「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(91ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for reflectrometric testing of an optical transmission line gF from an optical transmission and reception device TRx, and also to provide an optical device and an optical transmission and reception device therefor.例文帳に追加

光送受信装置ＴＲｘから光伝送路ｇＦの反射試験を行う方法、ならびに、そのための光装置および光送受信装置を提供する。 - 特許庁

To provide a design and a test method that break a linear relationship between a fault detection range or testability and costs of testing or producing a design.例文帳に追加

欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係を打ち破る、設計及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing sensitivity of a smoke sensor capable of using no real smoke, suppressing generation of noise of a circuit, and surely conducting a sensitivity test of the smoke sensor.例文帳に追加

実際の煙を用いず、しかも回路のノイズの発生を抑え、確実な煙感知器の感度試験が行える煙感知器の感度試験方法を提供することにある。 - 特許庁

The method thus enables for reduction of false positive results in the p16^INK4a base detection of anogenital lesions in cytological testing procedures.例文帳に追加

従って、本方法は、細胞学的試験手順において、肛門性器病巣のｐ１６^ＩＮＫ４ａベースの検出における偽陽性の結果の軽減を可能にする。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing the emergency stop of an elevator capable of checking the operation of an emergency stopping device while preventing any damage of a rope.例文帳に追加

ロープの損傷を防止しつつ非常止め装置の作動を確認することができるエレベータの非常停止点検装置及び非常停止点検方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor element is provided with the sealing film in which the hardness value calculated by a micro-pushing testing method is within a range of ≥4GPa and ≤14GPa.例文帳に追加

微小押し込み試験法により算出された硬度値が４ＧＰａ以上、１４ＧＰａ以下の範囲にある封止膜を有する半導体素子を提供する。 - 特許庁

To provide a probe testing method in which excellent electric contact can be stably made, and to provide a semiconductor wafer and a probe card.例文帳に追加

安定して良好な電気的接触が可能な安定して良好な電気的接触が可能なプローブ試験方法と半導体ウェハ及びプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing embedded-type time domain reflectivity that specify faults in the wirings in a printed circuit substrate with minimum cost, and in minimum time.例文帳に追加

プリント回路基板の配線の故障を最小限のコストと時間で特定する埋め込み型時間領域反射率試験の方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a method for testing the same, which use a clock signal gating technique capable of reducing a power consumption in a test operation.例文帳に追加

テスト動作時の消費電力を低減することのできるクロック信号ゲーティング技術を利用した半導体集積回路およびそのテスト方法の提供を図る。 - 特許庁

To obtain a method and device for monitoring static damage, capable of readily testing the presence or absence of the static damage caused, when a processing is effected by use of ions of ion implantation, etc.例文帳に追加

イオン注入等のイオンを用いる加工を行う際に生ずる静電破壊の有無を容易に検査可能な静電破壊モニタリング方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide system and method which can generate signals for testing optical device at a time in a plurality of remote test stations to simultaneously test a plurality of optical devices.例文帳に追加

遠く離れた複数の試験局において光学装置を試験するための信号を同時に生成し得て、複数の光学装置を同時に試験することができるようにする。 - 特許庁

To provide a method for testing lateral pressure of an optical fiber capable of accurately measuring light transmission losses in periodic macro bents of the optical fiber, and an instrument therefor.例文帳に追加

光ファイバの周期的なマクロベントに対する光伝送損失をも正確に測定可能な光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a mother panel allowing an energization test in the form of the mother panel, an energization testing method for the mother panel, and an information display panel manufactured by using the mother panel.例文帳に追加

マザーパネルの状態でも通電検査することができるマザーパネル、その通電検査方法およびマザーパネルを用いて作製した情報表示パネルを提供する。 - 特許庁

In this insulation performance testing method of a wafer-level CSP (Chip Scale Package) using a TEG pattern, a spiral TEG pattern is used.例文帳に追加

本発明の第１の態様は、ＴＥＧパターンを用いたウエハレベルＣＳＰの絶縁性テスト方法において、渦巻き状のＴＥＧパターンを用いたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a system and method for testing a scale model of a steam system of a boiling water reactor (BWR) to determine an acoustic load of a main steam system of the BWR.例文帳に追加

ＢＷＲの主蒸気システムの音響負荷を決定するために、ＢＷＲの蒸気システムの縮尺模型に試験を行うシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a what is called, two- stage blow head which is used for the production of glass product, especially for the final blow operation of a glass product producing machine.例文帳に追加

