「design testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Ad hoc Testing : Testing carried out using no recognised test case design technique. 例文帳に追加

臨時テスト：認定されたテストケース設計技法を使わずになされるテスト。 - コンピューター用語辞典

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TESTING METHOD AND DESIGN METHOD例文帳に追加

半導体装置、そのテスト方法および設計方法 - 特許庁

COLLISION TESTING DEVICE, VEHICLE DESIGN METHOD AND VEHICLE例文帳に追加

衝突試験装置、車両の設計方法、及び車両 - 特許庁

To simplify a gear testing apparatus and to reduce its design costs.例文帳に追加

歯車試験装置の単純化及び設計費の軽減を図る。 - 特許庁

This design structure is embodied in a machine-readable medium for designing, manufacturing, or testing a design.例文帳に追加

設計構造体は、設計、製造、又は設計の試験のために機械可読媒体内で具現化される。 - 特許庁

BUSINESS PROCESS TEST DESIGN SUPPORT DEVICE, BUSINESS PROCESS TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

ビジネスプロセステスト設計支援装置、ビジネスプロセス試験方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, ITS TESTING METHOD, DATABASE FOR ITS DESIGN, AND ITS DESIGNING METHOD例文帳に追加

集積回路装置，そのテスト方法，その設計用データベース及びその設計方法 - 特許庁

4) Is it ensured that user review or testing by the financial institution, etc. are conducted at the planning, design/development and testing stages? 例文帳に追加

企画段階、設計・開発段階、テスト段階において、金融機関等によるユーザーレビューやユーザーテストが実施されているか。 - 金融庁

To provide a system for performing design verification testing, which does not require so many resources for execution of testing and storage of verification tools as a conventional system.例文帳に追加

検査実行且つ検証ツールの格納に従来システムほど多くの資源を必要としない設計検証検査システムの提供。 - 特許庁

To provide a collision testing device capable of simulating a collision of a vehicle with high reproducibility, a design method for the vehicle and the vehicle design by the design method.例文帳に追加

高い再現性で車両の衝突を模擬することができる衝突試験装置、車両の設計方法、その設計方法により設計された車両を提供する。 - 特許庁

To attain downsizing and retaining of high-frequency characteristics, and to improve the easiness of testing and a design alteration.例文帳に追加

小型化、高周波特性の維持を図り、試験や設計変更の容易性を高めること。 - 特許庁

The company can participate in any development phase from specifications definition to design implementation and prototype testing. 例文帳に追加

仕様の決定から、設計の実装、プロトタイプのテストまで、あらゆる開発フェーズでの参加が可能。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

To provide a nuclear instrumentation design aiding system capable of automatic design of component such as specification determination and automatic formation of testing specification by using CAD(computer aided design) and analyzing tools on the basis of upstream system design specification and improving design efficiency and design quality in process instrumentation design for a reactor power station.例文帳に追加

原子力発電所プロセス計装設計において、上流の系統設計仕様を元に、ＣＡＤ、解析ツールを使用し、仕様決定等の機器の自動設計、試験仕様の自動作成が可能で、設計効率及び設計品質の向上を図ることができる原子力計装設計支援システムを提供する。 - 特許庁

Cryptography Research will develop software to generate test vectors for the chip for testing before the design is sent to the fab. 例文帳に追加

Cryptography Research は、チップデザインがファブリケーションに送られる前にチップをテストするための、テストベクトル生成ソフトを書く。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

To provide a mount testing apparatus by which the propriety of land pattern design formed on a printed wiring board can be tested for a short time, and to provide its mount testing method.例文帳に追加

プリント配線板上に形成されるランドパターンの設計の適否を短時間で試験することができる実装試験装置およびその実装試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a design and a test method that break a linear relationship between a fault detection range or testability and costs of testing or producing a design.例文帳に追加

欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係を打ち破る、設計及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To improve a delay restriction problem, a testing problem and a hazard check problem in a circuit design using a clock subjected to frequency division by a flip flop based on definer design.例文帳に追加

デファイナ設計によりフリップフロップにより分周化されたクロックを用いた回路設計で、遅延制約問題、テスト時の問題、及びハザードチェックの問題を改善する。 - 特許庁

Members were encouraged to actively cooperate with the staff and other members in the design and review of proposed specifications,and in the design, coding and testing of sample implementations of thosespecifications.例文帳に追加

会員は提案する仕様の設計と吟味、この仕様のサンプル実装の設計、コーディングテストにおいてスタッフや他の会員に積極的に協力することが奨励された。 - XFree86

To provide a testing device of a liquid crystal driver capable of simplifying and miniaturizing the design of a performance board.例文帳に追加

パフォーマンスボードの設計の簡略化と小型化を図る液晶駆動ドライバの試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

