「testing operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a vehicle testing apparatus capable of reducing electric power consumption, improving user-friendliness, reducing reductions in operation accuracy, and making the vicinity of an actuator compact.例文帳に追加

本発明は、消費電力を小さくできかつ使い勝手が向上するとともに、動作の精度の低下を抑制することができかつアクチュエータの近傍をコンパクトにできる車両試験装置を提供する。 - 特許庁

To enable a test cost of a device under test to be suppressed without depending on a probing operation using an oscilloscope, a sampling scope, and the like, and to enable the production cost of a semiconductor testing apparatus to be suppressed.例文帳に追加

オシロスコープやサンプリングスコープ等によるプロービングに依存することなく、被試験体の試験コストを抑制できるようにすると共に、半導体試験装置の製造コストを抑制できるようにする。 - 特許庁

In an operating room, operating tools, tool stands carrying the tools, and peripheral devices such as a drip, an electrocardiograph and a microscope for operation are existent in addition to the magnetic imaging apparatus for testing and a bed.例文帳に追加

手術室には、検査用の磁気共鳴イメージング装置と寝台の他に手術器具類やそれを搭載する器具台、点滴、心電計、手術用顕微鏡などの周辺機器などが存在する。 - 特許庁

The jaw heating element of the handpiece 12 with which a thermal tissue operation system 10 is provided is consecutively tested by applying a testing heater power signal to the jaw heating element betweentimes of individual thermal tissue operations.例文帳に追加

熱組織手術システム１０の備えるハンドピース１２のジョー加熱素子は、個別の熱組織手術の合間に試験用ヒーター電力信号をジョー加熱素子に印加することにより継続的にテストされる。 - 特許庁

The provision of a switching transistor, a selector, a fuse, or a connector brings the test stub wiring into conduction during testing, and out of conduction during normal operation, thus maintaining signal quality of the signal wiring.例文帳に追加

スイッチ用トランジスタ、セレクタ、ヒューズ、プローブまたはコネクタを設けることで、テスト用スタブ配線をテスト時には導通させ、通常動作時には非導通とすることで信号線の信号品質を確保する。 - 特許庁

To solve the problem that tests require time and labor as the tests are performed by activating only one clock when testing an integrated circuit operated by a plurality of clock signals at normal operation.例文帳に追加

通常動作において、複数のクロック信号によって動作する集積回路をテストするとき、１つのクロックだけを起動することによってテストするため、テストにかかる手間および時間がかかる。 - 特許庁

Being suitable for high-speed operation, the Kosei Line was utilized for testing the speed improvement of the JNR/JR Limited Express Series 381, JR (West) Suburban Train Series 221, JR (Shikoku) Limited Express Series 8000, etc., beginning in the era of Japan National Railways (JNR). 例文帳に追加

高速運転に最適な路線であるため、日本国有鉄道時代から、湖西線を利用して国鉄381系電車・JR西日本221系電車・JR四国8000系電車などが速度向上試験に取り組んだ。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

As of October 2008, the fastest speed in business operation, except that in experimental testing, is 350 km/h achieved by the Hayate train of Shinkansen in Japan and by Beijing–Tianjin Intercity Railway in China where the ICE3 technology of Germany has been introduced. 例文帳に追加

走行試験を除く営業運転速度は、2008年10月現在、日本の新幹線はやて(列車)やドイツのICE3の技術を導入した中国北京・天津高速鉄道の350km/hが世界最高である。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a testing method capable of checking the characteristic of a DLL circuit resulting from an internal operation of an integrated circuit device having a built-in DLL circuit, and to provide an integrated circuit device allowing the test.例文帳に追加

ＤＬＬ回路を内蔵する集積回路装置の内部動作に起因するＤＬＬ回路の特性をチェックできる試験方法及びかかる試験ができる集積回路装置を提供する。 - 特許庁

In a dynamometer for controlling to drive a testing machine body, a shape of a test piece (round bar, rectangle, pipe) is selected from a panel face of an operation display panel part 1 of a control part 20c and a size is input.例文帳に追加

試験機本体を駆動制御する動力計において、制御部２０ｃの操作表示パネル部１のパネル面から試験片の形状（丸棒、矩形、パイプ）を選択し、寸法を入力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing the conversion characteristics artificially in the case of a high speed operation of an ADC (analog to digital converter) without actually operating the ADC at high speed, and to provide its test method.例文帳に追加

