「surface defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To reliably detect defects on the surface of an inspection object, which is represented by a semiconductor wafer or a glass substrate, reflecting the detection results on the defects on the backside of the inspection object.例文帳に追加

半導体ウェハやガラス基板に代表される被検査物の裏面における欠陥に関する検出結果を反映して、上述した被検査物の表面の欠陥を確実に検出する。 - 特許庁

The image processing and control device 100 detects defects on the surface of the semiconductor chip 1 by the inputted image signal, and judges whether or not the defects are in compliance with the specifications thereof, based on the results of the inspection.例文帳に追加

画像処理／制御装置１００は、入力した画像信号から半導体チップ１の表面の欠陥を検出し、検出結果に基づいて半導体チップの合否を判断する。 - 特許庁

To provide a hot rolling equipment train and rolling method of hot rolled steel strips by which the securement of finished temp. by rolling and prevention of surface defects such as scale-like scale defects are compatible.例文帳に追加

圧延仕上温度の確保とウロコ状スケール疵などの表面欠陥の防止を両立させることが可能な、熱間圧延設備列及び熱延鋼帯の圧延方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for detecting defects capable of occurately detecting defects, such as flaws, cracks and the like formed on a spherical surface of an object to be inspected, even when their sizes are small.例文帳に追加

検査対象となる球面上に形成されたキズ、クラックなどの欠陥の大きさが小さい場合であっても高精度に検出することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a continuous casting method for molten steel where the improvement effect of slab surface defects and inside defects can be stably obtained while obtaining the lubrication improvement effect of a mold and a solidified shell.例文帳に追加

鋳型と凝固シェルの潤滑改善効果を得つつ、鋳片表面欠陥と内部欠陥の改善効果を安定して得ることのできる溶鋼の連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁

To precisely detect defects by illumination suitable for detecting the respective defects, as to the defect on a surface of a coating layer and the defect between the coating layer and a molding.例文帳に追加

コーティング層の表面の欠陥およびコーティング層と成形体との間の欠陥について、それぞれその欠陥の検出に適した照明を行って、欠陥を精度良く検出する。 - 特許庁

To manufacture a silicon carbide semiconductor element without any influence to element characteristics due to crystal defects by specifying the positions of dislocation and lamination defects in a wafer surface, and their types.例文帳に追加

ウェハ面内における転位、積層欠陥の位置およびその種類を特定し、これに基づいて、結晶欠陥による素子特性への影響がない炭化珪素半導体素子を製造する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor wafer and a semiconductor device which includes annealing, a process of curing defects on the semiconductor wafer or on the surface of a semiconductor device to reduce a surface roughness caused by the defects.例文帳に追加

半導体ウェーハまたは半導体素子の基板表面に存在する欠陥をキュアリングし、それに起因する表面粗さを改善させるアニーリングを伴った半導体ウェーハ及び半導体素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of obtaining a high-quality, highly oriented diamond film having flat surface and less surface defects.例文帳に追加

表面が平坦で、且つ表面欠陥が少ない高品質な高配向性ダイヤモンド膜が得られる高配向性ダイヤモンド膜の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a metal surface high-speed inspection device for speedily inspecting the defects of a continuous metal surface such as a railroad rail during running.例文帳に追加

鉄道レールのような連続した金属表面の欠陥を、走行しながら高速で検査することができる金属表面高速検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a single-crystal silicon wafer small in crystal defects of a surface layer part, high in surface layer strength, and suitable for a substrate for highly-integrated device.例文帳に追加

表層部の結晶欠陥が少なく、かつ表層強度が高い、高集積化デバイス用基板として好適な単結晶シリコンウェーハの提供。 - 特許庁

To obtain a sufficient gettering effect in the surface of a substrate in which devices are formed in a plurality of substrates by treating the surface so as to form crystal defects therein.例文帳に追加

基板のうちデバイスが形成される側の表面に結晶欠陥形成されるようにし、十分なゲッタリング効果が得られるようにすること。 - 特許庁

A surface defect detector 3 is provided on an inspection line and the surface defects of a cold-rolled steel sheet 1 are detected and input to a marking controller 5.例文帳に追加

検査ラインには表面欠陥検出器３が設けられ、冷延鋼板１の表面欠陥を検出してマーキング制御装置５に入力する。 - 特許庁

To provide a device and method for inspecting an external appearance that can detect defects present on the top surface and reverse surface of a sample at the same time.例文帳に追加

試料の表面及び裏面に存在する欠陥を同時に検出することが可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor wafer, in which a wafer reduced in roughness due to a surface reforming heat treatment and having less sticking of foreign matter and less surface layer defects is obtained.例文帳に追加

