「test program set」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A test result is stored by performing the test by transmitting the program to a test means under a condition set by the user, and is registered as code violation place information by detecting a code violation place from the program.例文帳に追加

ユーザにより設定された条件でプログラムをテスト手段に送信してテストを行ってテスト結果を記憶し、プログラムから規約違反箇所を検出して規約違反箇所情報として登録する。 - 特許庁

To perform an effective ECC functional test by program in which all data patterns can be set only for test object address data and ECC data.例文帳に追加

検査対象アドレスのデータとＥＣＣデータだけについて全データパターンを設定できプログラムによる有効なＥＣＣ機能検査を実行する。 - 特許庁

The attack object specified by a setter 705 is set to the test object of the program code of a program code model list table 107.例文帳に追加

設定部７０５にて特定された攻撃対象を、プログラムコード雛形一覧テーブル１０７のプログラムコードの試験対象に設定する。 - 特許庁

When the amount of test pieces on which the test is finished reach a previously set amount, the macro program is executed to carry out various data processing based on test data in the temporal storage area.例文帳に追加

試験が終了した試験片の数量が予め設定した数量に達すると、マクロプログラムを実行し、一時記憶領域の試験データに基づいて各種のデータ処理を行う。 - 特許庁

This simulation system includes: a test result database storing test result data set with an output result of a tested device (DUT) model to a prescribed test item; and a framework operating the test plan program.例文帳に追加

シミュレーションシステムは、所定のテスト項目に対する被試験デバイス（ＤＵＴ）モデルの出力結果を設定した試験結果データを格納する試験結果データベースと、テストプランプログラムを動作させるフレームワークとを備える。 - 特許庁

The test control logic can be connected to the output pin and is composed to generate a set of test output signals that a user can program.例文帳に追加

テスト制御ロジックは、出力ピンに接続することができ、ユーザがプログラムできる一組のテスト出力信号を生成するように構成されている。 - 特許庁

An operator uses the personal computer to create and store a macro program for processing by a previously set amount of test pieces prior to the test.例文帳に追加

作業者は、試験に先立って、パーソナルコンピュータを使用して、予め設定した数量の試験片ごとに処理するマクロプログラムを作成して記憶する。 - 特許庁

The system is provided with a set value acquiring means for acquiring a set value set to the virtual tester means from the virtual tester means on the test program, and a converting means for converting the set value from the set value acquiring means into wide use format data easily performing conversion on the test program.例文帳に追加

本装置は、テストプログラムに基づいて、仮想テスタ手段に設定された設定値を、仮想テスタ手段から取得する設定値取得手段と、この設定値取得手段からの設定値を、テストプログラムに変換が容易に行える汎用フォーマットデータに変換する変換手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

In the test time shortening processing, the time shortening device 22 performs the processing of interchanging the execution sequence of test items of the test program 50 so that an average execution time on conforming items may become in ascending order on the basis of both test execution time set in advance corresponding to each test described in the test program 50 and the probability of occurrence of defective units.例文帳に追加

この試験時間短縮処理は、時間短縮装置２２が、試験プログラム５０に記述されている各試験に対応する、予め設定された試験実行時間と、不良品発生確率とに基づいて、良品に対する平均実行時間を昇順となるように試験プログラム５０の試験項目の実行順序を入れ替える処理である。 - 特許庁

Next, a predetermined value is set for the argument, and a test pattern including the test program and the argument set with the predetermined value is created and supplied to the semiconductor circuit to be tested.例文帳に追加

次に、前記引数に所定の値を設定して、前記テストプログラムおよび前記所定の値が設定された引数を含むテストパタンを生成し、前記テスト対象の半導体回路に供給する。 - 特許庁

A test of the computer system is executed, by using the test program stored in the 1st divided area, and after completing the test, the image data file stored in the 2nd divided area is developed to be set in an arbitrary preinstalled state.例文帳に追加

