「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(54ページ目) - Weblio英語例文検索

The alignment mark of the mask and the alignment mark of the panel to be attached are detected while being shifted timewise without moving the position of an alignment microscope in the XYθ directions and, as the result, the mask and the panel are relatively moved such that the detected both alignment marks comes to a prescribed positional relation.例文帳に追加

マスクのアライメントマークと貼り合せを行なうパネルのアライメントマークとを、アライメント顕微鏡の位置をＸＹθ方向には移動させないで時間的にずらして検出し、検出した両アライメントマークが所定の位置関係になるように、マスクとパネルとを相対的に移動させる。 - 特許庁

In this case, if the cursor is located within a predetermined distance from the GUI component, the computer 2 displays information about the operation target of the microscope system 1 associated with the GUI component in advance, onto the monitor 4 regardless of the acquisition of the input for instructing to execute the operation.例文帳に追加

ここで、コンピュータ２は、カーソルが該ＧＵＩ部品から所定の距離以内に位置したときには、ＧＵＩ部品に予め関連付けられている顕微鏡システム１の操作対象に関する情報を、実行指示の入力の取得とは無関係に、モニタ４に表示させる。 - 特許庁

To provide a measuring method using a scanning probe microscope capable of quantitatively grasping the irregularity of the shape or physical properties of the pattern on a two-dimensional plane, the relation between the shape and physical properties of the pattern, pattern arrangement precision and the like in the analysis of the pattern having feasures in its shape, physical properties or the like.例文帳に追加

形状もしくは物性等に特徴を有するパターンの解析において、二次元平面でのパターン形状や物性のばらつき、パターン形状と物性の関係、パターン配列精度等を定量的に把握することができる測定方法を提供する。 - 特許庁

The probe 1 is tilted and moved to the direction where the tip of the probe 1 corresponds to the tip of the shade of the probe 1 at a target position on an observation screen while causing the tip thereof to approach the target position of the sample 5, and observing a distance between the tip of the probe 1 and the target position by a charged particle beam microscope.例文帳に追加

プローブ１をチルトさせてその先端部を試料５の目標位置に接近させながら、プローブ１先端部と前記目標位置の距離を荷電粒子ビーム顕微鏡で観察しつつ、観察画面上で前記目標位置にてプローブ１とプローブ１の影との先端部が一致する方向へ、プローブ１を移動させる。 - 特許庁

By forming the opening parts in the opaque layer of the substrate and wiring in such a way that the conductors may traverse the opening parts, it is possible to simultaneously observe a traverse part of a conductor traversing an opening part and the specimen observed from the opening part with a microscope.例文帳に追加

基板の不透明層に開口部を形成し導線が開口部を横断するように配線することにより、開口部を横断している導線の横断部と、開口から観察される検体とを顕微鏡で同時に観察することができる。 - 特許庁

The controller 49 makes control so that the lighting timing of a PWM (Pulse Width Modulation) controllable LED (Light Emitting Diode) light source part 29 for illuminating the sample in the microscope 1 provided with a camera head 33 for imaging the sample, agrees with the exposure timing of the camera head 33.例文帳に追加

試料撮像用のカメラヘッド３３を備えた顕微鏡１における試料照明用のＰＷＭ制御可能なＬＥＤ光源部２９の点灯のタイミングを、カメラヘッド３３の露光のタイミングに合わせるように制御する制御装置４９。 - 特許庁

By aligning a cutting point 12 of the diamond cutter 11 with the marker displayed within the visual field of the microscope of the diamond-cutter adjusting apparatus 21, the alignment of the cutting point 12 is performed simply in a short time and accurately.例文帳に追加

そして、ダイヤモンドカッタ１１のカッティングポイント１２の位置合わせは、ダイヤモンドカッタ調整装置２１の顕微鏡の視野内に表示されるマーカーとカッティングポイント１２との位置を合わせることによって、簡単に短時間に且つ正確に行われる。 - 特許庁

In the evaluation of the semiconductor device 1 provided with a semiconductor layer 2 and a metal layer 3, the surface potential of the semiconductor layer 2 and the surface potential of the metal layer 3 are measured by using the same cantilever 6 of a Kelvin probe force microscope (KFM).例文帳に追加

