「frequency test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a waveform generator for generating a test signal of a frequency lower than the lowest sampling frequency of a DAC.例文帳に追加

ＤＡＣの最低サンプリング周波数よりも低い周波数の試験信号を生成する波形発生器を提供する。 - 特許庁

To enable stable test at the actual operating frequency by controlling, during the test of semiconductor device, power source noise and power source voltage drop due to heavy current in the test mode for operating a test circuit.例文帳に追加

半導体装置の試験において、テスト回路を動作させるテストモード時の大電流による電源ノイズや電源電圧降下を抑制し、実動作周波数での安定した試験の実施を可能にする。 - 特許庁

A telephone line to which a test signal including a specific frequency component is injected is monitored, and when test signal is detected on the telephone line, the characteristics of the test signal with the specific frequency is enhanced.例文帳に追加

または、特定の周波数成分を含んだ試験信号の注入に関して電話回線をモニタし、電話回線上に検出された時に、その特定の周波数において試験信号の特性を増加する。 - 特許庁

To increase the speed of a scan test by mitigating the restrictions on the operational frequency during the test, in a semiconductor integrated circuit device having a failure detection test circuit of a scan system.例文帳に追加

スキャン方式の故障検出テスト回路を備えた半導体集積回路装置において、テスト時の動作周波数の制限を緩和してスキャンテストを高速化する。 - 特許庁

A main vibration test condition setting part 47 sets main vibration test conditions from the relation between the characteristic frequency and the maximum amplitude of the test object 13 to the command waveform.例文帳に追加

本振動試験条件設定部４７は、指令波形に対する被試験体１３の固有振動数と最大振幅の関係から、本番の振動試験条件を設定する。 - 特許庁

The control part 6 sets a maximum rotational frequency in the test operation and a maximum rotational frequency in automatic operation so that the maximum rotational frequency in the test operation of the pump 3 becomes lower than the maximum rotational frequency in the automatic operation.例文帳に追加

制御部６は、ポンプ３の試験運転時の最高回転周波数が自動運転時の最高回転周波数よりも低くなるように、試験運転時の最高回転周波数と自動運転時の最高回転周波数とを設定する。 - 特許庁

To select the output frequency and density stability of a test sheet based on user's demand.例文帳に追加

利用者の要望に基づき、テストシートの出力頻度や濃度安定性を選択する。 - 特許庁

The constrain condition is released to perform an unconstrained vibration frequency test for the same moving blade 7.例文帳に追加

その拘束条件を解除して同じ動翼７の非拘束振動試験を行う。 - 特許庁

To measure banding frequency, phase and/or amplitude by using a single test pattern.例文帳に追加

単一のテストパターンを用いてバンディング周波数、位相および／または振幅を測定する。 - 特許庁

The frequency band converting circuit 30 limits the frequency band of the input signal of the frame length from the unit length dividing circuit 20 to a frequency band testable by a test circuit 40 and passes it to the test circuit 40.例文帳に追加

帯域変換回路３０は単位長分割回路２０からのフレーム長の入力信号が持つ周波数帯域を、検定回路４０が検定可能な周波数帯域に制限し検定回路４０に渡す。 - 特許庁

In this nondestructive inspection method for the hammering test workpiece, a frequency exhibiting maximum amplitude in hammering of the hammering test workpiece surface is measured to be compared with an ideal natural frequency of the hammering test workpiece for indexation of the soundness degree of the hammering test workpiece.例文帳に追加

打音検査物表面を打撃した際の振幅が最大となる振動数を測定し、当該振動数と打音検査物の理想固有振動数と比較し、打音検査物の健全度を指数化することを特徴とする打音検査物の非破壊検査方法。 - 特許庁

To provide a unit test support device which achieves reducing the operation frequency of test stab creation, decreasing a workload required for a unit test using the test stab and shortening an execution time when performing the unit test of a test object module described based on a state transition chart or a state transition table.例文帳に追加

