method for identifying and inserting test points in register transfer level RTL for reducing the volume of scan-base transition test patterns.例文帳に追加

スキャンベースの遷移試験パターンの量を減らすためにレジスタ転送レベルＲＴＬで試験点を識別し、挿入する新しい方法を提供すること。 - 特許庁

A test mask having a plurality of test patterns is produced (S1, S5) by changing shapes and layouts according to the shape and layout of a design pattern.例文帳に追加

設計パターンの形状および配置状態に応じて形状および配置状態を変化させた複数のテストパターンを備えたテストマスクを作製する（Ｓ１，Ｓ５）。 - 特許庁

A pattern generator ALPG generates test patterns S_PTN1 to S_PTN4 describing a test signal S_TEST to be outputted by drivers DR_1 to DR_4.例文帳に追加

パターン発生器ＡＬＰＧは、ドライバＤＲ_１〜ＤＲ_４が出力すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮ１〜Ｓ_ＰＴＮ４を生成する。 - 特許庁

An original test pattern created by an automatic test pattern generating means (ATPG) is separated into a pattern for a scan chain and patterns except for the scan chain.例文帳に追加

自動テストパターン生成手段（ＡＴＰＧ）で生成されたオリジナルのテストパターンを、スキャンチェーン用のパターンとスキャンチェーン用以外のパターンとに分離する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device and its test method in which patterns for test can be reduced when data is supplied in serial to a RAM.例文帳に追加

ＲＡＭにシリアルでデータを供給する際、試験用パターンの削減を実施できる半導体集積回路装置及び、その試験方法を提供する。 - 特許庁

The core test circuit is provided with shift registers for test data outputting and storing of a plurality of result patterns for output terminals of the core circuit so as to allow a plurality of pattern test results to be fetched and scanned out of the shift registers for test data output.例文帳に追加

また、コアテスト回路が、複数の結果パターンを格納するテストデータ出力用シフトレジスタをコアの出力端子毎に設け、複数パターンのテスト結果をテストデータ出力用シフトレジスタに取り込んでからスキャンアウトできるようにする。 - 特許庁

In this semiconductor test device for executing the test by forwarding plural test patterns to a device to be measured via test pattern memories 702, 703, following the measurement sequence by the test program in order to execute the function test of the semiconductor device 704 which is measuring object, the measurement sequence is changed so that the number of times of test pattern transfer between pattern memories in the semiconductor test device becomes minimum.例文帳に追加

測定対象となる半導体デバイス704 の機能テストを行うためにテストプログラムによる測定シーケンスにしたがって複数のテストパターンをテストパターンメモリ702,703 を介して被測定デバイスに転送し、テストを実行する半導体テスト装置において、半導体テスト装置内のパターンメモリ間におけるテストパターンの転送回数が最小になるように測定シーケンスを変更する。 - 特許庁

A test chart 704 has a positive region including test patterns 401 and 402 with a plurality of black bars having a plurality of dot widths by dot, and a negative region including test patterns 501 and 502 with white bars having a plurality of dot widths by dot.例文帳に追加

テストチャート７０４は、１ドットきざみの複数のドット幅を有する複数の黒バーを配列したテストパターン４０１，４０２を含むポジ領域と、１ドットきざみの複数のドット幅を有する白バーを配列したテストパターン５０１，５０２を含むネガ領域とを有する。 - 特許庁

To provide a method and device for creating test patterns for a logic circuit capable of shortening the lengths of the test patterns created by an ATPG system for a sequential circuit and an ATPG system for a sequential circuit.例文帳に追加

本発明は、順序回路用ＡＴＰＧシステム及び組み合わせ回路用ＡＴＰＧシステムが生成するテストパタン長を短縮できる論理回路のテストパタン生成方法及び装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

Multiple correction test patterns are recorded using ejecting ports in part of the recording head, and correction data for correcting an image corresponding to ejecting ports in the entire area of the recording head is generated on the basis of the colorimetric result of the test patterns.例文帳に追加

記録ヘッドの全域ではなく一部を用いて、複数回補正用テストパターンを記録し、その測色結果に基づいて、全域の吐出口に対応した画像を補正するための補正データを生成する。 - 特許庁

