「surface defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method of manufacturing an inkjet head having an orifice surface in which defects are reduced.例文帳に追加

欠陥の低減されたオリフィス面を有するインクジェットヘッドの製造方法を提供することである。 - 特許庁

By these treatments, many crystal defects occur the exposed surface of the substrate 1.例文帳に追加

このような処理により、露出している半導体基板１の表面には多くの結晶欠陥が生じる。 - 特許庁

A semiconductor wafer of which positional information is known of defects on its surface is placed on a stage of an imaging device.例文帳に追加

表面上の欠陥の位置情報が知られている半導体ウエハを、撮像装置のステージに載置する。 - 特許庁

To provide a surface layer defect detector which accurately discriminates between formation noises of a metal analyte and detection signals due to scab defects.例文帳に追加

金属被検体の地合ノイズとヘゲ欠陥に起因する検出信号とを精度良く弁別する。 - 特許庁

When the surface defects are detected, a driving speed of the optical disk 10 is reduced to prevent a recording error.例文帳に追加

表面欠陥を検出した場合、光ディスク１０の駆動速度を低下させて記録エラーを防止する。 - 特許庁

To prevent generation of surface defects deriving from blowholes caused by H_2 gas or CO gas that reacts during casting.例文帳に追加

鋳込み中に反応したH_2ガスやCOガスに起因するブローホール性表面欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

To easily measure the depth of the surface defects of a lens material without using any complex depth-measuring machines.例文帳に追加

レンズ素材の表面欠陥の深さを複雑な深度測定機を用いることなく簡単に測定する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for suppressing surface defects of products made of austenitic free-cutting stainless steel.例文帳に追加

オーステナイト系快削ステンレス鋼からなる製品の表面疵を抑制しうる製造方法の提供。 - 特許庁

Therefore, the occurrence of problems including the extension of macroscopic defects such as polycrystalline systems headed to the center from the outer periphery and the extension of microscopic defects such as basal surface dislocation is prevented.例文帳に追加

したがって、外周部から中心部に向かって多系などのマクロ欠陥、基底面転位などのミクロ欠陥が伸展するという問題が発生することを防止できる。 - 特許庁

When there are defects, it sample-and-holds the low frequency components of the servo signals right before the defects are found, and adds eccentricity correction signals or surface wobble correction signals.例文帳に追加

これによりディフェクト検出時には、ディフェクト検出直前の各サーボ信号の低周波成分をホールドし、偏芯補正信号あるいは面振れ補正信号を加算する。 - 特許庁

The method for correcting projection defects is carried out by irradiating abnormal projections on the surface of a metal plating film having a rugged pattern with laser at least once so as to correct the abnormal projection defects.例文帳に追加

凹凸形状を有する金属メッキ膜表面の異常突起にレーザーを少なくとも１回照射し、異常突起を修正する突起欠陥修正方法。 - 特許庁

To provide a bipolar semiconductor device, which reduces leakage currents and prevents an increase in minimum ignition current, even on the occurrence of stacking defects due to surface defects.例文帳に追加

表面欠陥に起因する積層欠陥が生じても、リーク電流を低減でき、最小点弧電流の増大を防止できるバイポーラ型半導体装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, the emergence of problems including the extension of macroscopic defects such as polycrystalline systems headed to the center from the outer periphery and the extension of microscopic defects such as basal surface dislocation is prevented.例文帳に追加

したがって、外周部から中心部に向かって多系などのマクロ欠陥、基底面転位などのミクロ欠陥が伸展するという問題が発生することを防止できる。 - 特許庁

To provide an inspecting device that detect micropipe defects formed in an SiC substrate and an epitaxial layer and a defect in a base surface with high precision, and discriminates them from other defects.例文帳に追加

SiC基板及びエピタキシャル層に形成されたマイクロパイプ欠陥及び基底面内欠陥を高精度に検出でき、他の欠陥から区別できる検査装置を実現する。 - 特許庁

To obtain an evaluation method of crystal defects for evaluating the crystal defects that are generated in a thin-film SOI layer and a thin-film surface layer through inline inspection.例文帳に追加

薄膜ＳＯＩ層や薄膜表面層内に発生した結晶欠陥をインライン検査によって評価することが可能な、結晶欠陥の評価方法を得る。 - 特許庁

To dissipate or diffuse lattice defects, such as hole type grow-in defects existing not only on the surface of a single crystal but also in the inside of the crystal, regardless of the size of the crystal.例文帳に追加

