「Test patterns」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The system and method include an impedance adjustment circuit 4 incorporated into the output circuit 3 of a first LSI 1, and a test pattern generating circuit 5 for transmitting signals for testing random patterns via the circuit 4 to a second LSI 2.例文帳に追加

第１のＬＳＩ１の出力回路３内に組み込まれたインピーダンス調整回路４と、インピーダンス調整回路４を介してランダムパターンのテスト用信号を第２のＬＳＩ２に対して送出するテストパターン発生回路５を備える。 - 特許庁

The timeframe for demonstration could vary, and may be extended in order to achieve the full test plan objectives for a particular vehicle considering the economy’s climactic conditions and real-world use patterns. 例文帳に追加

走行実験の期間は変更することができ，また，エコノミーの気候条件や現実の世界における使用パターンを考慮した特有の自動車のための完全な試験計画の目的を達成するため，期間を延長することができる。 - 経済産業省

The semiconductor device is provided with a blocks 1-3 wherein sequential test input patterns are used to conduct logic verification, a signal wiring pattern to transmit signals which are used in the blocks 1-3 during the logic verification, and fixed potential wiring patterns 11a-11d which are formed surrounding the signal wiring pattern and are electrically connected to Vss.例文帳に追加

本発明の半導体装置は、一連のテスト入力パターンを用いてロジック検証が行われるブロック１〜３と、ロジック検証時にブロック１〜３で使用される信号を伝達するための信号配線パターンと、信号配線パターンを取り囲むように形成され、Ｖｓｓに電気的に接続された固定電位配線パターン１１ａ〜１１ｄを有する。 - 特許庁

A test data recording part 15 is provided to store the digital data on electricity quantity of all digitalized plant operating patterns (accident data, normal operation data, plant starting data, plant stopping data, etc.), and the data required by a test data selection signal 16 is selected from these data and is outputted to a relay part 11 for testing.例文帳に追加

ディジタル化されたあらゆるプラント運転パターン（事故データ，通常、運転データプラント起動時データ，プラント停止時データなど）のディジタル電気量データを記憶した試験データ記録部１５を設け、これらのデータの中から試験データ選択信号１６によって必要とするデータを選択し、これをリレー部１１に出力して試験するようにした。 - 特許庁

When forming a correction table used in an image signal conversion part 60, a test image T including a plurality of density patterns output from a test image data generation circuit 64 is repeatedly formed twice at the interval of 1/2 of the circumferential length of a photoreceptor (interval of 180° being the rotational phase difference of the photoreceptor), and read by an image reading part 12.例文帳に追加

画像信号変換部６０で使用する補正テーブルを作成する際は、テスト画像データ発生回路６４から出力された複数の濃度パターンを含むテスト画像Ｔを感光体周囲長の１／２の間隔（感光体の回転位相差１８０度の間隔）を隔て２回繰り返して形成し、これを画像読取部１２に読み取らせる。 - 特許庁

Based on the detection results of the lines of the test patterns recorded by the line recording heads, the amounts of nozzle array direction registration errors between the line recording head, which is one of the plurality of line recording heads and is used as the base, and other line recording heads are detected.例文帳に追加

各ライン記録ヘッドにより記録されたテストパターンのラインの検出結果に基づいて複数のライン記録ヘッドのうちの基準となるライン記録ヘッドに対する他のライン記録ヘッドの、ノズル列方向におけるレジストレーションずれ量を検出する。 - 特許庁

The prober assembly is also configured to test fractional sections of the large-area substrate positioned on a testing table, and the prober assembly can be configured for different display and contact point patterns, without having to remove the prober assembly from the testing table.例文帳に追加

プローバアセンブリは、検査テーブル上に位置された大面積基板の一部を検査するようにも構成されており、プローバアセンブリはプローバアセンブリを検査テーブルから取り外すことなく、異なるディスプレイ及び接触点パターンに合わせて構成し得る。 - 特許庁