A CPU 8 as a test data storing means detects a block failure by checking the test data stored in the test data storing memory 6 against the failure occurrence patterns stored in the memory 5 for storing failure occurrence patterns and determining a block failure in the case that test data similar to a failure occurrence pattern is present.例文帳に追加

テストデータ格納手段としてのＣＰＵ８は、テストデータ格納メモリ６に格納されたテストデータと不良発生パターン記憶メモリ５に格納された不良発生パターンとを照合し、不良発生パターンと相似のテストデータが存在する場合にブロック不良と判定し、これによりブロック不良を検出する。 - 特許庁

Until entirely covered with a test pattern with effective test patterns mapped to the state transition (step 5), the operation of determining a state transition series having a predetermined length for covering the test patterns according to a predetermined standard, and of adding them to the test series (step 7) and performing X-extraction (step) is repeated.例文帳に追加

状態遷移にマッピングされた有効テストパターンが生成されたテスト系列にすべて被覆されるまで（ｓｔｅｐ５）、所定の基準に従ってテストパターンを被覆する所定長の状態遷移系列を決定してテスト系列に追加し（ｓｔｅｐ７）Ｘ抽出する操作（ｓｔｅｐ）を繰り返す。 - 特許庁

A test pattern generation process 103 extracts and arranges an execution condition for the process extracted in the process 102 or a data operation retrieval process 104 from a program test patterns list, generates one test pattern and adds an ID thereto.例文帳に追加

テストパターン作成処理103は、処理102又はデータ操作検索処理104で抽出された処理の実行条件を、プログラムテストパターンの一覧から抽出・整理し、1つのテストパターンを作成し、IDを付与する。 - 特許庁

By this constitution, data writing and reading are continuously conducted with a plurality of test patterns by only dynamically changing input data for testing and conducting test mode entry for test performing.例文帳に追加

このような構成によって、試験のための入力データを動的に変更させ、試験を行うためのテストモードエントリを行うだけで、複数のテストパターンでのデータの書き込みと読み出しが連続して行われる。 - 特許庁

The sensor is used for photoelectrically scanning or measuring print head test patterns printed at the same time.例文帳に追加

また、センサは同時印刷される印刷ヘッド・テスト・パターンを光電的に走査または測定するために用いられる。 - 特許庁

The pattern generator PG schedules the order of the test patterns S_PTN independently for each of the plurality of DUTs 1.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１ごとに、テストパターンＳ_ＰＴＮの順序を独立にスケジューリングする。 - 特許庁

In a third conveyance, the four test patterns which have been formed on the second surface S2 are read from the first surface S1.例文帳に追加

３回目の搬送時に、第２面Ｓ２に形成された４つのテストパターンを第１面Ｓ１から読み取る。 - 特許庁

A test image memory 108 stores image patterns to be formed when the ink concentration and the discharge amount are specified.例文帳に追加

テスト画像メモリ１０８は、インク濃度と吐出量を規定する際に形成する画像パターンを格納する。 - 特許庁

Test patterns 80 are displayed by the displays 32 and 34 with the same numbers of pixels a those of the displays 32 and 34.例文帳に追加

ディスプレイ３２、３４ごとに、ディスプレイ３２、３４の画素数と同じ画素数でテストパターン８０を表示する。 - 特許庁

The conveyance amount of the recording medium P is corrected based on the recording results of the test patterns P1, P2 and P3.例文帳に追加

そして、それらのテストパターンＰ１，Ｐ２，Ｐ３の記録結果に基づいて、記録媒体Ｐの搬送量を補正する。 - 特許庁

To provide a structure which prevents occurrence of cracks in metal patterns when a wafer level chip scale package undergoes a thermal cycling test.例文帳に追加

ウェハレベルチップスケールパッケージの熱サイクリングテストの際、金属パターンへのクラック発生を防止する構造を提供する。 - 特許庁

By extracting specified traffic patterns, an analysis device can test a packet data path between elements.例文帳に追加

分析装置は、特定のトラヒックパターンを顕在化させることにより、要素間のパケットデータパスをテストすることができる。 - 特許庁

To suppress an increase in the number of test patterns in each functional block, regarding a semiconductor device which comprises a plurality of functional blocks.例文帳に追加

複数の機能ブロックを有する半導体装置について、各機能ブロックのテストパターン数の増加を抑制する。 - 特許庁

A test program and a test pattern generating program are downloaded into the CPU cores 2c and 3c of the LSI or the group of LSIs to generate test patterns by the test pattern generating program and diagnose internal function blocks etc.例文帳に追加

