「surface defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a surface treatment method for an aluminum pipe for a photosensitive drum base member, enabling production of aluminum pipes with superior surface quality without fine split-like defects.例文帳に追加

ササクレ状凸欠陥のない表面品質に優れたアルミニウム管の製造が可能となる感光ドラム基体用アルミニウム管の表面処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface analysis pretreatment method which enables surface analysis pretreatments on specific minute defects present in glass highly reliably and easily to be performed.例文帳に追加

ガラスの内部に存在する特定の微小欠陥の表面分析前処理を、確度が高く、かつ容易に実施できる表面分析前処理方法を提供する。 - 特許庁

To allow flaws of a transparent resin film or fine surface defects of a transparent resin film with a transparent resin layer laminated thereon to be efficiently detected on a one-side surface only.例文帳に追加

透明樹脂フィルムのキズ、あるいはその上に透明樹脂層が積層された透明樹脂フィルムの微細な表面欠陥を、片側表面のみ効率よく検出する。 - 特許庁

The defect detection parameters determine what degree the difference between the surface image of a normal semiconductor wafer and the surface image of a semiconductor wafer having defects is allowed.例文帳に追加

欠陥検出パラメータは、正常な半導体ウェハの表面画像と、欠陥が生じている半導体ウェハの表面画像との差をどの程度許容するか定めている。 - 特許庁

To attain surface roughness at a low level, surface defects at a low level and high polishing speed in the manufacture of a glass substrate for a magnetic disk.例文帳に追加

磁気ディスク用ガラス基板の製造において、低いレベルの表面粗さ、低いレベルの表面欠陥、早い研磨速度を共に実現することができる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a mold flux for the continuous casting which prevents the occurrence of defects caused by inclusions occurring on the surface layer of a cast slab, and at the same time, the occurrence of longitudinal cracks occurring on the surface of the cast slab.例文帳に追加

鋳片表層に発生する介在物性の欠陥と同時に、鋳片表面に発生する縦割れを防止する連続鋳造用モールドフラックスを提供する。 - 特許庁

To improve the problem of defects such as a scratch onto a surface layer and enhance yields and mass-productivity, in a polishing process of a surface of an optical recording medium.例文帳に追加

光記録媒体の表面の研磨加工において、表面層に対するスクラッチ等の欠陥発生の問題を改善し、歩留りの向上、量産化を阻害はかる。 - 特許庁

To accurately set the end point of a defective echo gate, based on a detected bottom surface echo, even if there are defects near the bottom surface of unequal wide plural-layer materials.例文帳に追加

不等板厚材の底面近傍に欠陥がある場合でも、検出される底面エコーに基づいて欠陥エコーゲートの終点を正確に設定できるようにする。 - 特許庁

Machining is carried out after control of the hardness Hv of the sputter surface to ≥20, to suppressed the development of surface defects due to working and to prevent abnormal discharges.例文帳に追加

スパッタ面側の硬度をＨｖ２０以上に調整した後、機械加工を行なうことにより、加工に伴なう表面欠陥の発生を抑制し、異常放電の発生を防ぐ。 - 特許庁

To provide a surface layer evaluating method for a semiconductor wafer, wherein the method can evaluate distribution of electrically active defects and contaminations in the depth direction of a surface layer of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェーハの表層の深さ方向における電気的に活性な欠陥や汚染の分布を評価可能な半導体ウェーハの表層評価方法を提供する。 - 特許庁

In this case, since the formed bore portion can be formed as a surface having a fixed depth from the casting boundary, the surface which can reduce number of defects, such as blow hole, is obtained.例文帳に追加

この場合に形成されたボア部分は鋳造界面から一定深さの面とすることができるので鋳巣等の欠陥の数を低減できる面とすることができる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a surface protective film having a surface with high gloss and free from defects for at least one of surfaces thereof.例文帳に追加

本発明は、少なくとも一つの面に高光沢でかつ欠陥の無い表面を有する表面保護フィルムを製造することができる方法を提供するという課題に基づく。 - 特許庁

To provide a coating composition with which surface defects such as a surface waving phenomenon generated during forming a magnesium alloy molded body can be easily repaired.例文帳に追加