状態遷移図や状態遷移表に基づいて記述された試験対象モジュールの単体試験にあたり、テストスタブ作成の作業頻度の低減や、テストスタブを用いた単体試験に要する作業量の削減や実施時間の短縮化を実現できる単体試験支援装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit including an operation test circuit that apparently realizes an operation test by a clock signal of relatively high-frequency and of variably changeable frequency, by a clock signal of a relatively low-frequency for the operation test to measure the maximum normally operated frequency.例文帳に追加

比較的低い周波数の動作テスト用のクロック信号により、その周波数より高く、かつ、可変に変更可能な周波数のクロック信号による動作テストを見かけ上実現し、正常に動作する最大動作周波数を測定する動作テスト回路を含む半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The alignment test signal is received over the communication link as a return alignment test signal and then evaluated for frequency content.例文帳に追加

位置調整検査信号は通信リンクを通じて戻り位置調整検査信号として受信され、その後周波数コンテンツが評価される。 - 特許庁

A test sound wave is inputted into the microstructure sensor device, and a frequency characteristic of the output voltage amplitude of the sensor responded to the input of the test sound wave is analyzed.例文帳に追加

テスト音波を入力して、テスト音波の入力に応答したセンサ出力電圧振幅の周波数特性を解析する。 - 特許庁

To provide a test circuit for testing a synchronous memory circuit 3 which is operated with a high clock frequency and which is capable of adjusting test latency.例文帳に追加

高クロック周波数で動作する、テストレイテンシーが調節可能な、同期メモリ回路３をテストするためのテスト回路を提供する。 - 特許庁

The disable unit is combined with the test unit and is constituted so as to disable the test unit, based on specified limited frequency of tests.例文帳に追加

ディセーブルユニットは検査ユニットに結合され、特定の限度検査回数に基づいて検査ユニットをディセーブルするように構成される。 - 特許庁

In the test chart reconfiguration, the test chart control section 204 refers to the frequency of use of each color for updating the test chart of the operating image-forming device 10 by referring to the test chart of other image-forming devices.例文帳に追加

テストチャート再構成時には、テストチャート制御部２０４は、それぞれの色の使用頻度を参照し、他の画像形成装置のテストチャートを参照して、動作する画像形成装置１０のテストチャートを更新する。 - 特許庁

A test execution information acquisition means 11 acquires test execution information including simple body program names, the number of test data, and the frequency of total running until completing a test from a development progress state data storage means 14.例文帳に追加

テスト実行情報取得手段１１は、開発進捗状況データ記憶手段１４から、単体プログラム名、テストデータ件数およびテスト完了までの総ラン回数を含むテスト実行情報を取得する。 - 特許庁

This test signal is inputted into a high-frequency amplifier circuit 11 via a switch 25, and an intermediate frequency signal for the test signal is inputted into a level detection unit 30.例文帳に追加

この試験信号は、スイッチ２５を介して高周波増幅回路１１に入力され、この試験信号に対する中間周波信号がレベル検出部３０に入力される。 - 特許庁

The viscoelasticity test apparatus, using the determined maximum strain amplitude, performs a viscoelasticity test on a sample of the rubber member for each frequency and measures the viscoelastic characteristics of the rubber member for each frequency.例文帳に追加

粘弾性試験装置は、定めた最大歪振幅を用いて、ゴム部材のサンプルの粘弾性試験を周波数毎に行い、ゴム部材の粘弾性特性を周波数毎に測定する。 - 特許庁

To make a tester for outputting a digital signal for test of high frequency unnecessary in a semiconductor device having a DAC, and realize tests in various test modes of high frequency.例文帳に追加

