「Test patterns」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

A pattern generator PG produces test patterns S_PTN1-S_PTN4 describing a test signal S_TEST which drivers DR_1-DR_4 should output, and control patterns S_PTN_CMPb and S_PTN_CMPa describing control signals S_CNTb and S_CNTa which drivers DR_5 and DR_6 should output.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、ドライバＤＲ_１〜ＤＲ_４が出力すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮ１〜Ｓ_ＰＴＮ４と、ドライバＤＲ_５、ＤＲ_６が出力すべき制御信号Ｓ_ＣＮＴｂ、Ｓ_ＣＮＴａを記述する制御パターンＳ_ＰＴＮ＿ＣＭＰｂ、Ｓ_ＰＴＮ＿ＣＭＰａを生成する。 - 特許庁

The alignment accuracy is evaluated by: reading alignment marks 60a-60d on a substrate F mounted on an exposure stage 18; recording a plurality of different test patterns with a definite relation among them on the substrate F, taking the alignment marks 60a-60d as the references, with exposure and in repetition; and comparing positions of the test patterns with each other.例文帳に追加

露光ステージ１８に装着された基板Ｆのアラインメントマーク６０ａ〜６０ｄを読み取り、アラインメントマーク６０ａ〜６０ｄを基準として、一定の関係からなる複数の異なるテストパターンを基板Ｆに繰り返し露光記録し、テストパターン同士の位置関係を比較してアラインメントの精度を評価する。 - 特許庁

The main and sub-trigger signals of timing suitable for the maximum writing density and a given test pattern are generated so as to enable operations of a writing test mode such as the color shift or the like, using the period other than the transfer time of the print output image from the copy application board, to transfer the generated patterns to the LDBs adapting the patterns to the trigger signals.例文帳に追加

又コピーアプリからの印刷出力画像の転送時以外の期間を利用し、色ずれ等の書き込みテストモードの動作を可能にすべく、最大書き込み密度に適合するタイミングの主副トリガ信号、所定のテストパターンを生成し、生成したパターンをトリガ信号に合わせ込んでＬＤＢに転送する。 - 特許庁

In a pattern inspection device with which patterns of a plurality of dies 22 formed on the test piece 2 for inspection are inspected, the pattern inspection device is equipped with a memory device 36 for a stream image to store the stream image of the test piece 2 for inspection, and a DD comparing section 51 to DD compare the patterns of the respective dies 22 in the stream image with one another.例文帳に追加

検査対象試料２に形成された複数のダイ２２のパターンを検査するパターン検査装置において、検査対象試料２のストリーム画像を記憶するストリーム画像用メモリ装置３６と、ストリーム画像内の各ダイ２２のパターンを相互にＤＤ比較するＤＤ比較部５１と、を備える、パターン検査装置。 - 特許庁

The test patterns are read, detection rates and average concentration of embedded additional information in relation to the respective large dot patterns are obtained, and a large dot pattern wherein the values thereof are set in reference ranges and closest to ideal values is determined (S107).例文帳に追加

それらのテストパターンを読み、それぞれの大ドットパターンに関して埋め込まれた付加情報の検出率と平均濃度を求め、それらの値が基準範囲にありかつ理想値に最も近い大ドットパターンを決定する（Ｓ１０７）。 - 特許庁

Dot patterns formed for each of two different halftone processing and for overlap of the transparent toner in a plurality of gray scales for each color CMYK are created (S102), and a test patch which composed of the dot patterns is printed (S103).例文帳に追加

ＣＭＹＫ各色について複数の階調で、２の異なる中間調処理、且つ、透明トナーのオーバーラップ有り／無しについて形成したドットパターンをそれぞれ作成し（Ｓ１０２）、ドットパターンを集めた試験パッチを印刷する（Ｓ１０３）。 - 特許庁

A printed circuit board 422 of the test device 420 includes a plurality of shared patterns CPATk for holding at least two or more of the corresponding test channels CHk, out of the plurality of test channels CHk for connecting an input terminal ITERMk to a test pin, in common with the corresponding one input terminal ITERMk out of the input terminal ITERMk.例文帳に追加

テスト装置４２０の印刷回路基板４２２は、入力端子ＩＴＥＲＭｋとテストピンとを連結する複数のテストチャンネルＣＨｋのうち、対応する少なくとも二つ以上のテストチャンネルＣＨｋを、入力端子ＩＴＥＲＭｋのうち、対応する一つの入力端子ＩＴＥＲＭｋに共有させる共有パターンＣＰＡＴｋを複数個備える。 - 特許庁