そして、該第１分割領域のテストプログラムを使用してコンピュータシステムのテストを実行し、テスト終了後に前記第２分割領域のイメージデータファイルを展開して任意のプレインストール状態にする。 - 特許庁

At the time of a test, a program data set circuit 15 can write a test pattern to the memory cell array 14 without passing through the shift register 12 by outputting set signals SA0, SA1 making forcedly the data latch circuit 13 a set state to the data latch circuit 13, and a transfer time of a test pattern can be omitted.例文帳に追加

テスト時に、プログラムデータセット回路１５は、データラッチ回路１３を強制的にセット状態にするセット信号ＳＡ０,ＳＡ１をデータラッチ回路１３に出力することによって、シフトレジスタ１２を介さずにテストパターンをメモリセルアレイ１４に書き込みでき、テストパターンの転送時間を省ける。 - 特許庁

A control means 14 having an in-circuit test function 11, a function test function 12 and a communication test function 13 and collectively controlling the operations of these test functions and the operation procesure thereof according to the test program set in a circuit board is provided.例文帳に追加

インサーキットテスト機能１１と、ファンクションテスト機能１２と、通信テスト機能１３とを一体に備え、これらの各テスト機能の動作とその動作手順を、前記回路基板に対して設定したテストプログラムに従って一括管理して制御する制御手段１４とを備える。 - 特許庁

When the STAB program is set to be dinamically patched according to the module tests while a test target program is loaded to a debugger, a plurality of module tests can be carried out while loaded the debugger, and consequently, test man-hours can be reduced.例文帳に追加

テスト対象プログラムをデバッガにロードした状態で、モジュールテストに合わせてスタブプログラムをダイナミックにパッチ設定することで、デバッガにロードした状態で複数のモジュールテストが可能となるため、テスト工数が削減できる。 - 特許庁

In generating the source code, a setting method configuring a program for setting the test data of input items is generated as well as the source code, and before the test, the setting method is called, and test data are set, and during the test, the setting method is called, and the display screen is displayed with the test data set in the input items.例文帳に追加

このテスト方法において、ソースコード生成時に、ソースコードと共に入力項目のテストデータを設定するためのプログラムとなる設定メソッドを生成し、テスト実行前に、設定メソッドを呼び出してテストデータを設定し、テスト実行時に、設定メソッドを呼び出して入力項目内にテストデータが設定された状態で表示画面を表示する。 - 特許庁

To provide an IC tester capable of impressing a proper off-set voltage without setting the off-set voltage by a test program, and capable of suppressing an overrange.例文帳に追加

オフセット電圧をテストプログラムで設定することなく、適切なオフセット電圧を与えることができ、オーバーレンジを抑制できるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

In addition, xieperf provides a set of tests which can be used to validate the detection and transmission of XIE protocol request errors, such as FloMatch, FloValue, and so forth.Finally, xieperf provides a customizable demonstration program for XIE.A test is made up of three components executed in sequence - an initialization function, a test function, and an end function.例文帳に追加

最後に、xieperfは、カスタマイズ可能 なXIE のデモプログラムにもなる。 テストは順に実行される3つのコンポーネント、すなわち初期化関数、テスト関数、終了関数からなる。 - XFree86

This invention solves the problem that the prober must be set up when the tester or a test program is developed.例文帳に追加

本発明によれば、テスタまたはテストプログラム開発時に、プローバをセットアップしなければならないという問題を解消することができる。 - 特許庁

The determination processing function stores a received input value whenever receiving a set of an input value and an output value from a test program and executes determination processing on the condition that the number of times for receiving the set of an input value and an output value from the test program exceeds the number of pipeline stages.例文帳に追加

この判定処理関数は、テストプログラムから入力値と出力値との組を受け取る度に受け取った入力値をバッファに保存し、テストプログラムから入力値と出力値との組を受け取った回数がパイプライン・ステージ数を越えたことを条件に、判定処理を実行する。 - 特許庁

