「inspection between process」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a superposing deviation inspection apparatus, marks for inspecting superposing deviations and overlap deviation inspection method, which enable automatic inspection of the presence of a superposing deviation in a shorter time between a lower layer pattern and a resist pattern, in a lithographic process during the production process of semiconductors.例文帳に追加

半導体の製造工程中のリソグラフィ工程において、下層パターンとレジストパターンとの重ね合わせずれの有無を短時間でかつ自動的に検査することができる重ね合わせずれ検査装置、重ね合わせずれ検査用マークおよび重ね合わせずれ検査方法を提供する。 - 特許庁

In the final stage of a preparation of the APTT measuring reagent, i.e. an inspection process after the reagent is prepared, an inspection method for reflecting differences of measured values between the lots and/or between the vials is introduced.例文帳に追加

ＡＰＴＴ測定試薬調製の最終段階、つまり試薬製造後の検査工程において、ロット間及び／又はバイアル間における測定値の違いを反映しうる検査方法を導入することによる。 - 特許庁

The method and the system are achieved in such a way that, in the mass production line of the semiconductor production process, the foreign-body inspection apparatus is miniaturized and that the foreign-body inspection apparatus is placed on a conveyance system between the input port and the output port of a treatment device in a semiconductor production line or between treatment devices.例文帳に追加

半導体製造工程の量産ラインにおいて、異物検査装置を小型にし、半導体製造ラインの処理装置の入出力口あるいは処理装置間の搬送系に載置することにより達成される。 - 特許庁

(b) In particular, it shall be thoroughly confirmed that there are no differences between the parties in regards to the awareness of facts found in the process of on-the-spot inspection. 例文帳に追加

ロ．特に、立入の過程で把握した事実関係については、その内容に両者の間で認識の相違がないことの確認を十分行う。 - 金融庁

To provide a substrate inspection device capable of inspecting a prescribed marking on an objective substrate between each manufacturing process in a short time with a simple structure.例文帳に追加

各製造工程間における対象基板上の所定のマークを、安価な構成により短時間で検査できる基板検査装置を提供すること。 - 特許庁

The mass production line of the semiconductor manufacturing process is constituted so that a foreign matter inspection device is downsized and is set on an input port and an output port of processors of semiconductor manufacturing line or a conveyance system between the processors.例文帳に追加

また、半導体製造工程の量産ラインにおいて、大量の不良を未然に防ぎ、歩留りを維持することを可能にする。 - 特許庁

Electrical inspection is performed after the second punching process is finished to measure whether or not there is electrical conduction between the terminals 13.例文帳に追加

２回の打ち抜き工程が終了した後に電気検査を行い、前記端子間１３の導通の有無を測定する。 - 特許庁

An automatic diagnosis inspection method is described as a monitoring process, a modifying process, an overwriting process, a providing process, and/or for providing a read-only access to input data given to an inspection object application and output data provided by the inspection object application, and comparing desired relations between the input data and output data.例文帳に追加

自動診断検査方法は、監視する工程、変更する工程、上書きする工程、提供する工程及び／又は検査対象アプリケーションに与えられる入力データと検査対象アプリケーションにより供給される出力データに対して読み出し専用のアクセスを提供し、入力データと出力データ間の所望の関係を比較する工程として、記述される。 - 特許庁

(1) The evaluation method of flow of a reactant gas in the fuel cell has a process of introducing an inspection gas from an inspection gas entrance 53 provided between an entrance 51 and an exit 52 of a normal reactant gas and a process of detecting a detection gas by a detection part 54 provided between the entrance and exit of the normal reactant gas.例文帳に追加

（１）正規の反応ガスの入口５１と出口５２との間に設けた検査ガス入口５３から検査ガスを導入する工程と、正規の反応ガスの入口と出口との間に設けた検出部５４にて検査ガスを検出する工程とを、有する燃料電池内の反応ガスの流動の評価方法。 - 特許庁

To provide a process cartridge, with which the efficiency of an inspection process when a solvent is used in fixing means between components in the assembling process of the process cartridge is significantly improved and sure infiltration (jointed) of the solvent between the components can be easily inspected.例文帳に追加

