「simple test method」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a simple, quick and sure marking method of a defective test element.例文帳に追加

不良テストエレメントの簡略で迅速かつ確実なマーキング法。 - 特許庁

To provide a simple method for inferring relationships between test results.例文帳に追加

試験結果間の関係を推測する単純な方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a client-server system, a load test method, and a load test program capable of performing a proper load test using a simple structure.例文帳に追加

簡易な構成で適切な負荷テストを行なうことが可能なクライアント−サーバシステム、負荷テスト方法、および負荷テストプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a test board and a testing method which enables high-speed testing, using simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成で高速試験を可能にしたテスト基板とテスト方法を提供する。 - 特許庁

To determine quality of interchip connection in semiconductor chips in a multi-chip module, by a simple test circuit and a simple testing method.例文帳に追加

マルチチップモジュールにおける半導体チップ間の接続の良否判定を簡易なテスト回路とテスト方法により行う。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for differential data driver, capable of precisely testing a differential signal, using a simple configuration.例文帳に追加

簡素な構成で精度良く差動信号のテストが可能な差動型データドライバのテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test reagent and a test method for diagnosing cancer invasion and metastasis which are simple, and have excellent sensitivity and quantitative performance.例文帳に追加

癌の浸潤と転移を診断する、簡便で感度と定量性に優れた検査用試薬および検査方法を提供する。 - 特許庁

SIMPLE VERIFICATION DEVICE OF EXISTENCE OF RESISTIVITY AGAINST PHYTOTOXIC COMPONENT OF TEST GRASS BODY, ITS MANUFACTURING METHOD AND SIMPLE VERIFICATION METHOD USING IT例文帳に追加

被検草体の殺草性成分に対する抵抗性の有無の簡易検定装置、その製造方法及びそれを使用した簡易検定方法 - 特許庁

To provide a simple method for knowing an amount of radical irradiation onto a surface of a test object.例文帳に追加

試験対象物表面へのラジカルが照射量を簡便に知る方法を提供すること。 - 特許庁

SIMPLE TEST REAGENT FOR MITE ANTIGEN, AND METHOD AND KIT FOR DETECTING MITE ANTIGEN例文帳に追加

ダニ抗原簡易検査試薬、ダニ抗原検出方法およびダニ抗原を検出するためのキット - 特許庁

To provide an ECC built-in semiconductor memory in which a highly accurate and efficient test can be performed with simple constitution and a test time can be shortened and a test method.例文帳に追加

簡単な構成により高精度で効率的なテストが可能、及びテスト時間の短縮化が可能なＥＣＣ内蔵の半導体記憶装置とテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a simple inspecting method of an organic thin film capable of enlarging a test area and conducting a test speedily; and to provide a device for the inspection.例文帳に追加

検査面積の大型化が可能で、検査速度の速い簡便な有機薄膜の検査方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method which enables the simple and early acquisition of test results in a dyeing fastness test, and a testing machine therefor.例文帳に追加

染色堅ろう度試験において、簡易、かつ、早期に試験結果を得ることができる方法及びその試験機を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method of evaluating groove bottom crack resistance performance of a tread groove by using a test piece of a simple structure.例文帳に追加

構造が簡単な試験片を用いて、トレッド溝の耐溝底クラック性能を評価するための方法。 - 特許庁

To provide a simple and highly reliable test method for chronic allergic reaction and a simple and highly reliable test method for chronic allergic inflammation inhibiting activity for selecting or evaluating an antiallergic drug, especially, a chronic allergic disease treatment drug (or a candidate compound thereof) on the basis of the test method.例文帳に追加

簡便で信頼性の高い慢性アレルギー反応の試験方法、およびそれに基づく、抗アレルギー薬、特に慢性アレルギー疾患治療薬（またはその候補化合物）を選抜または評価するための、簡便で信頼性の高い、慢性アレルギー炎症抑制活性の試験方法を提供する。 - 特許庁

To settle the defects of conventional soft agar colony forming test methods so as to provide a simple and sure antitumor agent sensibility screening method replacing the conventional test methods.例文帳に追加

従来の軟寒天コロニー形成試験法の欠点を解決し、それに代わる簡便・確実な抗癌剤感受性スクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating feeling of coolness by a test sample by which the feeling of coolness by the test sample can be evaluated by a rapid and simple operation.例文帳に追加

被験試料による清涼感を迅速かつ簡便な操作で評価することができる被験試料による清涼感の評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test apparatus and a test method with a simple configuration for testing a device to be tested which outputs a plurality of modulation signals modulated by carrier signals with one and the same frequency.例文帳に追加

