「testing operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a lubricating oil cooling device for a traveling speed reduction gear, having an operation check testing means capable of performing operation check testing quickly, easily and inexpensively without causing damage to components even in a cold work environment such as a cold weather region in winter.例文帳に追加

寒冷地の冬季のような低温の作業環境であっても、構成部品に損傷を与えず、かつ迅速、容易に動作確認試験が行えると共に、廉価に実現できる動作確認試験手段を有する走行減速機用潤滑油の冷却装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly, in the functional inspection of the fire detector 24, the elevating body 2 is raised and lowered by the operation of the test control device to oppose the testing means 25 to the fire detector 24, whereby the fire detector 24 can be tested by the operation of the testing means to facilitate the functional inspection work.例文帳に追加

これによって、火災検出器２４の機能点検時に試験用制御装置の動作により、昇降体２が昇降して火災検出器２４に試験手段２５が対向し、試験手段の動作によって火災検出器２４を試験でき、機能点検作業を容易化する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing a high-speed memory at a real operation speed even when the operational speed of a BIST circuit is restricted.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路の動作速度を抑えても実動作速度で高速メモリのテストを実施できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

Test data for a circuit module 24 inputted from a TIN terminal during testing operation sequentially shifts scan cells from 31,1 to 31,4, 32,1 to 32,4, 33,1 to 33,4, and to 34,1 to 34,4.例文帳に追加

テスト動作時にＴＩＮ端子から入力された回路モジュール２_4のテストデータがスキャンセル３_1,1 〜３_1,4 ，３_2,1 〜３_2,4 ，３_3,1 〜３_3,4 ，３_4,1 〜３_4,4 を順にシフトする。 - 特許庁

Since the means 104 is provided, a testing operation can be actively conducted by a student or the like, thereby enhancing an educational effect.例文帳に追加

手動計測手段１０４を設けたので、学生等に能動的に試験作業を行わせることができ、教育効果を高めることができる。 - 特許庁

To realize a high speed operation without using any memory whose access time is fast or any high speed element in the sequence control circuit of a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置のシーケンス制御回路において、アクセス時間の速いメモリや高速素子を用いることなく高速動作を可能にする。 - 特許庁

To provide a remote operation system for testing a radio channel controlled by radio station controllers, while operating remotely the radio station controllers.例文帳に追加

無線局制御装置を遠隔操作しながら、その無線局制御装置が制御する無線回線を試験する遠隔操作システムを提供する。 - 特許庁

To reduce an electric current consumption in an operation time of an electronic circuit caused by a test module for testing the electronic circuit.例文帳に追加

電子回路を試験する試験モジュールに起因する電子回路の動作時の電流消費を低減する方法およびデバイスを提供すること。 - 特許庁

A test mode signal TM is inputted from a test mode determining circuit 30 to the POR circuit 25 in the test mode for testing the operation of an internal circuit.例文帳に追加

内部回路の動作をテストするテストモードにおいて、テストモード判定回路３０からテストモード信号ＴＭをＰＯＲ回路２５に入力する。 - 特許庁

To provide an operation check system for integrated circuit boards which easily can make testing of two or more output elements and its disconnection, short circuiting, or other abnormalities.例文帳に追加

複数の出力素子及びその断線、短絡、その他の異常の検査が容易な集積回路基板の動作チェック装置を提供する。 - 特許庁

To provide a brake testing device capable of performing a braking test with a high accuracy even in a brake device requiring a braking test at a low operation pressure.例文帳に追加

低い操作圧で制動試験をしなければならないブレーキ装置でも高精度で制動試験を行うことができるブレーキ試験装置を得る。 - 特許庁

To effect timely and safe operation of online testing routines within field devices, such as valves, used in a process control system or a safety system.例文帳に追加

プロセス制御システムまたは安全システムで用いられるバルブの如きフィールドデバイス内でオンライン試験ルーチンを適時にかつ安全に動作させる。 - 特許庁

ii. Research to [identify] current test conditions in terms of explanations provided to patients prior to undergoing hepatitis testing results before operation by medical institutions例文帳に追加

（イ）医療機関において手術前等に行われる肝炎ウイルス検査の結果の説明状況等について、実態を把握するための研究 - 厚生労働省

The X server may also be started directly by the user, though this method is usually reserved for testing and is not recommended for normal operation.例文帳に追加

X サーバはユーザが直接起動することもできるが、この方法は一般にテスト用のものであり、通常の操作では使わない方がよい。 - XFree86

To provide a highly reliable IC testing device capable of conducting an operation for voltage limitation accurately in measurement of a direct current characteristic.例文帳に追加

直流特性の測定において、電圧制限の作動を正確に行うことができ、信頼性の高いＩＣ試験装置を提供すること。 - 特許庁

This is an initial setting apparatus for a fire detector, and while the fire detector is connected by a connector 6, a data acquisition part 16 makes the fire detector 3 perform the monitoring operation and testing operation and receives the photodetection signal outputted from a detection sensor as a result to obtain data characteristic of the detector needed to decide a fire and perform the testing operation.例文帳に追加