マグネシウム合金成形物の成形時に生じる表面の波打ち現象等の表面欠陥を容易に補修することができる塗料組成物を提供すること。 - 特許庁

In the defect inspection method, the surface of a wafer 7 is photographed by a differential interference microscope, and the number of defects observed on the surface is counted by image processing.例文帳に追加

ウェーハ７の表面を微分干渉顕微鏡で撮影し、画像処理によって表面に観察される欠陥の個数を計数する欠陥検査方法である。 - 特許庁

To detect defects in a minute wiring pattern formed on a sample by improving the contrast of an optical image of the sample formed by the interference between the zeroth and higher-order diffracted light of reflected light arising from illuminating light reflected by the sample surface, in a defects detecting optical system which detects defects in a pattern formed on the sample surface.例文帳に追加

試料表面に形成したパターンの欠陥を検出する欠陥検出光学系において、照明光により試料表面で反射した反射光の０次光と高次回折光の干渉により形成される試料の光学像のコントラストを向上させることにより、試料上に形成された微細な配線パターンの欠陥を感度良く検出する。 - 特許庁

To provide a method for simply and more accurately evaluating the number, intra-surface distribution, and density of crystal defects existing within a surface of a substrate, etc., as to an evaluation method wherein the substrate is etched by means of anisotropic etching to expose etching residues owing to crystal defects and the crystal defects are evaluated based on the etching residues.例文帳に追加

異方性エッチングによって基板をエッチングし、結晶欠陥に起因したエッチング残渣を露出させ、前記エッチング残渣に基づいて結晶欠陥を評価する評価方法において、基板等の表面内部に存在する結晶欠陥の数、面内分布及び密度等を簡便かつより高精度に評価する方法を提供する。 - 特許庁

The invention includes the method for detecting the defects on the surface of the plate which irradiates the surface of the transparent or translucent plate with a light, and detects the defects by processing an image obtained by an imager for imaging the reflection light.例文帳に追加

本発明は、透明または半透明の板状体の表面に光を照射し、その反射光を撮像装置によって撮像して得られた画像を用いて画像処理を行うことで欠陥を検出する板状体の欠陥検出方法に係るものである。 - 特許庁

To provide a method for detecting defects on a surface of a plate which detects the defects in the plate, the minor irregularity in the plate and a region in which the linear irregularity extends regardless of a difference between reflection coefficients on the surface of the plate.例文帳に追加

本発明は、板状体の表面の反射率の差に関わらず、板状体の欠陥、微細な凹凸、凹凸がスジ状に伸びている箇所等を検出することができる板状体の表面の欠陥検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test data processing apparatus and a test data processing method for simply determining defects of foreign matter deposited on a surface using a conventional test method and to process data so as not to treat the foreign matter deposited on the surface as defects.例文帳に追加

本発明の目的は、従来の検査方法を用いて、簡単に表面付着異物の欠点を判定し、表面付着異物は欠点として扱わないようにデータ処理する検査データ処理装置及び検査データ処理方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a rubbing method with which defects of a surface due to alignment defects are greatly reduced in rubbing processing in manufacture of an optical film, and also to provide a method and an apparatus for manufacturing the optical film.例文帳に追加

光学フィルムの製造におけるラビング処理において、配向不良に起因する表面の欠陥を大幅に低減させることができるラビング方法、光学フィルムの製造方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a process for producing an electrophotographic photoreceptor which makes it possible obtain good image printing quality by coating application formation of a layer which is free of coating application defects to be the cause for image printing defects and is uniform over the entire surface of a conductive substrate.例文帳に追加

印字不良の原因となる塗布欠陥がなく、導電性基体全面にわたり均一な層を塗布形成し良好な印字品質が得られる電子写真感光体の製造方法を提供すること。 - 特許庁

An oxide film as a film having positive charge is added to the surface of a semiconductor substrate having a gettering layer composed of oxygen-induced defects (BMD: Bulk Micro Defects) in the region in a semiconductor substrate different from a device active region.例文帳に追加

デバイス活性領域と異なる半導体基板内部の領域に、酸素起因欠陥（ＢＭＤ）よりなるゲッタリング層を有する半導体基板の表面に、正の電荷を有する膜である酸化膜を付加する。 - 特許庁

