「surface defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a manufacturing method of stainless angle steel by which defects such as surface roughening on the surface of the angle steel to be formed is prevented and also the durability of grooved rolls is improved.例文帳に追加

成形する山形鋼の表面に肌荒れ等の不良が生じることを防止することができると共に，孔型ロールの耐久性を向上させることができるステンレス山形鋼の製造方法を提供すること。 - 特許庁

Crystal defects for inhibiting normal epitaxial growing on a surface of a substrate are provided onto the surface of the substrate in a grating form so as to grow normal epitaxial films on the small divided regions, thereby releasing the occurrence of an internal stress.例文帳に追加

基板表面に、その上の正常なエピタキシャル成長を阻害するような結晶欠陥を格子状に設け、正常なエピタキシャル膜を小区画に分割して成長させて、内部応力を解放する。 - 特許庁

To provide a liquid wiping device where the increase in film thickness and the defects in the quality of a sheet surface caused by the sticking of splashes to the surface are eliminated, and further, the improvement of production capacity can be attained by an increase in a line speed.例文帳に追加

スプラッシュの板表面への付着による膜厚増大や表面品質欠陥をなくすと共に、ライン速度の増大により生産能力の向上が図れる液体ワイピング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a new method for polishing glass by which surface roughness or under-surface defects not permissible for use in an extreme ultraviolet lithography (EUVL) are not caused, and to provide an optical element produced using the method.例文帳に追加

極紫外線リソグラフィ（ＥＵＶＬ）プロセスでの使用に許容され得ない表面粗さまたは表面下欠陥を生じない、ガラスを研磨する新しい方法及びその方法を用いて作成される光学素子を提供する。 - 特許庁

According to the method, since the surface layer of the silicon wafer is melted by the irradiation of the electron beam, defects on a deep region from the surface can be extinguished compared with the case of using a laser beam.例文帳に追加

本発明によれば、電子線の照射によってシリコンウェーハの表層部を溶融させていることから、レーザ光を用いる場合と比べ、表面から深い領域に存在する欠陥を消滅させることが可能となる。 - 特許庁

The mechanical stress is exerted on the surface of an alloy 1 containing Al to generate lattice defects, to increase the diffusion coefficient of oxygen to Al in a surface layer, and to promote generation of an Al_2O_3 film 4.例文帳に追加

Ａｌを含有する合金１表面に、機械的応力を付与し、格子欠陥を発生させ、表面層でのＡｌに対する酸素の拡散係数を増大させ、Ａｌ2 Ｏ3 皮膜４の生成を促進させる。 - 特許庁

It is possible to suppress the occurrence of defects on the surface of the luminescent semiconductor nanocrystal and can maintain a quantum yield by allowing the reactive silicone group to be adsorbed into the surface of the luminescent semiconductor nanocrystal.例文帳に追加

反応性シリコーン基を発光性半導体ナノクリスタルの表面中に吸着させることで、発光性半導体ナノクリスタルの表面に欠陥が発生することを抑制でき、量子収率を維持することができる。 - 特許庁

By executing a surface cleaning treatment to remove dust adhering to a surface of the photoresist film or a protective film, pattern defects caused by the duct in the second exposure process is reduced.例文帳に追加

第１の露光工程において発生し、フォトレジスト膜または保護膜上に付着したダストを表面洗浄処理して除去することにより、第２の露光工程でのダストに起因するパターン欠陥を低減する。 - 特許庁

To finish an etching epitaxial wafer and a mirror-surface wafer in a high planarity shape over the entire surface from a (high luminance) etching wafer by eliminating shape defects on the wafer periphery due to etching or polishing process works.例文帳に追加

エッチング加工や研磨加工によって発生するウエハ外周の形状不良を皆無にすることにより、（高輝度）エッチングウエハを素材とするエッチングエピタキシャルウエハ、及び鏡面ウエハを全面で平坦度の高いものに仕上げる。 - 特許庁

To provide a method for producing a steel sheet having reduced surface defects, by which the problem of surface flaws generated near the end part in the width direction of a hot rolled steel sheet is solved without providing particular equipment nor increasing special process load.例文帳に追加