半導体層２及び金属層３を有する半導体装置１の評価において、ケルビンプローブフォース顕微鏡（ＫＦＭ）の同一のカンチレバー６を使用して半導体層２の表面電位及び金属層３の表面電位を測定する。 - 特許庁

When the mobile part 31 is turned, the position in the turning direction of the mobile part 31 is determined in a prescribed angular position by a click stop mechanism omitted in Figure, and the optical element 34 or 35 is aligned with the optical axis of an optical system of the microscope.例文帳に追加

可動部３１を回動操作させると、所定の角度位置で不図示のクリックストップ機構により可動部３１の回動方向の位置が決められ、光学素子３４または３５が顕微鏡の光学系の光軸に対してアライメントされる。 - 特許庁

The subject method for observing the biological blood flow is to observe the image of the blood vessel of a micro-circulation system underneath the mucous membrane of an oral cavity by a PC or a TV monitor via the mucous membrane of the oral cavity by magnifying and displaying by a simple reflection illumination type optical microscope system having a magnification of more than 100.例文帳に追加

口腔の粘膜を介して、その下にある微小循環系の血管の像を１００倍以上の倍率を持つ反射照明方式の単純な光学顕微鏡システムで拡大表示してＰＣ或いはＴＶモニターで見る。 - 特許庁

When the work mark exists inside the visual field of at least either of the two alignment microscopes, the work W is rotated and moved so as to make the other work mark enter inside the visual field of the other microscope.例文帳に追加

そして、２個のアライメント顕微鏡のうちの少なくとも一つの顕微鏡の視野内にワークマークＷＡＭが入っている場合には他方の顕微鏡の視野内に他方のワークマークＷＡＭが入るようにワークＷを回転・移動させる。 - 特許庁

This stereomicroscope inclines the body tubes of the microscope incorporating coaxial vertical illumination in order to obtain the stereoscopic images at the same angle of both opposite surfaces and binocularly views the images formed by receiving the halation images created by both with the each other's microscopes.例文帳に追加

立体像を得るために、同軸落射照明を取り入れた顕微鏡の鏡筒を双方対面の同角度で傾け双方でつくられるハレーション像を、相互の顕微鏡で受像し互いに受像した像を双眼で見る立体顕微鏡。 - 特許庁

To provide a method for controlling the probe in a scanning probe microscope that properly controls the twisted condition of the probe that is caused from a reaction force, applied from the inclination portion of unevenness on the surface of a sample to the top end of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸の傾斜部から探針先端に加わる反力に起因して生じる探針の捩れ状態を適切に制御して計測データの誤差を低減する走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide an in situ observation system in a composite emission electron microscope capable of facilitating LEEM or XPEEM observation under a catalytic reaction condition by utilizing such a characteristic that an electron microscope forms the focal point in a specified position and putting an aperture having a small opening radius in this position.例文帳に追加

電子顕微鏡が特定位置で焦点を結ぶことを利用し、その位置に開口半径の小さいアパーチャーを入れ、ＬＥＥＭやＸＰＥＥＭ観察を触媒反応条件下で容易に行えるようにした複合放出電子顕微鏡におけるその場観察システムを提供する。 - 特許庁

To provide a manipulation device for fine work of an electron microscope constituted by mounting a dual probe which enables an operator not only to observe an extremely fine and minute sample but also to smoothly and surely perform electric measurement and further electric super-fine working while observing an image by the microscope.例文帳に追加

極めて微細かつ精緻な顕体試料の観察のみならず、オペレーターが顕微鏡の画像を観察しながら、電気的測定、さらには電気的超微細加工を、円滑かつ確実に行なうことを可能とするデュアルプローブを載置した電子顕微鏡微細作業用マニピュレーション装置の提供。 - 特許庁

To provide a sample image observation method, an image processing device, and a charged particle beam device suitable for selecting an image region to be acquired by the charged particle beam device represented by an electron microscope based on an image obtained by an optical microscope.例文帳に追加

本発明は、光学顕微鏡によって取得された像に基づいて、電子顕微鏡に代表される荷電粒子線装置にて取得すべき画像領域を選択するのに好適な試料像観察方法，画像処理装置、及び荷電粒子線装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a deflection unit for a microscope with which sharp color observation can be easily and inexpensively performed with simple constitution without separately disposing a space and mechanism for arranging a phase plate, such as a sharp color plate and a vertical illuminating light projection tube or microscope using the same.例文帳に追加

