「functional testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

FUNCTIONAL TESTING AND EXHIBITING DEVICE OF FUEL CELL POWER SUPPLY DEVICE例文帳に追加

燃料電池電力供給装置の機能試験及び展示装置 - 特許庁

A microprocessor with built-in functional testing capability is also provided.例文帳に追加

あるいは、本発明は、組み込み機能試験能力を有するマイクロプロセッサに関する。 - 特許庁

To facilitate a shift to a test mode and a test of a functional block without requiring a terminal dedicated for testing, a terminal also used for testing, and a decoding circuit for selecting a target functional block.例文帳に追加

テスト専用端子、テスト兼用端子および対象機能ブロックを選択するデコード回路を不要とし、テストモードへの移行および機能ブロックのテストを容易に行う。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING FUNCTIONAL BLOCK FOR SPECIFIC APPLICATION EMBEDDED IN RECONFIGURABLE ARRAY例文帳に追加

リコンフィギャラブルアレイに埋め込まれた特定用途向け機能ブロックのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit includes a functional block comprising a functional flip-flop tested in scan testing, the macro-block with a signal outputted from the functional flip-flop inputted thereinto and not tested in scan testing, and a flip-flop for observation for obtaining the result of scan testing from the inputted signal.例文帳に追加

半導体集積回路は、スキャンテスト時にテストされる機能フリップフロップを有する機能ブロックと、機能フリップフロップから出力された信号が入力され、スキャンテスト時にテストされないマクロブロックと、入力された信号からスキャンテストの結果を得る観測用フリップフロップとを備える。 - 特許庁

Black-box testing is the application of test data derived from the specified functional requirements without regard to the final program structure. 例文帳に追加

ブラック・ボックス法(black box testing)は,最終的なプログラム構造に関わりなく,特定の機能的要件から導き出されたテストデータを適用することである． - コンピューター用語辞典

To provide a specimen testing system capable of saving space, and to conducting a functional and rational test.例文帳に追加

省スペース化、機能的、合理的な検査が行える検体検査システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing machine capable of inexpensively and easily performing a functional test of a buffer.例文帳に追加

緩衝器の官能試験を安価かつ簡易に行うことが可能な試験機を提供することである。 - 特許庁

In addition, comparator circuitry is built in that also receives the outputs from the plurality of functional units and compares the outputs to provide functional testing.例文帳に追加

さらに、複数の機能ユニットから出力を受け取って、それらの出力を比較し、それによって、機能試験を提供するコンパレータ回路も組み込まれる。 - 特許庁

If a package is in testing, it means that the developers feel that it is functional but has not been thoroughly tested.例文帳に追加

もしパッケージがテスト中なら、開発者は機能はするがテストが完全でないと思っていることを意味します。 - Gentoo Linux

To provide a method and device for testing functional block for specific application embedded in user programmable fabric.例文帳に追加

ユーザプログラマブルファブリック内に埋め込まれた特定用途向け機能ブロックをテストする方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for automatically creating a control program and testing method plans that automatically creates testing method plans for testing whether an automatically created program meets actually required functional specifications.例文帳に追加

自動生成されたプログラムが実際に要求された機能仕様を満足しているか否かを試験するための試験方案を自動的に作成することができる制御プログラム及び試験方案自動作成装置を得る。 - 特許庁

To provide an integrated circuit(IC) incorporating a functional test circuit capable of testing a complicated logical process with a small circuit scale.例文帳に追加

小さな回路規模で複雑な論理処理を試験できる機能試験用の回路を内蔵したＩＣを提供する。 - 特許庁

A system for at-functional-clock-speed continuous scan array built-in self testing (ABIST) of multiport memory is disclosed.例文帳に追加

機能性クロック速度でのマルチポート・メモリの連続走査アレイ内蔵自己テスト（ＡＢＩＳＴ）のためのシステムが開示される。 - 特許庁

A game machine testing device is a device for carrying a pachinko machine 10 and making a functional test for the pachinko machine 10.例文帳に追加

遊技機検査装置は、パチンコ機１０を搬送するとともに、パチンコ機１０の機能検査を行うための装置である。 - 特許庁

This testing method of a semiconductor integrated circuit with a plurality of functional blocks 1 includes a switching means 21, capacitors 31 and voltage detecting means 41 which are provided in the respective functional blocks 1.例文帳に追加

複数の機能ブロック１を有する半導体集積回路において、各機能ブロック１毎に、スイッチ手段２１と、容量３１と、電圧検出手段４１とを備える構成とする。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit 1 has a memory function block 11 having a variable memory capacity, a functional block 12 and a terminal group 14 for testing.例文帳に追加

半導体集積回路１は、メモリ容量が可変のメモリ機能ブロック１１、機能ブロック１２、およびテスト用の端子群１４を備える。 - 特許庁

Accordingly, in the functional inspection of the fire detector 24, the elevating body 2 is raised and lowered by the operation of the test control device to oppose the testing means 25 to the fire detector 24, whereby the fire detector 24 can be tested by the operation of the testing means to facilitate the functional inspection work.例文帳に追加

