「test flash」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The camera 100 performs test flash photography by emitting the flash 200 and this photographic image is sent to the flash meter 1.例文帳に追加

カメラ１００はフラッシュ２００を発光してテストフラッシュ撮影を行い、その撮影画像はフラッシュメータ１に送信される。 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR MICROCOMPUTER HAVING BUILT-IN FLASH EEPROM, AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

フラッシュＥＥＰＲＯＭ内蔵マイクロコンピュータの試験回路及びその試験方法 - 特許庁

To provide a test method and a test device testing a flash memory in a short time.例文帳に追加

フラッシュメモリを短時間に試験する試験方法と、試験装置を提供する。 - 特許庁

EARLY DEGRADATION DETECTION IN FLASH MEMORY USING TEST CELLS例文帳に追加

テストセルを用いたフラッシュメモリの劣化の早期検出 - 特許庁

To provide early degradation detection in flash memories using test cells.例文帳に追加

テストセルを用いたフラッシュメモリの劣化の早期検出を提供する。 - 特許庁

FLASH MEMORY DEVICE PROVIDED WITH REDUNDANCY SELECTION CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

リダンダンシ選択回路を備えたフラッシュメモリ装置及びテスト方法 - 特許庁

To provide a flash memory test system shortening a test time and an electric test method using that.例文帳に追加

検査時間を短縮するフラッシュメモリテスタ及びこれを利用した電気的検査方法を提供する。 - 特許庁

In a final test of a multi-layer memory IC1, a test of a SRAM chip 2 and a test of a flash memory chip 3 are performed in parallel.例文帳に追加

多層メモリＩＣ１のファイナルテストにおいて、ＳＲＡＭチップ２のテストとフラッシュメモリチップ３のテストを並列に行なう。 - 特許庁

When this reception device for disaster information receives the emergency earthquake flash (YES at S03 step) during the execution of the test mode (S02 step), the reception device stops a notification of an emergency earthquake flash in the test mode, and changes over the notification to a notification when receiving the emergency earthquake flash.例文帳に追加

テストモードを実行中に（Ｓ０２ステップ）緊急地震速報を受信すると（Ｓ０３ステップのＹＥＳ）、テストモードにおける緊急地震速報の報知を停止し、緊急地震速報を受信した際の報知に切り替える。 - 特許庁

A notification form of the emergency earthquake flash in the test mode and a notification form when receiving the true emergency earthquake flash are varied.例文帳に追加

尚、テストモードにおける緊急地震速報の報知形態と、本当の緊急地震速報を受信した際の報知形態とを異ならせる。 - 特許庁

To provide a flash light emission confirming device by which the result of the test light emission of flash can be easily confirmed.例文帳に追加

フラッシュのテスト発光の結果を容易に確認することができるフラッシュ発光確認装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the test time, before product shipment by adding a simple constitution to a flash memory.例文帳に追加

フラッシュメモリに簡単な構成を付加することにより製品出荷前の試験時間を短縮する。 - 特許庁

To reduce a test time of a semiconductor device with a flash ROM mounted thereon.例文帳に追加

フラッシュＲＯＭを搭載した半導体装置のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

Then, the microcomputer 31 executes a hardware test based on the software for a test mode written in the flash ROM 32b.例文帳に追加

次に、マイクロコンピュータ３１は、フラッシュＲＯＭ３２ｂへ書き込まれたテストモード用ソフトウエアに基づいて、ハードウエアテストを実行する。 - 特許庁

Test signal emitters 20a to 20d and test signal receivers 21a to 21d arranged around the camera flash 10 are used.例文帳に追加

本発明の装置は、カメラフラッシュ１０の周辺に配置される試験信号エミッタ２０ａ〜２０ｄ及びレシーバ２１ａ〜２１ｄを利用する。 - 特許庁

To provide a test device for a semiconductor device which can test in a short time by increasing operation speed of trimming operation of a flash memory.例文帳に追加

