「sequence test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

With this structure, the withstand voltage test and the electrical circuit verification test (sequence test) of a distribution panel can be carried out without detaching the wire connection device from the block terminal stand.例文帳に追加

このように構成することによって、結線装置をブロック端子台から取り外すことなく、配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行うことができる。 - 特許庁

The control section writes the test data output from the test-data output section into the memory, in the same writing sequence as a writing sequence of the pixel data outputted from the pixel array section into the memory, reads the test data written into the memory from the memory, in the same reading sequence as a reading sequence of the pixel data outputted from the pixel array section from the memory, and outputs the test data via the external interface.例文帳に追加

制御部は、テストデータ出力部から出力されたテストデータを、画素アレイ部から出力された画素データの前記メモリへの書き込み順序と同じ書き込み順序でメモリに書き込み、メモリに書き込まれたテストデータを、画素アレイ部から出力された画素データの前記メモリからの読み出し順序と同じ読み出し順序で前記メモリから読み出し、外部インタフェースを介して出力する。 - 特許庁

This IEEE1394 serial bus tester that checks the operation of various communication facilities based on a 1394 communication protocol in equipment connected to the IEEE1394 serial bus is made to be switched between a service mode for preparing and testing a test command and a test sequence for test object equipment and a test mode for performing tests for the test object equipment according to the generated test command and test sequence.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４シリアルバスに接続される機器の１３９４通信プロトコルに基づく各種通信機能の動作をチェックするＩＥＥＥ１３９４シリアルバステスタであって、検査対象機器に対する検査コマンドおよび検査シーケンスの作成とテストを行う保守モードと、作成された検査コマンドおよび検査シーケンスに従って検査対象機器に対する検査を実行する検査モードに切り換えられるようにしたもの。 - 特許庁

The saturation recovery sequence and the image acquisition sequence are executed a plurality of times in a single heart rate of the test subject in this order, and one or more dummy saturation recovery sequence is executed by impressing the high frequency magnetic field to the test subject between the saturation recovery sequence and an electrocardiogram P wave of the heart rate, and exciting the nuclear magnetization.例文帳に追加

飽和回復シーケンスと画像取得シーケンスとを、この順番で検査対象の一心拍内に複数回実行するとともに、飽和回復シーケンスと心拍の心電R波との間に、検査対象に高周波磁場を印加して核磁化を励起する１以上のダミー飽和回復シーケンスを実行する。 - 特許庁

The input test pattern is inputted into the logic circuit prior to the replacement of the sequence circuit by the combination circuit, thereby generating an expectation value test pattern (step S3).例文帳に追加

そして、順序回路を組み合わせ回路で置換する前の論理回路に上記入力テストパターンを入力して期待値テストパターンを生成する（ステップＳ３）。 - 特許庁

To make test bench mark generation efficient and to improve reusability by generating test bench marks corresponding to plural buses in the same bus access sequence.例文帳に追加

同一のバスアクセスシーケンスで複数のバスに対応したテストベンチの作成を可能にすることで、テストベンチ作成の効率化及び再利用性の向上を図ること。 - 特許庁

To ensure a sequence strategy for defining a set of limitation applicable to test rod pattern design and positioning a subset of the test rod pattern design.例文帳に追加

試験ロッドパターンデザインに適用可能な限界のセットが定義され、試験ロッドパターンデザインのサブセットを位置決めするためのシーケンス戦略が確定される。 - 特許庁

The method comprises steps of forming a test case depending on a known sequence; and executing the test case on an originating processor until it reaches a known point.例文帳に追加

方法は、既知のシーケンスに依存するテスト・ケースを作成するステップと、テスト・ケースを既知の点に到達するまで親プロセッサ上で実行するステップとを含む。 - 特許庁

In this semiconductor testing device equipped with the sequence control circuit for controlling sequence of a pattern generation command described in a program, the sequence control circuit decodes a part of a sequence control command just before execution of a test.例文帳に追加

プログラムに記述されたパターン発生命令のシーケンスを制御するシーケンス制御回路を備えた半導体試験装置において、前記シーケンス制御回路は、シーケンス制御命令の一部のデコードをテスト実行直前に行うことを特徴とするもの。 - 特許庁

The test module has a register for holding a register value supplied from the control device by performing the test program by the control device, and the gate array for changing the hardware logic by the register value held by the register, and supplying the test data corresponding to the test sequence realized by the test program to the device under test.例文帳に追加

テストモジュールは、制御装置が試験プログラムを実行することによって制御装置から供給されたレジスタ値を保持するレジスタと、レジスタが保持するレジスタ値によりハードウェア論理を変更し、試験プログラムにより実現される試験シーケンスに応じた試験データを被試験デバイスに供給するゲートアレイとを有する。 - 特許庁