The servo information writing device includes a testing device 10 for performing test processing to select a proper servo pattern as servo information among the plurality of types of servo patterns recorded beforehand on a disk medium 2 incorporated in a disk drive 1.例文帳に追加

サーボ情報書込み装置は、ディスクドライブ１に組み込まれたディスク媒体２上に予め記録された複数種類のサーボパターンから、適正なサーボパターンをサーボ情報として選択するための検査処理輪実行する検査装置１０を含む。 - 特許庁

To obtain a test recording method and a test recording apparatus for a protective relay by which the patterns of record papers on which the results of the tests of a protective relay are recorded can be easily obtained so as to correspond satisfactorily to various types of tests, even if types of tests are not only overcurrent detection, undervoltage detection, and ratio difference detection but also many other types.例文帳に追加

保護継電器の試験を行った結果を記載する記録用紙の様式を、多種多様の試験に対応させて簡単に得ることができ、その試験形態が験過電流検出用、不足電圧検出用、比率作動検出用のみならず他に多くの形態であっても充分に対応させて簡単に得ることができる保護継電器の試験記録方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In different recording scanning operations, dots 61 and 62 for forming test patterns are formed by a nozzle group including a plurality of nozzles N176 to N192 positioned in one end side of nozzle arrays, and a nozzle group including a plurality of nozzles N1 to N16 positioned in the other side of the nozzle arrays.例文帳に追加

異なる記録走査時に、ノズル列の一端側に位置する複数のノズルＮ１７６〜Ｎ１９２を含むノズル群と、ノズル列の他端側に位置する複数のノズルＮ１〜Ｎ１６を含むノズル群と、によって、テストパターン構成用のドット６１，６２を形成する。 - 特許庁

A detecting section 33 detects specified patterns of abnormal values for the plurality of semiconductor products where the specified test result data 25 from the input section 32 have specified abnormal values based on the positional information data 15 of the plurality of semiconductor products.例文帳に追加

検出部３３は、入力部３２により入力された所定の試験結果データ２５が所定の異常値を有する複数の半導体製品について、これら複数の半導体製品の位置情報データ１５に基づく所定の異常値のパターンの検出を行う。 - 特許庁

When a test pattern for confirming the recording characteristics of each recording element is recorded in a serial recorder having a recording head arranged with a plurality of recording elements, a plurality of straight line patterns (patterns 1-10) having a specified length in the scanning direction are recorded by driving three adjacent recording elements in parallel such that all recording elements are used for recording at least one straight line pattern.例文帳に追加

複数の記録素子が配列された記録ヘッドを有するシリアル型の記録装置において、各記録素子の記録特性を確認するためのテストパターンを記録する際に、隣接する３つの記録素子を並列に駆動して走査方向に所定の長さを有する直線パターン（パターン１〜パターン１０）を、全ての記録素子が少なくとも１つの直線パターンの記録に使用されるように、複数記録する。 - 特許庁

A control part 30 allows the light source, the deflector, the photoreceptor drums 4 and the developing devices 7 to detect a plurality of test patterns for detecting the displacement of the plurality of toner images in the sub-scanning direction with respect to the intermediate transfer belt 11 during accelerating the rotation of the polygon mirror.例文帳に追加

制御部３０は、ポリゴンミラーの回転の加速中において、光源、偏向器、感光体ドラム４及び現像装置７に、中間転写ベルト１１に対して副走査方向における複数のトナー画像の位置ずれを検知するための複数のテストパターンを検知させる。 - 特許庁

IDDQ measured values of the semiconductor integrated circuit with respect to those test patterns are input to an IDDQ quantization section 23, and the quantization section quantizes an input IDDQ measurement value to 1 when the input value is larger than a predetermined threshold, and to 0 in cases other than that, and outputs those values.例文帳に追加

ＩＤＤＱ量子化部２３は、それらのテストパタンに対する半導体集積回路のＩＤＤＱ測定値を入力し、入力したＩＤＤＱ測定値が所定の閾値よりも大きい場合には１に、それ以外の場合には０に量子化して出力する。 - 特許庁