同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを簡単な構成により試験する。 - 特許庁

To perform a monitor burn-in test method with a simple device requiring no external refresh circuit without reducing memory access speed of an element, in the monitor burn-in test method, and a monitor burn-in test device.例文帳に追加

モニターバーンイン試験方法およびモニターバーンイン試験装置に関し、素子のメモリアクセス速度を低下させることなく、かつ外部リフレッシュ回路を不要とした簡単な装置でモニターバーンイン試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a detection device capable of detecting a test material by a simple method by utilizing antigen-antibody reaction.例文帳に追加

簡便な手法で被検物質を抗原抗体反応を利用して検出できる検出装置の提供。 - 特許庁

To provide a protocol test device that can efficiently perform the dynamic test of a communication protocol used for a communication device using a simple preparation and a method, without the need for using an independent opposed test device within a single test device.例文帳に追加

単独の試験装置内で通信機器に用いる通信プロトコルの動的な試験を、独立の対向試験装置を用いずに、簡単な準備および方法で行うことで作業を効率化するプロトコル試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a simple method for judging the effect of a test factor for mycotoxin production, and to provide a mycotoxin production inhibitor.例文帳に追加

カビ毒生産に対する被験因子の効果を判定するための簡便法、及びカビ毒生産抑制剤の提供。 - 特許庁

To provide a pixel array and a driving method of the same using a simple test program, and to provide a display panel.例文帳に追加

テストのプログラムが簡単である画素アレイ及びその駆動方法、並びに表示パネルを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a bit cell test circuit that conducts a write and a readout test of a bit cell to be tested through simple operation, and a method of detecting a defective bit cell.例文帳に追加

簡易な動作によりテスト対象ビットセルの書き込み及び読み出しテストを実行するビットセルテスト回路及び不良ビットセル検出方法を提供すること - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device and a test method therefor in which a high speed operation test can be performed with a simple constitution and high reliability, and a manufacturing method for the semiconductor integrated circuit device in which an improved selection yield is realized with a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成により高い信頼性での高速動作試験を可能にした半導体集積回路装置、テスト方法と簡単な構成により選別歩留りの向上を実現した半導体集積回路装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and simple test magnetic recording signal generation device capable of writing magnetic data in which optional jitters are generated, a test bankbook preparation device, a test magnetic recording signal generation method, and a program.例文帳に追加

任意のジッタを生じさせた磁気データを書き込むことが可能な安価で簡易なテスト用磁気記録信号発生装置、テスト用通帳作成装置、テスト用磁気記録信号発生方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

O.) are performed between the DC stress test method of the simple body TEG and an aging test method.例文帳に追加

本発明は、単体ＴＥＧのＤＣストレス試験法とエージング試験法との間にＣＭＯＳ動作を想定したＡＣストレス試験とリングオシュレータ（Ｒ．Ｏ．）を用いたＡＣストレス試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a semiconductor integrated circuit device including a high-speed input/output device, capable of quickly performing high-speed I/O test exceeding 1 GHz by simple board configuration without alteration of test system for each I/O specification.例文帳に追加

高速入出力装置を備えた半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置に関し、簡単なボード構成によって迅速に１ＧＨｚを越える高速Ｉ／Ｏのテストを、各Ｉ／Ｏ仕様毎にテスト・システムを変更することなく行う。 - 特許庁

To provide a system and a method for obtaining statistical data by using a high-speed and simple method in a wafer level while using a wafer level test device.例文帳に追加

ウェーハ・レベルの試験装置を使用しながら、ウェーハ・レベルで高速で簡単な方法を使って統計データを得るシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for shortening the test time and guaranteeing reliability with simple device constitution, without having to add a device especially for a test in a time divisional switch.例文帳に追加

時分割スイッチにおいて、試験専用の装置の追加を行わずに単純な装置構成で試験時間短縮と信頼性の保証を行う装置及び方法の提供。 - 特許庁

To provide a method for predicting deterioration of a semiconductor device in a short period of time and and a method for predicting deterioration of a semiconductor device with high accuracy by finding a correlation between deterioration prediction of an actual semiconductor device and a DC (Direct Current) stress test method for a simple body TEG (Test Element Group).例文帳に追加

本発明により、実際の半導体装置の劣化予測と単体ＴＥＧのＤＣストレス試験法との相関を求めることにより、短時間で半導体装置における劣化予測を行う方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processor and its method which takes into consideration printing of a color test chart solving the problem that although the color test chart has many signals of ≥300% in the sum of density signals that a printer do not guarantee, simple toner reduction results in that a color test chart which is effective in grasping device colors can not be obtained.例文帳に追加