Then, the management server 1 requests a test operation with the set patterns for each of the automatic ticket gate machines 2, and infers a program that causes the failure on the basis whether the failure occurs or not in the test operation, which is notified from the automatic ticket gate machines 2.例文帳に追加

そして、自動改札機２毎に、設定パターンでのテスト稼働を要求し、自動改札機２から通知された、テスト稼働における障害の発生有無に基づいて、今回発生した障害の原因であるプログラムを推定する。 - 特許庁

In manufacturing a printer, a test pattern is printed for each line head by delivering ink droplets from two line heads arranged on a base material (S102), and the abnormal nozzles of each line head are specified from two test patterns (S103).例文帳に追加

プリンタを製造するには、基材上に配列した２つのラインヘッドからインク滴を吐出することにより、各ラインヘッドについてテストパターンを印刷し（Ｓ１０２）、２つのテストパターンから各ラインヘッドの異常ノズルを特定する（Ｓ１０３）。 - 特許庁

To provide a projector including an automatic trapezoidal distortion correction means capable of measuring a correct tilt angle of a screen even when one test pattern is deviated from the screen while widening intervals of test patterns for calculating the tilt angle.例文帳に追加

傾斜角度算定のためのテストパターンの間隔を広げながら１個のテストパターンがスクリーンから外れた場合にも正しいスクリーンの傾斜角度が計測できる自動台形歪補正手段を有するプロジェクタを提供する。 - 特許庁

The image processing system is characterized in such that the printers output the same test pattern, the reader reads the test patterns, gives marks on differences among the print characteristics, a user discriminates the print characteristic on the basis of the marks displayed on a UI and selects an output destination printer.例文帳に追加

複数のプリンタにおいて同一のテストパターンを出力し、１つのリーダーで読み込み、印刷特性の差を点数化し、ＵＩに表示された点数からユーザーが判断し出力先プリンタを選択することを特徴とする。 - 特許庁

This monitoring panel 1 for protection against disasters is provided with a sound pressure measuring test processing part 32 for letting the sound alarm speaker for which the sound pressure measuring test is conducted output alarm patterns of alarm sound for measuring sound pressure (a second signal) from a sound synthetic part 46 repeatedly.例文帳に追加

防災監視盤１に、音圧測定試験を行う音声警報用スピーカに音声合成部４６からの音圧測定用警報音（第２シグナル）の警報パターンを繰返し出力させる音圧測定試験処理部３２を設ける。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a test mask, having several kinds of transmittances and patterns that have different dimensions at various kind of transmittance, and to provide a method for controlling the detection sensitivity of a defect inspection apparatus that uses the test mask.例文帳に追加

数種類の透過率を有し、かつ各々の種類の透過率において寸法の異なるパターンを有するテストマスクにより半透明欠陥に対する欠陥検査装置の検出感度調整することを目的とする。 - 特許庁

A method is provided, which prints a series of test patterns 200 on a test substrate using a lithography projection apparatus in order to measure a critical dimension printed as a function of a preset value of the amount of exposure dose and a preset value of focal length.例文帳に追加

印刷されたクリティカルディメンジョンを露光ドーズ量設定値および焦点設定値の関数として測定するために、リソグラフィ投影装置を使用して試験基板に一連の試験パターン２００を印刷する方法が提供される。 - 特許庁

By providing an operation plan correction means 102 for calculating an operation pattern with a low energy saving characteristic assumed by characteristics of the cogeneration device by simple operations, the number of test operation patterns being operation patterns carrying out detailed operations of operation patterns feasible in a predetermined operation plan period is reduced.例文帳に追加

コージェネレーション装置の特性により想定される、省エネルギー性の低い運転パターンを簡易な演算により算出する運転計画補正手段１０２を備えることにより、所定の運転計画期間で取り得る運転パターンのうち詳細な演算を行う運転パターンである試験運転パターンの数が減少される。 - 特許庁

A test pattern generation part 110 in a debugging support host program 100 generates a status transition pass from a status transition table 1 and supposed events and unexpected events for respective states of the status transition pass as test patterns, and an event issue part 210 in a debugging support target program 200 issues all unexpected events in respective states of the status transition pass before the supposed events by using the test patterns.例文帳に追加

デバッグ支援ホストプログラム１００のテストパターン生成部１１０が状態遷移表１から状態遷移パスならびに状態遷移パスの各状態に対する想定内イベントおよび想定外イベントをテストパターンとして生成し、デバッグ支援ターゲットプログラム２００のイベント発行部２１０がテストパターンを用いて状態遷移パスの各状態の想定外イベントを想定内イベントの前に全て発行するよう構成する。 - 特許庁