An adding part 23 adds offset quantity specified in the test program P10 for a set value determined in the timing setting value calculation part 22.例文帳に追加

加算部２３は、タイミング設定値計算部２２で求められた設定値に対してテストプログラムＰ１０に規定されたオフセット量を加算する。 - 特許庁

A central database transmits operating information such as a program and data in response to the serial information to the test set that is inserted to the printed circuit board.例文帳に追加

中央データベースは、シリアル情報に応じてプログラム、データ等の動作情報を、プリント回路基板に挿入されるテストセットに送信する。 - 特許庁

The testing program includes a category weighting table 25 having a statistic weighting ratio, reference weighting ratio, an upper limit value and a lower limit value, which are set to each category obtained by classifying test cases.例文帳に追加

テストケースを分類したカテゴリに対して、統計重み付け比率、基準重み付け比率、上限値、下限値が設定されたカテゴリ重み付けテーブル２５を設けた。 - 特許庁

When the path inclusion flag is set, the instruction execution part 121 terminates execution of the test object program 191 without executing the execution path at the branch destination.例文帳に追加

経路網羅フラグが設定されている場合、命令実行部１２１は分岐先の実行経路を実行せずに試験対象プログラム１９１の実行を終了する。 - 特許庁

Also, reference voltage and verification voltage can be set, after a semiconductor memory is manufactured, also by a program test circuit for calculating reference voltage and verification voltage.例文帳に追加

また、参照電圧および検証電圧を算出するプログラム試験回路によっても、半導体メモリの製造後に参照電圧および検証電圧を設定できる。 - 特許庁

Then, the management server 1 requests a test operation with the set patterns for each of the automatic ticket gate machines 2, and infers a program that causes the failure on the basis whether the failure occurs or not in the test operation, which is notified from the automatic ticket gate machines 2.例文帳に追加

そして、自動改札機２毎に、設定パターンでのテスト稼働を要求し、自動改札機２から通知された、テスト稼働における障害の発生有無に基づいて、今回発生した障害の原因であるプログラムを推定する。 - 特許庁

When a debugging mode is set by a test terminal 9, this microcomputer 1 starts a boot program for debugging stored in an ROM 4 so that a debugging program can be written from the outside through a communication circuit 3 in an RAM 5.例文帳に追加

マイクロコンピュータ１は、テスト端子９によりデバッグモードが設定されると、ＲＯＭ４に格納されたデバッグ用ブートプログラムが起動し、通信回路３を介して外部からＲＡＭ５へデバッグプログラムの書き込みが可能となる。 - 特許庁

After updating the built-in software, by re-executing the test program 30, the parameters set up using the built-in software being subject to newly debugging are set up to the register and compared with the reference parameters 44 saved in the past.例文帳に追加

組み込みソフトウェアの更新後、再び、テストプログラム３０を実行することにより、新たなデバッグ対象の組み込みソフトウェアを用いて設定されたパラメータをレジスタに設定し、これを過去に保存したリファレンスパラメータ４４と比較する。 - 特許庁

When the CPU 10 executes an analysis support program, the CPU 10 reads out the values set in RAM 30 etc., and outputs the read-out values to the outside through a test output port 71.例文帳に追加

そして、ＣＰＵ１０が解析支援プログラムを実行すると、ＲＡＭ３０等に設定された値を読み出し、読み出した値をテスト専用出力ポート部７１を介して外部に出力する。 - 特許庁

Thus, the wrong set of the test mode during user's normal use can be prevented, and stability of the operation of the device and improvement in the security protection of the user program can be realized.例文帳に追加

これによって、ユーザが通常の使用中に誤ってテストモードに入ることを防止でき、半導体装置の動作の安定性及びユーザプログラムの機密保持性の向上を実現できる。 - 特許庁