プロセスカートリッジの組立て工程において、部品間の固定手段に溶剤を用いた際の検査工程の効率を大幅に向上させ、部品間の間に確実に溶剤が浸透している（接合されている）ことを容易に検査可能なプロセスカートリッジを提供すること。 - 特許庁

To provide a wafer inspection machine and method, which can eliminate the loss time between processes, by integrating individual process required for inspection of wafers.例文帳に追加

ウェハー検査に必要な個別工程を統合することで工程間のロスタイムを解消することができるウェハー検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide an analytical inspection device capable of reducing the possibility of generating contamination between inspections of samples, and free from the requirement of securing a proper alignment of an illumination source and/or a detecting optics with the sample under inspection, during an inspection process.例文帳に追加

試料の検査と検査の間に汚染が生じる可能性が低く、照明源及び／又は検出用オプティクスの被検下にある試料との適正なアライメントを保証することが、検査プロセス中に要求されない分析検査デバイスを提供する。 - 特許庁

A scanner 2 is disposed between an inspection process 1 and an assembly process 3, and imaging data on a surface of a wafer (W) obtained by the scanner 2 is supplied to a data processor 4.例文帳に追加

検査工程１と組立て工程３の間にスキャナ２を配置し、スキャナ２で得たウェハ（Ｗ）表面の画像データをデータ処理装置４に供給する。 - 特許庁

In a first leak inspection process S4, a predetermined reverse bias voltage is impressed between a positive electrode and a negative electrode after an element formation process A1 for measuring a first leak current value.例文帳に追加

第１のリーク検査工程Ｓ４は、素子形成工程Ｓ１後に、陽極及び陰極からなる両電極間に所定の第１の逆バイアス電圧を印加し、第１の漏れ電流値を計測する。 - 特許庁

Imaged images in each different inspection voltage value are acquired (imaged image acquisition process S2), and each difference between every two picked up images is taken successively, and a differential image is generated (differential image generation process S4).例文帳に追加

異なる検査用電圧値ごとの撮像画像を取得し（撮像画像取得工程Ｓ２）、２つの撮像画像ごとに順次差分をとって差分画像を作成する（差分画像作成工程Ｓ４）。 - 特許庁

An inspection unit 30 is provided between a coating processing unit 10 which performs a resist coating process to the substrate and a development processing unit 20 which performs a development process.例文帳に追加

基板に対してレジスト塗布処理を行う塗布処理ユニット１０と現像処理を行う現像処理ユニット２０との間に検査ユニット３０を設ける。 - 特許庁

To set easily a criterion whereby such a frequency that the inconsistency between the inspection results obtained in an intermediate process and a final process is generated thereat approaches to an allowable value.例文帳に追加

中間工程における検査結果と最終工程における検査結果との間に不整合が生じる頻度が許容値付近までに収められるような判定基準値を、容易に設定できるようにする。 - 特許庁

Between a first welding process and a second welding process, the spot welding automatic inspection device 20 performs inspection of a welded position welded by a spot welding machine 3 by the welding inspection machine 21 so as to determine the quality of welding, and carries out rewelding to the welded position in which the determination result is negative by the recovery welding machine 22.例文帳に追加

スポット溶接自動検査装置２０は、第一溶接工程と第二溶接工程との間において、溶接検査機２１によりスポット溶接機３により溶接された溶接位置の検査を行い溶接の良否を判定するとともに、判定結果が否である溶接位置に対してリカバリ溶接機２２による再溶接を実施する。 - 特許庁

To provide a printing solder inspection apparatus capable of grouping a plurality of soldered parts, reversibly recognizing the relation between allowable values and process indices on shape values of the group, and reflecting this in the following first inspection when the allowable values have altered.例文帳に追加

複数はんだ箇所をグループ化し、そのグループにおける形状値を軸に許容値と工程指数との関係を可逆的に認識可能にし、許容値の変更があったときは次の１枚目の検査から反映することができる印刷はんだ検査装置を提供することである。 - 特許庁

A wiring 4 for inspection to which a ground potential level or a power source potential level can be applied at an inspection process is provided between a bonding pad 1 and an active area 3 which is the closest to the bonding pad 1, so as net to be brought into contact with any bonding pad 1 or active area 3.例文帳に追加