To provide a WLBI test method which allows bit lines to be individually controlled, "H/L" reverse-phase stress patterns to be applied between adjacent bit lines within the same sense amplifier line, and unspecified kinds of stress patterns to be applied to memory cells.例文帳に追加

ビット線を個別に制御することができ、同一センスアンプ列内の隣接ビット線間に“Ｈ／Ｌ”逆相ストレスパタンを印加できると共に、限定されない種々のストレスパタンをメモリセルに印加できるＷＬＢＩテスト方法を提供する。 - 特許庁

The learning patterns are constituted of test problems and supplementary problems in which problems considered to be proper in respective units are combined in accordance with the curriculum and the learning progress of the student.例文帳に追加

学習パターンは、カリキュラムと学習進度に応じて、各単元において適当と考えられる問題を組み合わせたテスト問題や補修問題からなる。 - 特許庁

To provide a concentration unevenness correcting method of an image recording apparatus which corrects concentration unevenness without repeating maintenance processing and recording of test patterns even when there is random MF.例文帳に追加

ランダムＭＦがある場合にもメンテナンス処理や検査パターンの記録を繰り返すことなく、濃度ムラ補正を行う画像記録装置の濃度ムラ補正方法の提供。 - 特許庁

Further, the personal computer 1 makes communication with the camera to transmit control data to the camera on the basis of imaging information obtained by imaging the various displayed test patterns by the camera.例文帳に追加

また、表示された各種テストパターンをカメラで撮像して得た撮像情報に基づきカメラの調整検査を行なうためにカメラと通信してカメラに制御データを送る。 - 特許庁

To provide a preparation apparatus of test patterns for avoiding a state where instability results to the extent of a setting delay in bidirectional switching delay.例文帳に追加

本発明の課題は、双方向切り替えディレイ時の設定ディレイ分不定となる状態を回避することができるテストパターン作成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Consequently, the printer generate the correction data, after confirming that the camera is in the photographing mode, and that received image data are test patterns by analyzing the data.例文帳に追加

このために、プリンタ側では、カメラが撮影モードであること、受信した画像データを解析してテストパターンであることを確認してうえで、補正データの生成を行う。 - 特許庁

A plurality of test terminals Ta to Tf are formed in a substantially rectangular shape, such that respective widths thereof increase toward respective one sides from respective ends of the plurality of wiring patterns 12a to 12f.例文帳に追加

複数のテスト端子Ｔａ〜Ｔｆは、複数の配線パターン１２ａ〜１２ｆの端部から一方の側方に幅広となるように略矩形状に形成される。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus in which relative positional shift of recording of a pair of test patterns being formed in order to adjust the ink ejection timing can be calculated in a short time.例文帳に追加

インクの噴射タイミングの調整のために形成される一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を短時間で算出し得る画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation method for a circuit with a built-in PLL (Phase Locked Loop), an evaluation system, and a circuit with a built-in PLL, for enhancing the reliability of evaluation results without increasing the number of test patterns.例文帳に追加

テストパターン数を増やすことなく、評価結果の信頼性を高くできるＰＬＬ内蔵回路の評価方法、評価システム、及びＰＬＬ内蔵回路を提供する。 - 特許庁

A plurality of the same test patterns are connected together to be impressed to the DUT 2, and then, a power source current signal measured by this impression is converted into a spectrum so as to be used for failure detection.例文帳に追加

又、同一テストパタンを複数連結してＤＵＴ２へ印加し、それによって観測された電源電流信号をスペクトルに変換して故障検出に用いる。 - 特許庁

To execute color matching favorably at all times without requiring a plurality of test patterns and without wasting toner, and obtain correct information irrespective of a shape and a power difference of each beam light.例文帳に追加

複数のテストパターンを不要としトナーを無駄にせずに常に良好に色合せでき、ビーム光毎の形状やパワーの違いに拘らず正しい情報が得られる。 - 特許庁

Respective patterns K1 to Y1 constituting the test pattern T1 are formed so that density near both ends in a width direction (main-scanning direction) may be higher than that on the inside.例文帳に追加

テストパターンＴ１を構成する各パターンＫ１〜Ｙ１は、幅方向（主走査方向）両端部近傍の濃度がその内部よりも大きくなるよう形成されている。 - 特許庁

The variation of the misalignment amounts of an interlayer pattern is monitored from the occurring amounts of defects in the misalignment amounts of a plurality of test patterns having different misalignment amounts.例文帳に追加

