「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(87ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a highly reliable tire inflating method for a tire testing machine, capable of unfailingly completing inflation by making effective use of existing facilities.例文帳に追加

既存の設備を有効利用して確実にインフレートを完了させることが出来る信頼性の高いタイヤ試験機のタイヤインフレート方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method of testing a report communication for a higher-order management system including a human-machine interface in a power transformation automation system.例文帳に追加

変電自動化システム内のヒューマンマシンインターフェースを含む上位運営システムに対するＩＥＣ ６１８５０基盤のレポート通信試験装置および方法。 - 特許庁

To provide a device and method for exchanging rims of a tire testing machine, capable of easily and automatically exchanging rims, without using any rim palettes and attachments.例文帳に追加

リムパレットやアタッチメントを用いることなく容易にリムを自動的に交換することができるタイヤ試験機のリム交換装置及びリム交換方法を提供する。 - 特許庁

To provide a more efficient weld metal crack sensitivity evaluation testing method when a component-system welding wire which is difficult to be produced is developed.例文帳に追加

製造が難しい成分系の溶接ワイヤを開発する際において、より効率のよい溶接金属の割れ感受性評価試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a water damage testing method of a gas sensor, which allows an experiment to be performed by supplying condensed water of which the amount is suitable for actual conditions.例文帳に追加

実際の状況にあった好適な量の凝縮水を供給して実験を行うことができるガスセンサの被水試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a braking force testing device and method capable of carrying out a braking force test without colliding with a cage or a balance weight.例文帳に追加

かごあるいは釣合錘を衝突させずに制動力試験を実行できるエレベータ用巻上機ブレーキの制動力試験装置および方法の提供。 - 特許庁

To provide a testing method of rolling-contact fatigue life for investigating the durability under foreign substance mixing lubrication while suppressing variation in test result.例文帳に追加

試験結果のばらつきを抑制しつつ、異物混入潤滑下における耐久性を調査することが可能な転動疲労寿命の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device having non-volatile memory elements with which testing at a high temperature is possible and shortening of the manufacturing process is realized.例文帳に追加

高温での試験が可能となり製造工程の短縮を実現する不揮発性記憶素子を有する半導体装置の製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a substrate for hybridization with nucleic acid chains immobilized thereon with surface coverage and the degree of activity enhanced, and a complementary testing method using this substrate.例文帳に追加

表面被覆率及び活性度を高めた核酸鎖を固定化したハイブリダイゼーション用基板、この基板を用いた相補性試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor-device testing method for executing high-reliability determination of a non-defective product and a defective product of semiconductor devices.例文帳に追加

信頼性の高い半導体デバイスの良品／不良品判定を行うことができる半導体デバイス試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method and a system for testing conductivity of Ethernet in an arbitrary test section from a terminal.例文帳に追加

イーサネットワークにおいて、端末機器から任意の試験区間に対して、容易に実施可能な導通性試験方法および導通性試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive testing method for inspecting a piezoelectric ceramic element, capable of surely detect internal flaws, and is incapable of being detected at normal temperatures.例文帳に追加

常温では検出することができない内部欠陥を、非破壊で確実に検出することができる圧電セラミック素子の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an indoor tire durability testing method capable of reproducing and accurately evaluating tire failures on the market, using an indoor tire durability machine.例文帳に追加

室内タイヤ耐久試験機を用いて市場でのタイヤ故障を精度良く再現して評価することを可能にした室内タイヤ耐久試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scratch resistance evaluation method for a coating film capable of obtaining an evaluation result of high reliability, without having to perform actual testing of car washing machine.例文帳に追加

実際の洗車機試験を行わずに、信頼性の高い評価結果を得ることのできる塗膜の耐擦り傷性評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide semiconductor wafer reduced in the manufacturing cost thereof and the testing method of a ferroelectric memory device which is capable of reducing the manufacturing cost of the same.例文帳に追加

製造コストが低減された半導体ウエハ、ならびに製造コストを低減することができる強誘電体メモリ装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

