「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(52ページ目) - Weblio英語例文検索

To solve the problem in which a conventional low-temperature electron microscope hardly spreads due to its high cost and a resulting high cost of low temperature observation of a biological specimen.例文帳に追加

従来の低温電子顕微鏡はコストが嵩むことにより、生物試料の低温観察のコストもまた相対的に嵩むため、普及が難しい。 - 特許庁

To provide a light-receiving unit which is to be connected to a confocal optical microscope to constitute a measuring apparatus for measuring the light emitted from a sample.例文帳に追加

試料から発せられる光を測定するための測定装置を構成するために共焦点光学顕微鏡に接続される受光ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a solid observation method and an electron microscope capable of totally and accurately evaluating an electronic device structure or the like with a three-dimensional structure.例文帳に追加

３次元構造を持つ電子デバイス構造等を全体的且つ高精度に評価しうる立体観察方法及び電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of efficiently detecting reflection electrons emitted by a sample at a small angle without degradation of resolution at the time of capturing a sample image.例文帳に追加

試料像の取得時における分解能の低下をもたらすことなく、試料からの低角度放出反射電子の検出を効率良く行う。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can correlatively evaluate both a SPM image and a light microscopic image with its resolution lower than that of the SPM image.例文帳に追加

ＳＰＭ像とこれに比べて低分解能の光学顕微鏡像とを互いに関連づけて評価し得る走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of easily and accurately conforming as to whether the shape of a sample meets a prescribed condition or not.例文帳に追加

試料形状が所定の条件を満足しているか否かを簡単かつ正確に確認できるようにした走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system which shortens the time until it reaches its original and appropriate exposing state after changing its objective lens.例文帳に追加

本発明では、対物レンズを切り替えたときの本来の適正な露出状態に達するまでの時間を短縮する顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

An example of the medical image pickup component element 300 is an X-ray image detector or a surgical microscope used for medical technique under a fluoroscopic image guide.例文帳に追加

医用画像取り込み構成要素（３００）の例には、透視像ガイド下医学的手技で使用されるＸ線画像検出器や外科用顕微鏡が含まれる。 - 特許庁

The microscope is provided with a light source 10, an illumination optical system 20, a fluorescence filter set 100, an objective lens 30, an image forming lens 50 and a detector 60.例文帳に追加

顕微鏡は、光源１０と、照明光学系２０と、蛍光フィルターセット１００と、対物レンズ３０と、結像レンズ５０と、検出装置６０とを備えている。 - 特許庁

To facilitate confirmation an appearance test of a joint part and a collapsed state of conductive particles by a microscope in case of jointing with the use of an anisotropic conductive film.例文帳に追加

異方性導電フィルムを用いて接合した場合に、接合部の外観検査、導電粒子のつぶれの状態を顕微鏡による確認を容易にする。 - 特許庁

A control part 108 acquires installation state information indicating an installation state of an optical member inserted into an observation optical path of the microscope 101.例文帳に追加

制御部１０８は、顕微鏡１０１の観察光路中に挿入される光学部材の設置状態を示す設置状態情報を取得する。 - 特許庁

To provide a microscope stage which allows a specimen to be reliably aligned even when the specimen is observed with high magnifications and is small-sized and can be made inexpensive.例文帳に追加

高倍観察時にも標本の位置合わせを確実に行なうことができ、小型で価格的にも安価にできる顕微鏡ステージを提供する。 - 特許庁

To provide a probe canning control method and a scanning probe microscope capable of satisfactorily and continuously observing a sample in the same field of view.例文帳に追加

試料の同視野の連続観察を良好に行うことができる探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope device which removes images such as flaw, dirt, and stain on the backside of wells, different from a sample image and acquires an excellent sample image.例文帳に追加

ウェルの裏面の傷、ゴミ、汚れなどの標本像とは異なる像を除去し、良好な標本画像を取得する顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of displaying a confocal image in real time and providing the confocal image having excellent S/N.例文帳に追加

本発明は、共焦点画像をリアルタイムで表示できるとともに、Ｓ／Ｎの良好な共焦点画像を得られる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This confocal microscope has a lamp 1 and multislits 2 and a plurality of linear bright-lines from the multislits 2 are scanned by a galvanometer 4.例文帳に追加