フラッシュメモリのトリミング動作を高速化し、短時間に済ませることができる半導体デバイス試験装置を提案する。 - 特許庁

To provide a flash memory device wherein time required for a stress test can be reduced and to provide a stress test method.例文帳に追加

ストレステスト時間を減らすことができるフラッシュメモリ装置とそのストレステスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which a flash EEPROM capable of executing efficient burn-in test is built and provide its burn-in test method.例文帳に追加

効率のよいバーインテストを実施可能なフラッシュＥＥＰＲＯＭを内蔵する半導体集積回路、及び、そのバーインテスト方法の提供。 - 特許庁

A flash memory 101 is set to a test mode by setting a test pad TP to a L level.例文帳に追加

テストパッドＴＰをＬレベルに設定することによってフラッシュメモリ１０１はテストモードにセットされる。 - 特許庁

To obtain a flash point detecting device which is suitable for a test of the dielectric strength of a gas insulated electric device and can improve the efficiency of test operation.例文帳に追加

ガス絶縁電気装置の耐電圧試験に適し、試験作業の能率を向上させることができる閃絡点検出装置を得る。 - 特許庁

Disclosed is a test system including at least 100 flash memory devices and a mass test board.例文帳に追加

少なくとも１００個のフラッシュメモリ・デバイスおよびマス・テスト・ボードを含むテスト・システムを開示する。 - 特許庁

To provide a NAND type flash memory in which a test time can be shortened by reducing largely a time for inputting data for test.例文帳に追加

テスト用のデータを入力する時間を大幅に削減して、テスト時間の短縮を図ることが可能なＮＡＮＤ型フラッシュメモリを提供する。 - 特許庁

For example, a test of the flash memory chip 3 is performed during a data holding period of a hold-test of the SRAM chip 2.例文帳に追加

たとえばＳＲＡＭチップ２のホールドテストのデータ保持期間内にフラッシュメモリチップ３のテストを行なう。 - 特許庁

When a test switch provided in the emergency warning device is operated, test notification of fire warning is issued by the emergency earthquake news flash device 25, and a device event signal about the test is send to the residential fire alarms 10-1 to 10-6 to carry out the test notification of an emergency earthquake news flash or a tsunami warning.例文帳に追加

緊急警報装置２５に設けた試験スイッチを操作すると、緊急地震速報装置２５で火災警報の試験報知が行われると共に、試験を示す装置イベント信号が警報器１０−１〜１０−６に送られ、緊急地震速報や津波警報の試験報知が行われる。 - 特許庁

This is particularly useful in the present case of combined functional logic and flash EEPROM, where three probings are generally required for the flash test of EEPROM, the digital test of the functional logic circuit and the analog test of the circuit.例文帳に追加

これはＥＥＰＲＯＭのフラッシュ試験、機能的論理回路のデジタル試験、および同回路のアナログ試験に３回のプローブ作業が一般的に必要な機能的論理回路とフラッシュＥＥＰＲＯＭが組み合わされた本件には特に有用である。 - 特許庁

This automatic photograph making apparatus is equipped with a flash part 110 which emits flash light, a test light 120 which projects light nearly in the projection direction of the flash light, a selection part 130 which determines the color of the flash light to be emitted from the flash part 110, and a shutter button 140 which determines imaging timing.例文帳に追加

本自動写真作成装置は、閃光を放つフラッシュ部１１０と、閃光の投射方向と略同一方向へ光を投光する試しライト１２０と、フラッシュ部１１０から放たれるべき閃光の色を決定する選択部１３０と、撮像タイミングを決定するシャッタボタン１４０とを含む手持ちフラッシュ１００を備える。 - 特許庁

In a post-wafer-sorting stage of device manufacture, a plurality of flash memory devices which each include a flash controller die related to a common housing and at least one flash memory die are passed to a test process such as a batch test process or mass test process.例文帳に追加