異なる合わせずれ量を持った複数のテストパターンのそれぞれの合わせずれ量に対する欠陥の発生量から層間パターンの合わせずれ量の変動をモニタする。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus and an image processing method which properly composite test patterns sequentially in accordance with the image processing details in each of image processing steps.例文帳に追加

本発明は、各画像処理段階でその画像処理内容に応じて適切にテストパターンを順次合成する画像処理装置及び画像処理方法に関する。 - 特許庁

In the operation aptitude test method, a combination of the stimulus and a selection button in response to it offsets the effect of learning of the previous operation aptitude test and shortens a period till a next operation aptitude test by using operation patterns 202, 203, 204, 205, and 206 different from a basic operation pattern 201.例文帳に追加

運転適性検査方法において、刺激とそれに対する選択ボタンとの組み合わせが基本操作パターン２０１とは異なる操作パターン２０２，２０３，２０４，２０５，２０６を用いることにより、前回の運転適性検査時の学習効果を相殺し、次回の運転適性検査までの期間を短縮して実施できるようにした。 - 特許庁

This method for evaluating the etching accuracy comprises forming a test pattern 2 for measuring resistance including test patterns 21-24 each with a predetermined width and a space between lines arranged in rows and columns on all over the test substrate, measuring a resistance value after etching, and assuming a finished state of a circuit pattern by converting the resistance value into the widths of the line.例文帳に追加

縦、横に配列された所定線幅および線間のテストパターン２１〜２４を含む抵抗測定用テストパターン２をテスト基板の全面にわたって形成し、エッチング後に抵抗値を測定し、その抵抗値を線幅に換算して回路パターンの仕上がり状態を想定しエッチング精度を評価する。 - 特許庁

When this test information management server 20 receives a value of each parameter to be set in use environment of the software component from a client computer 13-1 to 13-3, the test information management server 20 creates test patterns for combinations between the values of the relevant parameters, and transmits them to the client computer 13-1 to 13-3.例文帳に追加

テスト情報管理サーバ２０は、ソフトウェア部品の使用環境において設定する予定のそれぞれのパラメータの値をクライアントコンピュータ１３−１〜１３−３から受け付けた場合に、関連性のあるパラメータの値の組み合わせについてのテストパターンを作成して当該クライアントコンピュータ１３−１〜１３−３に送信する。 - 特許庁

The image recorder 100 further comprises a mechanism 172 for driving the carriage 110, a section 174 for controlling the recording section 120 to record a pair of test patterns on the sheet 192, and a section 176 for calculating the relative positional shift of recording the pair of test patterns based on cross correlation of the density data thereof.例文帳に追加

画像記録装置１００は、キャリッジ１１０を移動させるキャリッジ駆動機構１７２と、一対のテストパターンを用紙１９２に記録するように記録部１２０を制御する記録制御部１７４と、一対のテストパターンの濃度データの相互の相関に基づいて両者の相対的な記録位置ずれ量を算出する画像ずれ算出部１７６とを有している。 - 特許庁

The failure inspection apparatus comprises a transmission part for sending the test patterns to the integrated circuit with a specified clock frequency, a voltage application part having a gain variable amplifier and applying inspection voltage to the integrated circuit, a control part for controlling the gain of the gain variable amplifier, and a receiving part for accepting the result processed by the integrated circuit according to the test patterns.例文帳に追加

故障検査装置は、一定のクロック周波数でテストパターンを集積回路に送る送信部と、利得可変増幅器を有し、集積回路に検査電圧を印加する電圧印加部と、利得可変増幅器の利得を制御する制御部と、テストパターンに基づいて集積回路で処理された結果を受け取る受信部とを備える。 - 特許庁

The record timing in recording the best test pattern chosen from the two or more test patterns is stored, Based on the record timing, the registration adjustment at the reciprocating record corresponding to the recording medium curvature is made, and then the recording of image is performed.例文帳に追加

複数の前記テストパターンから選択された最良のテストパターンを記録した際の記録タイミングを格納し、この記録タイミングに基づいて、前記記録媒体の湾曲に対応した往復記録でのレジストレーション調整をして画像の記録を行わせる。 - 特許庁

In the calculation system, a random pattern generator 12 generates test patterns 11a, 11b by extracting respective parameters such as data transfer destination, data transfer direction and the number of bursts at random and bus operation models 10a, 10b respectively transfer data on the basis of the patterns 11a, 11b through a system bus 1.例文帳に追加