In the calibration of overlay property, position error data of a first set is obtained by carrying out the exposure of a first substrate (S1) during a first test exposure sequence using a test structure of the first set and measuring the test structure (S2).例文帳に追加

オーバレイ特性のキャリブレーションにおいて、第１基板を、第１セットのテスト構造を用いて第１テスト露光シーケンスの露光（Ｓ１）しテスト構造を測定（Ｓ２）して第１セットの位置誤差データを得る。 - 特許庁

A load test machine 2 can load a node B apparatus 1 by transmitting a large volume of signaling and user data, or set a data amount for the signaling and user data and alter the content of test depending on the setting such as sequence 051, sequence 052 and sequence 053.例文帳に追加

負荷試験機２はノードＢ装置１にシグナリング及びユーザデータを多量に送信して負荷を掛けたり、シグナリング及びユーザデータに対してデータ量を設定し、その設定に応じて変化させるとともに、試験の内容をシーケンス０５１、シーケンス０５２、シーケンス０５３というように変更することが可能である。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR NUCLEAR QUADRUPOLE RESONANCE TEST OF SAMPLE, AND PULSE SEQUENCE FOR EXCITING NUCLEAR QUADRUPOLE RESONANCE例文帳に追加

サンプルの核四極子共鳴テスト方法および装置、および核四極子共鳴を励起するためのパルス・シーケンス - 特許庁

After completion of execution of the instruction sequence, the control part 12 instructs the generation part 11 to shift the instruction sequence, and the control part 12 makes the device 2 of the test object execute the shifted new instruction sequence.例文帳に追加

該命令列の実行後、試験実行制御部１２がランダム命令生成部１１に指示して該命令列をシフトし、試験実行制御部１２が、被試験対象装置２に該シフトされた新たな命令列を実行させる。 - 特許庁

The comparison logic circuit (550) is configured so as to determine whether the bus (590) correctly transmits data, based at least in part on comparing the test sequence and the check sequence.例文帳に追加

比較論理回路(550)は、テストシーケンスとチェックシーケンスの比較に少なくとも一部基いて、バス(590)が正確にデータを伝送しているか否かを判定するように構成される。 - 特許庁

A short circuit plate equipped with a short circuit contact for using at the withstand voltage test is fitted to the wire connection device, and a contact capable of easily attaching and detaching a test wire for using at the electrical circuit verification test (sequence test) is fitted to the wire connection device.例文帳に追加

耐電圧試験実施時に使用する短絡接触子を備えた短絡板が結線装置に設けられ、そして、電気回路検証試験（シーケンス試験）時に使用する試験配線が容易に着脱できる接触子を結線装置に備える。 - 特許庁

In this ultrasonic diagnostic equipment, a scan sequence is decided on the basis of prescribed input information, and the inside of a test subject is scanned by an ultrasonic wave according to a prescribed mechanical index on the basis of the scan sequence to generate ultrasonic images of a plurality of frames of the test subject.例文帳に追加

所定の入力情報に基づいて、スキャンシーケンスを決定し、当該スキャンシーケンスに基づいて、所定の機械的指標により被検体内を超音波で走査し、被検体の複数フレームの超音波画像を発生する。 - 特許庁

A similarity testing method is provided which compares sequence data transmitted from a malware performing wrong processing on other computers on the network and sequence data transmitted from software being a test object, with each other to test the similarity between them.例文帳に追加

ネットワーク上で他のコンピュータに対して不正処理を行うマルウェアが送信する系列データと、検査対象のソフトウェアが送信する系列データとを比較してその類似性を検査する類似性検査方法を提供する。 - 特許庁

During a test sequence, the output signal of a row test circuit is monitored, and whether the defect such as the short circuit or the like is likely to exist in a row or the row driver is identified.例文帳に追加

試験シーケンス中、行試験回路の出力信号を監視して、行又は行ドライバに短絡などの欠陥が存在していそうであるか否かを識別する。 - 特許庁

Even in test specifications for defining optical-module surface temperature as the test temperature, the surface of the optical module is measured and controlled directly, thus achieving an accurate temperature sequence.例文帳に追加

試験温度として光モジュール表面温度を定義する試験仕様においても、光モジュールの表面を直接測定し制御するので、精密な温度シーケンスを実現できる。 - 特許庁

An alignment test signal having an alternating pattern of frequencies is generated and transmitted over a communication link 108 that carries the alignment test signal in a sequence of frames.例文帳に追加

