「Testing Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(90ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a device and method for testing a vehicle passing through a tunnel capable of performing simulation of tunnel-passing by using a launching means provided with a pair of rotary role.例文帳に追加

一対の回転ロールを備えた発射手段を用いて、トンネル走行の模擬実験を正確に行うことを可能とするトンネル走行実験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of measuring efficiently an input/output characteristic of a test object circuit equipped with a plurality of input terminals, synchronously with a clock.例文帳に追加

クロックに同期して、複数の入力端子を備えたテスト対象回路の入出力特性の測定を効率良く行えるテスト装置及びテスト方法の提供。 - 特許庁

To provide a durability test method by which a durability test for testing the durability of an automobile coating film in its actual use is simply carried out.例文帳に追加

自動車用塗膜の実際の使用時における自動車塗膜の耐性を試験するための耐性試験を、簡便に行うことができる耐性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing a phase locked loop (PLL) that can solve a task of conducting an enhanced test including verification and/or stop sequence of a frequency dynamic revision.例文帳に追加

位相同期ループ（ＰＬＬ）のテストにおいて、周波数の動的変更の検証および／またはストップシーケンス・チェックを含む、改良されたテストを行うことが課題である。 - 特許庁

To provide a power transmitter and a method for testing the power transmitter, efficiently and reliably executing a test (e.g., test by public certificate authority) for the power transmitter in a noncontact power transmission system.例文帳に追加

無接点電力伝送システムにおける送電装置の試験（例えば、公的認証機関による試験）を、効率的かつ確実に実行できるようにする。 - 特許庁

To provide a measuring method in which the thickness of a scale stuck to the inner surface of a tube to be measured is measured with satisfactory accuracy by an ultrasonic testing system by taking into consideration the shape and the property of the scale.例文帳に追加

被測定管の内面に付着したスケールの厚さを、超音波探傷試験方式により、スケールの形状や性状も考慮して極めて精度よく測定する。 - 特許庁

To provide an impact testing device and method of a conveyor belt for promptly and accurately evaluating impact resistance by repeatedly dropping a weight in a fixed period.例文帳に追加

一定の周期で繰り返し錘を落下させて、迅速に精度よく耐衝撃性を評価することが可能なコンベヤベルトの衝撃試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a steering column evaluation testing device and an evaluation test method capable of evaluating impact absorbing performance of a steering column simple body on which an air bag is mounted.例文帳に追加

エアバッグを装着したステアリングコラム単体での衝撃吸収性能を評価することができるステアリングコラム評価試験装置、および評価試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing the picture quality of a liquid crystal display which can measure at least any one of gray inversion and color shift.例文帳に追加

グレー反転現象及び色反転現象のうち少なくともいずれか一つを測定することができる液晶表示装置の画質検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus, a method and a program for testing a semiconductor wafer in which a defective article is not handled as a good article, and an yield can be improved.例文帳に追加

万が一にも不良品が良品として扱われず、且つ、収率を高めることのできる半導体ウェハの検査装置、検査方法、及び検査プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a main circuit phase detection which can easily judge a polarity confirmation and can prevent lead wires from being connected by mistake.例文帳に追加

極性確認が容易に判断できると共にリード線の誤接続を防止できる主回路検相試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a test method for testing a semiconductor integrated circuit device by using a tester where the number of terminals is smaller than the number of input terminals of the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の入力端子数よりも少ない端子数のテスタを用いて半導体集積回路装置のテストを行うテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a high strength copper alloy which has excellent workability and corrosion resistance, has ductility, causes no nickel allergic problem, and deals with a needle testing gauge, and to provide a method for producing the same.例文帳に追加

加工性、耐食性に優れ、延性を有し、ニッケルアレルギー問題のない、検針器対応の高強度銅合金およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of testing an active material mixture for positive electrode, by which presence of foreign metals in the active material mixture for positive electrode can be proved with ease and certainty.例文帳に追加

正極活物質合剤中の異種金属の有無を簡易かつ明確に判別することができる正極活物質合剤の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a semiconductor integrated circuit which is high in observability and capable of conveniently detecting the delay failure, the degeneration failure, etc.例文帳に追加

可観測性が高く、簡便に遅延故障や縮退故障等を検出することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a durability testing method for a pneumatic tire by generating a tire deteriorated with time falsely in a short time and performing durability test based on this.例文帳に追加