鋭敏色板などの位相板を配置するためのスペースや機構を別途設けることなく、簡単な構成で、簡単かつ安価に鋭敏色観察を行なうことが可能な顕微鏡用偏向ユニット及びそれを用いた落射投光管又は顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of reducing a measurement error caused by a creep without lowering a throughput in measurement by the scanning probe microscope equipped with a coarse movement Z-axis stage having a visco-elastic characteristic, its measuring order determination method, and its measuring method.例文帳に追加

粘弾性特性を有する粗動Ｚ軸ステージを備えた走査型プローブ顕微鏡による測定で、スループットを下げることなく、クリープに起因する計測誤差を低減できる走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for and a method of fully automatically and rapidly scanning and digitizing an entire microscope sample, using a computer controlled microscope slide scanner for composing image strips obtained by continuous scanning of the sample into a single continuous digital image.例文帳に追加

試料の連続的スキャンから得られた画像ストリップを単一の連続したデジタル画像を構成するためにコンピュータ制御された顕微鏡スライドスキャナを用いて、顕微鏡試料全体を全自動で迅速なスキャンおよびデジタル化するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a trinocular tube capable of adjusting a binocular inclined observation angle for an eyepiece lens connectable with a stereo microscope and guiding at least one of both optical paths of stereo microscope into a camera connection pipe on the arbitrary place of inclined line of sight by means of a simple means.例文帳に追加

立体顕微鏡と連結できる接眼レンズに対する双眼傾斜観察角度を調整することができ、傾斜視線の任意の場所で立体顕微鏡両光路の少なくとも１つを簡単な手段によりカメラ接続管に導き入れることのできる三眼鏡筒を提供すること。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, a method is performed, wherein a relative fine displacement in the lateral direction is applied independently in the orthogonal biaxial directions in the state where a friction is generated between the sample and the probe, and each data related to the friction in the biaxial directions are acquired.例文帳に追加

さらにこの走査型プローブ顕微鏡では、試料と探針の間で摩擦が生じる状態で相対的な横方向の微小変位を直交する２軸方向に独立に加え、２軸方向のそれぞれ摩擦に係るデータを取得する方法が実行される。 - 特許庁

The focal point of the microscope lens 32 is easily focused on the end face 30a of the rod lens 30 by this manner even when the focusing is difficult directly in such a case as a flaw, dust or the like does not exist or is not deposited on the end face 30a of the lens 30.例文帳に追加

このようにすれば、ロッドレンズ３０の端面３０ａにキズやほこり等が付着していない場合など、直接、焦点を合わせにくいような場合であっても、顕微鏡レンズ３２の焦点を、容易に、ロッドレンズ３０の端面３０ａに合わせることができる。 - 特許庁

The stylet 5 of a scanning tunneling microscope (STM) is installed in the vicinity of a point where the DNA 3 is taken into the inside of the RNA polymerase 2 and the distance between the stylet and the DNA 3 is kept to be constant to be metered with a tunnel current.例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針５をピエゾスキャナ６とピエゾスキャナ駆動回路７を用いてＤＮＡ３がＲＮＡポリメラーゼ２の内部に取り込まれる個所の近傍に設置し、ＤＮＡ３との距離をトンネル電流が計測できる一定の距離に保つ。 - 特許庁

Next, the humidity-adjusting pin 14 of the measuring cell 8 is loosened to expose the surface of the resin base material 1 of the sample 7 to a high-humidity atmosphere and the surface shape of the same place as a dry state measured first by the atomic force microscope 20 is measured, after a fixed interval.例文帳に追加

次に、測定セル８の湿度調整ピン１４を緩め、試料７の樹脂基材１の表面を高湿雰囲気に晒し、一定時間後に原子間力顕微鏡２０により始めに測定した乾燥状態と同じ箇所の表面形状を測定する。 - 特許庁

If display of the observation image recorded in the removable medium 25 is directed, the camera control unit 13 makes a monitor 24 display the designated observation image and restores the setting of the microscope system based on the setting information related to the observation image.例文帳に追加