ボンディングパッド１とそのボンディングパッド１に最も近い能動領域３との間に、検査工程時に接地電位レベルまたは電源電位レベルを印加され得る検査用配線４を、ボンディングパッド１および能動領域３の何れとも接触しないように設ける。 - 特許庁

The pad layout can be obtained as capable of wire bonding easily, and narrowing the pitch between the probe contacting regions, in which the probe needle is planted in the inspection process of semiconductor chips.例文帳に追加

ワイヤボンディングが容易に行うことができ、半導体チップ検査工程におけるプローブ針立てが行われるプローブ接触領域の狭ピッチ化が可能なパッドレイアウトが得られる。 - 特許庁

To provide inspection equipment for paper cup that discriminates between paper cups of a normal type and paper cups of a different type and ejects the paper cups of the different type from a manufacturing process, and a method thereof.例文帳に追加

正規品種の紙カップと異品種の紙カップとを区別し、異品種の紙カップを製造工程から排出可能にする検査装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

To prevent an operator from being held between a battery and a body due to the operation of a reach lever in error in the process of maintenance and inspection of the battery drawn by the operator.例文帳に追加

オペレータがバッテリを引出して、保守点検をしている最中に、リーチレバーを誤って動かしてバッテリと車体の間にオペレータが挟まれる事故を防止する。 - 特許庁

To provide an acoustic tester capable of sensing the contact state between an intake-exhaust valve of a valve train for a vehicle engine and a valve seat and simplifying the test process to enable quick inspection.例文帳に追加

車両エンジン用バルブトレンの吸・排気バルブとバルブシートの間の接触状態を感知することができ、検査工程の単純化により迅速な点検が可能な音波検査機を提供する。 - 特許庁

As each process (program part), a one suitable to an inspection object is set from a setting personal computer 25, transmission and receiving of data between the processes is performed through a system shared memory 16.例文帳に追加

各プロセス（プログラム部品）は、検査対象物に対して適したものを設定用パソコン２５から設定されており、各プロセス間のデータの送受は、システム共有メモリ１６を介して行う。 - 特許庁

To provide a highly versatile support capable of performing electric connection between the conductive pattern of the support and a slider, and easily and efficiently executing a slider holding process, and an inspection method using the same.例文帳に追加

支持体の導電パターンとスライダとの電気的接続を良好にでき、スライダ保持工程を容易に効率良く行え、汎用性の高い支持体、およびこの支持体をを用いた検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A differential image formation part 22 forms differential information between image data taken in this time, and image data of a precedent one page stored in a precedent one page printing image storage part 210, and sends the information to an image inspection process part 24.例文帳に追加

差分画像生成部２２では、今回取り込まれた画像データと、１頁前印刷画像記憶部２１０に記憶されている１頁前の画像データとの差分情報を生成して画像検査処理部２４に送出する。 - 特許庁

After positioning between a standard printed circuit board 100 and the checker head 2 is executed through each process, the standard printed circuit boars 100 is replaced with a printed circuit board 1 to be inspected, and ordinary continuity inspection is executed.例文帳に追加

各工程を経て，基準プリント配線板１００とチェッカーヘッド２とを位置合わせした後，基準プリント配線板１００を検査すべきプリント配線板１に置き換えて通常の導通検査を行なう。 - 特許庁

To eliminate, regarding a filament winding apparatus and a filament winding method in which a fiber bundle is wound round the surface of a member to be wound, the time lag between the winding treatment process and the inspection process and minimize generation of defective products whose resin deposition amounts are under a criteria.例文帳に追加

被巻付部材の表面に繊維束を巻き付けるフィラメントワインディング装置とフィラメントワインディング方法に関して、巻付処理工程と検査工程とのタイムラグをなくして、樹脂付着量が基準に満たない不良品の発生を最小限化する。 - 特許庁

To eliminate a leak flow inspection for confirming a clearance of products by securely satisfying a design request of a clearance of fitting parts regulated on the basis of a fluid leak between members in a member working process or a member assembling process.例文帳に追加

部材間からの流体漏れ量に基づきクリアランスが規定される嵌合部品のクリアランスの設計要求を、嵌合部品を製造する際の、部材の加工工程または組立工程において確実に満たし、製品のクリアランスを確認するための、漏れ流量検査を不要とする。 - 特許庁

