「Test patterns」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目)

複数の入力信号線を持つデジタルＬＳＩ回路のシミュレーションテストベンチを生成する場合において、各入力信号線ごとにテストパターンを作成し（ステップ１０）、それらを少なくとも２本以上の入力信号線について、入力するタイミングが同じものをビット連接により接合し、データ圧縮したテストパターンファイルを生成する（ステップ１１）。 - 特許庁

With such an arrangement, a large capacity memory required, in prior art, for storing developed test patterns can be eliminated.例文帳に追加

このようにすれば、従来技術のように、展開済みのテスパターンを記憶するための大容量メモリが不要となる。 - 特許庁

Lands of patterns corresponding to a connecting terminal arrangement of the IC device are respectively formed on both faces of the socket board for the test.例文帳に追加

テスト用ソケットボードの両面にＩＣデバイスの接続端子配列に応じたパターンのランドをそれぞれ形成する。 - 特許庁

By comparing the densities of the first and second test patterns, positional deviation and its deviated direction are determined.例文帳に追加

この第１，第２のテストパターンの濃度の大小を比較することで、位置ずれの有無とそのずれの方向を判断する。 - 特許庁

例文

To set a range for judging whether electronic devices are good or not, in accordance with test patterns to be supplied to the electronic devices.例文帳に追加

電子デバイスの良否を判定するための範囲を、電子デバイスに供給する試験パターンに応じて設定する。 - 特許庁

例文

To provide an image forming apparatus that can set a plurality of test patterns at arbitrary positions of an image region independently.例文帳に追加

複数のテストパターンを、画像領域の任意の位置に、独立して、設置することができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Although pixel values of the backgrounds are different among the test patterns 21 to 24, the shapes of the contrast areas are the same.例文帳に追加

テストパタン２１乃至２４間では、バックグランドの画素値は異なっているが、コントラスト領域の形状は同じである。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device, of which the adjustment of input/output timing on various test patterns is possible.例文帳に追加

様々なテストパターンでの入出力タイミング調整が可能な半導体集積回路装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an image processing system capable of performing correction processing in a prescribed region without using any test patterns.例文帳に追加

テストパターンを使わずに、所定の領域において補正処理を行うことができる画像処理システムを提供する。 - 特許庁

The densities of C, M and Y are calculated on the basis of the quantities of reflected lights of the test patterns of C, M and Y.例文帳に追加

そして、これらのＣ、Ｍ、Ｙのテストパターンの反射光量に基づいてそれぞれＣ、Ｍ、Ｙの濃度を算出する。 - 特許庁

A quantity of light for reading the image adjustment test pattern printed on the rear surface through from the front side of the recording sheet with the position adjustment test patterns formed is adjusted; and the light quantity is increased, until the density level of the test pattern printed on the rear surface reaches a prescribed value, and then, the test pattern on the rear surface is read.例文帳に追加

位置調整用のテストパターンが形成された記録シートの表側から裏面のテストパターンを透かして読み取るときの光量を調整し、裏面のテストパターンの濃度レベルが所定値になるまで光量を増加させて読取を行う。 - 特許庁

The calculating means calculates the amount of relative recorded position shift of the pair of test patterns 312, 314 based on the mutual relationship of the density data of the pair of test patterns 312, 314, and then calculates the amount of shifted angle of the recording head based on the amount of relative recorded position shift.例文帳に追加

前記算出手段は、一対のテストパターンの濃度データの相互の相関に基づいて、一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出し、前記記録位置ずれ量に基づいて記録ヘッドの角度ずれ量を算出する。 - 特許庁

In the service life test of the plasma display device, always lighting fixed patterns 22, 23, and 24 are arranged in a plurality in a display area 21 of a panel surface, and the respective patterns are displayed in a different gradation.例文帳に追加

プラズマディスプレイ装置の寿命試験において、常時点灯する固定パターン２２、２３、２４をパネル面の表示領域２１内に複数個設け、それぞれを異なる階調で表示する。 - 特許庁

The image forming apparatus provides test patterns 310, 300 and 320 comprising four band-like patterns formed to use each of the four developing devices on a center, a right end and a left end of the status sheet SS.例文帳に追加

ステータスシートＳＳの中央部、左端部、右端部には、４つの現像器それぞれを使用して形成された４本の帯状パターンからなるテストパターン３１０，３００，３２０が設けられる。 - 特許庁

