「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(85ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an appropriate diffusion testing method for more accurately performing the quantitative evaluation of the elusion of contaminants from a solidified body.例文帳に追加

固化体からの汚染物溶出の定量的な評価をより精確に行い得るようにするために適当な拡散試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an erase function testing method of a semiconductor nonvolatile memory executing the erase function test in sector units in a short time.例文帳に追加

セクタ単位での消去機能の試験を短時間で実行することができる、半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for a liquid crystal device with which positioning is excellently performed when performing an acceleration test and reliability of a test result can be maintained.例文帳に追加

加速試験する際の位置決めを良好に実行して、試験結果の信頼性を維持できる液晶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a stress-resistance of an out-door signboard, which are used to test the stress-resistance for the out-door signboard.例文帳に追加

野立看板に対してその耐力を検査するための野立看板耐力検査装置と野立看板耐力検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a corrosion resistance evaluation method for a metal material that simulates an actual environment, the metal material, and a device for testing corrosion acceleration of the metal material.例文帳に追加

実環境を模擬した金属材の耐食性評価方法と金属材、並びに金属材の腐食促進試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scoring test device and a scoring test method capable of testing whether a screw scores in a vacuum environment.例文帳に追加

真空環境下において螺子がかじるかどうかの試験を行うことが可能なかじり試験装置及びかじり試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a whisker evaluating method capable of accelerating the occurrence and growth of whiskers to shorten an evaluation time, and testing equipment for evaluating the whiskers.例文帳に追加

ウィスカの発生及び成長を促進して評価時間を短縮できるウィスカ評価方法及びウィスカ評価用試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a convenient and nondestructive testing method capable of acquiring an interface data and limit dimension information of a material.例文帳に追加

材料の界面データおよび限界寸法情報をもたらし得る、便利かつ非破壊的な試験技術の必要性が強く感じられている。 - 特許庁

To sufficiently detect a defect of a magnetic metal body, using a magnetic impedance effect type sensor by a magnetic leakage flux testing method.例文帳に追加

磁性金属体の欠陥を漏洩磁束探傷試験方法により磁気インピーダンス効果型センサを用いて良好に検出できるようにする。 - 特許庁

To provide a device for destructively testing a jig clamper capable of precisely grasping the strength of a jig clamper, and a method therefor.例文帳に追加

治具クランパの強度を精度高く把握することができる治具クランパ破壊試験装置及び治具クランパ破壊試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit test tool and a circuit testing method capable of stably performing a test using metal pogo pins.例文帳に追加

金属ポゴピンを使用して行う試験を安定した状態で行なうことができる回路試験用治具および回路試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of performing the reliability test of a joint part of an electronic part with a short testing time and a small number of samples.例文帳に追加

試験時間が短く、かつ少ないサンプル数で電子部品の接合部の信頼性試験を行うことが可能な方法を提供する。 - 特許庁

To provide an iceball launcher having a stable directionality without destroying an ice ball and a hailstorm testing method.例文帳に追加

氷球を破壊することなく安定した方向性を備えた氷球発射装置および降雹試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing semiconductor devices which can more efficiently and accurately suppress the effluence of defective products.例文帳に追加

より効率良く、より高い精度で不良品の流出を抑制することが可能な半導体装置の検査方法と検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing chemical sensitivity of metallo-β- lactamase-producing strains that are regarded as microorgansms causing serious nosocomial infections.例文帳に追加

本発明は院内感染の原因菌として問題になっているメタロ−β−ラクタマーゼ産生菌の薬剤感受性試験方法を提供する。 - 特許庁

TESTING DEVICE, HOLDER FOR TEST STRIP, KIT FOR DETECTING PRESENCE OF ANALYTE IN SAMPLE, AND METHOD FOR DETECTING ANALYTE IN SAMPLE例文帳に追加

試験装置、試験ストリップのためのホルダ、サンプル中の分析物の存在を検出するためのキット、及びサンプル中の分析物を検出する方法 - 特許庁

To provide a prove finger structure which can be used for the various testing structures, and to provide a manufacturing method for the probe finger structure.例文帳に追加

種々の試験用構造体に使用することができるプローブフィンガ構造体及びプローブフィンガ構造体を製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method which enables the simple and early acquisition of test results in a dyeing fastness test, and a testing machine therefor.例文帳に追加

染色堅ろう度試験において、簡易、かつ、早期に試験結果を得ることができる方法及びその試験機を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scratch strength testing device and a method thereof for carrying out a scratch test while continuously varying a load at a high speed.例文帳に追加

高速で連続的に荷重を変化させながらスクラッチ試験を行うことが可能なスクラッチ強度試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

Thus, a method of this kind leads to preventive maintenance and, as the case may be, to an improvement of the software tool implemented in a testing instrument of this kind.例文帳に追加

したがって、この種の方法によって予防保全、場合によってはさらに、この種のテスト機器で実施されるソフトウェアツールが改善される。 - 特許庁

To provide a method for preventing wrong control due to a wrong output from a programmable controller by means of a testing circuit.例文帳に追加

検定回路によりプログラマブルコントローラー（以下、ＰＣと略す）の出力ユニットからの誤出力による誤制御を防ぐ方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for CSP(chip-scale package), capable of avoiding the dislocation of solder to contact pins also facilitating the handling of the CSP.例文帳に追加

ハンドリングを容易に行なうことができるようにすると共に、半田のコンタクトピンへの転位を防止できるＣＳＰのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a reading comprehension testing method and device with which the document reading comprehension of a human being can be measured in a short time and with high accuracy.例文帳に追加

人間の文書読解力を、短時間かつ高精度に測定することを可能とする読解力試験方法及び装置の提供。 - 特許庁

To obtain a test burn-in board(TBIB) control method and a burn-in testing system which dissolves the overflow problem of the production numbers of TBIBs.例文帳に追加