これによって、火災検出器２４の機能点検時に試験用制御装置の動作により、昇降体２が昇降して火災検出器２４に試験手段２５が対向し、試験手段の動作によって火災検出器２４を試験でき、機能点検作業を容易化する。 - 特許庁

During ABIST testing, functional addressing latches from a first port are used as shadow latches for a second port's addressing latches.例文帳に追加

ＡＢＩＳＴテスト中に、第１のポートからの機能性アドレス指定ラッチが、第２のポートのアドレス指定ラッチに対するシャドー・ラッチとして用いられる。 - 特許庁

A test input signal is given to the functional block due to the setting into the register in the input signal region, and the functional block performs testing operations, so that a test output signal outputted from the functional block is set as output data in a register in an output signal region.例文帳に追加

前記入力信号領域におけるレジスタへの設定により機能ブロックにテスト入力信号が与えられ、機能ブロックがテスト動作することにより機能ブロックから出力されたテスト出力信号が出力信号領域におけるレジスタに出力データとして設定される。 - 特許庁

This invention describes a method to select the clock skewing for each die on the basis of functional testing with actual parametric limits imposed on target parameters.例文帳に追加

本発明は、対象パラメータに課される実際のパラメータ限界による機能テストに基づき、ダイごとにクロック・スキューイングを選択するための方法を説明する。 - 特許庁

... is an automated functional testing tool that helps developers and testers rapidly create tests for Windows applications created with any development tool. 例文帳に追加

...は自動化機能テストツールであり、これは任意の開発ツールで作られたウィンドウズ・アプリケーションのためのテストを開発者や試験者が早急に作る手助けをします。 - コンピューター用語辞典

To provide an uniterruptive testing device capable of carrying out an overcurrent circuit breaker functional test for a wiring circuit breaker while the wiring circuit breaker is connected with a main circuit.例文帳に追加

配線用遮断器を主回路に接続したまま配線用遮断器の過電流遮断機能試験を実施することができる無停電試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing individually a functional block out of a plurality which are provided, reducing the number of terminals for setting an operation mode to a minimum when a test is performed.例文帳に追加

テスト時の動作モードを設定するための端子数を最小限に抑えたうえで、複数備えられる機能ブロックを個別にテストすることができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a sanitary washing device, having excreta determination functions for preventing functional/performance troubles from occurring in the sanitary washing device by integrating an excreta testing device and the sanitary washing device, and at the same time efficiently branching water, required fro maintaining the functions of the excreta testing device by the sanitary washing device.例文帳に追加

排泄物測定装置と衛生洗浄装置を一体化すると共に、排泄物測定装置の機能維持のために必要な水を衛生洗浄装置より効率的に分岐することにより、衛生洗浄装置に機能・性能的な弊害が発生しない排泄物測定機能付き衛生洗浄装置を提供する。 - 特許庁

The control part 21 incorporates a testing command and expected value data from input terminals 11, 12 and outputs a command to the functional block 31 or the like, and the expected value data to a determining part 40 through an internal bus 30.例文帳に追加

制御部２１では、入力端子１１，１２から試験用のコマンドと期待値データが取り込まれ、内部バス３０を介してコマンドが機能ブロック３１等に、期待値データが判定部４０に出力される。 - 特許庁

Pipes and circuits between components are connected and each electric parameter and gas supply status of the fuel cell set in operation are displayed for functional testing and exhibition of the fuel cell set.例文帳に追加

本発明は燃料電池セット中の各構成要件間の管路と回路を接続すると共に、燃料電池セットの操作時の各電気パラメータ及びガス供給状況を表示し、燃料電池セットの機能試験及び展示に供される。 - 特許庁

When testing operation is assigned by a mode signal MD, a clock signal CK of an input terminal 14 is selected by a selector 23 and supplied as a clock signal CLK to internal circuits of a control part 21 and each functional block 31.例文帳に追加

モード信号ＭＤで試験動作が指定されると、セレクタ２３によって入力端子１４のクロック信号ＣＫが選択され、クロック信号ＣＬＫとして制御部２１、各機能ブロック３１等の内部回路に供給される。 - 特許庁

The scan testing method for scan-testing a semiconductor integrated circuit having a plurality of blocks to perform functional operations comprises a step of exclusively isolating each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and a step of feeding a scan clock with deviated phase for each block to be tested.例文帳に追加

機能動作を行なう複数のブロックを有する半導体集積回路をスキャンテストする方法であって、スキャンテスト時に複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションするステップと、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを供給するステップとを有することを特徴とするスキャンテスト方法を提示する。 - 特許庁

A changeover circuit 26 of a load control unit 1 detects open and close of a circuit breaker 7, gives a normal power to a multi-functional protection relay device 5 from a main circuit 3 in a closed-circuit state of the circuit breaker 7, and gives a power for testing to the multi-functional protection relay device 5 in an open-circuit state of the circuit breaker 7.例文帳に追加