To provide a boundary scan test circuit capable of suppressing increase of the number of test patterns or a test time by an LSI tester, even when the number of boundary scan cells is increased following increase of the number of pins on a printed circuit board.例文帳に追加

プリント回路基板におけるピン数の増加にともないバウンダリスキャンセルの数が増加した場合であっても、ＬＳＩテスタによるテストパターン数やテスト時間が増加するのを抑止することができる、バウンダリスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

The test pattern for linearity inspection which is composed of a plurality of rectangular patterns 1 to 6 having the same length and different widths, is used.例文帳に追加

長さが同じで幅が異なる複数の矩形パターン１〜６により構成されるリニアリティ検査用テストパターンを使用する。 - 特許庁

A plurality of the test patterns for performing correction of a recording position gap of a plurality of items are recorded to front and rear faces of the recording medium.例文帳に追加

複数の項目の記録位置ずれの補正を行うための複数のテストパターンを、記録媒体の表裏面に記録する。 - 特許庁

When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it makes one pattern to be switched and displayed on one screen respectively.例文帳に追加

Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、制御部１１は一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁

A combination circuit is extracted from a logically composed controller (step 1), and test patterns for it are generated (step 2).例文帳に追加

論理合成したコントローラから組み合わせ回路を抽出し（ｓｔｅｐ１）、それに対するテストパターンを生成する（ｓｔｅｐ２）。 - 特許庁

There are backgrounds (background) 11-1 to 11-4 and contrast areas 12-1 to 12-4 in the test patterns 21 to 24.例文帳に追加

テストパタン２１乃至２４には、バックグランド（背景）１１−１〜１１−４とコントラスト領域１２−１〜１２−４とが存在する。 - 特許庁

According to some aspects, the pattern selection algorithms can be applied to any existing pool of candidate test patterns.例文帳に追加

幾つかの態様によれば、本発明のパターン選択アルゴリズムは、任意の既存プールの候補テストパターンに適用することができる。 - 特許庁

When the calibration processing is executed, one pattern of N test patterns [n] is switched and displayed on one screen of a display section 13 respectively.例文帳に追加

キャリブレーション処理時には、表示部１３においてＮ個のテストパターン［ｎ］が一画面に一パターンづつ切り替え表示される。 - 特許庁

The number of sheets of the recording medium consumed for the test patterns unrelated to recording of an actual image can be suppressed accordingly.例文帳に追加

これにより、実画像の記録とは無関係なテストパターンのために消費される記録媒体の枚数を抑えることができる。 - 特許庁

In an S2, the test patterns on the three sheets are successively read by an image input device, and the average of each density data is obtained.例文帳に追加

Ｓ２で、３枚のテストパターンを順次画像入力装置によって読み込ませ、それぞれの濃度データの平均値を求める。 - 特許庁

To output the same test patterns from a print head irrespective of the kinds of an image forming device equipped with the print head.例文帳に追加

プリントヘッドが装着される画像形成装置の種類に関わらず、プリントヘッドより同一のテストパターンを出力可能とする。 - 特許庁

To provide a toner density estimating method and apparatus each using test patterns and toner supplying method and apparatus using them.例文帳に追加

テストパターンを用いたトナー濃度推定方法及び装置、並びにそれを用いたトナー供給方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Simulation is made by inputting the digital signals of various kinds of test patterns into the digital input terminals Di0 to Di5.例文帳に追加

デジタル入力端子Ｄｉ０〜Ｄｉ５に種々の試験パターンのデジタル信号を直接入力してシミュレーションをおこなう。 - 特許庁

To provide a test apparatus by which all of the prescribed data patterns can be written efficiently also to a memory having a bad block.例文帳に追加

バッドブロックを有するメモリに対しても、所定のデータパターンの全てを効率よく書き込むことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To select operation patterns of feeding and discarding cuvettes, dispensing test bodies, dispensing reagents and the like and enhance the efficiency for processing.例文帳に追加

キュベットの供給や廃棄、検体分注、試薬分注などの動作パターンを選択できるようにし、かつ処理能力を高める。 - 特許庁

An initial probability setting file 13 shows the rate of each parameter value for each parameter item, and a test parameter generator 2 generates a plurality of types of test patterns according to a rate of each parameter value of the initial probability setting file 13, and makes a test bench 4 execute simulation by using a test pattern 3.例文帳に追加