実際にＡＤＣを高速動作させることなく、その高速動作時の変換特性を疑似的にテストすることができる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an alcohol testing device capable of surely preventing spoofing without the witness of a roll caller when breath alcohol of a crew is tested, and rationalizing roll call operation.例文帳に追加

乗務員の呼気中アルコール検査時に、点呼者の立ち会いを必要としないで確実になりすましを防止することができ、かつ、点呼業務の合理化を図ることができるアルコール検査装置を提供する。 - 特許庁

In the electrode 22, an upper surface is used as a terminal 24 for making electrical connection to an external circuit device, and a lower surface is used as a terminal 26 for testing the operation of the circuit device 10.例文帳に追加

この電極２２は、上面が外部の回路装置との電気的な接続用の接続用端子２４として用いられ、下面が回路装置１０の動作試験用の試験用端子２６として使用される。 - 特許庁

Testing to confirm the device operation can be repeated as you like by pushing the weight of the hammer lever.例文帳に追加

取付には家具上面部に両面テープで位置を決め、ビス止め治具を使用しドライバーで三本のビスを止めて完了する、作動確認テストはハンマーレバーの分銅を押すことで作動確認が何回でもできる。 - 特許庁

In an actual operation state of the low-voltage wiring 1, an imaginary load testing device 13 is connected between an output terminal 1at of the first line 1a and an output terminal 1bt of a neutral line 1b.例文帳に追加

低圧配線１の実稼動状況において、第１線１ａの出力端子１ａｔと中性線１ｂの出力端子１ｂｔとの間に虚負荷試験装置１３を接続する。 - 特許庁

To provide a mount for a rotating equipment vibration test that evaluates vibration resistance of rotating equipment in a state near to an operation state, and also evaluates weatherability of the rotating equipment, and also to provide a vibration testing method of the rotating equipment.例文帳に追加

回転機器の耐振性を稼働状態に近い状態で評価でき、且つ回転機器の耐候性も評価できる、回転機器振動試験用マウントと回転機器の振動試験方法とを提供する。 - 特許庁

To enable testing by pin-multiplex function by applying the operation of a logic circuit for example to the test, and effectively evading decrease of the number of measurable channels.例文帳に追加

本発明は、半導体試験装置に関し、例えば論理回路の動作を試験に適用して、測定可能なチャンネル数の減少を有効に回避してピンマルチにより試験することができるようにする。 - 特許庁

To provide a preprocessing method for a semiconductor test program capable of shortening operation time as compared to a conventional program, and a semiconductor testing device equipped with a compiler for executing the preprocessing method.例文帳に追加

従来のプログラムに比べて動作時間を短縮可能とする半導体試験用プログラムの前処理方法および当該前処理方法を実行するコンパイラを備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

This eliminates loading/unloading of testing weights and other major preparatory work, and offers an excessively efficient and reliable balance test including checks on overload protection operation.例文帳に追加

これにより、試験用おもりの搬入・搬出や大掛かりな準備工事が不要となり、乗り過ぎ防止時の動作確認を含めた秤試験を、極めて効率よくかつ確実に実施することができる。 - 特許庁

To provide an operational testing system capable of performing an operational test of a renewal computation device without stopping operation of a currently-used computation device and a data transfer method used therein.例文帳に追加

現用演算装置の動作を停止させることなく、更新用演算装置の運用試験を実行することが可能な運用試験用システムおよびこれに利用するデータ転送方法を提供する。 - 特許庁

Thus, by inputting the operation inhibiting signal EN fixed to an activated level to the external signal terminal EN by a semiconductor testing apparatus and also inputting the external clock CK to the external clock terminal CK, the functional block 12 can be shifted to the test mode from the normal operation mode.例文帳に追加

このため、半導体試験装置により、活性レベルに固定された動作禁止信号ＥＮを外部信号端子ＥＮに入力するとともに、外部クロックＣＫを外部クロック端子ＣＫに入力することで、機能ブロック１２を通常動作モードからテストモードに移行させることができる。 - 特許庁

In one embodiment of this invention, the nonvolatile semiconductor storage device includes a plurality of memory blocks connecting a plurality of memory cells thereto, and is equipped with the memory cell array for storing the test data in a predetermined memory block and an operation testing section for executing the operation test of the memory cell array by using the test data.例文帳に追加