負荷制御装置１の切換回路２６は、回路遮断器７の開閉を検出し、その回路遮断器７が閉路状態にあるときには多機能型保護リレー装置５に主回路３から常用電源を与え、回路遮断器７が開路状態にあるときには多機能型保護リレー装置５に試験用電源を与えるように切り換える。 - 特許庁

To provide a member for image display which hardly causes curling or cracking of a polarizing film laminated body in an environmental testing, especially in a demanding high temperature resistance test, even in a structure that aims to impart high functions, that is, in a structure of the polarizing film laminated body having a functional resin layer such as crosslinked coating film and/or a functional sheet laminated/adhered onto a polarizing film.例文帳に追加

高機能付与を目的とする構成、即ち、偏光フィルムに架橋塗膜等の機能樹脂層、及び／又は、機能シートを積層／貼合する偏光フィルム積層体の構成に於いても、環境試験、特に過酷な高温耐熱試験で、偏光フィルム積層体のカール及びクラックが生じることのない画像表示用部材を提供する。 - 特許庁

To provide a functional testing and exhibiting device of a fuel cell power supply device for displaying each electric parameter and gas supply status in operation by connecting pipes and circuits between each component of a whole fuel cell power supply device.例文帳に追加

全体の燃料電池電力供給装置の各構成要件間の管線及び回路を接続し、操作時の各電気パラメータ及びガス供給状況を現出させる燃料電池電力供給装置の機能試験及び展示装置の提供。 - 特許庁

To provide an interface circuit capable of reducing its manufacturing cost and accurately performing functional test and debugging by reducing the number of input terminals from the exterior of a miniaturized semiconductor device, and provide a testing method and a debugging method using the same for the semiconductor device.例文帳に追加

小型化された半導体装置外部からの入力端子数を少なくし製造コストを抑制、かつ、機能テスト、デバッグを的確に行うことができるインターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法を提供する。 - 特許庁

By this, it is possible to determine the susceptibility of even the functional films, evaluated as of the same hardness (for example, 3H) on the basis of 'pencil scratch values' of the 'testing methods for paints' in JIS (Japanese Industrial Standard) K5400, to flaws on the basis of the sizes of measured projections and recessions.例文帳に追加

これにより、ＪＩＳ Ｋ５４００「塗料一般試験方法」の「鉛筆引っ掻き値」に基づき同一の硬度(例えば３Ｈ)と評価された機能性フィルムでも、計測された起伏の大きさの大小によって、傷の付きやすさを判別できる。 - 特許庁

The testing system includes a functional block 31 for monitoring the fluctuations in the power supply voltage, in the internal region of the semiconductor device, and a control timing adjusting function for adjusting the control timing of a load current-correcting means 15, based on the fluctuation monitored by the block.例文帳に追加

半導体装置内部領域の電源電圧変動をモニタするための機能ブロック３１と、機能ブロックによりモニタした電源電圧変動に基づいて負荷電流補正手段１５を制御するタイミングを調整する制御タイミング調整機能とを有する。 - 特許庁

Thus, by inputting the operation inhibiting signal EN fixed to an activated level to the external signal terminal EN by a semiconductor testing apparatus and also inputting the external clock CK to the external clock terminal CK, the functional block 12 can be shifted to the test mode from the normal operation mode.例文帳に追加

このため、半導体試験装置により、活性レベルに固定された動作禁止信号ＥＮを外部信号端子ＥＮに入力するとともに、外部クロックＣＫを外部クロック端子ＣＫに入力することで、機能ブロック１２を通常動作モードからテストモードに移行させることができる。 - 特許庁

To overcome the problem such that, related to a functional test for an A/D converter in a semiconductor integrated circuit, testing of a fast A/D converter at an actual operation speed is difficult because wiring delay in the semiconductor integrated circuit from the output of A/D converter to the input of a tester affects much.例文帳に追加

半導体集積回路内のＡ／Ｄ変換器の機能テストでは、Ａ／Ｄ変換の出力からテスタ入力までの半導体集積回路内の配線遅延が大きく影響を与えるため、高速Ａ／Ｄ変換器の実動作スピードでのテストが困難である。 - 特許庁

This semiconductor testing device 1 having a pattern memory circuit 12 used for performing functional tests on semiconductor integrated circuits is provided with a backup power source 14 which supplies electric power to the pattern memory circuit 12 when the power supply from a power supply unit 11 which supplies electric power to the pattern memory circuit 12 at normal time is shut off.例文帳に追加

半導体集積回路の機能試験をするためのパターンメモリ回路１２を有する半導体試験装置１において、通常時にパターンメモリ回路１２に電源を供給する電源ユニット１１からの電源の供給が遮断されたとき、パターンメモリ回路１２に電源を供給するバックアップ電源１４を備えた。 - 特許庁