表面改質熱処理によるラフネスを低減でき、異物の付着や表層欠陥が少ないウェーハが得られる製造方法を提供する。 - 特許庁

To reduce development defects while a developing film is formed over the entire area of a surface of a substrate even when the surface of the substrate has large water repellency.例文帳に追加

基板の表面の撥水性が大きくても基板の表面の全域に亘って、現像膜を形成することができ、現像欠陥を低減すること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of manufacturing an aluminum tube which is free from surface defects like white scratches and is superior in surface quality, with high production efficiency.例文帳に追加

白ムシレ等の表面欠陥を生じることがなくて、表面品質に優れたアルミニウム管を生産効率良く製造できる製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electrogalvanized steel sheet in which the generation of unevenness caused by surface defects in an original sheet after plating can be prevented, and which has excellent surface appearance.例文帳に追加

めっき後に原板の表面欠陥に起因するムラの発生を防止できる、表面外観に優れる電気亜鉛系めっき鋼板を提供する。 - 特許庁

To provide a polyester film suitable for a support for interlayer insulating material, to roughen the surface of an interlayer insulating layer and prevent defects of the surface.例文帳に追加

層間絶縁層表面の低粗度化と欠陥防止に対応できる、層間絶縁材料用支持体として好適なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To inexpensively manufacture galvannealed steel sheet having excellent surface appearance, which generates no unevenness caused by surface defects in an original sheet.例文帳に追加

原板の表面欠陥に起因するムラの発生が無い、優れた表面外観を有する電気亜鉛めっき鋼板を安価に製造できるようにする。 - 特許庁

To provide a mold in which projecting defects existing on the surface of a protective film can be removed and scratches will not be produced on the surface of the protective film.例文帳に追加

保護膜の表面に存在する凸欠陥を除去することができ、保護膜の表面にスクラッチを生じることのない成形用金型を提供すること。 - 特許庁

To provide a high-strength base film for a flexible disk, which has a flat surface, reduces surface defects, particularly, surface flaws, and has a low rate of heat shrinkage and excellent dimensional stability.例文帳に追加

表面が平坦で、表面欠点、特に表面傷が少なく、高強度でかつ熱収縮率が小さく、また寸法安定性に優れたフレキシブルディスク用ベースフィルムの提供。 - 特許庁

To provide an apparatus to detect defects on the upper surface (6a), the edge surface (6b) and the lower surface (6c) in the edge portion of a wafer (6) by a simple method, and a defect image picking-up method.例文帳に追加

ウエハ（６）縁部の上部表面（６ａ）、端面（６ｂ）及び下部表面（６ｃ）の欠陥を簡単な方法で検査できる装置及び欠陥画像撮像方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a surface inspection device with enhanced inspection accuracy on defects on a surface of an inspecting object by suppressing the influence of the surface condition of the inspecting object on the inspection accuracy.例文帳に追加

被検査物の表面の状態が検査精度に与える影響を抑えて被検査物表面の欠陥の検査精度を向上させることが可能な表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a composition for polishing capable of causing a small amount of surface residues and preventing micropits, microprotrusions and other surface defects from occurring and obtaining an excellent processed surface.例文帳に追加

表面残留物の発生が少なく、微細なピット、微小突起及びその他の表面欠陥の発生を防止でき、優れた加工表面を得られる研磨用組成物を提供する。 - 特許庁

To provide an acrylic resin film which has good handleability, is excellent in toughness and impact resistance, has a high surface hardness, and has excellent surface smoothness that is almost free of surface defects.例文帳に追加

フィルムの取扱い性が良く,靱性や耐衝撃性に優れ、表面硬度が高く、表面欠点がほとんどない良好な表面平滑性を有する、アクリル系樹脂フィルムを提供。 - 特許庁

To provide a nitriding treatment method by which an oxide film on the surface of maraging steel is removed to activate the metal surface, and defects are not caused on the metal surface.例文帳に追加

マルエージング鋼表面の酸化被膜を除去して金属表面を活性化することができ、しかも該金属表面に欠陥を生じることのない窒化処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electromagnetic wave-shielding filter which is arranged on the front surface of a display such as a CRT or PDP to shield electromagnetic waves generated from the display, and in which black and white dotted defects, linear defects or rectangular defects hardly occur on a metal pattern surface, or irregularity of blackening is not viewed thereon, and visibility of a display image is good.例文帳に追加

ＣＲＴ、ＰＤＰなどのディスプレイの前面に配置して、ディスプレイから発生する電磁波を遮蔽し、且つ、金属パターン面に黒と白の点状欠点、線状欠点、或いは矩形状欠点が発生しにくい、又は、黒化度のムラが目視されない、ディスプレイ画像の視認性が良好な電磁波遮蔽フィルタを提供する。 - 特許庁