テストバーンインボード（ＴＢＩＢ）の製造番号のオーバーフロー問題を解決したＴＢＩＢ管理方法及びバーンイン試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for a magnetic head for a magnetic disk drive which can improve the limit performance corresponding to a very- narrow-width head.例文帳に追加

極小トラック幅ヘッド対応の限界性能を向上させることができる磁気ディスクドライブ用磁気ヘッドの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of easily driving an internal circuit on the outside of a chip under the state of a package and a testing method.例文帳に追加

パッケージ状態においてチップの外部で容易に内部回路を駆動することができる半導体装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a multiaxial load testing device and method capable of carrying out an accurate load test in a multiaxial state.例文帳に追加

本発明は、多軸状態で精度のよい負荷試験を行うことができる多軸負荷試験装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing method for dust prevention and its system capable of grasping dust prevention performance of a vehicle by considering the effect of running wind.例文帳に追加

走行風の影響を考慮して車両の防塵性能を把握することができる防塵試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW DETECTION SIGNAL EVALUATION DEVICE, AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION TESTING DEVICE AND METHOD OF EVALUATING EDDY CURRENT FLAW DETECTION SIGNAL INCLUDING THE EDDY CURRENT FLAW DETECTION SIGNAL EVALUATION DEVICE例文帳に追加

渦電流探傷信号評価装置、当該装置を備えた渦電流探傷試験装置および渦電流探傷信号評価方法 - 特許庁

CONNECTION STRUCTURE OF HIGH-FREQUENCY DEVICE, HIGH- FREQUENCY MODULE USING THE SAME, AND TESTING METHOD OF HIGH-FREQUENCY DEVICE USING THE HIGH-FREQUENCY MODULE例文帳に追加

高周波デバイスの接続構造およびこれを用いた高周波モジュール並びにこの高周波モジュールを用いた高周波デバイスの検査方法 - 特許庁

To obtain particles for concentrating virus for concentration of virus in a sample, a reagent for concentrating virus and method for testing virus.例文帳に追加

試料中のウイルスを濃縮するためのウィルス濃縮用粒子、ウイルス濃縮用試薬、ウイルス濃縮方法およびウイルス検査方法を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system and semiconductor testing method which is high in productivity per unit occupying area and is superior in effective working ratio.例文帳に追加

単位占有面積当りの生産性が高く、実効稼働率に優れた半導体テストシステムおよび半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device including a testing circuit formed on a wafer to perform a radio test of a wafer having an integrated circuit and a method.例文帳に追加

集積回路を有するウェーハの無線試験を行うためのウェーハ上に形成された試験回路を含む装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for accurately grasping the damages generated in a metal material inside a living body and the durability, and to provide its apparatus.例文帳に追加

生体用金属材料が生体内で受ける損傷および耐久性を正確に把握できる試験 方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

RING OSCILLATING CIRCUIT, DELAYED TIME MEASURING CIRCUIT, TEST CIRCUIT, CLOCK SIGNAL GENERATING CIRCUIT, IMAGE SENSOR, PULSE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

リング発振回路、遅延時間測定回路、テスト回路、クロック発生回路、イメージセンサ、パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法 - 特許庁

The testing method includes a procedure to move the substrate table in the first direction x, and one to measure the characteristic of the extending pattern in the first direction.例文帳に追加

検出方法は、基板テーブルを第一方向に移動させ、その第一方向ｘに沿って延在パターンの特性を測定することを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor element testing method enabling easy test with a good reproducibility even if a semiconductor chip has a warp.例文帳に追加

半導体チップが反りを生じていても再現性よく、かつ、簡便にテストを実施することができる半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for mounting/incorporating a micro device in a macro instrument to be used for analyzing or testing a reagent.例文帳に追加

マイクロ装置を、試薬の分析又は検査のために用いられるマクロ機器に実装し、組み込むための装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

This device 1 is used for testing a tire 10 having two sidewalls 11 and 13 and a tread part 15 particularly by an interference measurement method.例文帳に追加

２つの側壁１１、１３およびトレッド部分１５を有するタイヤ１０を特に干渉測定法によって試験するための装置１である。 - 特許庁

To provide a method of testing precisely and easily a degree of discoloration in a resin caused by nitrogen oxides, with a reduced measuring dispersion and error.例文帳に追加

測定のバラツキ・誤差が少なく、窒素酸化物による樹脂の変色度合いを精度良く且つ簡便に測定できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a patch for testing skin reaction and its test method capable of easily and accurately performing tests regardless of the color of the skin of a subject.例文帳に追加

被験者の皮膚の色に関係なく、容易に正確な試験をすることができる皮膚反応試験パッチとその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new cell growth suppressor gene, a protein encoded by the gene, and a method for a genetic testing using the gene.例文帳に追加

新規な細胞増殖抑制遺伝子、その遺伝子がコードするタンパク質、およびその遺伝子を用いた遺伝子検査方法等を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing a bearing, capable of reproducing brittle separation caused by hydrogen brittleness, in a short time and with precision.例文帳に追加

水素脆化に起因する脆性剥離を短時間で的確に再現できる軸受試験装置と軸受試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide the semiconductor chip and the testing method of the chip, with which damage to a guard ring and the damaged location can be specified.例文帳に追加

ガードリングが損傷していること、および、その損傷箇所を特定することができる半導体チップおよびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

The X server may also be started directly by the user, though this method is usually reserved for testing and is not recommended for normal operation.例文帳に追加

X サーバはユーザが直接起動することもできるが、この方法は一般にテスト用のものであり、通常の操作では使わない方がよい。 - XFree86