Circuit design data 1A are read by means of a visually-inspected parts extracting section 11 for each testing machine, and a list 3 of visually- inspected parts for each testing machine is prepared based on information 3 on visually-inspected parts for each testing machine.例文帳に追加

回路設計データ１Ａは、試験機別目視検査対象部品抽出部１１で読み取られ、試験機別検査対象部品検査項目情報２に基づいて、試験機別目視検査対象部品一覧３が作成される。 - 特許庁

When acquiring design data of a design object circuit having a function corresponding to a customer need, this circuit testing device 100 generates a circuit testing mechanism 110 enabling failure detection corresponding to whether an object circuit 102 designated as a test object is an OR circuit or an AND circuit, in the design object circuit.例文帳に追加

回路試験装置１００は、顧客ニーズに応じた機能を備えた設計対象回路の設計データを取得すると、この設計対象回路のうち、試験対象に指定された対象回路１０２がＯＲ回路かＡＮＤ回路かに応じて、故障検出を可能にするための回路試験機構１１０を生成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and its testing method and device capable of accomplishing an effective test of the integrated circuit and generating a scan design involving less entanglement of the wiring.例文帳に追加

半導体集積回路の効果的なテストを実現し、且つ、配線の錯綜の少ないスキャンデザインを提供する。 - 特許庁

To mechanically develop a task schedule for a packaging or testing from design information of a system such as a class view of UML without manpower.例文帳に追加

ＵＭＬのクラス図のようなシステムの設計情報から実装やテストのタスクスケジュールを、人手を介さず機械的に作成する。 - 特許庁

To provide a programmable self-test controller useful in self-testing for many types of memory defects of different manufacturers or different design methods.例文帳に追加

メーカや設計方式が異なる種々のメモリの不良を自己テストするのに有用な、プログラム可能な自己テスト・コントローラを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing desulfurization in which design values necessary for designing an apparatus for desulfurizing an organism can accurately be determined.例文帳に追加

生物脱硫装置を設計するために必要な設計値を精度良く求めることができる脱硫試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technique for quality management of a program for managing processes from design to manufacture and testing of the program in a consistent way.例文帳に追加

プログラムの設計工程から製造、テスト工程までを一貫して管理するためのプログラムの品質管理のための技術を提供する。 - 特許庁

The semiconductor test system is composed of a navigation system which makes up all conditions required for photographing/testing from design information, and a scanning electron microscope system which actually carries out photographing/testing, and then the all conditions required for photographing/testing are made up from the design information such as CAD data or the like, and the actual test is carried out in those conditions.例文帳に追加

CADデータ等の設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成し、その条件で実際の検査を行うために、半導体検査システムを設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成するナビゲーションシステムと実際の撮影／検査を実行する走査型電子顕微鏡システムとから構成させる。 - 特許庁

Furthermore, the design supporting device 10 is provided with: a testing part 38 which determines whether or not the reference data can execute the processing group in a batch based on a test item preliminarily set according to the design procedure; and an output part which outputs the test result of the testing means as a test result report 44.例文帳に追加

さらに、予め設計手順に応じて設定された検査項目に基づいて、基準データが処理群の一括実行が可能かを判断する検査部３８と、検査手段による検査結果を検査結果レポート４４として出力する出力部と、を有する。 - 特許庁

When the design is directly performed on the MPLD, restriction of the compatible UPLD is taken into account when the user intends that the design is migrated to the UPLD for testing.例文帳に追加

設計が直接ＭＰＬＤ上でなされる場合には、その設計を試験のためにＵＰＬＤに移行することをユーザーが意図するときに、互換性を有するＵＰＬＤの制約が考慮される。 - 特許庁

To provide a self-test controller which is useful for self-testing faults of various memories in which a manufacturer and a design system are different, and which is programmable.例文帳に追加

メーカや設計方式が異なる種々のメモリの不良を自己テストするのに有用な、プログラム可能な自己テスト・コントローラを提供する。 - 特許庁

The defect testing method comprises the following steps for preparing a design data set for forming the photomask, searching the sub-ground rule features out of the design data set, removing the sub-ground rule features out of the design data set to form a check data set, and checking the photomask formed according to the design data set by using the check data set.例文帳に追加

本発明の方法は、フォトマスク作製用のデザインデータセットを作製し、デザインデータセット中のサブ・グラウンドルールフィーチャを検索し、デザインデータセットからサブ・グラウンドルールフィーチャを除去して検査データセットを作成し、デザインデータセットに従って作製されたフォトマスクを検査データセットを使用して検査するステップを有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can cope with wafer level burn-in tests and can facilitate design of testing circuits.例文帳に追加

ウェハーレベルでのバーンインテストに対応可能であって、テスト用の回路の設計容易化が見込める半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for using automated testing by idealistically creating a test case in a design phase as fast as possible in a life cycle of a software product.例文帳に追加