デバイス製造のポスト・ウェファ・ソート・ステージ中に、共通ハウジングに関連づけられたフラッシュコントローラ・ダイおよび少なくとも一つのフラッシュメモリ・ダイを各々が含む複数のフラッシュメモリ・デバイスを、例えば、バッチ・テスト・プロセスまたはマス・テスト・プロセス等のテスト・プロセスへ通す。 - 特許庁

To provide a flash memory device and a test method in which a test time and a test cost can be reduced and a redundant memory cell can be tested, without requiring the other circuit.例文帳に追加

別途の回路を不要にして、かつテスト時間とテストコストを削減してリダンダントメモリセルをテストすることができるフラッシュメモリ装置およびテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To reduce test time when defect check of a bit line or a sense amplifier is performed in a wafer test of a NAND flash memory, and furthermore extremely reduce the test time through parallel processing of a plurality of chips.例文帳に追加

NAND型フラッシュメモリのウェハテストに際してビット線またはセンスアンプの不良チェックを行う場合に、テスト時間を短縮し、複数チップの並列処理によりテスト時間を大幅に縮める。 - 特許庁

The user operates the selection part 130 to determine the color of the flash light to be emitted by the flash part 110, confirms a place to be irradiated with the flash light by using the light projected by the test light 120, and depresses a shutter button 140 in proper timing.例文帳に追加

利用者は、選択部１３０を操作することにより、フラッシュ部１１０から放たれるべき閃光の色を決定するともに、試しライト１２０が投光する光により閃光が照らすべき場所を確認し、適宜のタイミングでシャッタボタン１４０を押下する。 - 特許庁

FLASH MEMORY DEVICE HAVING COLUMN PRE-DECODER WHICH CAN CHOOSE ALL COLUMN SELECTING TRANSISTOR AND ITS STRESS TEST METHOD例文帳に追加

全てのコラム選択トランジスタを選択することができるコラムプリデコーダを有するフラッシュメモリ装置とそのストレステスト方法 - 特許庁

To accurately perform a test of a connection performance to a flash memory and peripheral circuits thereof along with upper address lines.例文帳に追加

フラッシュメモリとその周辺回路との接続性試験を上位アドレス線を含めて適確に行なう。 - 特許庁

To shorten a test time by providing mechanism performing discriminating and adjustment of internal voltage inside of a chip in gate voltage adjustment of a flash memory.例文帳に追加

フラッシュメモリのゲート電圧調整において、チップ内部で内部電圧判定と調整を行う機構を設けることにより、検査の時短を図る。 - 特許庁

When the hardware test ends, a connector 33 for external connection is connected to a flash ROM/EEPROM writer 5 again.例文帳に追加

ハードウエアテストが終了すると、外部接続用コネクタ３３を再度フラッシュＲＯＭ／ＥＥＰＲＯＭライタ５に接続する。 - 特許庁

To provide a reception device for disaster information not causing confusion to a user even if receiving an emergency earthquake flash during execution of a test mode.例文帳に追加

テストモードを実行中に緊急地震速報を受信してもユーザが混乱することがない災害情報受信装置を提供する。 - 特許庁

Before the post-processing test of a flash memory 1 is performed, data of chip codes stored in each flash memory 1, defective block information, etc. are stored in each memory 30 while using pattern data as address data.例文帳に追加

フラッシュメモリ１の後工程試験を行う前に、各メモリ３０は、パターンデータをアドレスデータとして用いて、各フラッシュメモリ１に記憶されたチップコード、不良ブロック情報等のデータを記憶する。 - 特許庁

The acceleration of the container in which the flash is generated is large and the number of light emission display units mounted on the container which illuminate is large, so the container where the flash is generated can easily be specified from the number of the illuminating containers to improve the efficiency of the test operation.例文帳に追加