本発明にかかるコンフォーカル顕微鏡は、ランプ１と、マルチスリット２を有し、マルチスリット２からの複数のライン状の輝線は、ガルバノメータ４によって走査される。 - 特許庁

This microscope arrangement 200 has an objective arrangement 201 including an object plane 206 for arranging an observation object or the intermediate image 207.例文帳に追加

顕微鏡装置２００は観察対象物または中間像２０７を配置するための対象物面２０６を備えた対物レンズ装置２０１を有している。 - 特許庁

To provide an interference objective lens having a high NA and a long operating distance as well as a simplified configuration, and to provide a microscope device having the interference objective lens.例文帳に追加

構成の簡素化を図りつつ、高ＮＡで、長作動距離を有する干渉対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a difference between a reference line and an actual cutting line by preventing the distance between a shaft of a spindle and a microscope from changing owing to heat.例文帳に追加

スピンドルの軸と顕微鏡の距離が熱により変化することを防止し、基準線と実際の切断位置との誤差を小さくすることができる。 - 特許庁

To provide a microscope light source device by which the position of a light source image is easily and accurately adjusted and light from a light source is effectively used.例文帳に追加

簡便に精度良く光源像の位置を調整することができ、光源からの光を有効に使用できる顕微鏡用光源装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscopic device equipped with a scanning probe microscope capable of preventing the occurrence of vibration due to noise and a current of air.例文帳に追加

騒音および風等による振動の発生を防止することができる走査型プローブ顕微鏡を備える顕微鏡装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a microscope which can detect the light emitted from a micro-region with high efficiency even a as small as possible photoirradiation and can rapidly measure a sample.例文帳に追加

できるだけ少ない光照射でも、微小領域からの発光を高効率で検出でき、試料を短時間で計測できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When this device is used as a scanning electron microscope, a lens barrel 2 is kept at the same potential as that of a sample 4, and a negative potential is applied to an electron gun 1.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡として用いられる場合、レンズ鏡筒２は試料４と同電位に保持され、電子銃１には負の電位が印加される。 - 特許庁

To provide a lighting system for reducing a deformation quantity of a shading means caused by temperature increase, and a microscope provided with the lighting system.例文帳に追加

温度上昇に起因する遮光手段の変形量を少なくすることができる照明装置及び照明装置を備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope that prevents variation in brightness of a transmitted image even when the brightness of a fluorescent image is adjusted.例文帳に追加

蛍光像の明るさ調整を行った場合にも透過像の明るさの変動を防止することができる顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope by which the change of height information along an arbitrary measuring line is obtained and also a time required for measuring is made short.例文帳に追加

任意の測定ラインに沿う高さ情報の変化を得ることができ、しかも測定に要する時間が短い共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope with which an irradiation range of a laser beam can capture an observation object in follow-up to a change in the observation object.例文帳に追加

観察対象の変化に追従してレーザ光の照射範囲が目的とした観察対象を捉えられる走査型レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for detecting a target nucleic acid (DNA or RNA) by observing an aqueous solution in which the target nucleic acid is dissolved, under a microscope.例文帳に追加

標的核酸（ＤＮＡ又はＲＮＡ）を溶解させた水溶液中を顕微鏡で観察することにより、標的核酸を検出する方法の提供。 - 特許庁

This near-field optical microscope is provided with a light source unit 10, the probe 20 of optical fiber, an oscillation unit 30 and a signal feedback unit 40.例文帳に追加

この近視野光学顕微鏡は、光源ユニット１０と、光ファイバの探り針２０と、発振ユニット３０と、信号フィードバックユニット４０とを備える。 - 特許庁

MICROSCOPE, THREE-DIMENSIONAL IMAGE GENERATING METHOD, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER PERFORM CONTROL OF GENERATING THREE-DIMENSIONAL IMAGE AND RECORDING MEDIUM HAVING THE PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

顕微鏡、三次元画像生成方法、三次元画像を生成する制御をコンピュータに行わせるプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

When this device is used as the microscope, an observer draws and separates a stand barrel 33 from an observation device main body 45 to a front part first.例文帳に追加