経時劣化したタイヤを擬似的にかつ短時間で作りだし、これに基づいて耐久試験を行うようにした空気入りタイヤの耐久性試験方法を提供する。 - 特許庁

RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT, NONCONTACT IC CARD AND READER/WRITER HAVING SAME RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT INSIDE, AND METHOD FOR TESTING DEVICE HAVING SAME RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT INSIDE例文帳に追加

乱数生成回路、当該乱数生成回路を内蔵する非接触ＩＣカード及びリーダ／ライタ、並びに、当該乱数生成回路を内蔵する装置のテスト方法 - 特許庁

To provide a tester and testing method which enable one to test silicon wafers for dirt with a simpler configuration and more simplified information processing.例文帳に追加

本発明は、より簡単な構成で、より簡易な情報処理でシリコンウェハの汚れを検査し得るシリコンウェハ汚れ検査装置およびシリコンウェハ汚れ検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing the operational margin of an information storage device having marked random variations, and an information storage device having the function of self-diagnosing the operational margin.例文帳に追加

ランダムばらつきが大きい情報記憶装置について動作余裕をテストする方法、及び動作余裕を自己診断する機能を有する情報記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for detection of signal generation, capable of testing objects to be measured whose multiplication and separation can not be properly performed.例文帳に追加

本発明は、多重化や分離が適切に行なえない被測定物の試験が可能な信号発生検出装置及び信号発生検出方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a semiconductor integrated circuit in which the time required for manufacturing the semiconductor integrated circuit (including the time required for examinations) is shortened.例文帳に追加

半導体集積回路の製造（検査に要する時間を含む）に要する時間を短縮できる半導体集積回路の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an elution testing method that allows measurement of an elution amount of a component having elution property from an inorganic substance such as steel making slag with higher accuracy in shorter time.例文帳に追加

製鋼スラグ等の無機物からの可溶出成分の溶出量をより高精度かつ短時間で測定することが可能な溶出試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing an engine shortening test time and allowing engine torque to be accurately found even for an engine with an unknown inertia value, and to provide a device therefor.例文帳に追加

試験時間を短縮することができ、且つ、慣性値の分からないエンジンであってもエンジントルクも精度良く求めることができるエンジン試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for ultrasonic non-destructive testing which includes an elongate strip of ultrasound transmissive material coupled at a proximal end to an object under test.例文帳に追加

近位端で試験対象物に結合される細長い超音波伝達材料のストリップを備える、超音波非破壊検査のための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of effectively deteriorating a gate oxide film of the semiconductor device in a short period of time in a burn-in test, and to provide a method for testing the same.例文帳に追加

バーンイン試験において、半導体装置のゲート酸化膜を短時間で効果的に劣化させることができる半導体装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

The method and a system have the technical effect of automatically testing an overspeed protection system associated with a plurality of power plant machines of a power plant (100).例文帳に追加

本発明の実施形態は、発電プラント（１００）の複数の発電プラント機械に関連する過速度保護システムを自動的に試験する技術的作用を有する。 - 特許庁

To provide a method and system of testing a pattern, in which the contour data of the pattern is extracted without failure, and a high speed and accurate test of the circuit pattern is performed.例文帳に追加

パターンの輪郭データの抽出を失敗すること無く、高速かつ正確に回路パターンの検査を行うことのできる、パターン検査方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which the error of an uncorrectable pattern is corrected by adding the already uncorrectable pattern and one-bit fail bit, and to provide a testing method.例文帳に追加

既に訂正不可となっているパターンと、１ビットのフェイルビットの追加により、訂正不可となるパターンを誤り訂正する半導体装置及び試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing a load measuring instrument, capable of reducing the amount of work sequence needed to test the load measuring instrument and improving its work efficiency.例文帳に追加

荷重測定器の検定に要していた作業手順の低減と作業効率の向上を為し得る荷重測定器の検定方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a screed and a method for testing gas sealability of the screed which enable economical test of gas sealability in a shorter time with a simple structure.例文帳に追加

簡易な構成で、より短時間で経済的なガスシール性の検査を行うことを可能にしたスクリード装置及びスクリード装置のガスシール性検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive pile-testing method which can detect a pile length and a pile defective portion with high accuracy, and can more correctly evaluate the soundness of a pile, and to provide a sensor press-fitting device.例文帳に追加