閃絡が発生した容器の加速度は大きく、当該容器に装着された発光表示器の点灯数が多いので、点灯数から閃絡が生じた容器を容易に特定でき、試験作業の能率が向上する。 - 特許庁

Software for a test mode is written in a flash ROM 32b of a microcomputer 31 by using CAN communication by a flash ROM/EEPROM writer 5 connected to a connector 33 for external connection.例文帳に追加

外部接続用コネクタ３３に接続されたフラッシュＲＯＭ／ＥＥＰＲＯＭライタ５によって、ＣＡＮ通信を利用して、マイクロコンピュータ３１のフラッシュＲＯＭ３２ｂにテストモード用ソフトウエアを書き込む。 - 特許庁

In the step S230, the control unit outputs from a speaker the audio data for the test mode read from the flash memory and displays on a display unit the display data for the test mode read from the flash memory.例文帳に追加

Ｓ２３０ステップにおいて、制御部は、前記フラッシュメモリから読み込んだテストモード用の音声データをスピーカから出力させると共に、前記フラッシュメモリから読み込んだテストモード用の表示データを表示部に表示させる。 - 特許庁

The measuring circuit comprises a pull-down circuit 4 and a pull-up circuit 5 used in a test mode when flash measured to test measure in parallel a flash of each pad 3 as an object to a pellet 1 of a wafer state to eliminate an external level input by fixing an internal input level to a predetermined value, and opens a flash measurement eliminating pad group 30 of the each pad 3.例文帳に追加

この測定回路は、ウエハ状態のペレット１に対し、各パッド３のフラッシュ部を成すものを対象に並列にテスト測定するフラッシュ測定時にテストモードで用いられ、内部での入力レベルを所定値に固定して外部からのレベル入力を不要にするプルダウン回路４及びプルアップ回路５を具備して各パッド３のフラッシュ測定不要パッド群３０をオープンにする。 - 特許庁

To provide an efficient semiconductor memory and its test method which can improve test accuracy for products under-estimated in non-volatile memories such as a flash memory and the like and can cope with more various kinds.例文帳に追加

フラッシュメモリなどの不揮発性メモリにおける過小評価された製品の検査精度を上げることができ、より多品種に対応できる効率的な半導体記憶装置およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit test device and its method capable of efficiently performing a test of an object of writing, reading and eliminating the data, by a unit of a block of a specific size of a flash memory and the like.例文帳に追加

フラッシュメモリ等の特定の大きさのブロックを単位として、データの書き込み、読み出し、及び消去を行う被試験対象の試験を効率的に行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To shorten a test time by parallel processing of a plurality of chips when defect check of a bit line or a sense amplifier is performed in a wafer test of a NAND type flash-memory.例文帳に追加

NAND型フラッシュメモリのウェハテストに際してビット線またはセンスアンプの不良チェックを行う場合に、テスト時間を短縮し、複数チップの並列処理によりテスト時間を大幅に縮める。 - 特許庁

To provide a circuit in which an address is not fixed in a test mode and a defect mode of address multiplexed selection can be detected by a read test for NOR flash memory and the like.例文帳に追加

テストモード時にアドレスを非固定状態にする回路を提供し、ＮＯＲ型フラッシュメモリ等について、Ｒｅａｄテストによってアドレス多重選択の不良モードの検出を可能とすることを目的とする。 - 特許庁

To provide an automatic generating method for a LSI test pattern program which can generate automatically a test pattern program easily when capacity, the number of I/O, and the like are changed, its device, and a LSI test method, in a semiconductor memory such as a DRAM, a SRAM, a FLASH, or the like.例文帳に追加

ＤＲＡＭやＳＲＡＭやＦＬＡＳＨなどの半導体メモリにおいて、容量やＩ／Ｏ数などが変更されたとき容易にテストパターンプログラムを自動生成できるようにしたＬＳＩテストパターンプログラム自動生成方法およびその装置並びにＬＳＩテスト方法を提供することにある。 - 特許庁