熱間圧延鋼板の幅方向端部近傍に発生する表面庇問題を特段の設備対応や工程負荷増なく無害化する表面欠陥の少ない鋼板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To reduce shape defects such as crack and chipping of a side surface of a group III nitride light emitting diode having a light emitting layer etc., provided on a nonpolar principal surface of a support base made of hexagonal group III nitride.例文帳に追加

六方晶系III族窒化物からなる支持基体の非極性主面上に設けられた発光層等を有するIII族窒化物発光ダイオードにおいて、側面における欠けやチッピングといった形状不良を低減する。 - 特許庁

To provide a method of producing a steel sheet having reduced surface defects by which the problem of surface flaws generated in the vicinity of the end part in the width direction of a hot rolled steel sheet is solved without providing special equipment nor increasing special stages.例文帳に追加

熱間圧延鋼板の幅方向端部近傍に発生する表面庇問題を特段の設備対応や工程負荷増なく無害化する表面欠陥の少ない鋼板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a foaming agent masterbatch for a vinyl chloride resin, which is excellent in compatibility with a vinyl chloride resin and enables molding of a foam molded product of a vinyl chloride resin without producing surface defects such as a rough surface.例文帳に追加

塩化ビニル樹脂との相溶性に優れ、表面に肌荒れなどの不良の発生なく塩化ビニル樹脂発泡成形品を成形することができる塩化ビニル樹脂用発泡剤マスターバッチを提供する。 - 特許庁

To provide a method and device capable of forming a microstructure surface of highest quality while avoiding defects, that is, forming the microstructure surface with minimum gas charging and relatively low technical effort.例文帳に追加

欠陥を回避しつつ、最高品質の微細構造面を形成できる、すなわち、最小のガス封入で、比較的低い技術的努力によって微細構造面を形成できる方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a both surface-undercoated stock paper used for a cast-coated paper without having defects such as pin holes and drum picks while maintaining a high quality such as a high luster and high smoothness and improving the printing adaptability of a non-casted surface.例文帳に追加

高光沢度、高平滑度の高品質を保持しつつ、ピンホールやドラムピックの欠点がなく、非キャスト面への印刷適性を向上させたキャストコーテッド紙用両面下塗り原紙を提供するものである。 - 特許庁

To provide a surface inspection device for executing accurate inspection by eliminating the influence of worked parts existing on the surface of an inspecting object on judgment of the existence of defects, and for speeding up processing.例文帳に追加

被検査物の表面に存在する加工部が欠陥の有無の判別に与える影響を排除して正確な検査を実施でき、かつ処理の高速化を図ることが可能な表面検査装置を提供する。 - 特許庁

A method for inspecting a semiconductor wafer which has a film to form device structures, including device patterns and may have crystal defects, comprises a process of exposing the crystal surface of the semiconductor wafer, by removing the device structure film with a chemical solution, a process of making apparent any crystal defects by selectively removing the surface layer of the semiconductor wafer through selective etching, and a process of quantitatively evaluating the crystal defects.例文帳に追加

デバイスパターンを含むデバイス構造を構成する膜を備え、結晶欠陥を有することがある半導体ウェーハを検査する方法において、上記デバイス構造膜を薬液で除去して半導体ウェーハの結晶表面を露出させる工程と、選択エッチングにより半導体ウェーハの表面層を選択的に除去して上記結晶欠陥を顕在化する工程と、上記結晶欠陥を定量的に評価する工程と、を備える。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an epitaxial silicon wafer, in which the polishing process is simplified, thereby the productivity is enhanced and the cost is reduced, the density of LPD (light point defects) generated on the surface of a mirror-polished wafer caused by processing is reduced, and the surface roughness of the surface of the wafer is improved.例文帳に追加

研磨工程の簡略化で生産性が高まり、コストダウンが可能で、鏡面研磨されたウェーハ表面に生じる加工起因のＬＰＤの密度を低減し、ウェーハ表面の表面粗さを改善可能なエピタキシャルシリコンウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an organic light emitting device which has an optical output of high efficiency, high brightness and high lifetime and has a stable light emitting surface without any film defects when a film is formed.例文帳に追加