周波数の交互パターンを持つ位置調整検査信号が生成され、フレームのシーケンスで位置調整検査信号を搬送する通信リンク１０８を通じて送信される。 - 特許庁

In a test sequence, output signals 194, 184 from the row test circuits are monitored to identify whether a defect, such as a short circuit, is likely to exist in the row or row driver.例文帳に追加

テストシーケンスでは、行テスト回路からの出力信号（１９４，１８４）が監視されて、欠陥、例えば、短絡が行や行ドライバーに存在していそうかどうかを識別する。 - 特許庁

An alignment test signal having an alternating pattern of frequencies is generated and transmitted over a communication link that carries the alignment test signal in a sequence of frames.例文帳に追加

周波数の交互パターンを持つ位置調整検査信号が生成され、フレームのシーケンスで位置調整検査信号を搬送する通信リンクを通じて送信される。 - 特許庁

To smoothly input a work to prepare a test sequence to operate the test of an objective system without any error at the time of developing software.例文帳に追加

ソフトウェア開発において、対象システムのテストを行なうためのテストシーケンスを作成する作業を、誤りなくスムーズに入力することを可能とすることを課題としている。 - 特許庁

To generate a varied large-scale test command sequence by a method arbitrarily combining plural small-scale unit command sequences, different from a conventional large-scale test command sequence-generating method requiring a complicated automatic command generation process for realizing a varied large-scale test because contents of the test command sequence are poor on account of difficulty of generation algorithm.例文帳に追加

大規模なテスト命令列の生成においては、生成アルゴリズムの難しさからテスト命令列の内容が乏しく、変化のある大規模なテストを実現するためには、複雑な処理を持つ命令自動生成処理を必要としていたが、本発明に示す方式により小規模な単位命令列を任意に複数組み合わせることによって、変化に富んだ大規模なテスト命令列を生成することを可能とする。 - 特許庁

To make fitness to a specification coincide with the acceptance result of a test, even when the sequence among communication data or there is a change in timing, in the range of the specification in a test to a test object device accompanied by transmission/reception of data.例文帳に追加

データの送受信を伴う試験対象装置への試験において、通信データ間の順序やタイミングが仕様の範囲内で変化した場合でも、仕様への適合性と試験の合否結果を一致させる。 - 特許庁

To reduce a pattern transfer time by minimizing the number of times of test pattern transfer from a buffer memory to a local memory, following a measurement sequence by a test program, and to thereby shorten the measuring time, in a function test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の機能テストに際して、テストプログラムによる測定シーケンスにしたがうバッファメモリからローカルメモリへのテストパターン転送回数を最小化してパターン転送時間を削減し、測定時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a clip with a voltmeter capable of making effective work for a sequence test in an electric power company or the like.例文帳に追加

電力会社などでのシーケンス試験の作業の効率化を図ることができる電圧計付ヒューズクリップを提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit in which the output sequence of signals given to a plurality of registers can be changed easily.例文帳に追加

複数のレジスタに与えられた信号の出力順序を容易に変更することが可能なテスト回路を提供する。 - 特許庁

In another aspect, a sequence of event test interface includes a circuit comprising a plurality of electronic devices and a plurality of programs.例文帳に追加

別の態様で提供されるイベント列テストインタフェースは、複数の電子デバイスと複数のプログラムとを備えた回路を含む。 - 特許庁

In the test time shortening processing, the time shortening device 22 performs the processing of interchanging the execution sequence of test items of the test program 50 so that an average execution time on conforming items may become in ascending order on the basis of both test execution time set in advance corresponding to each test described in the test program 50 and the probability of occurrence of defective units.例文帳に追加

この試験時間短縮処理は、時間短縮装置２２が、試験プログラム５０に記述されている各試験に対応する、予め設定された試験実行時間と、不良品発生確率とに基づいて、良品に対する平均実行時間を昇順となるように試験プログラム５０の試験項目の実行順序を入れ替える処理である。 - 特許庁

Without using a constant test sequence at all times when a test pattern to be set in a shift register at the test is scanned in and the results of the test to be observed are scanned out, by limiting clock phases to be effective in each shift step into one, the problem of the skews are avoided.例文帳に追加

テスト時のシフトレジスタに設定するテストパタンをスキャンインしたり、観測すべきテスト結果をスキャンアウトする際に、常に一定のシフトシーケンスを用いるのではなく、各シフトステップで有効とするクロック相を１つに限定することで、スキューの問題を回避する。 - 特許庁

A system 10 includes a source for providing the scan-in sequence 14 of the state data as the input simulation to test object devices DUT 18, and the scan-out sequence 16 of the predicted state data.例文帳に追加