To provide an image forming device, an image forming method, and program which can simply set a correction value for reducing density unevenness and can correct the quantity of light by little test printing.例文帳に追加

濃度ムラを低減する補正値を簡便に設定することができ、少ないテスト印刷で光量を補正することのできる画像形成装置、画像形成方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To set tests of a plurality of kinds of IC's by a simple operation, and to perform the tests automatically, concerning an automatic test method and a program of the IC.例文帳に追加

本発明はＩＣの自動試験方法及びプログラムに関し，複数の品種のＩＣの試験を簡単な操作により設定して自動的に試験を実行できることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus which can set sufficient waiting time for each unit and simplify the contents of a program and time and effort for creating it.例文帳に追加

各ユニットに対して十分な待ち時間を設定することが可能になるとともにプログラムの内容および作成の手間を簡略化することができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a print controller through which a user makes test printing easily without generating test print data in a printer where unnecessary data is deleted from received print data according to a prestored set value, and also to provide a program and a test print method of print controller.例文帳に追加

受信した印刷データから、予め記憶した設定値に基づき不要データを削除する印刷装置において、ユーザがテスト印刷データを生成することなく容易にテスト印刷を行うことができる印刷制御装置、プログラム、および印刷制御装置のテスト印刷方法を提供することをその課題とする。 - 特許庁

A sequence setting part 14 shows a main window having plural program cells corresponding to the execution sequence of a device test program, and when any of these program cells is clicked by using a mouse 34, the instruction of an execution order corresponding to the clicked position is set.例文帳に追加

シーケンス設定部１４は、デバイステストプログラムの実行順序に対応した複数のプログラム・セルを有するメイン・ウインドウを表示し、これらのプログラム・セルのいずれかがマウス３４を用いてクリックされたときに、このクリックされた位置に対応した実行順番の命令の設定が行われる。 - 特許庁

Before reading (routines 22, 23) test conditions of the semiconductor inspection program 1 out of values set in the hardware of a semiconductor inspection device which executes the semiconductor inspection program 1, a subject hardware for extracting inspection conditions is selected (routine 21).例文帳に追加

半導体検査プログラム１のテスト条件を、当該半導体検査プログラムを実行する半導体検査装置のハードウェアに設定されている値から読み出す（ルーチン２２，２３）前に、検査条件を抽出する対象ハードウェアを選択する（ルーチン２１）。 - 特許庁

Next, the test program is stored in a first address of a memory section which is provided in the semiconductor circuit and the argument set with the predetermined value is stored in a second address of the memory section.例文帳に追加

次に、前記テストプログラムを前記半導体回路内に設けられる記憶部の第１のアドレスに格納し、かつ、前記所定の値が設定された引数を前記記憶部の第２のアドレスに格納する。 - 特許庁

Parameters required for operating the IC tester are sequentially set up to a register in a test header using the normal built-in software using the built-in software built in a pin electronics 1 of the test head 12 according to a test program 30 created by a user, and a parameter management system 34 saves the normal parameters as reference parameters 44.例文帳に追加

ユーザの作成したテストプログラム３０に従って、テストヘッド１２のピンエレクトロニクス１８に組み込まれている組み込みソフトウェアを用いて、テストヘッド内のレジスタに、ＩＣテスタの駆動に必要なパラメータを、正常な組み込みソフトウェアを用いて順次設定し、パラメータ管理システム３４は、この正常なパラメータを、リファレンスパラメータ４４として保存する。 - 特許庁

A test waveform and measuring points set at a graphic editor part 12 are transmitted to a compiler part 13 as a waveform information, thereafter the waveform information is converted to a waveform image and a test program, then loaded in the memory of each pin card, respectively by a pin card waveform image load part 16.例文帳に追加

グラフィックエディタ部１２によって設定されたテスト波形、および測定ポイントは、波形情報としてコンパイラ部１３に送られ、該コンパイラ部１３によって波形情報が波形イメージ、およびテストプログラムに変換され、ピンカード波形イメージロード部１６によって各ピンカードのメモリにそれぞれローディングされる。 - 特許庁