本発明の一実施の形態に係る不揮発性半導体記憶装置は、複数のメモリセルを接続したメモリブロックを複数含み、所定のメモリブロック内にテストデータを記憶するメモリセルアレイと、前記テストデータを用いて前記メモリセルアレイの動作テストを実行する動作テスト部と、を備える。 - 特許庁

To execute operation of machining and testing of an inner surface of joint end parts which are mutually welded by a remote controlling program from inside of the pipe 8, positioning is performed by introducing a means for operation from the components 3, 4 of the primary circulation system 2 to inside the pipe 8.例文帳に追加

配管（８）の内部から、互いに溶接された結合端部の内面の機械加工と検査との作業を遠隔制御のプログラムによって実行するために、一次循環系（２）の構成要素（３，４）から配管（８）の内部へ作業のための手段を導入して位置決めする。 - 特許庁

To provide an operation testing device for a microprocessor accurately judging whether or not the prescribed processing of a test object can be operated within unit time during the operation of a real time processor for the real time processor performing the prescribed processing by a microprogram within the unit time by using the microprocessor.例文帳に追加

マイクロプロセッサを用いて単位時間内にマイクロプログラムによる所定処理を行なう実時間処理装置に対し、実時間処理装置の稼動中に試験対象の所定処理が単位時間内で動作可能かどうか正確に判断するマイクロプロセッサの動作試験装置を提供すること。 - 特許庁

An operation content including all the input signals inputted to test equipment when a tester performs testing, an input time of day, and a time of day when the test has been performed by the test equipment is recorded as test data, their management table, and operation history every test ID, and is managed as a bug management database.例文帳に追加

テスターがテストを実施した際のテスト機器に入力された全ての入力信号と、入力された時刻と、テスト機器で実行された時刻を含む操作内容を、テストＩＤ毎に、テストデータと、その管理テーブルと操作履歴として記録してバグ管理データベースとして管理する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having a built-in test circuit capable of testing operation of a signal propagation route including a signal input/output end without exerting an influence on an input/output signal.例文帳に追加

本発明は、入出力信号に影響を与えることなく、信号入出力端を含めた信号伝搬経路の動作を内蔵テスト回路によりテスト可能な半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.例文帳に追加

試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁

The specimen testing device is provided with a dispensing mechanism 40 which dispenses the liquid such as the reagent or the like to a plurality of recesses U1, for liquid dispensing, formed on a microplate U and a control part which controls the operation of the dispensing mechanism 40.例文帳に追加

マイクロプレートＵに形成された複数の液体分注用凹部Ｕ１に試薬等の液体の分注を行う分注機構４０と、この分注機構４０の動作を制御する制御部とを備える。 - 特許庁

To provide a small-sized drying test device not only capable of testing the presence of fly of fine powder in an actual double cone dryer, deposition onto a wall face thereof, and generation of a granule therein, but also capable of facilitating an operation in a test.例文帳に追加

実機のダブルコーンドライヤにおける微粉の飛散、壁面への付着や造粒の発生の有無を試験することができるだけでなく、小規模で且つ試験時の操作が容易である乾燥試験装置を提供する。 - 特許庁

Thus, operability in performing rotation operation of the insertion part 12 in the direction around the axis when testing by an endoscope 11 is improved and the flexible pipe 14 is easily inserted in the body cavity of the patient.例文帳に追加

これにより、内視鏡１１の検査時に挿入部１２を軸回り方向に回転操作する際の操作性が向上し、患者の体腔内に挿入しやすい可撓管１４を提供することができる。 - 特許庁

To provide a circuit for testing the operation of switching gain control signals, which controls the gain of each amplifier, in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of gain-controllable amplifiers, and to shorten the test time.例文帳に追加

ゲイン制御可能な複数のアンプを備える半導体集積回路において、各アンプのゲインを制御するゲイン制御信号の切り換え動作をテストするための回路を設け、かつテスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁

To obtain a test equipment for testing the characteristics of each chip by touching probes to the opposite sides of a semiconductor wafer in which various semiconductor wafers are tested with an easy operation.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、特にウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、簡易な操作により、種々の半導体ウエハを試験することができるようにする。 - 特許庁

To provide a method and device for operation for high-voltage load capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる高圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

To provide a method and device for operation control for low-voltage load capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる低圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

The controller for testing 50 delivers operation commands to a device for driving load 60 acting as a tested device during an operating test, and receives predetermined data, indicating the status of the device for driving load 60 from the loads 60, as well.例文帳に追加