ガラス製品の製造、特に、ガラス製品製造機械の最終吹込操作に使用されるいわゆる２段階ブローヘッドを試験するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To achieve a testing method on the basis of source current in static state of a semiconductor integrated circuit by which the determination of good or no-good is exactly made even if there are manufacturing variations.例文帳に追加

製造バラツキがあっても良否判定が正しく行われる半導体集積回路の静止状態電源電流に基づいた検査方法の実現を課題とする。 - 特許庁

To provide a testing method, in which some of same integrated circuit (IC) chips are tested, in parallel with asynchronous actions via two physical connections between a circuit tester and each chip.例文帳に追加

いくつかの同一の集積回路チップを、テスタと各チップとの間の２つの物理的接点を介して非同期動作で並列に試験する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a corrosion testing method using laboratorial reproduction of corrosive environments in cargo holds of coal carrying ships and combined coal/ore carrying ships.例文帳に追加

本発明は、石炭船・石炭および鉱石兼用船のホールド内の腐食環境を実験室的に再現した腐食試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an initial adjustment method of a card-type wireless trans mission device, in which the labor for program writing and testing is reduced and working time thereof is shortened.例文帳に追加

プログラム書込み作業及びテスト作業の労力の低減、それらの作業時間の短縮を図ったカード型無線伝送機器の初期調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the tacking property of a pasting agent, capable of reflecting the actual pasting state, and high in autocorrelation with the evaluation of functionality, and to provide a device thereof.例文帳に追加

実際の粘着状態を正確に反映し、官能性評価との相関性が高い、貼付剤のタック性を試験できる方法および装置を提供する。 - 特許庁

The whitening of the printing face can be prevented even under the high humidity condition or even when the ink to be tested is cooled by the printing testing method according to the present invention.例文帳に追加

本発明の印刷試験方法により、高湿度の環境においても、試験するインキが冷えている場合でも印刷面のブラッシングを防止することができる。 - 特許庁

The testing method uses the standard test specimen.例文帳に追加

水溶性樹脂及び水溶性抗菌剤を含む抗菌性水溶性樹脂層をプラスチックフィルムに形成してなる抗菌性試験用標準試験片およびそれを使用した試験方法である。 - 特許庁

To provide a can leakage testing method for detecting, with high accuracy and in a short period of time, a very small amount of leakage out of a can with contents hermetically sealed therein under a negative pressure.例文帳に追加

内容物が陰圧状態で密封されている缶詰の微小リークを高精度で短時間に検出できる缶詰のリーク試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an eddy current testing method capable of confirming adhesion when pressing a probe to a surface to be tested even if a curvature radius of the surface to be tested is unknown.例文帳に追加

被検査面の曲率半径が不明な場合でも、被検査面にプローブを押付けた際の密着性を確認できる渦電流探傷方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a power train testing device and method which can easily test a test piece of a power train under various road disturbance environments.例文帳に追加

本発明は、パワートレーン系試験装置及び試験方法に関し、様々な路面外乱下で行うパワートレーン系の供試体の試験を簡易に実現することを目的とする。 - 特許庁

The method further comprises the steps of calling a subroutine (S2), and calculating an air force to be applied to the test model at next testing position and a deflecting amount of a supporting unit at this position from the air force.例文帳に追加

そして、サブルーチンが呼び出され（Ｓ２）、次の試験位置で試験模型に加わる空気力、この空気力から当該位置での支持装置の撓み量を算出する。 - 特許庁

To provide a testing method of a CMOS integrated circuit whereby the fault current of the CMOS integrated circuit having a high static power current and a high variation thereof can be detected.例文帳に追加

静止電源電流が大きくそのバラツキも大きいＣＭＯＳ集積回路の欠陥電流を検出可能なＣＭＯＳ集積回路の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method for a fare adjustment program for easily testing the fare adjustment program, and for easily developing the highly reliable fare adjustment program.例文帳に追加

容易に精算プログラムをテストすることができ、信頼性の高い精算プログラムを容易に開発することができる精算プログラムの検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a wiring board on which pads are formed as test pads or jumpers by printing or applying a conductive material, and to provide its testing method.例文帳に追加

配線基板上に、導電性材料の印刷，塗布によりテストパットまたはジャンパとしてパットを形成するようにした、配線基板およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory that makes it possible to reduce test time after manufacturing and reduces cost by using an inexpensive test system, and to provide a method of testing the same.例文帳に追加