To provide a phase difference defect inspection device which easily discriminates and detects the residual defect of a phase shifter and the surface flaw defect of a glass substrate from another defects, such as foreign matter (light shielding) defects.例文帳に追加

位相シフターの残存欠陥及びガラス基板の表面傷欠陥を異物（遮光）欠陥等の他の欠陥と区別して検出することを簡便に行なう位相差欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting defects appropriately detecting defects on the surface of a band body such as a thin steel plate to be inspected for a defect, by accurately specifying the position of the edge of the band body.例文帳に追加

疵の検査対象である薄鋼板等の帯状体のエッジの位置を精度良く特定して帯状体表面の疵を適切に検出する疵検査装置及び疵検査方法を提供すること。 - 特許庁

To manufacture an Al-alloy member free from defects, to say nothing of cracks, and having far superior mechanical properties by a low-cost process without needing any machining for removing fine cracks and defects in a surface layer.例文帳に追加

表層の微細クラックおよび欠陥を除去する機械加工等を不要にし、クラックはおろか欠陥すらも残留しない、機械特性により優れたＡｌ系合金部材を安価な工程で製造可能にする。 - 特許庁

To provide a method for relieving defective surface stresses in a semiconductor substrate, without newly generating thermal distortion and defects on the semiconductor substrate, and for reducing crystal defects.例文帳に追加

半導体基板上に新たな熱歪みや欠陥を発生させることなく半導体基板中の欠陥性表面応力を緩和し、結晶欠陥の低減を実現する欠陥性表面応力の緩和方法を提供する。 - 特許庁

To provide a welding method which does not cause defects of the formation of a recess at an abutting surface when the abutting surface is subjected to high frequency induction welding by butting the end faces of a plurality of thermoplastic resin plates and the defects of warpage when the welded part of the abutting surface shrinks after high-frequency induction welding.例文帳に追加

複数の熱可塑性樹脂板の端面を突合せて、突合せ面を高周波誘電溶着した場合に、突合せ面に凹みが出来てしまうという欠点や、高周波誘電溶着後に、突合せ面の溶着部分が収縮する際に反りが生じるという欠点が生じない溶着方法を提供する。 - 特許庁

To provide a seamless belt preventing defects occurring on a surface (surface defects) such as a bumpy surface or cracked patterns and with good detachability made of smooth and homogeneous film state polyimide or polyamidoimide with uniform dispersion of inorganic filler and no residual air bubbles, in the seamless belt for electrophotography.例文帳に追加

電子写真装置用シームレスベルトにおいて、ゆず肌・亀甲模様など、表面に生ずる欠陥（表面性欠陥）を防止すると同時に、無機充填剤の分散が均一でかつ気泡の残存のない平滑で均質な膜状態のポリイミドまたはポリアミドイミド製で剥離性のよいシームレスベルトを提供する。 - 特許庁

This method for removing projecting defects consists of removing the projecting defects on the aluminum tube stock surface by irradiating the aluminum tube stock 1 with an ultrasonic wave b in the washing stage for the aluminum tube stock 1 for the photoreceptor to positively raise the aluminum deposit on the tube stock surface and rubbing and washing the aluminum tube stock surface by a brush in this state.例文帳に追加

感光体用のアルミ素管１の洗浄工程において、超音波ｂをアルミ素管１に照射することにより、素管表面のアルミ熔着物を積極的に起き上がらせ、この状態で、アルミ素管表面をブラシｃで摺擦洗浄することにより、アルミ素管表面の凸欠陥ｅを除去する。 - 特許庁

To provide a method and device for inspecting a semiconductor, that can measure and evaluate micro roughness, crystal defects, and surface foreign objects by separating influences given by each to the others in the method for measuring either of the micro roughness, crystal defects, and surface foreign objects near the crystal surface.例文帳に追加

本発明は、結晶表面近傍のマイクロラフネス、結晶欠陥、表面異物のいずれかを計測する計測方法において、それぞれが他の計測に与える影響を分離したマイクロラフネス、結晶欠陥、表面異物の計測、評価が可能である半導体検査方法と装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To greatly reduce surface defects caused by defective alignment in the manufacturing of an optical film, especially in the manufacturing of an optical compensating film.例文帳に追加