杭長及び杭欠損部を精度よく検出し、杭の健全性をより正確に評価できる非破壊の杭検査方法及びセンサー圧着装置を提供する。 - 特許庁

To provide an abrasion tester having long service life capable of accurately performing an abrasion test using a small amount of a sample, and to provide an abrasion testing method that uses the tester.例文帳に追加

少ないサンプル量で正確に摩耗試験を行うことができる長寿命な摩耗試験機およびそれを用いる摩耗試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a test method by which a RAM and a bus are tested by testing that read and write of data for a RAM are performed correctly for a correct address.例文帳に追加

ＲＡＭに対するデータの読み書きが正しいアドレスに正しく行われていることを検査し、ＲＡＭ及びバスの検査を行う検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for biochemical testing by which the number of biochemical substances contained in a test sample can be tested from a detected value of fluorescent intensity for each probe array element.例文帳に追加

各プローブアレイ要素ごとの蛍光強度の検出値から被検サンプルに含まれる生化学的物質の数量を検査し得る生化学的検査方法を提供すること。 - 特許庁

To solve the problem that manufacturing defect location cannot be specified even if manufacturing defect can be judged by a scan path method for testing a circuit to be inspected in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路内の被検査回路をテストするスキャンパス手法では製造不良を判定することはできても、製造不良箇所を特定することはできない。 - 特許庁

A lithography method includes a step of obtaining a temperature as a function of time, in a bake step after exposure for a different location on a testing substrate on which a chemistry amplification resist is coated.例文帳に追加

化学増幅型レジストがコーティングされた試験基板上の異なるロケーションについて、露光後ベークステップの中の、時間の関数としての温度を得るステップが含まれている。 - 特許庁

To provide a method realizing a precise leak test by completely filling pores in a selective separation layer of a porous film having asymmetric structure with leak testing liquid.例文帳に追加

非対称構造を有する多孔質膜の選択分離層の細孔中にリークテスト用の液体を完全に充填し、正確なリークテストを可能にする方法を提供する。 - 特許庁

In this method and this system, multi-ported memory is separated into at least two parts used for testing one or a plurality of ports which is not directly accessible.例文帳に追加

この方法およびシステムでは、直接アクセス可能ではない１つまたは複数のポートをテストするために使用する少なくとも２つの部分にマルチポート化メモリを分離する。 - 特許庁

To provide an initialization method of a fuel cell stack capable of optimizing wettedness of an electrode without using a large-scale power generation testing device, without involving consumption of fuel.例文帳に追加

燃料の消費を伴わず、大掛かりな発電試験装置を用いずに電極の濡れ性を最適化することができる燃料電池スタックの初期化方法を提供する。 - 特許庁

To provide a connection testing method in replacing a railway electronic interlocking device capable of shortening the total number of working days required for a connection test of a new electronic interlocking device.例文帳に追加

新設の電子連動装置の接続試験に要する延べ作業日数を短縮化できる鉄道用電子連動装置取替時の接続試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and for testing flexibility capable of readily and quickly changing the width of the back and forth movement of a part of an object to be tested, and to provide a method for the device.例文帳に追加

容易かつ迅速に被試験物の一部の往復移動の幅を変化させることが可能な耐屈曲性試験装置および耐屈曲性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection testing method capable of easily and accurately detecting the flaw of the heat influence part formed to the periphery of the boundary part in a welding place.例文帳に追加

容易かつ正確に溶接箇所における境界部周囲に形成される熱影響部の欠陥を検出可能な超音波探傷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for simultaneously testing a sample for the presence, absence, and/or amounts of one or more of a plurality of selected analytes.例文帳に追加

本発明は、複数の選択された分析物の１つ以上の存在、非存在、および／または量について、サンプルを同時に試験するための方法およびデバイスに関する。 - 特許庁

To provide a swelling testing device and a swelling test method capable of measuring accurately an expansion coefficient even to a sample which is not only expandable but also deformable by moisture absorption.例文帳に追加

吸湿すると膨張するだけでなく変形し得る試料に対しても正確に膨張率を測定できる膨潤試験装置及び膨潤試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a welding crack testing method in laser welding where an I type beveling is used, a root gap can be narrowly set, further, the root gap can be controlled to high precision, and the proper evaluation of welding cracks in laser welding is made possible.例文帳に追加

Ｉ型開先とし、ルートギャップを小さく設定し、而もルートギャップを高精度に管理可能とし、レーザ溶接に於ける溶接割れの適正な評価を可能とする。 - 特許庁