火災検知器の初期設定装置であって、コネクタ６による火災検知器の接続状態で、データ取得部１６が火災検知器３に監視動作及び試験動作を行わせ、これに伴って検知センサから出力される受光検知信号を取込んで火災判定及び試験動作に必要な検知器固有のデータを取得する。 - 特許庁

When testing a memory 200 embedded in an information processing system 1, a memory control device 100 sets a second operation condition stricter than a first operation condition for an operating operation, and tests the memory on the second operation condition.例文帳に追加

メモリ制御装置１００は、情報処理システム１に組み込まれたメモリ２００の試験を行う場合に、運用動作時の動作条件である第一動作条件よりも厳しい動作条件である第二動作条件に設定を切り替え、切り替えられた第二動作条件でメモリを試験する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device capable of accurately detecting abnormalities during an EW operation and accurately testing an error process by outputting an operation state information indicating which of a plurality of operation stages is executed according to the progress of the operation stages.例文帳に追加

複数の操作段階の何れを実行中かを示す操作状態情報を、操作段階の進行に合わせて出力することにより、ＥＷ操作中の異常検出を精度良く行うことや、エラー処理の試験を的確に実行することができる不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for the installation of an overcurrent alarm device, which enables simple testing without need for any electrical equipment specially prepared only for checking operation or any burdensome work, such as looking for an outlet.例文帳に追加

動作確認の試験のためだけにわざわざ電気機器を用意したり、コンセントを探す等の煩雑な作業を必要とすることがなく、簡単に試験をすることができる過電流警報装置の設置試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device, by which a precise test corresponding to an actual using state can be performed to an accelerated semiconductor device, even if using a testing device of slow operation which is used conventionally.例文帳に追加

従来から使用していた動作速度の遅いテスト装置を用いても高速化された半導体装置に対して実際の使用状態に即した正確なテストを行うことができる半導体装置のテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a built-in self-testing circuit and testing method capable of adjusting a period of time from sending a read operation signal to storage elements in a semiconductor integrated circuit till storing data outputted from the storage elements in a register.例文帳に追加

半導体集積回路内の記憶素子に読み出し動作の信号が送られてから、記憶素子から出力されたデータがレジスタに格納されるまでの時間を調整可能な組み込み自己試験回路及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for refrigerant recovering device of a simple structure capable of testing the recovering operation performance of a refrigerant recovering device for recovering refrigerant gas from an air conditioner, a car air conditioner and a refrigerator or the like.例文帳に追加

空気調和機やカーエアコン、冷蔵庫などから冷媒ガスを回収する冷媒回収装置の回収運転性能を簡単な構成で検証判断することができる冷媒回収装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technique as to a test for a semiconductor device, capable of reducing lot switching work to enhance an operation rate of a semiconductor testing device, when testing the semiconductor devices of small lot multi-product.例文帳に追加

少量多品種の半導体デバイスを試験する場合、ロットの切り替え作業を削減して、半導体デバイス試験装置の稼働率を向上を可能とする半導体デバイスの試験に関する技術を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device allowing a test in a relation where generation of a test pattern is synchronized with operation of each receiving unit in the set and change of the operating condition of the hard resource possessed by the semiconductor testing device to be executed.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるハード資源（ハードリソース）の動作条件を設定変更するときに、試験パターンの発生と各受信ユニットとの動作を同期した関係で試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a drip-testing method which can surely and clearly grasp a galvanizing condition for restraining the development of galvanized drip in an arbitary galvanized product to the minimum before galvanizing operation, and a test piece used for this testing.例文帳に追加

任意のめっき品のめっきタレの発生を最小限に抑制するめっき条件をめっき操業前に正確にかつ明瞭に把握することができるめっきタレ試験方法、およびそれに用いる試験片を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing a clock enable logic and a clock gating cell without necessitating a separate flip-flop for testing (operation of) a combination circuit constituting an enable logic of a clock gating.例文帳に追加

本発明は、クロックゲーティングのイネーブルロジックを構成する組合せ回路部（動作）試験用のフリップフロップを別個に必要とせずにクロックイネーブルロジック及びクロックゲーティングセルを試験可能な半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

To improve efficiency of program testing work by automatically judging whether results of a test of a program are correct or not without troubling human hands (eyes) in a testing operation of an interactive program involving input operations.例文帳に追加

入力操作を伴うような対話型プログラムのテスト作業において、プログラムのテスト結果が正しいか否かの判定を人の手(目)を煩わせることなく自動的に行うこことにより、プログラムテストの作業効率の向上を目的とする。 - 特許庁

To provide a material testing machine for reducing power consumption by a servo amplifier or a servo motor in a non-operation time when a material test or an operation relating to the material test is not executed.例文帳に追加

材料試験または材料試験に関連する操作が実行されていない非稼働時に、サーボアンプまたはサーボモータによる消費電力を低減することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁

A switching unit 7 switches in a testing mode an input origin to the control operation unit 3 and an output destination of the control operation unit 3 to a simulator unit 6 inside of the plant monitoring control device.例文帳に追加