光学フィルムの製造、特に、光学補償フィルムの製造において、配向不良に起因する表面の欠陥を大幅に低減させる。 - 特許庁

To provide a surface-roughened optical film free of unevenness or defects, a method for producing the same, a polarizing plate and an image display device.例文帳に追加

ムラ、欠陥がない表面凹凸形状光学フィルム、その製造方法及び偏光板、画像表示装置を提供することである。 - 特許庁

To improve the effect for hiding defects on the appearance such as bulge and dent and visual confirmation property for a mark in serration on a surface of a side wall.例文帳に追加

サイドウォール表面のセレーションにおいて、バルジ・デント等の外観不良への隠匿効果や標章の視認性を向上させる。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for accurately detecting defects on the surface of an object to be inspected even if the spectral characteristics of illumination light change.例文帳に追加

照明光の分光特性が変化しても、被検物体の表面の欠陥を正確に検出できる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vertical pickling device for steel sheet which can reduce spot-shaped surface defects caused by an acid liquid in an electroplating line.例文帳に追加

電気めっきラインにみられる酸液に起因したしみ状の表面欠陥を低減できる鋼板の縦型酸洗装置を提供する。 - 特許庁

To supply polishing composition that produces high-quality polished surface without causing defects while maintaining a high polishing speed.例文帳に追加

高い研磨速度を維持しながら且つ表面欠陥のない高品質の研磨面を生ぜしめる研磨用組成物を提供すること。 - 特許庁

To provide a disk processing method which can alleviate defects that lamination is performed while a residue adheres to a surface of a disk.例文帳に追加

ディスクの表面に残渣物が付着したままで積層されてしまう不具合を軽減することができるディスク加工方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technique for melting a Ti-containing ferritic stainless steel without clogging of immersion nozzle and obtaining a cast slab free from surface defects.例文帳に追加

Ti含有フェライト系ステンレス鋼を浸漬ノズル閉塞なく溶製し、かつ表面欠陥のない鋳片を得ることのできる技術を開発する。 - 特許庁

To obtain a capacitance sensor capable of stably preventing sticks by effectively suppressing defects on a contact surface on butting.例文帳に追加

衝接した際の接触面の欠損をより効果的に抑制して、スティックを安定的に防止することができる静電容量式センサを得る。 - 特許庁

To provide a high quality cast slab by simultaneously reducing cracks on the cast slab surface and inclusion defects in the inner part of the cast slab.例文帳に追加

鋳片表面の割れと鋳片内部の介在物欠陥を同時に少なくすることにより、高品質の鋳片を提供するものである。 - 特許庁

To provide a method of facilitating production of aluminum tube for photoreceptor drum substrate which is superior in surface quality, with very few protrusive defects.例文帳に追加

凸状欠陥が非常に少ない表面品質に優れた感光ドラム基体用アルミニウム管を容易に製造する方法を提供する。 - 特許庁

To evaluate various photoreptor characteristics related to electrophotography simultaneously with detection of defects on the surface of a photoreceptor.例文帳に追加

感光体表面の欠陥を検出する欠陥検出と、電子写真に関わる種々の感光体特性の評価とを同時に行う。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR POWDERING, POWDERING SYSTEM AND IN PARTICULAR USE IN INSTALLATION FOR DETECTING SURFACE DEFECTS BY SWEATING例文帳に追加

粉体散布のための方法と装置および、粉体散布システム、特に浸出により表面欠陥を検出する設備におけるその使用 - 特許庁

To provide a method of easily producing an aluminum tube for photoreceptor drum substrate which is superior in surface quality, free from finely split protrusive defects.例文帳に追加

ササクレ状凸欠陥のない表面品質に優れた感光ドラム基体用アルミニウム管を容易に製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a preventing method of buckling in a width press by which the optimum pressure without causing any surface defects is applied to a press roll.例文帳に追加

表面疵を発生させない最適な押えロールの押圧を与える、幅プレスの座屈防止方法を提供することを目的とする。 - 特許庁