製造後のテスト時間を短縮し、また、安価なテストシステムを用いることにより、コストを低減できる不揮発性半導体メモリ及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device and method in which termination processing can be carried out efficiently in safety upon occurrence of abnormality in a test object, i.e. a power converter.例文帳に追加

試験対象である電力変換器の異常発生時に、効率的かつ安全な異常検出時終了処理が可能な試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method capable of evaluating precisely and easily freezing and thawing durability in a short time under a condition of a reproduced aggregate, without using any special device.例文帳に追加

再生骨材の状態のままで、凍結融解耐久性を短期間で精度良く、特殊な装置などを用いずに簡易に評価することのできる試験法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing microorganisms, capable of quickly and easily monitoring the increase or decrease of the microorganisms presenting on a tested surface after passing a certain period of time from a time point.例文帳に追加

ある時点から一定時間経過後の被験面に存在する微生物の増減を、迅速かつ簡易にモニタリングできる微生物試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a combination test method capable of testing easily a receiver for inputting a signal including a desired amount of jitter, even when an output signal from a transmitter is at a high speed.例文帳に追加

送信装置の出力信号が高速でも所望量のジッタを含む信号を入力する受信装置のテストを簡易に行える組合せ試験方法の提供。 - 特許庁

To generate a fault list of a delay fault, a wire breaking fault, and a path delay fault which can be detected by a transient source current testing method with high observableness and a test pattern series.例文帳に追加

可観測性の高い過渡電源電流試験法により、検出可能な遅延故障、断線故障、パス遅延故障と又テストパターン系列との故障リストを生成する。 - 特許庁

To provide a testing method of evaluating (determining) the staining capacity of cosmetics for discriminating cloth hard to adhere the cosmetics from cloth easy to remove the cosmetics if the cosmetics adhere.例文帳に追加

化粧品が付着しにくい布帛やあるいは付着しても落ちやすい布帛を見分ける化粧品汚染性能を評価（判定）する試験方法を提供する。 - 特許庁

The present invention provides an on-chip circuit and a testing method which evaluate transistor electric charge transfer performance and electric charge storage capability of a DRAM cell in an real operating environment.例文帳に追加

本発明は、実動作環境におけるＤＲＡＭセルのトランジスタ電荷転送性能および電荷保持能力を評価するオン・チップ回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a preparation method and its system for testing BSE, which have such advantages that abnormal prions can be rapidly and accurately detected, and a lot of specimens can be treated.例文帳に追加

異常プリオンを迅速かつ的確に検出可能ならしめる、検体が大量でも対応可能である、等の利点を持つＢＳＥ検査前処理方法及びシステムを提供。 - 特許庁

To obtain a circuit and method for testing a microcomputer capable of performing test operation free from the influence of the delay of an input signal by eliminating adjusting operation to be performed in debugging.例文帳に追加

デバッグ時に行う調整作業をなくし、入力信号の遅延に影響を受けないテスト動作を行えるマイクロコンピュータのテスト回路およびテスト方法を得る。 - 特許庁

A method of testing a braking device 31 in a drivetrain 10 of the vehicle V which includes at least one tractive element 23 coupled to a traction motor 22 is provided.例文帳に追加

トラクションモータ（２２）に連結された少なくとも１つの牽引要素（２３）を備える、車両（Ｖ）の駆動系（１０）内のブレーキ装置（３１）を検査する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for rating the sensitizing potential of a testing specimen more easily and in high accuracy using cultured cells easy to handle and available stably.例文帳に追加

取扱いが容易であり安定して入手可能な培養細胞を用いて、被検物質の感作性をより簡便に且つ精度良く評価できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing semiconductor capable of reducing the test pattern storage media cost and the communication cost in the transmission of a test pattern and shortening the time of a test pattern.例文帳に追加

テストパターン記憶メディアコストおよびテストパターン伝送時の通信コストの軽減、テストパターンの時間短縮を図ることができる半導体試験方法および装置を得る。 - 特許庁

To provide a method for testing a collision of a vehicle which can further simulate by data at the time of the collision of real vehicles by using an MDB(moving deformable barrier).例文帳に追加

ＭＤＢ（ムービング・デフォーマブル・バリア）を用いた上で実車同士の衝突時のデータにより一層近似させることができる車両衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a file system managing apparatus and a method for managing a file system which can perform testing processing of a storing apparatus more efficiently and activate a navigation apparatus quickly.例文帳に追加

記憶装置の検査処理を効率化してナビゲーション装置を高速に起動することが可能な「ファイルシステム管理装置及びファイルシステム管理方法」を提供すること。 - 特許庁