In the verification of the logical operation of the information processor, the verification of the logical operation is realized with high accuracy, by generating more transaction competitive patterns by making an I/O emulator work together with a test program, and also by automatically preparing input data to the I/O emulator.例文帳に追加

情報処理装置の論理動作の検証において、Ｉ／Ｏエミュレータとテストプログラムを連動させ、且つＩ／Ｏエミュレータへの入力データは自動で作成することで、より多くのトランザクション競合パターンを発生させることにより、論理動作の検証を高精度に実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, a semiconductor integrated circuit design method and a semiconductor integrated circuit design program capable of reducing the number of test patterns with respect to a semiconductor integrated circuit including an internal clock domain having data path dependency operated in the same frequency.例文帳に追加

同一の周波数で動作するデータパス依存関係を有する内部クロックドメインを含む半導体集積回路に対して、テストパターン数を削減することができる半導体集積回路、半導体集積回路設計方法及び半導体集積回路設計プログラムを提供すること - 特許庁

Equalizing the clock timing for reading data having been written in the memory in the failure detection mode with the clock timing for reading data having been bypassed to the flip-flop in the pseudo memory access mode can realize output of the same signal with the same timing, and thereby achieve commonality of test patterns.例文帳に追加

故障検出モードでメモリに書き込んだデータを読み出すクロックのタイミングと、擬似メモリアクセスモードでフリップフロップに迂回させたデータを読み出すクロックのタイミングを等しくすることにより、同じタイミングの同一の信号を出力することが可能になり、テストパターンを共通化することが可能になる。 - 特許庁

For each of all attendance/absence patterns in attending or missing the remaining lectures not opened yet, a test score necessary for obtaining each achievement level (C, B, A) is listed in a condition list table 45d of the screen 45.例文帳に追加

その成績取得条件提示画面４５の条件一覧表４５ｄには、未だ開講されていない残りの講義に出席又は欠席する場合における全ての出欠席パターンそれぞれについて、成績の各レベル（可，良，優）を得るのに必要な試験の得点が、列挙されている。 - 特許庁

An OSD display unit 5 prepares test pattern data TP in which image patterns F1, F2 stored in a storage 6 as digital font data for OSD display are spread corresponding to the number of pixels of a liquid crystal panel LCP, transmits them to a panel processor 3, and displays them on the liquid crystal panel LCP.例文帳に追加

ＯＳＤ表示部５は記憶部６にＯＳＤ表示用のデジタルフォントデータとして格納されている画像パターンＦ１、Ｆ２を液晶パネルＬＣＰの画素数にあわせて敷き詰めたテストパターンデータＴＰを作成し、パネルプロセッサ３に送り、液晶パネルＬＣＰに表示する。 - 特許庁

During a stabilized conveyance period of a recording medium P where the disturbance having an effect on the conveyance amount of a recording medium P is stabilized and the posture of the recording medium P is stabilized, three kinds of test patterns P1, P2 and P3 are recorded while incorporating correction in conveyance amount of the recording medium P.例文帳に追加

記録媒体Ｐの搬送量に影響する外乱が安定し、かつ記録媒体Ｐの姿勢が安定している記録媒体Ｐの安定搬送期間中に、異なる補正値による記録媒体Ｐの搬送量の補正を伴って、３種類のテストパターンＰ１，Ｐ２，Ｐ３を記録する。 - 特許庁

Focus variation in photolithography process is detected using photomasks with test features T1, T2 adapted to print patterns with critical dimensions that can be measured and analyzed to determine magnitude and direction of defocus from a best focus position of an exposure tool during a lithographic process.例文帳に追加

リソグラフィ工程の間露光装備の最適焦点からの焦点誤差のサイズ及び方向を決定するため測定及び分析できる最小線幅を有する印刷パターンに適したテストフィーチャーＴ１，Ｔ２を有するフォトマスクを用いてリソグラフィ工程において焦点変化を測定する。 - 特許庁