単結晶体の大きさに拘わらず、単結晶体の表面のみならず内部に存在する空孔型グローイン欠陥等の格子欠陥を消滅又は分散させる。 - 特許庁

To provide a high quality, high performance single crystal of SiC not only little in the generation of micropipe defects and interface defects, but having a wide terrace and high in the flatness of the surface.例文帳に追加

マイクロパイプ欠陥や界面欠陥等の発生が少ないとともに、幅広なテラスを有し表面の平坦度の高い、高品質、高性能な単結晶SiCの提供すること。 - 特許庁

To remove metal impurities beneath the surface of Si, the main cause of surface defects on the Si surface, especially Ni of a transition metal, to make a high-cleanness Si surface and to planarize the Si surface accompanied therewith.例文帳に追加

Ｓｉ表面上の表面欠陥の主たる原因である表面下の金属不純物、特に遷移金属であるＮｉを除去し、Ｓｉ表面を高純度化し、それにともないＳｉ表面を平坦化する。 - 特許庁

To provide a steel sheet having excellent surface properties and free from surface defects caused by the concentration of impurity elements on a slab surface layer by scale formation at high temperature.例文帳に追加

高温でのスケール生成によるスラブ表層への不純物元素の濃化が起因となる表面欠陥はない表面性状に優れた鋼板を提供する。 - 特許庁

To provide a roll member effective in prevention of the occurrence of plating surface defects due to roll surface characteristic, particularly its surface film structure, and its advantageous production.例文帳に追加

ロール表面性状に起因するめっき表面欠陥の発生阻止のために有効なロール部材、とくにその表面皮膜構造とその有利な製造方法を提案すること。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method which enables accurate detection of surface defects in information recording media which can cause errors, and to provide a surface defect inspection apparatus.例文帳に追加

エラーとなり得る情報記録媒体の表面の欠陥を精度良く検出可能な表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for carrying out surface treatment of a collector for a lithium ion battery in which a first surface coating layer without defects is formed on a collector base material 2, and in which a second surface coating layer having defects of pin holes and with unevenness is formed on the first surface coating layer.例文帳に追加

集電体基材２上に欠陥のない第１表面皮膜層、及び、第１表面皮膜層上に、ピンホールの欠陥、凹凸のある第２表面皮膜層が成膜されたリチウムイオン電池集電体の表面処理を行うことができる装置を提供すること。 - 特許庁

A semiconductor nanocrystal having neutral defects or negatively-charged defects on a surface, and such a size that wave function density of excited electrons is increased at the surface is used as a recording material.例文帳に追加

表面に中性欠陥または負に荷電した欠陥を有すると共に、励起状態の電子の波動関数の密度が表面で増大する大きさを有する半導体ナノ結晶を記録材料として用いる。 - 特許庁

To provide a steel sheet having excellent surface quality after plating in which occurrence of a chevron pattern and surface defects caused thereby can be suppressed, at a low cost.例文帳に追加

安価に山形模様やそれに起因する表面欠陥の発生を抑制できるメッキ後の表面品質に優れた鋼板を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method which enables detection of defects on an edge line of a surface to be inspected, only on the basis of the binarized images of the surface to be inspected.例文帳に追加

被検査面の二値化画像のみに基づいて被検査面のエッジライン上の欠陥を検出可能な欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for highly productively manufacturing high manganese-steel with high quality, wherein generation of surface defects such as a surface crack is suppressed.例文帳に追加

表面割れなどの表面欠陥の発生が抑制された高品質な高マンガン含有鋼を生産性高く製造する方法を提供する。 - 特許庁

This invention is related to a method for manufacturing a surface protective film having a surface with high gloss and free from defects for at least one of surfaces thereof.例文帳に追加

本発明は、少なくとも一つの面に高光沢で欠陥箇所のない表面を有する表面保護フィルムの製造方法に関する。 - 特許庁

To provide a hard coat film having few defects such as spots and interference fringes, being excellent in stain-proofness, adhesion, surface slippiness, and having a high surface hardness.例文帳に追加

点欠陥や干渉縞を低減し、かつ、防汚性、密着性、表面滑り性に優れ、表面硬度が高いハードコートフィルムを提供する。 - 特許庁

The surface of the p-type group III nitride semiconductor layer 8 exposed on a side surface of the semiconductor device forms a cleavage surface having reduced crystal defects, thus preventing a leak current from flowing along the side surface.例文帳に追加