ソフトウェア製品のライフサイクルにおいてできるだけ早く、理想的には設計フェーズにテストケースを作成し、自動テストを使用するやり方を提供すること。 - 特許庁

16.1.4. take part and control in the working of technical documentation, testing and putting into production the invention, industrial design or utility model and evaluate his intellectual product;例文帳に追加

16.1.4. 発明、意匠又は実用新案の技術書類作成、試験及び製品化における作業に参加しこれを監督し、自己の知的産物を評価する。 - 特許庁

For carrying out testing, parasitic capacitances are found using the design information, operations for weighting are performed on test data or thresholds for determining acceptance.例文帳に追加

また、設計情報を利用して寄生容量等を求め、検査データもしくは良否の判定をするしきい値に対し重み付け演算をして検査する。 - 特許庁

To provide a sheet cushion simulation system which can grasp the vibratory behavior of a sheet cushion in its design stage without repeating trial manufacture and testing.例文帳に追加

試作と試験を繰り返すことなく、設計段階でシートクッションの振動挙動を把握することができるようなシートクッションシミュレーションシステムを提供する。 - 特許庁

To reduce time and cost until the productization of automatic product testing solutions, by abolishing needs for special design of special hardwares, mounting and maintenance.例文帳に追加

特殊なハードウェアの特殊な設計、実装およびメンテナンスの必要性をなくし、自動製品試験ソリューションの製品化までの時間およびコストを削減する。 - 特許庁

A testing method includes the steps of: creating design specifications 11 and 12 indicating a plurality of individual specifications and a plurality of common specifications distinguishably; causing a computer to execute the operation of generating test specifications and test data from the design specifications 11 and 12; and testing a program created according to the design specifications 11 and 12 on the basis of the test specifications and test data.例文帳に追加

複数の個別仕様と複数の共通仕様とを判別可能に示す設計書１１、１２を作成するステップと、設計書１１、１２に基づいてテスト仕様書とテストデータとを生成する動作をコンピュータに実行させるステップと、設計書１１、１２に基づいて作成されたプログラムをそのテスト仕様書とそのテストデータとに基づいてテストするステップとを備えている。 - 特許庁

To provide a new noise design supporting system for making adaptable to an immunity design capable of easily identify the contamination (a contamination route) of a testing object by electromagnetic wave disturbance from the outside.例文帳に追加

試験対象物のどの部分が外部からの電磁波妨害に対して汚染されているのか（汚染経路）を容易に特定することができるイミュニティ設計対応のための新たなノイズ設計支援システムを提供しようとするものである。 - 特許庁

To provide a technology for largely shortening design time, and easily executing economical design by visually easily seizing a balance degree of stress and proof stress of the whole column bases of a proof stress testing object.例文帳に追加

耐力検定対象の柱脚全体の応力と耐力とのバランスの度合いを視覚的に容易に把握できるようにして、設計時間の大幅短縮、経済設計の実施の容易化を図ることが可能な技術を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CORROSIVE ENVIRONMENT OF MOBILE BODY, ITS DESIGN METHOD, CORROSION TESTING METHOD FOR MOBILE BODY MATERIAL, ITS SELECTING METHOD, SURFACE TREATED STEEL PLATE, AND ANTI-CORROSIVE STEEL MATERIAL例文帳に追加

移動体の腐食環境計測方法、その設計方法、移動体材料の腐食試験方法およびその選定方法、ならびに表面処理鋼板および耐食鋼材 - 特許庁

12.1. Conduct automation planning, research and development, testing of systems, contracts with firms, contracting, purchase and maintenance of equipment, design and maintenance of systems, user consultation, and the like; and例文帳に追加

12.1自動化計画，研究開発，システムの試験，企業との契約，機器の契約，購入及び維持，システムの設計及び維持，利用者相談その他同様の活動 - 特許庁

To improve the versatility of a sub-control board while avoiding a possibility that a design change could be carried out from the performance once approved by the testing organization to a different performance efficiency and at the same time preventing the fraudulent utilization.例文帳に追加

試験機関で適合した性能と異なる性能に設計変更される恐れおよび不正利用の恐れを回避しつつ、サブ制御基板の汎用性を高める。 - 特許庁

Thereafter, design data regarding a newly designed semiconductor device is received along with data describing the tester and testing algorithms to be used to test the semiconductor device.例文帳に追加

その後、新しく設計した半導体デバイスに関する設計データを、半導体デバイスをテストするために使用するテスタおよびテスト用アルゴリズムを説明するデータとともに、受け取る。 - 特許庁

A visually-inspected parts specifying drawing preparing section 12 for each testing machine prepares the layout drawing of the printed circuit board based on circuit design data 1B and a parts information database 4.例文帳に追加

試験機別目視検査部品指定図作成部１２において、回路設計データ１Ｂと部品情報データベース４に基づいてプリント回路板のレイアウト図が作成される。 - 特許庁