高効率、高輝度、高寿命の光出力を有し、製膜時の膜欠陥の発生が少なく、安定した発光面を有する有機発光素子を提供する。 - 特許庁

The analyzed data S13 is inputted to an automatic defect classifying part 14, and defects existing on a surface to be inspected of each chip are classified at the automatic defect classifying part 14.例文帳に追加

解析データS13 は欠陥種自動分類部14に入力され、該欠陥種自動分類部14で各チップの被検査面上に存在する欠陥の種類が分類される。 - 特許庁

To provide a method, system, and program for more reliably detecting specific defects formed on the surface of a wafer.例文帳に追加

ウェーハの表面に生じうる特定欠陥をより確実に検出することが可能な検出方法、検出システムおよび検出プログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

The continuous defect determination method for analyzing distribution morphology based on information regarding surface defects arisen on the thin steel sheet F to determine the presence of continuous defect.例文帳に追加

薄鋼板Ｆに発生する表面欠陥に関する情報を基に分布形態を解析して連続欠陥の有無を判定する連続欠陥判定方法を提供する。 - 特許庁

When the PDP filter is manufactured, the surface of the PDP filter main body 1 is irradiated with light and, based on the reflected light, defects such as dents, light spots, and distortions are inspected.例文帳に追加

ＰＤＰフィルタを製造するに際し、ＰＤＰフィルタ本体１の表面に光を照射し、その反射光に基づいて凹み、光点、歪などの欠点を検査する。 - 特許庁

To provide the sound insulating structure of a flash panel that can reduce various sound insulation defects at the same time by partially improving a surface material.例文帳に追加

表面材の部分的な改良を施すことによって各種遮音欠損を同時に減少させることのできるフラッシュパネルの遮音構造を提供すること。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus capable of properly detecting defects in appearance of shape, such as, irregular shape and concave shape formed on the outer circumference surface of a tube.例文帳に追加

管の外周面に形成された凹凸形状や凹み形状などの形状的な外観不良を適切に検出できる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of outputting the inspection result of the defect related to the whole of an inspection target surface even if there are many defects, and a defect inspection method.例文帳に追加

欠陥が多くても検査対象面の全体についての欠陥の検査結果を出力可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a remote drive type optical microscope device for photographing the metallic structure and the defects of an inner surface of small diameter piping which a person cannot access and for enabling immediate observation.例文帳に追加

人がアクセスできない小径配管内面の金属組織や欠陥を撮影し、即刻観察できる遠隔駆動式光学顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a coating method of electrode paste for a battery capable of applying the electrode paste to a current collector, with less generation of stripe defects and with smooth surface.例文帳に追加

スジ欠陥等の発生が少ない表面が平滑な電極ペーストの集電体への塗布を可能にする電池用電極ペーストの塗布方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cellulose ester film that can be produced on a low equipment cost, that is hard to cause defects in the roll inside, and that has sufficient transparency and is good in the surface condition.例文帳に追加

低い設備コストで製造することができ、巻中故障が生じにくく、透明性が十分でありかつ面状も良好なセルロースエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a coating drying method suppressing dispersion of thickness of a coating after drying, and preventing deformation becoming defects in properties of a coating surface after drying.例文帳に追加

乾燥後の塗膜の厚みにバラツキが少なく、しかも乾燥後の塗膜表面の性状に欠陥となる変形が生じることのない塗膜乾燥方法を提供する - 特許庁

To form images which are decreased in defects by preventing the peeling of the unnecessary coating film formed on the outer peripheral surface of a substrate end face constituting an organic photoreceptor and the residues adhered thereto.例文帳に追加

有機感光体を構成する基体端部の外周面上に形成された不要な塗膜や付着した残渣の剥がれを防止して、欠陥の少ない画像を形成する。 - 特許庁

To provide a method for producing an ingot of a TiAl-based alloy which can suppress the generation of surface defects, and a sound large-sized ingot can be produced.例文帳に追加

表面欠陥の発生を抑制でき、健全な大型の鋳塊を製造することができるＴｉＡｌ基合金の鋳塊製造方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for cleaning and drying a substrate for suppressing minute defects on the surface of the substrate, when drying the substrate by supplying an organic solvent vapor, such as IPA.例文帳に追加

