「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(57ページ目) - Weblio英語例文検索

If the mobile part 31 is so inclined or deformed that the extent of degradation in optical performance of the microscope may exceed an allowable range, auxiliary members 36 to 39 are brought into contact with the mobile part 31 to prevent deformation or inclination of the mobile part 31.例文帳に追加

顕微鏡の光学性能の低下量が許容範囲を越すほどに可動部３１が傾きかけたり変形しかけたりすると補助部材３６〜３９が可動部３１と接触して可動部３１の変形や傾きが阻止される。 - 特許庁

To provide a confocal microscope, capable of capturing the inner peripheral surface of a notched part, such as a notch formed in the peripheral edge of a semiconductor wafer and of a groove, etc., as a high-resolution image.例文帳に追加

半導体ウェハの周縁に形成されたノッチのような切欠き部や溝等の内周面を高解像度画像として撮像できる共焦点型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope that can excite a sample labeled with fluorescent protein to thereby generate fluorescent polarization and perform various functional analysis of the sample by using the generated fluorescent polarization.例文帳に追加

蛍光タンパクにより標識した標本を励起することができ、これにより得られる蛍光偏光により標本の多様な機能解析を可能にした共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning-type laser microscope, allowing a galvanoscanner to fast scan over a wide range and capable of observing a wide range, by efficiently radiating the heat generated in the galvano-scanner.例文帳に追加

ガルバノスキャナで発生する熱を効率よく放熱することにより、ガルバノスキャナを高速かつ広範囲を走査可能にし、広い範囲を観察できる走査型レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This scanning electron microscope is so structured that an insulation member 5d is arranged between an inner magnetic pole 5a and an outer magnetic pole 5b; and the inner magnetic pole 5a and the outer magnetic pole 5b are electrically insulated from each other.例文帳に追加

内側磁極５ａと外側磁極５ｂの間に絶縁部材５ｄが配置され、内側磁極５ａと外側磁極５ｂが電気的に絶縁される構造となっている。 - 特許庁

To provide an inverted microscope which permits the insertion and removal of an image pickup optical path without renewal of a body tube simply by inserting and removing an intermediate body tube unit between a body and the tube body.例文帳に追加

中間鏡筒ユニットを鏡体と鏡筒との間に挿脱するだけで鏡筒をバージョンアップすることなしに撮像光路を挿脱できる倒立型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which enables obtaining of a bright non-confocal image and performs difference image computation for changing the depth of focus, without increasing the load of a CPU.例文帳に追加

明るい非共焦点画像が得られるとともに、ＣＰＵの負荷を増大させること無く焦点深度を変更させる差画像演算を行う共焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To characterize the tip of a probe for machining, to additionally machine a diamond probe, and to remove a machined waste deposited on the probe in a physical default removal device utilizing an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた物理的な欠陥除去装置で加工探針先端キャラクタリゼーションとダイヤモンド探針追加工と探針に付着した加工屑除去を可能にする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope system, an image processing method, and an image processing program, capable of detecting the profile curve of the surface of an observation object accurately and speedily.例文帳に追加

観察対象物の表面の断面曲線を正確でかつ高速に検出することが可能な共焦点顕微鏡システム、画像処理方法および画像処理プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that can easily scan a probe in XY directions, can perform control for bringing the probe closer to a sample surface, and can measure the undercut structural section of a sample.例文帳に追加

探針のＸＹ方向へ走査および試料表面へ接近させる制御が簡単で、試料のアンダカット構造部分の計測が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic inspection method and an automatic inspection apparatus of a non-metal inclusion for observing the sample surface of a metal material by a metal microscope having a camera and for inspecting the non-metal inclusion.例文帳に追加

金属材料の試料面を、カメラを付設した金属顕微鏡で観察し、非金属介在物の検査を行う非金属介在物の自動検査方法および装置に関する。 - 特許庁

To provide a sample conveying mechanism capable of removing foreign bodies stuck on a sample during conveyance of the sample, and to provide a scanning electron microscope having the sample conveying mechanism.例文帳に追加

本発明は、試料搬送中に、試料に付着した異物の除去を行う試料搬送機構、及び試料搬送機構を備えた走査電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a technique capable of restraining the charges generated by electron beam irradiation from accumulating in a measuring sample, in a probing device that uses an SEM (scanning electron microscope) as the observation means.例文帳に追加