また、カメラコントロールユニット１３は、リムーバブルメディア２５に記録されている観察画像の表示が指示されると、指示された観察画像をモニタ２４に表示させるとともに、その観察画像に関連付けられた設定情報に基づいて、顕微鏡システムの設定を復元する。 - 特許庁

The support device is positioned at the foot of the observer, and is constituted to shift the position of a mirror body 2 by converting operational force input in an operation input device which is operated by the foot of the observer into moving force for shifting the position of the mirror body 2 of a surgical microscope.例文帳に追加

観察者の足元に位置され、観察者自身の脚で、操作可能な操作入力装置で入力した操作力を、手術用顕微鏡の鏡体２の位置を変更する移動力に変換して鏡体２の位置を変えるようにした支持装置である。 - 特許庁

The detector 18 includes a case 50 slidably disposed to the casing of the infrared microscope; a lighting opening 56 for guiding infrared light from the casing into the inside along the sliding direction; and a detection center section that is contained in the case 50 and detects the infrared light.例文帳に追加

検出器１８は、赤外顕微鏡の筐体に対してスライド自在に設けられるケース５０と、スライド方向に沿って筐体からの赤外光を内部に導く採光口５６と、ケース５０に内蔵され赤外光を検出する検出中心部とを備える。 - 特許庁

Thereafter, the base 6 is moved in an upward direction with respect to the base 5 so as to make the base 5 stand on the floor surface, and an air bearing is attached to the base 6 instead of the caster 9, whereby the microscope is accurately and easily aligned to the specified position.例文帳に追加

その後、固定台５に対して上方向に可動台６を移動させて固定台５を床面に着地させ、キャスタ９に替えてエアーベアリングを可動台６に取り付けることで、所定の位置への顕微鏡の位置合せを高精度且つ容易に行うことができる。 - 特許庁

In a state of observing the slide glass 23 from vertically below by the inverted microscope 5, the nozzle 16 is moved closer toward a surface side of the slide glass 23 from above the slide glass 23, a solution (the separation liquid) is dropped from the nozzle 16, and the separated cell is sucked up.例文帳に追加

倒立顕微鏡５により、鉛直下からスライドグラス２３を観察する状態にしておき、スライドグラス２３の上方からスライドグラス２３の表面側に向けてノズル１６を接近させ、そのノズル１６から溶液（剥離液）を滴下して、剥がれた細胞を吸い上げる。 - 特許庁

The device for replacing an objective lens in a microscope is provided with a fixed stage device, a microscope stand 2, which has an end wall 8 and sidewalls 4 and 6 and has sidewalls 4 and 6 coupled by the end wall 8 and a rear wall 3, and an objective lens revolver 14 which determines an axial line 26 of rotation, which is arranged obliquely to sidewalls 4 and 6.例文帳に追加

固定ステージ装置と、端壁（８）と第１および第２の側壁（４，６）を有し、第１および第２の側壁（４，６）が前記端壁（８）と後壁（３）により結合されている顕微鏡スタンド（２）と、両側壁（４，６）に対し斜めに配置されている回転軸線（２６）を決定する対物レンズレボルバー（１４）とを備えている。 - 特許庁

A polynomial approximation expression is created based on a focus map of a previously measured optical microscope, and a control amount derived from the polynomial approximation expression by adding thereto wafer height information at creation time and a difference between it and another wafer height information at actual observation time is input as a focus control value for the optical microscope.例文帳に追加

予め測定された光学式顕微鏡のフォーカスマップを基に多項式近似式を作成し、その時のウエハ高さ情報と、実際の観察時におけるウエハ高さ情報との差分を前記多項式近似式に加算した制御量を光学式顕微鏡のフォーカス制御値として入力する。 - 特許庁

The caged compound releasing light introduction mechanism is constructed utilizing the inverted microscope, and has a microscope case 101, an eye lens 102, an irradiation light source for observation 103, a dichroic mirror 105, a CCD camera 106, a TV monitor 107, and a light source unit for releasing a caged compound 120 which emits caged compound releasing light.例文帳に追加