そして試験モード時に、切り換え部７により、制御演算部３への入力元および制御演算部３からの出力先を、プラント監視制御装置の内部のシミュレータ部６に切り換える。 - 特許庁

To provide a cover for a passive sensor operation test which can remarkably reduce a work load by making a cover part be floated using helium gas, and to provide a method for testing a passive sensor operation using the cover.例文帳に追加

この発明は、ヘリウムガスを用いてカバー部を浮き上がらせるようにし、作業負荷を著しく軽減できるパッシブセンサ動作試験用カバーおよびそれを用いたパッシブセンサの動作試験方法を得る。 - 特許庁

In the PACHINKO game machine 1, the unrewritable performance image memory device 340 has stored therein performance image data for use in the performance display operation and the test display data for use in testing the display operation.例文帳に追加

パチンコ機１において書き換え不可能な演出画像記憶装置３４０には、演出表示動作に用いる演出画像データおよび、表示動作の試験に用いるテスト表示データを記憶している。 - 特許庁

To provide a DUT board hardly affected by an electric power source/a ground bounce and hardly generating operation failure even in a high-speed operation and a low voltage in a tested LSI, and to provide a testing method using the DUT board.例文帳に追加

被試験用ＬＳＩの動作が高速化かつ低電圧化しても電源／グランドバウンスの影響を受け難く、動作不良を起こし難いＤＵＴボード及びそれを用いるテスト方法を得ることである。 - 特許庁

To provide an operation testing device which is capable of measuring electrical characteristics while cooling an object to be measured such as an electronic apparatus, without using a conventional cooling device.例文帳に追加

従来の冷却装置を用いずに電子装置等の被測定物を冷却しつつ電気的特性を測定可能な動作試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of preventing an operator from incorrectly operating when adjusting a shaft center and easily performing a shaft center adjustment operation.例文帳に追加

オペレータの軸心調整時の誤操作を防止するとともに、軸心調整操作を容易に行うことが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a material tester capable of controlling the operation of a tester main body by simply constructing a test executing program corresponding to the testing specification.例文帳に追加

試験仕様に応じた試験実行プログラムを簡易に構築して試験機本体の作動を制御することのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for checking operation and function of a single LSI for proximity IC card before mounting it to a card, in a proximity IC card.例文帳に追加

非接触ＩＣカードにおいて、非接触ＩＣカードＬＳＩをカードに組み込む前に単体で、動作および機能確認を行なう試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fire sensor and a tester thereof capable of surely and quickly reading information of the fire sensor when testing an operation of the fire sensor.例文帳に追加

火災感知器の動作試験時に、火災感知器の情報を確実かつ迅速に読み出すことができる火災感知器およびその試験器を提供する。 - 特許庁

To provide an improved environment testing machine constituted so as to prevent the damage of a sample caused by power failure even if the electricity is cut off during test operation.例文帳に追加

試験運転中に停電しても、停電によって試料が損傷することのない改善された環境試験装置を実現し、提供する。 - 特許庁

To perform operation control in a simple program configuration when pattern data different in a plurality of sequencers are generated to perform testing.例文帳に追加

複数のシーケンサに対して異なるパターンデータを生成して試験を行わせる場合において、簡単なプログラム構成で動作制御を行うことを目的とする。 - 特許庁

The benefit is that alternative modes of operation can be selected for testing, trimming parameters of the integrated circuit, or any other purpose without the cost of an additional terminal.例文帳に追加

特典は追加の端子の犠牲なしに集積回路の試験、トリミング・パラメータ、または他の目的で代替動作モードを選択することができることである。 - 特許庁

To provide a system test environment capable of testing operation of a system on a computer with an application program working on a hardware unit, without using any hardware unit.例文帳に追加

ハードウェアユニット上で動作するアプリケーションプログラムを、ハードウェアユニット無しでも、システムの動作をコンピュータ上でテストすることが可能なシステムテスト環境の提供。 - 特許庁

In this case, the number of kinds of processing to be performed in parallel is determined in consideration of a difference between hardware performance in the normal operation and that in testing (S30).例文帳に追加

その際、通常運用時のハードウェア性能とテスト時のハードウェア性能との差を考慮し、並列に実行する処理の数を決定する（Ｓ３０）。 - 特許庁

To re-execute a series of stored transactions by changing a processing timing for testing whether or not a program is performing a desired operation.例文帳に追加

プログラムが所望の動作をするかどうかというプログラムの検査のために、保存された一連のトランザクションを処理タイミングを変更して再実行できるようにする。 - 特許庁

To provide a secondary battery pack capable of testing normal operation of protection function of a protection circuit by loading a test circuit for protection function diagnosis on a protection circuit substrate.例文帳に追加

保護回路基板上に、保護機能診断用の試験回路を搭載し、保護回路の保護機能が正常に働くことを試験することを可能にする。 - 特許庁

To provide an automatic nonstop charge reception system testing device capable of confirming the operation of a lane controller without performing actual vehicle traveling.例文帳に追加

実際の車両走行を行わずに車線制御装置の動作を確認することが可能なノンストップ自動料金収受システム試験装置を提供する。 - 特許庁