When a multi-axis test is to be made, system parameters that has already set to system parts 14 and 24 in the controllers 11 and 21 corresponding to the axis A and B to be used are read by the host computer 15, and the read system parameters are combined and a multi-axis test program is executed.例文帳に追加

多軸試験を行うときは、使用する軸ＡおよびＢに対応するコントローラ１１および２１中のシステム部１４およびお２４に既に設定されているシステムパラメータをホストコンピュータ１５に読み出し、この読み出したシステムパラメータを結合して多軸試験プログラムを実行する。 - 特許庁

The first invention has a step for recognizing a discrimination mark disposed corresponding to the semiconductor device, a step for determining a test program necessary for inspection of the semiconductor device following correspondence relation set beforehand based on the recognized discrimination mark, and a step for inspecting the semiconductor device based on the determined test program.例文帳に追加

第一の発明では、半導体デバイスに対応して配設されている識別マークを、認識するステップと、当該認識した識別マークに基づいて、予め設定された対応関係に従って、半導体デバイスの検査に必要なテストプログラムを、決定するステップと、当該決定したテストプログラムに基づいて、半導体デバイスを検査するステップとを、備えている。 - 特許庁

A parameter monitoring part 6 compares a change parameter value with a set parameter value of the input terminal of the change target and outputs a stop detection signal informing the test program control part 4 about detection of the break point when coincidence of the set parameter value set as the break point with the change parameter value is detected.例文帳に追加

パラメータ監視部6は、変更パラメータ数値と、変更対象の入力端子の設定パラメータ数値とを比較し、ブレークポイントとして設定された設定パラメータ数値が変更パラメータ数値とが一致したことを検出した場合、試験プログラム制御部4に対して、ブレークポイントの検出を通知する停止検出信号を出力する。 - 特許庁

A frame processor 50 executes a process of decompressing the test pattern 20 output from the pattern generator 30 in operation in software manner by executing a previously set program, and generates/outputs a pulse shape signal, based on the decompressed data.例文帳に追加

フレームプロセッサー５０は、あらかじめ設定されたプログラムを実行することにより、パターンジェネレーター３０から出力されたテストパターン２０の伸張処理をソフト的に行い、さらに、伸張されたデータに基づいて、パルス波形を生成して出力する。 - 特許庁

This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.例文帳に追加

ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁

This optical disk recording medium 10 for recording each program having a track number added in a program area is constructed in such a manner that time equivalent to a desired reproducing position is set in an index 00 indicating a pause zone of a track number 1, and various data such as optional test data are recorded in an index 01 indicating the data zone of the track number 1.例文帳に追加

プログラム毎にトラック番号が付された状態でプログラムエリアに記録される光ディスク記録媒体１０であって、トラック番号１のポーズ区間を示すインデックス００に所望の再生位置に相当する時間を設定すると共に、トラック番号１のデータ区間を示すインデックス０１に任意のテストデータ等の各種データを記録する、ことを特徴とする。 - 特許庁

When an item name character string 24 is dropped to a shmoo parameter setting area 21, a designation receiving means 12 receives designation of an item corresponding to the drag item name character string 24, a parameter extraction means 13 determines auxiliary information of the item (pin number, channel number/timing set number/edge) determined from a drag position of a debugger based on the description content of a test program.例文帳に追加

アイテム名文字列２４がシュムーパラメータ設定エリア２１にドロップされると、指定受付手段１２は、ドラッグしてきたアイテム名文字列２４に対応するアイテムの指定を受け付け、パラメータ抽出手段１３は、デバッガのドラッグ位置から判別する当該アイテムの補助情報（ピン番号・チャネル番号/タイミングセット番号/エッジ）を、テストプログラムの記述内容に基づいて判別する。 - 特許庁