ケージド解除光導入機構は、倒立型顕微鏡を利用して構成されており、顕微鏡筐体１０１、接眼レンズ１０２、観察用照明光源１０３、ダイクロイックミラー１０５、ＣＣＤカメラ１０６、テレビモニター１０７と、ケージド解除光を射出するケージド解除用光源ユニット１２０とを有している。 - 特許庁

In a measuring method of elastic modulus of an extreme surface in a solid material sample such as resin film by using an atomic force microscope, a probe of an atomic force microscope is contacted at an elastic displacement as a displacement of a solid material sample within the range providing elastic deformation without providing plastic deformation to the solid material sample.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた樹脂フィルム等の固体物質試料の極表面の弾性率の測定方法であって、原子間力顕微鏡の探針を、固体物質試料に塑性変形を与えることなく弾性変形を与える範囲内の固体物質試料の変位量である弾性変位量で接触させる。 - 特許庁

In the microscope objective having an inner frame holding an optical element and an outer frame for fitting and holding the inner frame inside, the inner frame is installed slidably in the optical axis direction inside the outer frame, so that the full length of the microscope objective is kept in each of a normal condition and a contracted condition in observation.例文帳に追加

上記課題は、光学素子を保持する中枠と前記中枠を内部に嵌め合わせて保持する外枠を有する顕微鏡対物レンズにおいて、前記内枠は前記外枠の内部で光軸方向に摺動可能に設置され、前記顕微鏡対物レンズの全長は、観察時の通常状態と収縮状態の、それぞれの状態で保持されることを特徴とする顕微鏡対物レンズによって解決される。 - 特許庁

The sample imaging apparatus A is provided with an oscillation detection means for detecting relative vibration between a sample mounted to the microscope and an object lens 3 of the microscope; a means for achieving focal point before oscillations detected by the oscillation detection means converge; and a determination means for determining whether oscillations detected by the oscillation detection means have stopped.例文帳に追加

前記顕微鏡に取り付けられた標本と前記顕微鏡の対物レンズ３との間の相対的な振動を検出する振動検出手段と、この振動検出手段により検出される振動が収束する前に焦点合わせを行う手段と、前記振動検出手段により検出される振動が収束したか否かを判断する判断手段とを備えている。 - 特許庁

After the surface of the sample for microscope observation, cut out from a substrate sample, is processed by FIB, the vicinity of the surface of the sample is scanned with a probe 4 of a probe microscope and ground by a mechanical method, electrochemical reaction, or an optical technique, such as oxidization or annealing, to conduct processing of removing ionic elements implanted by ion irradiation.例文帳に追加

基板サンプルより切り出された顕微鏡観察用試料の表面をＦＩＢによって加工処理した後、試料の表面近傍をプローブ顕微鏡探針４を走査して機械的方法、電気化学的反応、あるいは酸化、アニーリングといった光学的手法によって研磨することによりイオン照射によって打ち込まれたイオン元素を除去する加工を行うものである。 - 特許庁

To realize a detection optical path made as short as possible by the assist of a structurally simple means concerning the design of a microscope, especially, a confocal scanning type microscope having a light source for irradiating an object to be inspected, a spectroscopic device for separating transmitted light passing through the object and fluorescence formed by the object and a separating device acting on the transmitted light.例文帳に追加

検査される対象物を照射するための光源と、対象物を通過する透過光および対象物で形成される蛍光を分離するための分光装置と、透過光に作用する分離装置とを有する特に共焦点走査型顕微鏡のための顕微鏡設計に関し、できる限り短い検出光経路が、構造的に簡素な手段の助けによって実現される。 - 特許庁

The sample imaging apparatus 1 includes: a microscope unit 2 for imaging a blood smear including a stained hemocyte cell for acquiring a hemocyte image relating to a blood cell included in the blood smear; and an image processing unit 3 for detecting an abnormality relating to staining of the blood smear, based on the hemocyte image obtained by the microscope unit 2.例文帳に追加

標本撮像装置１は、染色された血球細胞を含む血液塗抹標本を撮像し、血液塗抹標本に含まれる血液細胞に関する血球画像を取得する顕微鏡ユニット２と、顕微鏡ユニット２により得られる血球画像に基づいて、血液塗抹標本の染色に関する異常を検出する画像処理ユニット３と、を備える。 - 特許庁