ＩＰＡ等の有機溶剤蒸気を供給して基板を乾燥する場合に、基板表面の微小欠陥を抑制するための基板の洗浄乾燥方法を提供する。 - 特許庁

This method allows surface defects to be inspected, even when an image of an object to be inspected includes constant, periodic variations in density, and there is a defect therein.例文帳に追加

この方法により、被検査物の画像が、ある一定の周期的な濃淡を有し、その中に欠陥があるような場合でも、表面欠陥を検査することができる。 - 特許庁

To provide a liquid crystal element having excellent orientation uniformity in its display surface, having few defects and, when used for display device such as a flat panel display, showing a preferable display performance.例文帳に追加

表示面内の均一配向性に優れ、欠陥が少なく、フラットパネルディスプレイ等の表示装置に用いた際に好適な表示性能を有する液晶素子を提供する。 - 特許庁

The masking material 7 is peeled off on the working surface 12a, and the Fresnel lens sheet 1 is tested based on reflected light, and the presence or absence of white color family defects is judged.例文帳に追加

その作業面１２ａ上でマスキング材７を剥がすとともにフレネルレンズシート１を反射光に基づいて検査して白色系の欠陥の有無を検査する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a long-length metalized resin film showing little surface defects, even in continuous operation, and a plating apparatus for manufacturing the substrate.例文帳に追加

連続操業においても表面欠陥の少ない金属化長尺樹脂フィルム基板の製造方法及びこの基板を製造するためのめっき装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the time for correcting defects in a wide area of a coating film, and to achieve the uniformity of the thickness of the coating film regardless of the unevenness of a substrate surface.例文帳に追加

塗膜の広範囲に亘る欠陥部の修正時間を短縮すると共に、基板面の凹凸に寄らず修正薬液の塗膜厚みの均一化を可能にする。 - 特許庁

To provide a circuit board inspection method and a circuit board inspection apparatus capable of accurately detecting unsoldered and solder defects of surface-mounting-type ICs by electrical continuity inspection.例文帳に追加

面実装型ＩＣの未ハンダやハンダ不良を電気的導通検査で精度良く検出することが可能な回路基板検査方法及び回路基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To suppress occurrence of cracks or pinholes due to defects of irregularities, e.g. local protrusions, on the surface of a conductive film formed on a substrate.例文帳に追加

基板上に形成した導電膜表面の局所的な突起等の凹凸の不良に起因したクラックやピンホールの発生を抑制することを目的としている。 - 特許庁

To provide a liquid crystal element having excellent orientation uniformity in its display surface, having few defects and, when used for display device such as a flat panel display, showing a preferable display performance.例文帳に追加

表示面内の均一配向性に優れ、欠陥の少ない、フラットパネルディスプレイ等の表示装置に用いた際に好適な表示性能を有する液晶素子を提供する。 - 特許庁

To reduce dislocation not only within a micropipe but also the surface of a base bottom, and to reduce lamination defects in a manufacturing method of an SiC substrate, the SiC substrate, and a semiconductor device.例文帳に追加

ＳｉＣ基板の製造方法及びＳｉＣ基板並びに半導体装置において、マイクロパイプだけでなく基底面内転位及び積層欠陥も低減すること。 - 特許庁

To suitably suppress the generation of surface defects in plating caused by splashes and the clogging of a gas wiping nozzle, and to stably produce a hot dip metal plated steel strip of high quality.例文帳に追加

スプラッシュによるめっき表面欠陥の発生とガスワイピングノズルのノズル詰まりを適切に抑え、高品質の溶融金属めっき鋼帯を安定して製造する。 - 特許庁

With laser beams of different wavelengths, the surface of the object to be inspected is irradiated at various angles, and the conditions of foreign matter or defects are classifiedly detected according to the levels of the scattered beams.例文帳に追加

波長の異なるレーザビームを被検査物表面に異なる角度から照射し、散乱光のレベルから異物・欠陥の状態を分類して検出する。 - 特許庁

To prevent the generation of defects in appearance in a molding mounted to cover a design surface of a door frame which is exposed outside.例文帳に追加

外部に露出する意匠面を有するドアフレームの前記意匠面を覆うように取り付けられるモールに関し、外観不良が発生しないモールを提供することを課題とする。 - 特許庁