そして、上記ＬＳＩもしくは上記ＬＳＩ群のＣＰＵコア２ｃ，３ｃに試験プログラムおよび試験パターン生成プログラムをダウンロードし、上記試験パターン生成プログラムにより、試験パターンを発生させ、内部の機能ブロック等の診断を行う。 - 特許庁

First display apparatuses 2a to 2d display an image quality evaluation test pattern at one point of time and a digital camera 6 photographs the patterns displayed on the display apparatuses and thereafter stores the patterns to a storage means 3c.例文帳に追加

一時点において、画質評価用のテストパターンを第１のディスプレイ２ａ〜２ｄに表示し、これをデジタルカメラ６で撮影した後、記憶手段３ｃに記憶する。 - 特許庁

The semiconductor testing device which tests a DUT by using test patterns outputted from a memory storing DUT test patterns is provided with a memory control part which divides the memory into a plurality of areas, moves test patterns stored in undiagnosed areas to diagnosed areas and then diagnoses the undiagnosed areas.例文帳に追加

ＤＵＴの試験パターンが格納されているメモリから出力される試験パターンを用いてＤＵＴの試験を行う半導体試験装置において、メモリを複数のエリアに分割し、このエリアのうち未診断エリアに格納されている試験パターンを診断済みエリアに移動させた後に未診断エリアを診断するメモリ制御部を備える。 - 特許庁

To enable easy automatic adjustment of density change of each color due to elapse of time by printing R, G, B test patterns on a color printing paper, illuminating the test patterns, and measuring the reflected liquid amount by a single light receiving sensor for measuring the C, M, Y densities.例文帳に追加

単一の受光センサを使用してＣ、Ｍ、Ｙの濃度をそれぞれ精度よく測定し、カラー印画紙やプリンタの特性や経時的変化による各色ごとの濃度変動をそれぞれ自動調整できるようにする。 - 特許庁

Further, a LSI tester 25 is provided with test patterns 29a, 29b being original data of the ROM code previously loaded for inspection, parity bits 30a, 30b corresponding to the test patterns 29a, 29b, and a comparison operation part 31.例文帳に追加

さらにＬＳＩテスタ２５には、検査のために予めローディングされたＲＯＭコードの元データであるテストパターン２９ａ、２９ｂと、テストパターン２９ａ、２９ｂに対応したパリティビット３０ａ、３０ｂと、比較演算部３１が設けられている。 - 特許庁

Based on the prescribed group on the basis of control signals, the pattern corrector 220 corrects test patterns inputted to the shift registers 200 and individually releases the correction of test patterns of which the corrections by the group are not appropriate.例文帳に追加

パターン修正器２２０は、制御信号に基づいて、シフトレジスタ２００へ入力されるテストパターンを所定のグループ単位で修正し、さらに、グループ単位の修正が適正ではないテストパターンへの修正を個別に解除する。 - 特許庁

A pattern generator PG generates test patterns S_PTN that describe test signals S_TEST to be supplied to each of the input/output terminals P3 of the plurality of DUTs 1.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１の各入出力端子Ｐ３に供給すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮを生成する。 - 特許庁

In a first conveyance, four test patterns (consisting of 10 test printing regions having different concentrations from each other) are formed in a region R1 on the first surface S1 of a printing paper P.例文帳に追加

１回目の搬送時に、用紙Ｐの第１面Ｓ１の領域Ｒ１に４つのテストパターン（互いに濃度が異なる１０個のテスト印字領域からなる）を形成する。 - 特許庁

A device 42 under test prepares test patterns comprising a combination of an impressed pattern P_1 and an expected pattern which is an output of a normal tested pattern corresponding to the pattern P_1.例文帳に追加

テスト装置４２が、印加パターンＰ_１とこれに対応する正常な被テストデバイスの出力である期待パターンとの組み合わせから成るテストパターンを準備する。 - 特許庁

The printing data generating part has a test pattern output mode for outputting a plurality of test patterns for each of the plurality of control contents by using the same input image.例文帳に追加

印刷データ生成部は、同一の入力画像を用いて複数の制御内容毎に複数のテストパターンを出力させるテストパターン出力モードを有する。 - 特許庁