To provide a technique which can realize reduction of a chip area, prevent contact troubles between a pad and evaluation equipment in an inspection process and readily manufacture a means for electrically connecting a surface side conductor to a rear pad in an integrated circuit formation process.例文帳に追加

チップ面積の縮小を図り、また、検査工程におけるパッドと評価機器との接触不具合を防止し、さらに、集積回路形成過程において表面側導電体を裏面パッドに電気的に接続する手段を容易に作成可能な技術を提供する。 - 特許庁

This home electric appliance have a microcomputer type control unit and a transceiver function executing a communication between a maker side and a server side and a radio communication between products using Internet; and the transceiver function is provided with a function capable of giving/receiving process inspection information and product specification setting information with an inspection device attached to a process inspection line.例文帳に追加

マイコン式の制御ユニットと、インターネットを利用してメーカー側サーバーとの交信や製品間の無線交信を行う送受信機能とを備えた家電製品において、前記送受信機能に、工程検査ラインに付設された検査装置との間で工程検査情報や製品仕様設定情報を授受できる機能を設けて、インターネットを利用してメーカー側サーバーとの交信や製品間の無線交信を行う送受信機能を利用して工程検査および製品仕様設定を行うことができるようにしている。 - 特許庁

In a spacer forming process F31 for forming a plate-shaped spacer inserted between a cathode substrate and an anode substrate in a method of manufacturing the FED, excess parts to be dummies at both ends of the spacer in its longitudinal direction are prepared in advance, and the spacer is handled using the excess parts in a subsequent spacer inspection process F32 or a spacer cleaning process F33.例文帳に追加

ＦＥＤの製造方法として、カソード基板とアノード基板との間に介装される板状のスペーサを作成するスペーサ作成工程Ｆ３１で、スペーサの長手方向の両端に予めダミーとなる余剰部を設けておき、その後のスペーサ検査工程Ｆ３２やスペーサ洗浄工程Ｆ３３では、余剰部を用いてスペーサを取り扱う。 - 特許庁

A differential image formation part 23 forms differential information between read image data taken in this time from an image read part 27, and read image data of the precedent one page stored in a precedent one page read image storage part 211, and sends the information to the image inspection process part 24.例文帳に追加

差分画像生成部２３では、画像読取部２７から今回取り込まれた読取画像データと、１頁前読取画像記憶部２１０に記憶されている１頁前の読取画像データとの差分情報を生成して画像検査処理部２４に送出する。 - 特許庁

After the components on the substrate are extracted by a difference calculation between the images and a binarizing process of a difference image, the component is identified by comparing a size of the extracted component with a component library registered with standard inspection data of various component.例文帳に追加

そして、これらの画像間の差分演算や差画像の２値化処理により、基板上の各部品を抽出した後、各種部品の標準検査データが登録された部品ライブラリを抽出した部品の大きさにより照合することにより、各部品を特定する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of rapidly performing measurement of high precision by causing no fine change of potential in the surface fine region of a sample by properly holding the potential difference between the surface of the sample and a probe when the sample due to the probe is measured in an inspection process.例文帳に追加

検査工程での探針による試料測定時に試料の表面と探針との間の電位差を適切に保ち、試料表面の微細領域での微細な電位変化を生じさせず、迅速にかつ高い精度の測定を行うことができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Broad partitioning lines 15, 16,... are formed between each other's lands of 11, 12,... by silk-screen printing for the land group 10 for chip parts so that the solder bridge or the like can be easily found by the visual inspection when the solder bridge or the like is caused on the board partitioning lines 15, 16,... in a soldering process.例文帳に追加

前記チップ部品用ランド群１０に対しては、各ランド部１１、１２……の間に、シルク印刷により巾の広い仕切ライン１５、１６……を形成し、はんだ付け工程で、はんだブリッジ等が生じた時に容易に目視で判断できるようにする。 - 特許庁

To provide a stage control method, capable of optimizing speed, acceleration, etc., of a stage, reducing time between the end of a process such as drawing or inspecting operation to the start of movement of the stage to a next movement start point, and hence improving the throughput of a depicting unit or an inspection unit.例文帳に追加