試験用コントローラ５０は、動作試験時、被試験装置である負荷駆動装置６０へ動作指令を出力するとともに、負荷駆動装置６０の状態を示す所定のデータを負荷駆動装置６０から受ける。 - 特許庁

To safely and smoothly change over a connection state of an actual operation before renewal to a connection state of testing after renewal in a short time and inexpensively in the case of renewal of the railroad signal protective device.例文帳に追加

鉄道の信号保安装置の更新に際して更新前の実機運転の接続状態と更新後の試験の接続状態とを短時間で而も低コストで安全かつ円滑に切り換えられるようにする。 - 特許庁

After the completion of a lens-fitted photo film unit, the pin-shaped tool 14 of the operation testing machine is inserted in the pit 8c and the tool 14 performs the same straight line slide and the same rotation slide as those of the operating member 8.例文帳に追加

レンズ付きフイルムユニットの完成後には、穴８ｃに動作検査機のピン形状をした治具１４が挿入され、この治具１４が操作部材８と同様の直線スライドと回動スライドとを行う。 - 特許庁

Because the number of passengers did not meet the target estimate, the administration of the Yawata City North-South Bus Route decided to extend the test operation period until the end of June 2009, although the administration decided to discontinue the route after this testing period without re-launching the route as a regular service ('The Asahi Shinbun (Newspaper)' South Kyoto Edition: The announcement by the Yawata City administration office posted at Yawata City City Hall on March 5, 2009). 例文帳に追加

乗客数が目標に達しなかったため、6月まで運行を継続して廃止予定（『朝日新聞』南京都版　2009年3月5日付、八幡市役所の案内看板） - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a method for testing a semiconductor device including a temperature detection function for detecting a predetermined temperature with little variation and optimizing an operation condition according to the detected predetermined temperature.例文帳に追加

所定温度をばらつき少なく検出し、検出された所定温度に応じて動作状態を最適化する温度検出機能を備えた半導体装置の試験方法を提供することを目的とすること - 特許庁

To prevent a reverse power flowing to an AC power system when a power conversion device is anomalous with respect to a testing device with an interconnection inverter device as a dummy load for testing the operation of a DC power supply including the power supply device for converting an AC power into a DC power and an auxiliary power supply device.例文帳に追加

交流電力を直流電力に変換する電力変換装置と補助電源装置とを備えた直流電源の動作試験を行うための擬似負荷として、系統連系インバータ装置を備えた試験装置において、電力変換装置の異常時に交流電力系統への逆潮流が発生するのを防止する。 - 特許庁

The device for testing the semiconductor integrated circuit includes a pattern data generating means which generates test pattern data for testing a write operation in a memory of the semiconductor integrated circuit; and a write means which writes the test pattern data into a storage area of the semiconductor integrated circuit for storing the test pattern data.例文帳に追加

上記課題は、半導体集積回路のメモリへの書き込みを試験するための試験パタンデータを生成するパタンデータ生成手段と、前記試験パタンデータを前記半導体集積回路の該試験パタンデータを格納する記憶領域へ書き込む書き込み手段と、を有することを特徴とする半導体集積回路の試験装置により達成される。 - 特許庁

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

A water outlet 61e formed on an uppermost part of the exhaust manifold cooling water jacket JM2 is communicated to a water testing port 66 for confirming the circulation of the cooling water by the operation of the cooling water pump 46, whereby the air retained inside of the exhaust manifold cooling water jacket JM2 can surely be discharged from the water testing port 66.例文帳に追加

排気マニホールド冷却ウオータジャケットＪＭ２の最上部に設けた水出口６１ｅを、冷却水ポンプ４６の作動による冷却水の循環を確認する検水口６６に連通させることで、排気マニホールド冷却ウオータジャケットＪＭ２の内部に滞留したエアを前記検水口６６から確実に排出することができる。 - 特許庁

This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.例文帳に追加

テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁

The semiconductor memory test pattern forming method is structured; to make the operation data of the semiconductor memory test pattern described in a format independent of the types of semiconductor testing apparatus and; to output the test specifications of the above semiconductor memory based on the above operation data after verifying the above operation data with an emulation function corresponding to the above format.例文帳に追加

半導体メモリの試験パターンを作成する方法において、半導体試験装置の種類に依存しないフォーマットで記述された半導体メモリ試験パターンの動作データを作成し、上記動作データを上記フォーマットに対応するエミュレート機能により検証した後、上記動作データにもとづいて上記半導体メモリの試験仕様書を出力する構成とする。 - 特許庁