ＳＥＭを観察手段として用いるプロービング装置において、電子線照射により生じる測定試料への電荷の蓄積を抑制することのできる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a transfer system of an electron microscope image capable of speeding up an update rate of the image even when there is change in capacity of a network line and the capacity is either small or large.例文帳に追加

ネットワーク回線の容量の変化があり、容量が大きい場合でも小さい場合でも画像の更新レートを速くすることができる電子顕微鏡像の転送方式を実現する。 - 特許庁

An observation optical system 30 of the surgical microscope 1 guides the reflected light of first reflection light on a patient's eye E to an eye lens 36 via an objective lens 31 and a variable magnification lens 32.例文帳に追加

手術用顕微鏡１の観察光学系３０は、患者眼Ｅによる第１照明光の反射光を対物レンズ３１や変倍レンズ３２を介して接眼レンズ３６に導く。 - 特許庁

The electron energy spectrometer has such a correcting means, and the electron microscope is provided with such a spectrometer.例文帳に追加

また、下流側の１２重極子レンズでは電子線が電子線エネルギー分光器に入射する角度と入射電子線のエネルギー広がりに関係する値の積に比例する収差を補正する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope by which the quality of an observation image in observation using polarization such as differential interference observation is improved by making the polarization state of illumination light better.例文帳に追加

照明光の偏光状態を良好にして、微分干渉観察など偏光を用いた観察時の観察画像の質を向上させた走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an organic sample observation device which is equipped with both of the function of a vertical fluorescence image pickup device and the function of a stereoscopic microscope and which can be used by switching both functions by simple operation.例文帳に追加

落射蛍光撮像装置の機能と実体顕微鏡の機能とを併せ持ち、且つ簡単な操作で両機能を切り替えて使用できる生体試料観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic inspection apparatus for a microscope, in which only one stage is used, in which the movement distance of the stage is reduced and in which a position error in a preliminary positioning operation and in an actual inspection is reduced.例文帳に追加

ステージを一つにするとともに移動距離を少なくし、予備位置決めの際と実際の検査の際の位置誤差を小さくした自動顕微鏡検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope measuring apparatus capable of accurately setting a spectroscopic measuring area of a test object such as a color filter or the like, and accurately grasping spectroscopic information of the test object.例文帳に追加

カラーフィルタなどの被検体の分光計測領域を正確に設定することが可能で、被検体の分光情報を正確に把握できる顕微鏡測定装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently apply a relatively large magnetic field to a measuring target, for a polarization microscope and based on this, to observe the dynamic magnetization response of the measuring target.例文帳に追加

偏光顕微鏡において、被測定物に比較的大きな磁界を効率的に印加し、それにより被測定物の動的な磁化応答を観測することを可能とすることにある。 - 特許庁

To provide a motor-driven microscope capable of preventing breakage of a sample or ill effects on human bodies, by initializing a part of reproduced observation conditions, when the power is turned on again, after reproducing the observation conditions.例文帳に追加

観察条件を再現した後で電源が再投入された場合に、再現される観察条件の一部を初期化することで、標本の破損や人体への影響を防止する。 - 特許庁

To provide a confocal scanning microscope capable of suppressing the degradation of the quality of a fluorescent image caused by self-fluorescence, while allowing a confocal diaphragm to act on exciting light and fluorescence.例文帳に追加

共焦点絞りを励起光及び蛍光に作用させながら、自家蛍光による蛍光画像の画質の劣化を抑制することができる共焦点走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To adjust the proportion of illuminating light introduced to a plurality of lighting optical systems of a microscope from one light source device, while restraining increase in cost and increase in size of the device.例文帳に追加

コストの増大や装置の大型化を抑制しつつ、１つの光源装置から顕微鏡の複数の照明光学系に導入する照明光の割合を調整できるようにする。 - 特許庁

A minute flow field imaging apparatus includes an imaging apparatus (11) for imaging a particle image of visual fluid in the minute flow field (M) and a microscope (12) which is optically connected to the imaging apparatus.例文帳に追加

微小流動場撮影装置は、微小流動場(M)の可視化流体の粒子画像を撮像する撮像装置(11)と、撮像装置に光学的に連結した顕微鏡(12)とを備える。 - 特許庁

To provide a microscope incorporating an automatic focus adjustment device that eliminates the need for a complicated operation in which the front focusing position of an objective lens is set to a desired observing position.例文帳に追加