During that time, the printing surface to a front surface side of the sheet paper is imaged with an image pickup camera illuminating the printing surface by an illuminating light source 33 to judge presence of defects on the printing surface by a judging means based on the image pickup data.例文帳に追加

この間、枚葉紙の表面側の印刷面を照明光源３３により照明しながら撮像カメラにより撮像し、撮像データをもとに判定手段により印刷面の欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

A top surface 2C of the ampoule 2 is imaged by irregular reflection due to defects such as an air bubble 14 or a horn formed on the top surface based on horizontal irradiation light 9 irradiated to the top surface 2C by the image processing device 7, and a picked-up image about the defects formed on the top surface 2C by the image processing device 1.例文帳に追加

撮像処理装置７によって、天面２Ｃに照射された水平照射光９に基く天面に形成された気泡１４又はツノ等の欠陥による乱反射光によってアンプル２の天面２Ｃを撮像し、画像処理装置１によって天面２Ｃに形成された欠陥についての撮像画像を形成する。 - 特許庁

Thereby, the light rays emitted from the defects C and D illuminate the same position on the imaging surface 16 as shown in the figure.例文帳に追加

よって、図に示すように、欠陥Ｃ、Ｄから放出された光は、撮像面１６の同じ位置を照明する。 - 特許庁

Consequently, a void defect elimination rate is accelerated in at least the surface layer of the wafer and the void defects are eliminated.例文帳に追加

これにより、少なくともウェーハ表層のボイド欠陥の消滅速度が促進し、このボイド欠陥が消滅される。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a silicon wafer which can eliminate minute defects that exist in a surface layer where a device is formed.例文帳に追加

デバイスが形成される表層に存在する微小欠陥を消滅可能なシリコンウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a scratch-resistant resin plate which suppresses generation of projecting surface defects.例文帳に追加

本発明の課題は、凸状の表面欠陥の発生が抑制された耐擦傷性樹脂板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inkjet recording medium without causing surface defects such as pits and removal defect, and is manufactured by casting.例文帳に追加

ピットやトラレ等の表面欠陥がない、キャスト処理により製造されるインクジェット記録媒体を提供することである。 - 特許庁

To identify a poor surface blank accurately at low running costs without producing extra defects.例文帳に追加

安いランニングコストで余分な不具合を生じさせることなく、的確に表面不良ブランクを識別できるようにすることである。 - 特許庁

To inspect defects, such as a stuck matter, a flaw, color unevenness, and gentle unevenness of thickness, on the surface of a material to be inspected, at high speed.例文帳に追加

被検査物表面の付着物、キズ、色ムラ並びに緩やかな凹凸厚みムラ等の欠陥を高速に検査する。 - 特許庁

To provide a thermosetting resin decorative material not generating appearance defects such as orange peel, wrinkles, discoloration or the like on its surface.例文帳に追加

柚子肌、皺、変色等の表面の外観欠陥を生じない熱硬化性樹脂化粧材を提供すること。 - 特許庁

To produce an m-plane GaN crystal excellent in surface flatness by reducing crystal defects at terrace edges.例文帳に追加

テラスエッジ部上の結晶欠陥を低減し、かつ表面平坦性に優れたｍ面ＧａＮ結晶を製造すること。 - 特許庁

To take high-resolution fringe images when checking up wide steel plates and detect minute surface defects.例文帳に追加

幅の広い鋼板を検査する際に高分解能な縞画像を撮像して、微小な表面欠陥を検出すること。 - 特許庁

To provide a continuous electrolytic plating apparatus for web which can form a high quality plated film less in surface defects.例文帳に追加

表面欠点の少ない高品位なめっき被膜が製膜可能なウェブの連続電解めっき装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an airbag cover preventing its exterior defects from appearing on the surface thereof and its manufacturing method.例文帳に追加

外観上の欠点がエアバッグカバーの表面に生じることが防止されたエアバッグカバー及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for protecting the surface of an SiC substrate having no defects in a conventional technology.例文帳に追加

本発明の目的は、従来技術の欠点を有さない、ＳｉＣ基板の表面の保護を提供することである。 - 特許庁

To provide special float glass being reduced in the number of surface defects when appeared from a floating chamber and its manufacturing method.例文帳に追加

フロート室からの出現時に表面欠陥数の少ない特殊フロートガラス及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of smoothing the surface of a substrate for an EUV mask blank having concave defects such as pits and scratches.例文帳に追加

ピットやスクラッチのような凹欠点を有するＥＵＶマスクブランク用の基板表面を平滑化する方法の提供。 - 特許庁