ＤＡＣを有する半導体装置において、高周波のテスト用ディジタル信号を出力するテスタを不要とし、かつ高周波の種々のテストモードでのテストを実現すること。 - 特許庁

A DRAM 1 of a packet, system operated with an operation frequency of several hundreds MHz is provided with a burn-in mode in which a memory test is performed with an operation frequency of several tens MHZ at the time of a burn-in test.例文帳に追加

数百ＭＨＺの動作周波数で動作するパケット方式のＤＲＡＭ１は、バーンインテスト時には数十ＭＨｚの動作周波数でメモリテストを行うバーンインモードを備えている。 - 特許庁

By stabilizing a connection connecting a first probe into the EMI test object as an earth structure, the resonance frequency of the EMI test object can be measured by a frequency analyzer.例文帳に追加

アース構造物であるＥＭＩ試験対象物に第1の探触子を直結させて接続の安定化をはかり、ＥＭＩ試験対象物の共振周波数を周波数分析器で測定する。 - 特許庁

Use frequency update means 62 updates use frequency of respective business form format tables used for outputs of business forms as use frequency of respective test types.例文帳に追加

使用頻度更新手段６２により、帳票の出力の際に用いた帳票形式テーブル毎の使用頻度を、各試験種別毎の使用頻度として更新する。 - 特許庁

A generation part 13 generates a sampling signal for the A/D converter 5, of a frequency twice or more of the test frequency, by dividing the frequency of the signal from the CPU clock 10.例文帳に追加

試験周波数の２倍以上の周波数のＡ／Ｄ変換器５用サンプリング信号を発生部13によりＣＰＵクロック10の信号の分周により生成する。 - 特許庁

To provide an LSI test device which can reduce periods necessary for an LSI test by reducing the frequency for setting test timing information contained in a function pattern, in an LSI tester.例文帳に追加

ファンクションパターンに含まれるテストタイミング情報をＬＳＩテスタに設定する回数を減らして、ＬＳＩのテストに要する時間を削減することが可能なＬＳＩテスト装置を提供すること。 - 特許庁

The combined frequency-domain data is outputted for further processing by a test measurement system.例文帳に追加

試験測定システムにより更に処理するために組合せ周波数領域データを出力する。 - 特許庁

The measured frequency characteristics of the test signals are transmitted to the facsimile machine of the calling side.例文帳に追加

このテスト信号の測定された周波数特性が発呼側のファクシミリ装置へと伝送される。 - 特許庁

To efficiently perform a quality control test with respect to a radiation image detector in high frequency.例文帳に追加

放射線画像検出装置に対し高い頻度で効率よく品質管理試験を行う。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PROVIDING RADIO-FREQUENCY CONDITION TO TEST RADIO COMMUNICATIONS EQUIPMENT例文帳に追加

無線通信設備をテストするための無線周波数条件を提供するための装置および方法 - 特許庁

To provide a frequency margin test system built in an electronic system having a plurality of components.例文帳に追加

複数のコンポーネントを有する電子システムに内蔵される周波数マージン試験システムを提供する。 - 特許庁

The alignment test signal is received over the communication link 108 as a return alignment test signal and then evaluated for frequency content.例文帳に追加

位置調整検査信号は通信リンク１０８を通じて戻り位置調整検査信号として受信され、その後周波数コンテンツが評価される。 - 特許庁

To provide the constitution of a test interface circuit which can perform a direct memory access test with an actual operation frequency even if a low speed memory tester is used.例文帳に追加

低速メモリテスタを用いても実際の動作周波数でのダイレクトメモリアクセステストを実行可能なテストインターフェイス回路の構成を提供する。 - 特許庁

To provide a self test circuit device and its self test method in which a defect part can be specified in a product actual use frequency.例文帳に追加

製品実使用周波数において不良箇所の特定をすることができる自己試験回路装置およびその自己試験方法を提供する。 - 特許庁

Related to a plurality of moving blades 7, a plurality of function relationships is established between a non- constrain vibration frequency by a non-constrain test and a constrain vibration frequency by a constrain test, and a vibration frequency estimated value is calculated based on the function relationship of a vibration frequency measurement value of an estimated-object moving blade 7.例文帳に追加