The method also has a characteristic capable of testing the presence or absence of plural activities of the physiologically active substance by performing plural assays in parallel.例文帳に追加

また、生理活性物質が有する複数の活性の有無を、複数のアッセイを並列的に実施することにより検定できるという特徴を有している。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a semiconductor test method capable of measuring fluctuation of a withstand voltage of a semiconductor device caused by an external electric field.例文帳に追加

外部電界による半導体素子の耐圧の変動を測定することができる半導体試験装置および半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a testing method for the semiconductor device and tester for the semiconductor device, capable of realizing a high speed timing test at a low cost.例文帳に追加

低コストで高速なタイミングテストを実現できる半導体装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit opening test system and circuit opening testing method which permit elimination of a waiting time for an opening test even when the opening tests overlap with each other.例文帳に追加

開通試験が重なっても、開通試験の待ち時間を無くすことを可能にする回線開通試験システムおよび回線開通試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a degradation promotion testing method for efficiently and highly accurately evaluating durability of a side surface section of a tire degrading with time.例文帳に追加

経時的に劣化したタイヤの側面部の耐久性を、効率的に、かつ、高い正確性をもって評価する劣化促進試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a mutual authentication device in which operations of a pair of transmittable and receivable devices can be tested without binding the devices to each other in advance.例文帳に追加

一対の送受信可能なデバイスの動作試験を予め紐付けすることなく実施できる相互認証デバイスの試験方法を提供する - 特許庁

To provide a method and apparatus for providing information regarding location and orientation of a structure using a fastener with respect to an assembly and testing of the structure.例文帳に追加

構造体の組み立て並びに試験に関し、構造体の配置並びに配向に関する情報を留め具を使用して与える方法並びに装置に関する。 - 特許庁

The method and apparatus for testing the semiconductors are configured to classify useful data in a set of test results.例文帳に追加

本発明の様々な局面による半導体をテストするための方法および装置は、テスト結果のセットにおいて有効なデータを分類するように構成される。 - 特許庁

To provide a game machine and its inspection method for making accurate inspection by acquiring correct inspection information in a testing terminal in inspecting the game machine.例文帳に追加

遊技機の検査の際に、試験端子に正確な検査情報を得ることができ、正確な検査ができる遊技機およびその検査方法の提供。 - 特許庁

To obtain a quick and easy method for installing software selected by an order of a customer into a computer system and testing the software.例文帳に追加

本発明は、顧客の注文により選択されたソフトウエアをコンピュータシステムにインストールし試験するための迅速で容易な方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method of testing a separator for a storage device, in which resistance to the polarity of an electrode of the separator for the storage device can be easily confirmed.例文帳に追加

本発明は、蓄電デバイス用セパレータの耐電極性を簡便に確認しうることができる試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide the accurate and efficient adjustment testing method and device of digital communication equipment using a quadrature modulation signal.例文帳に追加

通信機器の調整試験に関し、特に直交変調信号を用いるデジタル通信機器の正確で効率的な調整試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

At this time, the PLL counter copy uses a resistor incorporated into a test route including test facilitating means for testing the LSI by a scan path method.例文帳に追加

このとき、ＰＬＬカウンタコピーは、ＬＳＩをスキャンパス法により試験するための試験容易化手段を含む試験経路に組み込まれたレジスタを用いる。 - 特許庁

To provide a method for testing a non-volatile memory capable of simplifying a test program and carrying out write and read-out tests as a series of tests.例文帳に追加

試験プログラムが簡素化でき、書込みと読出しの試験を一連の試験として行うことができる不揮発性メモリの試験方法を提供する。 - 特許庁

To achieve a testing method and IC tester of a semiconductor integrated circuit capable of detecting a short between pins even when it is not a complete short.例文帳に追加

完全なショートでなくとも、ピン間ショートの検出が行える半導体集積回路の試験方法及びＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a word line driving device for easily detecting a defective word line, a semiconductor memory device including the same, and a method for testing the semiconductor memory device.例文帳に追加