ランダムパターンジェネレータ１２でデータの転送先・転送方向・バースト数等の各パラメータをランダムに抽出してテストパターン１１ａ，１１ｂを生成し、このパターン１１ａ，１１ｂに基づいてバス動作モデル１０ａ，１０ｂはシステムバス１を介してデータを転送する。 - 特許庁

A cellphone 1 that is an electronic mail transmitter-receiver comprises a key operation part 3, a ROM 12 having main patterns A-E and sub-patterns A-C registered therein as patterns, a radio part 15 for transmitting and receiving test data of electronic mail, a control part 11 containing a mail forming function 14 that is a return mail forming means, and the like.例文帳に追加

電子メール送受信装置たる携帯電話機１は、キー操作部３、パタンとして主パタンＡ乃至Ｅ及び副パタンＡ乃至Ｃが登録されたＲＯＭ１２、電子メールのテキストデータを送受信するための無線部１５、及び、返信メール作成手段たるメール作成機能１４を内蔵した制御部１１等により構成されている。 - 特許庁

An unoccupied area capable of arranging the first test pad in a test pad arranging layer immediately the an upper side of the selected processing pattern is searched out of the processing patterns by an unoccupied area searching means 12 based on wiring rule information 31 and target layer information 34.例文帳に追加

そして、配線ルール情報３１とターゲット層情報３４に基づいて、空き領域探索手段１２により、選択された処理パターンの直上のテストパッド配線層に第１テストパッドを配置できる空き領域が処理パターン中から探索される。 - 特許庁

In each inspection, based on servo patterns recorded on each face, the inspection apparatus performs positioning of a magnetic head corresponding to the respective faces and recording of test data, and detects deficiency due to the defects of a magnetic layer from the results obtained by reproducing the test data.例文帳に追加

それぞれの検査では、それぞれの面に記録されたサーボ・パターンに基づいてそれぞれに対応する磁気ヘッドの位置決めおよびテスト・データの記録を行い、このテスト・データを再生して得た結果から磁性層の欠陥に起因する不具合を検出する。 - 特許庁

To enable displaying red, green, and blue and to improve test and detection capability for defect caused by patterns of each pixel constitution, wirings, and the like even when pixel electrodes are arranged in delta arrangement in a test method for a liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置の検査方法において、画素電極がデルタ配列に配置された場合でも、赤，緑，青の表示を可能とし、かつ各画素構成および前記各配線などのパターンに起因する不良の検査検出力を向上させることを目的とする。 - 特許庁

A K(black) test pattern is obtained by arranging a plurality of lines in parallel, and a C(cyan) test pattern is obtained by arranging a plurality of patterns in a step state obtained by providing level differences in a direction orthogonally crossing with a K line in a direction in parallel with the K line.例文帳に追加

Ｋ（ブラック）のテストパターンは、複数のラインを平行に並べられたパターンであり、Ｃ（シアン）のテストパターンは、Ｋのラインに直交する方向に段差を設けて形成された階段状のパターンを、Ｋのラインと平行な方向に複数並べたパターンである。 - 特許庁

A test transfer pattern is formed on a wafer by using a test exposure mask having a mask pattern with varied pattern area rates in the peripheral region so as to obtain the proximity correction data for each pattern area rate based on the transfer patterns (ST5, ST6).例文帳に追加

周辺領域におけるパターン面積率を変化させたマスクパターンを有するテスト用の露光マスクを用いてウェハ上にテスト用の転写パターンを形成し、当該転写パターンに基づいて前記パターン面積率毎の近接効果補正用データを得る（ＳＴ５，ＳＴ６）。 - 特許庁

The test pattern of an LSI for control is stored in a memory LSI as expected value data, and when the input/output timing is adjusted, the device is coped with all of the test patterns in a common discrimination circuit by means of discriminating with comparison of expected value data in the memory LSI and input data.例文帳に追加

制御用ＬＳＩのテストパターンをメモリＬＳＩに期待値データとして記憶し、入出力タイミング調整時には、入力データとメモリＬＳＩ内の期待値データを比較判定することで、共通の判定回路で全てのテストパターンに対応する。 - 特許庁

A second MR element 22 of a plurality of test patterns TEG is provided with the same material, film thickness and track width Tw as those of a first MR element in a thin film magnetic head with the height h formed differently depending on each test pattern TEG.例文帳に追加

複数のテストパターンＴＥＧの第２ＭＲ素子２２は、薄膜磁気ヘッド１０における第１ＭＲ素子３と同一の材料、同一の膜厚及び同一のトラック幅Ｔｗであって、それぞれのテストパターンＴＥＧによってハイトｈが異なるように形成される。 - 特許庁