半導体装置の側面に露出するｐ型のIII族窒化物半導体層８の表面はへき開面となり、結晶欠陥が少なく、側面に沿ってリ−ク電流が流れることを防止する。 - 特許庁

Further, a hole 41 of a level equivalent to minute surface defects of a checkup object is formed in advance in the calibration plate 40.例文帳に追加

また、校正板４０には、検査対象の微小表面欠陥と同等レベルの穴４１を形成しておく。 - 特許庁

To provide a long-life organic light-emitting device and white light emitting device with little defects on a surface.例文帳に追加

表面の欠陥の少ない、長寿命の有機電界発光素子及び白色発光素子を提供する。 - 特許庁

To improve accuracy in discriminating between foreign matter and crystal defects or between foreign matter and scratches existing on the surface of a substrate.例文帳に追加

基板の表面上に存在する異物と結晶欠陥、或いは異物とスクラッチの判別精度の向上。 - 特許庁

To manufacture an sheet having an irregular surface with a high quality without defects such as lowering in accuracy of its pattern structure and poor peeling.例文帳に追加

パターン構造の精度低下や剥離不良などの欠陥のない、高品質な凹凸状シートを製造する。 - 特許庁

Thereafter, the green sheet laminated material 65 having the protected surface can be sized or diced without forming defects.例文帳に追加

その後、表面が保護されたグリーン・シート積層物は、欠陥を生じることなくサイジングまたはダイシングされる。 - 特許庁

To obtain a porous film having a sharp pore size distribution, hardly suffering pinholes and other defects and furthermore excellent in surface smoothness.例文帳に追加

孔径分布がシャープで、ピンホール等の欠陥が少なく、しかも表面平滑性の優れた多孔質フィルムを得る。 - 特許庁

To provide a photoresist capable of phase conversion of a surface by which occurrence of defects on a semiconductor substrate is prevented.例文帳に追加

半導体基板の欠陥が発生することを防ぐ表面の交換が可能なフォトレジストを提供する。 - 特許庁

To reduce defects in reading a bar code provided on the surface of a tire as much as possible by one bar code reader.例文帳に追加

１つのバーコードリーダで、タイヤの表面に設けられたバーコードの読み取り不良を少なくできるようにする。 - 特許庁

Only a simple measuring instrument for measuring the diameter of the surface defects is required, which is convenient to the measurement at production sites.例文帳に追加

表面欠陥の径を測定する簡単な測定器があればよいから、生産現場での測定に好適である。 - 特許庁

To provide a simple method for manufacturing a strain Si-SOI substrate, wherein the surface of a strain Si layer is flat and has few defects.例文帳に追加

歪Ｓｉ層表面が平坦で欠陥が少ない歪Ｓｉ−ＳＯＩ基板を簡便に製造する。 - 特許庁

To provide a method for producing Al-less stainless steel high in cleanliness and few in surface defects caused by Al2O3 inclusions.例文帳に追加

清浄度が高く、Al_2O_3 系介在物による表面欠陥の少ないAlレスステンレス鋼の製造方法を提案する。 - 特許庁

To form an amorphous silicon electrode film which is kept free from bold defects and whose surface gets rugged by migration.例文帳に追加

ボールドディフェクトがない，マイグレーションに起因して表面が凹凸形状を為すアモルファスシリコン電極膜を形成する。 - 特許庁

The surface of a defect substrate to be subjected to defect inspection is scanned by a light beam and is detected of its defects and their address coordinates.例文帳に追加

欠陥検査すべき基板の表面を光ビームで走査し、欠陥及びそのアドレス座標を検出する。 - 特許庁

To provide a production process of a silicon wafer which can eliminate void defects in at least the surface layer of the silicon wafer.例文帳に追加

シリコンウェーハの少なくとも表層のボイド欠陥を消滅させるシリコンウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a film for reducing even such surface defects that the height is very low and the major axis is large.例文帳に追加

非常に高さが低く長径の大きい表面欠点をも低減できるフィルムの製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an iron base dispersion strengthening alloy tube without surface defects with high productivity.例文帳に追加

表面欠陥のない鉄基分散強化型合金管を高生産性で製造する方法を提供する。 - 特許庁