初期確率設定ファイル１３は、パラメタ項目ごとに各パラメタ値の比率を示しており、テストパターンジェネレータ２は、初期確率設定ファイル１３のパラメタ値ごとの比率に従って複数種のテストパターンを生成し、テストベンチ４にテストパターン３を用いたシミュレーションを実行させる。 - 特許庁

All test patterns are sequentially inputted in the logic integrated circuit 3 which is the test target from application software of a test pattern input/output controller 4 composed of a PC, its output is read by the test pattern input/output controller 4, and an output pattern 6 is created.例文帳に追加

ＰＣで構成されたテストパターン入出力制御装置４上のアプリケーションソフトから試験対象となる論理集積回路３に全てのテストパターンを順次入力し、その出力をテストパターン入出力制御装置４に読み出しアウトプットパターン６を作成する。 - 特許庁

Here, the latent image of the test pattern is formed so that test patterns for all the colors divided into a plurality of rows and formed along the transport direction of the transport belt lie within the periphery length of the transport belt.例文帳に追加

ここで、搬送ベルトの搬送方向に沿って複数列に分けて形成された全色のテストパターンが搬送ベルトの周長以内に収まるように、テストパターンの潜像を形成する。 - 特許庁

In a verification support device 100, test patterns 213 and 214 are generated by a test pattern generation part 201 to execute simulation and an expected value is judged by an expected value judgement part 204.例文帳に追加

検証支援装置１００では、テストパターン生成部２０１により、テストパターン２１３，２１４を生成してシミュレーションを実行し、期待値判定部２０４により期待値判定する。 - 特許庁

In addition, an RAM test pattern diagnostic process 12 performs RAM diagnosis using a plurality of test patterns for the storing region, etc. of each safety related data routinely.例文帳に追加

これに加えて、ＲＡＭテストパターン診断処理１２によって、定期的に、各安全関連データの格納領域等に対して、複数のテストパターンを用いたＲＡＭ診断を行う。 - 特許庁

To simplify a noise test capable of preventing surely breakage of an internal unit even when insulation between a noise application terminal of a device to be tested and the internal unit is imperfect, and having many test patterns.例文帳に追加

被試験装置のノイズ印加端子と内部ユニットとの間の絶縁が不完全な場合にも内部ユニットの破損を確実に防止でき、しかも試験パターンの多いノイズ試験を簡易にする。 - 特許庁

The equipment management server 600 compares a fetched image signal with a predetermined logical value of the test image and performs an arithmetic operation of errors by every kind of density of patterns on the test image.例文帳に追加

機器管理サーバ６００は取り込まれた画像信号と予め定められたテスト画像の理論値を比較し、テスト画像上のパターンの各濃度毎に誤差の演算を行う。 - 特許庁

In the vision test chart, a plurality of circular or square indices comprising patterns of combination of two or more colors are placed on prescribed positions corresponding to test sites in the field of view.例文帳に追加

視覚検査用チャートにおいて、２種類以上の色を組み合わせた模様からなる円形または方形の視標を、視野における検査部位に対応した所定位置に複数配置する。 - 特許庁

The present invention refers to a test pattern 1, a set of test patterns and a method of evaluating the transfer properties of a pattern as well as a method of determining at least one parameter of a transfer process.例文帳に追加

転移処理の少なくとも一つのパラメータを決める方法と同様に，テストパターン１，テストパターンの集合，テストパターンの転移特性を評価する方法についても言及している。 - 特許庁

A test pattern compressing function by repeating a test pattern reactivating technique in a test pattern creating process and a test pattern compressing function by discriminating a test pattern which detects the largest number of undetected failures from among a plurality of test patterns used in the repeated process are simultaneously made compatible at a high speed by using a PPPF failure simulation technique.例文帳に追加

テストパタンの再活性化手法をテストパタン生成工程において繰り返すことによるテストパタン圧縮機能、及び当該繰り返し工程において用いられる複数のテストパタンの中から最も多くの未検出故障を検出するテストパタンを識別することによるテストパタン圧縮機能を、ＰＰＰＦ故障シミュレーション手法を用いることで同時に高速に両立する。 - 特許庁

Simple and accurate coarse adjustment of recording heads is made possible by comprising a means for reading test patterns formed on a recording paper and, at the time of coarse control step, by forming test patterns for measuring coarse adjustment registration displacement in synchronization with the starting time of storage time interval of CCD.例文帳に追加