ステージの速度、加速度等の最適化に加えて、描画あるいは検査などの処理終了後から次の移動開始点への移動開始までの時間を短縮し、ひいては描画装置あるいは検査装置のスループットを向上させることが可能なステージ制御方法を提供する。 - 特許庁

To realize reduction of an electric wiring area in a PLC (Planar Lightwave Circuit) substrate, reduction of a module size by dispensing with IC mounting substrate, reduction of the number of wire bonding lines between the PLC substrate and an electronic circuit board and simplification of an inspection process in an optical module for controlling output characteristics with electricity.例文帳に追加

電気で出力特性を制御する光モジュールにおいて、ＰＬＣ基板内の電気配線の面積の低減、ＩＣ実装基板が不要になることによる、モジュールサイズの低減、ＰＬＣ基板と電子回路基板との間のワイヤボンディング本数の低減、検査工程の簡略化を実現する。 - 特許庁

To provide an information sharing method among processing systems and a system therefor capable of sharing yield inspection information between relevant enterprises for feedback in order to effectively improve the quality of a product processed(manufactured) in a previous process and a technology associated with a computer program.例文帳に追加

前工程で処理（製造）された製品の品質を効果的に向上させるために、歩留まり検査の情報を関係企業間で共有することで、フィードバックできる複数の処理系間の情報共有方法及びそのシステム、並びにコンピュータプログラムに関する技術を提供する点にある。 - 特許庁

In such a constitution the inspecting station is connected to the process station and wafers W are transferred automatically between these stations S2, S3 and this enables facilitating simple and easy works from the substrate processing to the inspection and shorten the time.例文帳に追加

このような構成では、検査ステーションを処理ステーションに接続し、これらステーションＳ２，Ｓ３間のウエハＷの搬送を自動でおこなっているので、基板処理から検査に亘る作業の簡便化と、時間の短縮とを図ることができる。 - 特許庁

In the manufacturing process of thin film devices, the apparatus extracts the candidates of manufacturing equipment in which a trouble has occurred, by evaluating the relationship between data obtained in relation to product inspection for a product, and data indicating the state of manufacturing equipment, for effectively extracting equipment in which a trouble has occurred.例文帳に追加

薄膜デバイスの製造工程において、問題の発生した装置を効率よく抽出する製品について製品検査に関連して得られるデータと、製造装置について状態を示すデータとの関連性を評価することにより、問題が発生した製造装置の候補を抽出する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting foreign materials on a wafer, wherein foreign materials on a wafer can be inspected during a cleaning process to shorten the time required for manufacturing the wafer and the process of cleaning can be surely checked and no foreign material will adhere to the wafer between cleaning and foreign inspection.例文帳に追加

ウェーハの異物検査を、その洗浄工程において行なえるようにして、ウェーハの製造に要する時間を短縮することができるとともに、洗浄の進み具合を確実に把握することができ、洗浄と異物検査との間にウェーハに異物が付着することがないウェーハ上の異物検査方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a plywood inspection apparatus identifying an adhesion failure of a plywood and a cavity in the plywood in inspecting the plywood for a defect (cavity), detecting a difference between the cavity and a node, coping with a defective cavitated plywood in a subsequent process, from on that signal, thereby lowering an incidence of defective goods.例文帳に追加

合板の欠陥（空洞）を検査するにあたり、合板の接着不良と合板の空洞とを識別して検査することが可能で、また、空洞と節との相違も検出することができ、その信号から後工程で空洞のある欠陥合板に対処することが可能で不良商品の発生率も低下させることのできる合板検査装置を提供する。 - 特許庁

This laminography inspection system is equipped with a radioactive source, a plurality of linear image detectors to demarcate an image plane, a fixed table to dispose the test object at a fixed position between the radioactive source and the image detector, and a computer device to process a plurality of the images of the test object which are acquired from the image detectors.例文帳に追加

断層撮影検査システムが、放射線源、影像平面を画定する複数の線形影像検出器、放射線源と影像検出器の間の固定された位置に試験物体を配置する固定式テーブル、および影像検出器から獲得された試験物体の複数の影像を処理するコンピュータ装置を備える。 - 特許庁