システム(10)は、テスト対象装置(DUT)(18)への入力刺激としての状態データのスキャンインシーケンス(14)と予測された状態データのスキャンアウトシーケンス(16)を提供するためのソースを含む。 - 特許庁

To accurately measure pause times by simultaneously finishing a test sequence in a plurality of memories through a small scale circuit addition, in a memory pause test method and test circuit for a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のメモリポーズテスト方法およびテスト回路において、小規模な回路の増加で、複数のメモリのテストシーケンスを同時に完了させることが可能となり、正確にポーズタイム測定が可能となることを目的とする。 - 特許庁

To automatically manage/control fundamental process control and sequence control in test execution during system verification of a logical circuit.例文帳に追加

論理回路のシステム検証の際、テスト実行において基本的なプロセス制御やシーケンス制御を自動的に管理・実行する。 - 特許庁

To provide a delay fault simulation method capable of evaluating the quality of a delay fault test sequence with a higher precision.例文帳に追加

遅延故障検査系列の品質をより高精度に評価することのできる遅延故障シミュレーション方法を提供する。 - 特許庁

To provide an efficient numerical algorithm for analyzing test sequence redundancy and efficiency in a digital integrated circuit (IC).例文帳に追加

ディジタル集積回路（ＩＣ）における試験シーケンス冗長性と効率を分析する効率的な数値アルゴリズムを提供する。 - 特許庁

To provide an improved technique capable of backtracking while including database (DB) sequence processing in a program model test in which an application program using a DB is a test target.例文帳に追加

データベース（ＤＢ）を利用するアプリケーションプログラムを検査対象とするプログラム・モデル検査において、ＤＢのシーケンス処理をも含めてバックトラックできる改善された技術を提供する。 - 特許庁

In addition, xieperf provides a set of tests which can be used to validate the detection and transmission of XIE protocol request errors, such as FloMatch, FloValue, and so forth.Finally, xieperf provides a customizable demonstration program for XIE.A test is made up of three components executed in sequence - an initialization function, a test function, and an end function.例文帳に追加

最後に、xieperfは、カスタマイズ可能 なXIE のデモプログラムにもなる。 テストは順に実行される3つのコンポーネント、すなわち初期化関数、テスト関数、終了関数からなる。 - XFree86

In addition, the specification file information of respective test items for the test program is extracted, and a test sequence is considered so as to minimize the amount of specification change of an LSI inspection apparatus, whereby the programming description enabling the shortest test period to be realized can be accurately and rapidly considered.例文帳に追加

さらに、テストプログラムの各テスト項目毎のスペックファイル情報を抽出して、ＬＳＩ検査装置のスペック変更量が最小となるテスト順番を検討することにより、テスト時間を最短にするプログラミング記述の検討を正確かつ迅速に行うことができる。 - 特許庁

A controller 50 writes a desired sequence pattern in the sequence pattern generator 23 and selects either the data encoded by a 64B/66B encoder 22 or a sequence pattern issued from the sequence pattern generator 23 and imparts the one selected to a test target device by controlling a data selector 24.例文帳に追加

制御部５０は、シーケンスパターン発生部２３に所望のシーケンスパターンを書き込むとともに、データ選択部２４を制御し、６４Ｂ／６６Ｂ符号化処理部２２によって符号化されたデータとシーケンスパターン発生部２３から出力されるシーケンスパターンとのいずれか一方を選択して被試験対象装置に与える。 - 特許庁

The device has a plurality of light sources, and takes an image of a test object every time one of the plurality of light sources is lit one by one in sequence.例文帳に追加

複数の光源を有し、複数の光源を一つずつ順番に点灯させて、その度ごとに被検査物の画像を撮影する。 - 特許庁

To test the reproduction of a sequence easily in a short time by using trace information without disconnecting a cable from a host device and a peripheral device.例文帳に追加

ホスト装置や周辺装置とのケーブルを外すことなく、容易かつ短時間でトレース情報を用いてシーケンスの再現テストを行う。 - 特許庁

The sub harness test device 1 gives signal to the first terminals 5 in sequence and determines whether the first terminals 5 are conducted each other.例文帳に追加

サブハーネス検査装置１は第１の端子５に順に信号を与えて第１の端子５相互の導通状況の良否を判定する。 - 特許庁

A means is used which performs sequence control of the valves and a pump to perform an airtightness test simply.例文帳に追加

配管系に２個の開閉自動弁を配設し、前記弁とポンプとをシーケンス制御して気密試験を簡便に実施する手段を用いる。 - 特許庁