Using an exclusive mask wherein test patterns having a same shape and a same size are plurally and repeatedly arranged in the mask blanks corresponding to the chip region, a resist pattern is formed by the processing procedure after the exposure processing of the photoresist on a product wafer changing a focal position for every shot.例文帳に追加

同一形状で且つ同一寸法のテストパターンがチップ領域に対応するマスクブランクス内で複数繰り返し配置された専用マスクを用いて、ショット毎にフォーカス位置を変えながら製品ウエーハ上のフォトレジストを露光処理し、現像処理してレジストパターンを形成する。 - 特許庁

The composite member 3 is bonded to a test substrate 4 having specified concave-convex patterns by pressurization under heat and comprises a mixture of the ceramic powder having an average particle size of 1-50 μm and a degree of sphericity of at least 0.8 with the organic resin material.例文帳に追加

加熱下で押圧されることにより所定の凹凸パターンを有する試験用基板４に対して接合される複合部材３であって、１〜５０μｍの平均粒径を有し、かつ０．８以上の球形度を有するセラミックス粉末と、有機樹脂材料との混合物からなる。 - 特許庁

To provide a method and a device for distinguishing a coin capable of obtaining a stable image signal by periodically obtaining image signals of plural test patterns arranged in a coin passing position and its periphery and thereby monitoring the optical aging effect due to contamination or the like.例文帳に追加

硬貨通過位置及びその周辺に配設された複数のテストパターンの画像信号を定期的に取得することによって、汚れ等による光学系の経時変化をモニタすることで、安定した画像信号を取得できる貨幣識別方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a logic simulation apparatus, which extracts only parts, the logic of which is affected by circuit change, performs logic simulation, and shortens logic simulation execution time when performing logic simulation after circuit change using test patterns executed before circuit change.例文帳に追加

回路変更前に実行したテストパターンを用いて回路変更後の論理シミュレーションを行う場合、回路変更により論理に影響を受ける箇所のみを抽出して論理シミュレーションを行い、論理シミュレーションの実行時間を短縮する論理シミュレーション装置を得ること。 - 特許庁

Phase shift reticles Rps having test patterns PA1 to PA4 including a phase shifter for changing a phase of a transmitted illumination light are disposed on a surface of an object of the projection optical system 22 so as to be substantially perpendicular to an optical axis of the light from an illumination optical system 11.例文帳に追加

投影光学系２２の物体面に、透過する照明光の位相を変化させる位相シフト部が設けられたテストパターンＰＡ１〜ＰＡ４を有する位相シフトレチクルＲｐｓを、照明光学系１１からの照明光の光軸に対してほぼ直交するように配置する。 - 特許庁

This semiconductor testing device having a constitution wherein a prescribed test pattern is applied from a PE card to the DUT, and a pattern outputted from the DUT corresponding to the test pattern is compared with an expected value pattern, and coincidence of the patterns is detected, has a fail control means for summarizing fail information of the DUT input through the PE card relative to each DUT, and transferring it to the PE card.例文帳に追加

ＰＥカードからＤＵＴに所定のテストパターンを印加し、ＤＵＴからテストパターンに応じて出力されるパターンを期待値パターンと比較してこれらパターンの一致の有無を検出するように構成された半導体試験装置において、ＰＥカードを介して入力されるＤＵＴのフェイル情報をＤＵＴごとに集約してＰＥカードへ転送するフェイル制御手段を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

The recorder has a detection means for detecting the error in the conveyance amount of the recording medium in the scanning direction when transition is performed from a normal state to a rear-end region recording state based on recording results of a plurality of recorded test patterns side by side in the scanning direction on the recording medium by means of the recording head.例文帳に追加