光学式観察装置を顕微鏡として用いる場合、観察者は、先ず観察装置本体４５からスタンド筒３３を前部に抜き出して分離させる。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope that enables magnification display to be recognized even when a variable magnification handle has its front and rear positions reversed by changing the direction of a variable magnification lens body.例文帳に追加

変倍鏡体の向きを変えて変倍ハンドルの位置を前後で入れ替えた場合にも倍率表示を認識可能な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A moving part 420 is disposed to move on a line on a plane orthogonal to the optical axis of a microscope main body of a finite correction optical system.例文帳に追加

有限補正光学系の顕微鏡本体の光軸に対して直交する平面上で直線上に移動可能に移動部４２０を配設する。 - 特許庁

To provide a dark-field cube which can use an objective with a small external diameter for dark-field observation and a microscope equipped with the dark-field cube.例文帳に追加

暗視野観察において、外径の小さい対物レンズが使用できる暗視野キューブ、およびそれを備えた顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a microscope which can surely detect the patterns of a work, such as a printed substrate which is coated with a resist and is further formed with a protective layer.例文帳に追加

レジストが塗布され、さらに保護層が形成されたプリント基板等のワークのパターンを確実に検出することができる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a manipulator capable of detecting force of an operation needle applied to a sample by observing the operation needle in an observation view of a microscope.例文帳に追加

操作針の被検体に対して作用する力を、顕微鏡の観察視野下で操作針を観察することにより検出する、マイクロマニピュレータを提供する。 - 特許庁

In this sample table for the electron microscope, surface roughness of a surface is set to 0.05 to 1.0 μm in arithmetical mean roughness Ra stipulated in JIS B 0601.例文帳に追加

表面の面粗さがＪＩＳ Ｂ ０６０１に規定される算術平均粗さ（Ｒａ）で０．０５〜１．０μｍとしてなる電子顕微鏡用試料台。 - 特許庁

To provide a scanning confocal microscope using a Nipkow disk for accurately executing the three-dimensional shape measurement of a material to be measured at high speed.例文帳に追加

高速且つ正確に被測定物の三次元形状測定を実行することが可能なニポウディスクを用いた走査型の共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To execute excellent scanning by correcting a macro Z-direction fluctuation portion caused by inclination or swell of a sample, a characteristic of a scanner or the like in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、試料の傾斜やうねり、スキャナーの特性等によるマクロなＺ方向変動分を補正して良好な走査を行う。 - 特許庁

The probe microscope 1 includes: a cantilever 2 having a probe 21; a displacement detecting optical system 3; an observation optical system 4; an objective lens 6; and a parallel glass 7.例文帳に追加

プローブ顕微鏡１は、探針２１を有するカンチレバー２と、変位検出光学系３と、観察光学系４と、対物レンズ６と、平行ガラス７とを備える。 - 特許庁

To provide a coating material composition which is used for forming a high hardness coating film and can impart practically sufficient scratch resistance to a microscope stage or the like.例文帳に追加

顕微鏡ステージなどに対して実用的に十分な耐擦傷性を付与することができる高硬度被膜の形成に用いる塗料組成物を提供する。 - 特許庁

To provide an adapter system and an image pickup system capable of easily picking up the enlarged image of a microscope by using an image pickup system such as a digital camera.例文帳に追加

ディジタルカメラ等の撮像装置を使って手軽に顕微鏡の拡大像を撮像することができるアダプタシステム及び撮像システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a cantilever driven by a dynamic mode; to provide an atomic force microscope; and to improve measuring precision of an interatomic force in a method of measuring the interatomic force.例文帳に追加

ダイナミックモードで駆動されるカンチレバー、原子間力顕微鏡、および原子間力の測定方法において、原子間力の測定精度を高める。 - 特許庁

To provide a scanning confocal microscope which permits exchange of detectors and extension of the number of image channels at a low cost and has high expandability.例文帳に追加

検出器の交換や画像チャネル数の増設を低コストで容易に行うことができる、拡張性の高い走査型共焦点顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a real time confocal microscope not including a scanner but using a dispersion optical system capable of capturing the two-dimensional cross-sectional video of an object in real time.例文帳に追加

走査装置を含めず物体の２次元断面映像を実時間で獲得可能な分散光学系を用いた実時間共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