ワードラインの不良検出を容易にするためのワードライン駆動回路及びこれを備える半導体メモリ装置並びにそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method for confirming the compatibility of an ink-jet printer without actually replacing an ink-jet head cartridge and executing a printing test.例文帳に追加

実際にインクジェットヘッドカートリッジを交換して印字検査を行うことなく、インクジェットプリンタの互換性を確認することができる検査方法を提供する。 - 特許庁

This method and device are used when testing an electronic device having source synchronizing signal output by use of an automatic test equipment(ATE).例文帳に追加

源同期信号出力を有する電子デバイスを自動試験装置（ＡＴＥ）を用いて試験するための方法および関連の装置を記載している。 - 特許庁

To provide a genetic testing method capable of accurately predicting a risk of occurrence of a cancer cell mass or the effect of a therapy in an early stage or after prognosis.例文帳に追加

精度良く、早期に、又は予後における癌細胞集団の存在リスクや、治療効果を予測することが可能な遺伝子検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a system between data communication equipment for performing an operation confirmation test of the entire system without arranging a person at the opposite party side.例文帳に追加

対向側に人員を配置することなく、システム全体の動作確認試験を行うデータ通信装置間システム試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester and a contact check method conducting contact check despite AC coupling by a testing object and a capacitor.例文帳に追加

被試験対象とキャパシタによりＡＣカップリングされていても、コンタクトチェックが行えるＩＣテスタ及びコンタクトチェック方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a testing system of a short message which can perform an overall verification test of short message service, and a test method of the short message.例文帳に追加

本発明は、ショートメッセージサービスの総合的な確認試験が行えるショートメッセージ試験システム及びショートメッセージの試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing method for a driving force transmission system which eliminates the shaft slippage of each clutch plate, thereby enabling the more accurate measurement of rotational unbalance.例文帳に追加

各クラッチプレートの軸ずれを排除して、より正確に回転アンバランスを測定することのできる駆動力伝達装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a parallel processing method for it having a plurality of memory banks, a controller, and a data processing processor for performing measurement and data processing in parallel.例文帳に追加

複数のメモリバンクとコントローラとデータ処理プロセッサとを備え、測定の実行とデータ処理を並行して行う半導体試験装置と並列処理方法。 - 特許庁

To provide a method and device for correcting a pulse width timing error while a high-performance integrated circuit device is being tested by an automatic testing device(ATE).例文帳に追加

自動式試験装置（ＡＴＥ）で高性能集積回路デバイスの試験中にパルス幅タイミング誤差を補正する方法および装置を提供する。 - 特許庁

The life testing method is applied to the ball bearing having at least an orbital ring which is made of a steel for bearings and whose orbital surface is subjected to a hardening process.例文帳に追加

少なくとも軌道輪が軸受用鋼よりなり、軌道輪の軌道面に硬化処理が施された転がり軸受の寿命試験方法である。 - 特許庁

To provide a testing method capable of discriminating good elements from defective elements by detecting quickly without fail a defective photo-electric converter.例文帳に追加

光電気変換器の不良品を高速かつ確実に検出して、優良素子と不良素子とを区別することができる試験方法が必要である。 - 特許庁

To provide a system and a method for testing IC, which can efficiently prepare a program required for a test.例文帳に追加

本発明の課題は、試験に必要なプログラムをより効率良く準備することが可能なＩＣ試験システム、及びＩＣ試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a plug and a communication transmission/reception testing apparatus and method in which a communication transmission/reception test can be performed from a protector inside a building in a short time.例文帳に追加

ビル内保安器から通信発着信試験を短時間に行えるプラグ、通信発着信試験装置および通信発着信試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an instrument for testing the load capacity of a ground anchor for being easily assembled and of forming the compact instrument.例文帳に追加

組立作業が容易で装置自体もコンパクトに形成することが可能なグラウンドアンカーの耐荷重試験方法及び装置を提供することを課題としている。 - 特許庁