記録装置は、補正動作の際に、記録ヘッドによって記録媒体に走査方向に並べて記録された複数のテストパターンの記録結果に基づいて、通常状態から後端領域記録状態になる際の走査方向における記録媒体の搬送量の誤差を検知する検知手段を有する。 - 特許庁

The logic comparator where the expected values are consistent with the output data in all the output cycles of test patterns is detected further by a comparison result determination circuit, and the tested semiconductor circuit is a nondefective at the timing of the expected value input into the logic comparator, when the corresponding logic comparator exists.例文帳に追加

さらに比較結果判定回路にて試験パターンの全出力サイクルにおいて出力データと期待値が一致している論理比較器を検出し、該当する論理比較器があればその論理比較器に入力された期待値のタイミングで被試験半導体回路が良品であることを判定する。 - 特許庁

In a test sheet TS to be used for detecting the inclination between the mounting direction of a line image sensor and a previously set main scanning direction, two patterns for adjustment comprised of congruent isosceles triangles TS1 and TS2 with center lines, in parallel with the main scanning direction are formed at a distance from each other.例文帳に追加

ラインイメージセンサの取りつけ方向と、予め設定されている主走査方向との傾きを検出するために用いるテストシートＴＳには、主走査方向に平行な中線を持つ互いに合同な二等辺三角形ＴＳ１、ＴＳ２からなる二つの調整用パターンが離して形成されている。 - 特許庁

A process for quantitatively detecting signals from labels on labelled antibodies in respective separate capture areas formed by a sandwich to obtain the signal patterns unique to the concentration of an object to be analyzed in a fluid test medium and a process for mathematically combining the unique signal patterns to form a monotone dosage response curve to detach the block of the coupling of an immobilized antibody and the first epitope of the object are included.例文帳に追加

サンドイッチが形成した別々の捕捉領域それぞれにおける標識化抗体上の標識からの信号を定量的に検出して、流体試験媒体中の分析対象物の濃度に対しユニークである信号パターンを得る工程と、ユニークな信号パターンを数学的に合わせて単調用量応答曲線を作り出して、固定化抗体と分析対象物の第一のエピトープとの結合のブロックをファクタから外す工程とを含む、サンドイッチ免疫検定法。 - 特許庁

The semiconductor tester 1 includes multiplexing sections 12, 16 for multiplexing signals (test patterns P1-P4 and measured results M1-M4) to be transmitted via transmission cables C11-C14, C21-C24; and separating sections 13, 17 for separating the multiplexed signals transmitted via the transmission cables C11-C14, C21-C24.例文帳に追加

半導体試験装置１は、伝送ケーブルＣ１１〜Ｃ１４，Ｃ２１〜Ｃ２４を介して伝送されるべき信号（試験パターンＰ１〜Ｐ４及び測定結果Ｍ１〜Ｍ４）を多重化する多重化部１２，１６と、伝送ケーブルＣ１１〜Ｃ１４，Ｃ２１〜Ｃ２４を介して伝送された多重化された信号をそれぞれ分離する分離部１３，１７とを備える。 - 特許庁

This apparatus for verifying the design of a semiconductor device controls an initiator 104 to issue transactions based on a parameter file 109 and an event file 110 and has a controller 107 that does not require a target, thereby eliminating the necessity of creating all function models and the necessity of test patterns, and enabling various simulation scenarios to be created easily.例文帳に追加

パラメータファイル１０９とイベントファイル１１０から、イニシエータ１０４のトランザクション発行を制御し、また、ターゲットの不要なコントローラ１０７を備えることにより、すべての機能モデルを作成する必要がなくなり、テストパターンが不要となり、様々なシミュレーションシナリオを容易に作成できる半導体装置の設計検証装置である。 - 特許庁

In the wafer collectively-contact board used to collectively test numerous semiconductor devices formed on a wafer, a GND wiring or a power supply wiring (GND pad 12c or power supply pad 12a) on a multilayer wiring substrate 10 is connected to conductive patterns 35' and 35 on a front surface of an insulating film 32 of a contact member 30.例文帳に追加