The height of the ruggedness on the surface of the observation object is measured by utilizing the sectioning function of the confocal type microscope and the aperture diaphragm is automatically set so that the depth of focus may be equivalent to the height of the ruggedness of the observation object, so that the optimum-contrast image is obtained in a short time.例文帳に追加

本発明によれば、共焦点型顕微鏡のセクショニング機能を利用して観察対象表面の凹凸高さを測定し、その観察対象の凹凸高さに相当する焦点深度になるように開口絞りを自動的に設定するので、最適のコントラストの画像を短時間で取得することができる。 - 特許庁

The resin containing the filler is dissolved in the solvent, the solution is filtered using the filter, the filter is immersed into the solvent to disperse the filler, the dispersed filler is transferred to a sample holder together with the solvent, and the filler is dried to be observed and evaluated by the microscope.例文帳に追加

また、樹脂に含まれるフィラーの分散状態を評価する方法であって、フィラーを含む樹脂を溶媒で溶解し、溶解液を、ろ過フィルターを用いてろ過し、前記ろ過フィルターを溶媒に浸漬し、フィラーを分散させ、分散したフィラーを溶媒と共に試料ホルダーに移し、フィラーを乾燥させて、顕微鏡で観察し、評価する方法。 - 特許庁

The slit light 10 for exactly performing focusing to the microscope of the configuration consisting of only the coaxial illumination of the conventional type in Fig. 7 is composited and thereby the video obtained by striking the light composited with the coaxial illumination and the slit light to an object is projected by a CCD camera.例文帳に追加

本発明は、図７の従来型の同軸照明６のみの構成の顕微鏡にピント合わせを正確に行うためのスリット光１０を合成する事により、被写体に同軸照明とスリット光が合成された光が当たった映像をＣＣＤカメラで映し出す。 - 特許庁

The slope adjusting device 1 of the objective lens servo-controls the position of the objective lens 5 by using a focusing actuator 41 and a tracking actuator 42 provided in an optical pickup 4, and thereby prevents the shifting of a beam spot out of the visual field of the microscope during the slope adjustment of the objective lens 5.例文帳に追加

対物レンズの傾角調整装置１は、光ピックアップ装置４に備わっているフォーカシングアクチュエータ４１およびトラッキングアクチュエータ４２を利用して対物レンズ５の位置をサーボ制御し、これにより、対物レンズ５の傾角調整時にビームスポットが顕微鏡視野内から外れることを防止している。 - 特許庁

To provide a device for detecting the concrete physical quantity of an observed object such as the inclination of the observed object, the minute planer part, the edge part, the level difference and the phase variation, etc., in a short time from the differential interference image of the observed object obtained through a differential interference microscope.例文帳に追加

観察物体の勾配，微小平面部，エッジ部，段差，位相変化量等の具体的な物理量を微分干渉顕微鏡によって得られる観察物体の微分干渉画像から短時間で検出するための装置とこれを用いた検出方法を提供する。 - 特許庁

In second process step, the barrel part 23 with the built-in aberration correcting lens is attached to the microscope barrel part 24, thereafter, the optical element module lens part 27 is moved by a centering mechanism part 58 so as to make alignment between the center of the light-receiving/emitting part 28 and the center of the lens 29 with the aberration.例文帳に追加

第二工程では、収差補正用レンズ内蔵筒体部２３を顕微鏡筒体部２４に取り付け、この後に、調心機構部５８を用いて光素子モジュールレンズ部２７を移動させつつ受発光部２８の中心と収差を持たせたレンズ２９の中心との位置合わせを行う。 - 特許庁

At the cover part 6, a panel and open and close doors 11a, 11b and a window part 14 or the like are mounted on a frame part 29, and in the frame part 29, the rear part frame body surrounding the electron microscope main body part 1 and the rear part side of the pedestal cabinet 24 and the front part frame body surrounding the front part side are coupled.例文帳に追加

カバー部６は、枠部２９にパネルや開閉扉１１ａ，１１ｂ，窓部１４などが取り付けられたものであり、枠部２９は、電子顕微鏡本体部１や架台筐体２４の後部側を囲む後部枠体と前部側を囲む前部枠体とが連結されたものである。 - 特許庁