複数動翼７について、非拘束試験による非拘束時振動数と拘束試験による拘束時振動数との間の複数の関数関係を確定し、推定対象動翼７の振動数計測値を関数関係に基づいて振動数推定値を計算する。 - 特許庁

When fatigue test is performed on test pieces by means of bend load by providing the test pieces 31 with vibration of a previously set vibration frequency, a plurality of support mechanisms are formed on a support body 11a supporting/fixing one end part of each test piece.例文帳に追加

試験片３１に予め設定された振動数で振動を与えて曲げ負荷によって、試験片の疲労試験を行う際、試験片の一端部が支持固定される支持体１１ａに支持機構を複数形成する。 - 特許庁

Thereby, the test pattern signal can be supplied at a high frequency from a test control device 100, and it is unnecessary for the test control device 100 to directly read out output signals from the test devices DUT to be tested.例文帳に追加

このため、テスト制御装置１００から、高い周波数でテストパターン信号を供給することができ、また、テスト制御装置１００が被試験デバイスＤＵＴからの出力信号を直接読み込む必要が無くなる。 - 特許庁

To use a ceramic piezoelectric element as a driving source for vibration of a driving rod in a testing machine for generating high-frequency vibration in a material of a test piece, when imparting the high-frequency vibration to the test piece to conduct a fatigue test.例文帳に追加

試験片に高周波振動を付与して疲労試験を行う際に、その材料に高周波振動を発生させるための試験機のにおける駆動棒の振動駆動源としてセラミック圧電素子を使用するセラミック圧電素子駆動型材料試験機。 - 特許庁

The method includes: generating high frequency test signals using an on-chip test circuit 302, measuring signal levels using on-chip power detectors, and controlling and monitoring the on-chip test circuit 302 using low frequency signals.例文帳に追加

オンチップ試験回路３０２を用いて高周波試験信号を生成するステップと、オンチップ電力検出器を用いて信号レベルを測定するステップと、上記オンチップ試験回路３０２を、低周波数信号を用いて制御および監視するステップとを含む。 - 特許庁

To provide test equipment which can input test signal to both first and second terminals of a device under test, further can prevent mixing of frequency component in signals output from plural devices under test so as to properly test these plural devices under test.例文帳に追加

被試験装置の第１の端子及び第２の端子の両方に試験信号を入力して試験を行うことができ、複数の被試験装置の出力信号の周波数成分が混合されることを防ぎ、複数の被試験装置を正しく試験することができる試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

A determination unit 14 determines the reception frequency of a reception radio wave on the basis of designated test information to decide whether the reception frequency is a frequency to be tested or not and in a case where the reception frequency is not the frequency to be tested, it is decided whether the reception frequency is a known frequency or not.例文帳に追加

判定部１４は、指定された試験情報を元に受信電波の受信周波数の判定を行って受信周波数が試験対象周波数であるか否かを判断し、受信周波数が試験対象周波数でない場合に、受信周波数が既知の周波数であるか否かを判断する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a test can be performed with a low frequency and a test can be performed accurately in a short time, even if an operation clock signal of high frequency is inputted.例文帳に追加

高い周波数の動作クロック信号が入力されても、低い周波数でテストできるようにした、短い時間で正確にテストを行うことができる半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide fatigue testing equipment capable of performing a speed amplitude constant sweep test in a wide frequency band including a high frequency region.例文帳に追加

高周波域を含めた広い周波数帯において速度振幅一定スイープ試験を行うことのできる疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide fatigue testing equipment capable of performing an acceleration amplitude constant sweep test in a wide frequency band including a high frequency region.例文帳に追加

高周波域を含めた広い周波数帯において加速度振幅一定スイープ試験を行うことのできる疲労試験装置を提供する。 - 特許庁