ウエハ上に多数形成された半導体デバイスの試験を一括して行うために使用されるウエハ一括コンタクトボードにおいて、 コンタクト部品３０の絶縁性フィルム３２の表面の導電性パターン３５’、３５に、多層配線基板１０におけるＧＮＤ配線又は電源配線（ＧＮＤパッド１２ｃ又は電源パッド１２ａ）を接続する。 - 特許庁

On the basis of only envelope-detected samples of a signal at two test points and perturbation of a stop operation point by the properly selected voltage patterns of other constitution elements, such as an amplifier and/or a vector modulator, these operations are all performed at a base-band frequency, which enables a simple digital circuit to perform adaptive control over this device.例文帳に追加

２つのテスト・ポイントにおける信号の包絡線検出されたサンプルと、増幅器および／またはベクトル変調器など他の構成要素の適切に選択された電圧パターンによる休止動作点の摂動のみ基づいていて、これら全ての動作は、簡単なデジタル回路でこの装置の適合制御を実施可能にするベースバンド周波数で行われる。 - 特許庁

The TAP includes in its TAP block a linear feedback shift, register, a signature register with a plurality of inputs, a step counter, a shift counter, a step/shift controller, an MISR mask register, etc., and is capable of automatically creating BIST test patterns through the use of a TAP circuit and simultaneously loading them to a plurality of parallel scan paths over a whole digital circuit.例文帳に追加

ＴＡＰはそのＴＡＰブロック内に、線形フィードバックシフトレジスタ、複数入力のシグニチャレジスタ、ステップカウンタ、シフトカウンタ、ステップ／シフトコントローラ及びＭＩＳＲマスクレジスタ等を含み、ＴＡＰ回路を用いてＢＩＳＴ試験パターンを自動的に作成すると同時にこれらをデジタル回路全体にわたる複数の並列スキャンパスへとロードすることが出来る。 - 特許庁

In the game machine wherein the winning probability of a variable display device for normal patterns is improved accompanying the probability variable state, the variation time is shortened, the opening time of a normal electric accessory is extended and the number of times of the opening is increased, a connector for a test capable of outputting signals to the outside of the game machine is attached to a game control board.例文帳に追加

確変状態に付随して普通図柄用可変表示器の当り確率が向上されかつその変動時間が短縮されるとともに普通電役の開放時間が延長されかつその開放回数が増加する遊技機において、信号を遊技機外部へ出力可能な試験用コネクタを遊技制御基板に取付ける。 - 特許庁

In the manufacturing method for the printer, a first and a second test patterns are printed by changing a relative position of adjoining short heads by a plurality of the number of times, a relative position between the short heads is determined by acquiring a joint density, and a density correcting value to an image part printed in an overlapping region is calculated on the basis of the pattern printed by the short heads at the determined relative position.例文帳に追加

隣接した短尺ヘッドの相対位置を複数変化させて第１、第２テストパターンを印刷し、繋ぎ目濃度を取得して短尺ヘッド間の相対位置を決定し、決定した相対位置である短尺ヘッドによって印刷されたパターンに基づいて重複領域で印刷される画像部分に対する濃度補正値を算出する印刷装置の製造方法 - 特許庁

An expected value generation circuit 22 generates an expected value pattern on the basis of output patterns of the reference semiconductor integrated circuits 32A, 32B, and 32C, and a determination circuit 24 compares the expected value pattern generated by the expected value generation circuit 22 with an output pattern of the semiconductor integrated circuit 34 to be tested to determine whether the semiconductor integrated circuit 34 to be tested passes or fails the test.例文帳に追加

期待値生成回路２２で、基準の半導体集積回路３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃの出力パターンに基づいて期待値パターンを生成し、判定回路２４で、期待値生成回路２２で生成された期待値パターンとテスト対象の半導体集積回路３４の出力パターンとを比較することにより、テスト対象の半導体集積回路３４のパス／フェイル判定を行う。 - 特許庁