カラーテストチャートにはプリンタが保証しない、濃度信号の和が３００％以上の信号も多数存在するが、単純にトナーリダクションすると、デバイス色を把握するために有効なカラーテストチャートは得られない。 - 特許庁

To provide an accelerated surface deterioration test method capable of reproducing the surface deterioration sufficiently in a short time, and a accelerated surface deterioration test device capable of performing the test method with a simple device configuration.例文帳に追加

試料の劣化状態を短期間で十分に再現可能な表面状態劣化促進試験方法、並びに、簡単な装置構成で前記表面状態劣化促進試験方法を実施可能な表面状態劣化促進試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a simple method capable of evaluating accurately brittle fracture propagation stopping performance of a thick steel plate without performing a large scale test.例文帳に追加

大型試験を行わずとも厚鋼板の脆性破壊伝播停止性能を正確に評価できる簡易な手法を提供する。 - 特許庁

To provide a device with a low-cost and simple device structure and method for easily and accurately detecting the position of test vehicle placed on chassis dynamometer.例文帳に追加

シャシーダイナモメータ上に載置された試験車両の位置を、安価で簡易な装置構成において容易且つ精度良く検出する。 - 特許庁

To provide an antibody specific to Lawsonia intracellularis and to provide a simple test method of the Lawsonia intracellularis infection using the antibody.例文帳に追加

ローソニア・イントラセルラーリス(Lawsonia intracellularis)に特異的な抗体及びこの抗体を用いる、ローソニア・イントラセルラーリス(Lawsonia intracellularis)感染の簡易検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a ground test method for an aircraft allowing feeding a uniform air flow in an engine and an air intake straightening duct used for the method with a simple structure in a shed type aircraft ground test facility.例文帳に追加

簡易な構成により格納型航空機地上試験設備において、一様な流れの空気をエンジンに供給できる航空機の地上試験方法およびそれに用いる吸気整流ダクトを提供する - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and its test method which can perform a manufacturing test easily and surely by simple constitution and method in a semiconductor memory device making a latch circuit a storage element.例文帳に追加

ラッチ回路を記憶素子とする半導体記憶装置であって、簡易な構成及び方法により容易かつ確実に製造テストを実施することのできる半導体記憶装置とその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sheet for a color reproduction determination test capable of determining color reproduction on a determination object printed matter by a simple constitution, and to provide a method for manufacturing the sheet, and a color reproduction determination test method.例文帳に追加

簡便な構成で、判定対象被印刷物の色再現を、判定することが可能な色再現判定試験用シート、その製造方法、及び色再現判定試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test method of side slip or the like of a vehicle and its testing device having a simple formation and a small size, capable of improving test precision by releasing before the test an initial stress of wheels loaded on a test roller, being manufactured inexpensively, and improving its service life.例文帳に追加

テスト用ローラに乗り込んだ車輪の初期応力を試験前に解放し、試験精度の向上を図るとともに、構成が簡単で小形かつ安価に製作でき、その寿命の向上を図れるようにした、車両のサイドスリップ等の試験方法及びその試験装置の提供。 - 特許庁

To acquire detailed and highly-reliable test results by discriminating whether electric test results depend on an external factor of a semiconductor chip or an internal factor, extremely easily and reliably by a simple switching operation, with a comparatively simple constitution and a using method.例文帳に追加

比較的簡易な構成、及び使用方法で電気的試験の結果が半導体チップの外的要因によるか、或いは内的要因によるかを簡易な切り換え動作で極めて容易且つ確実に判別し、精緻で信頼性の高い試験結果を得る。 - 特許庁

To provide a melanin production inducer capable of inducing melanin production in a pigment cell by a simple operation, and to provide an evaluation method of a test material capable of evaluating a whitening effect of the test material by a quick and simple operation.例文帳に追加

色素細胞において、メラニン産生を簡便な操作で誘導することができるメラニン産生誘導剤及び被験物質の美白作用を迅速かつ簡便な操作で評価することができる被験物質の評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an airtightness testing method of a simple constitution capable of highly sensitively verifying the presence or absence of leak locations and provide a collection container for airtightness test used for the method.例文帳に追加

簡単な構成で、感度良く漏れ箇所の有無を確認することができる気密試験方法およびこの方法に使用する気密試験用捕集容器を提供する。 - 特許庁

To provide a relaxation test method, testing device and a testing tool capable of measuring stress relaxation of a material efficiently and highly accurately by a simple method.例文帳に追加

材料の応力緩和を簡便な方法で、効率よく、高精度に測定することができるリラクゼーション試験方法及び試験装置、並びに試験治具を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and its test method, capable of executing burn-in of a logic circuit and a memory simultaneously, using a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成によりロジック回路とメモリを同時にバーンイン実施可能な半導体集積回路及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