所望の観察位置に対物レンズの前側焦点位置を設定する作業の煩雑さを改善した自動焦点調節装置を内蔵する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope device capable of appropriately determining adjusting degree of sensitivity even when the inspected object has an unclear outline due to irregularity on the surface.例文帳に追加

表面の凹凸による輪郭が明瞭でない検査対象物であっても、感度の調整具合を適切に判断することができる走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

A scanning probe microscope 1 has a constitution equipped with the material supply probe device 1a, a sample capturing probe 15, and a moving part 16 for moving relatively the sample capturing probe 15.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１を、物質供給プローブ装置１ａと、試料捕捉プローブ１５と、試料捕捉プローブ１５を相対移動させる移動部１６とを備えて構成した。 - 特許庁

The camera control unit 13 then records the observation image as adding information on items of comment and setting information indicating settings of a microscope system, both specified by a user.例文帳に追加

そして、カメラコントロールユニット１３は、ユーザにより指定されたコメントの各項目の情報と、顕微鏡システムの設定を示す設定情報とを観察画像に付加して記録させる。 - 特許庁

Preferable matter is that the highest frequency blocked by the blocking member is one at which a microscope having no blocking member is considered to show a CTF of 0.5.例文帳に追加

好ましいことは、ブロッキング部材によってブロックされた最も高い周波数が、ブロッキング部材無しの顕微鏡が０．５のＣＴＦを示すと思われるようなものであることである。 - 特許庁

To provide an asbestos sampler and an asbestos sampling method capable of carrying out a series of works from the sampling of the asbestos to observation of dyeing by a phase difference microscope, on one substrate.例文帳に追加

アスベストの採取から位相差顕微鏡による染色観察までの一連の作業が一つの基板上で行なえるアスベスト採取装置及び採取方法を提供する。 - 特許庁

PROBE SCANNING CONTROL DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND WORKING DEVICE BY THE SAME, PROBE SCANNING CONTROL METHOD, AND MEASURING AND WORKING METHOD BY THE SCANNING CONTROL METHOD例文帳に追加

プローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡及び加工装置、並びにプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法及び加工方法 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope that can high accurately measure in a wide band by reducing the influence of the mechanical resonance frequency of a piezoelectric element.例文帳に追加

本発明は、圧電素子の機械的共振周波数の影響を低減することにより、広帯域において高精度測定を可能にした走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To highly accurately measure a pattern dimension of a photomask upon measuring a dimension with the use of a microscope even when the objective pattern for measurement or adjacent patterns cause insufficient resolution.例文帳に追加

顕微鏡を用いた寸法測定において、測定対象パターンや隣接するパターンにて解像度不足が生じる場合にあっても、フォトマスクのパターン寸法を精度良く測定する。 - 特許庁

This application relates to this scanning electron microscope provided with a sample chamber, an electron detector disposed in the sample chamber, and a sample table disposed in the sample chamber and equipped with a sample holder.例文帳に追加

本発明は、試料室と、試料室の中に配置された電子の検出器と、試料室の中に配置された、試料ホルダを備える試料台とを備える走査電子顕微鏡に関する。 - 特許庁

To provide the confocal microscope which can select a pattern on a rotary body according to the power of an objective and obtains a confocal image of good picture quality.例文帳に追加

対物レンズの倍率に合わせた回転体上のパターンを選択することが可能で画質の良い共焦点画像を得ることが可能な共焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an evaluation method of an optical fiber probe capable of measuring and evaluating the diameter of the leading end of a core by a simple constitution without using a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いることなく、簡易な構成によりコア先端の直径を測定、評価することのできる、光ファイバプローブの評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a marking apparatus in a simple structure, capable of accurately marking on a target position without contacting with B subject to be marked at the time of microscope inspection, or the like.例文帳に追加

顕微鏡検査時等において被マーキング物に接触することなく目的位置に正確なマーキングを容易に行うことができ、しかも、構造が簡単なマーキング装置を提供する。 - 特許庁

Focusing handles 10 and 11 are arranged on both left and right side surfaces of the bottom section of a microscope main body 1 and switches 25 and 26 which are used to switch objective lenses, are provided on the left hand side of a front surface 30.例文帳に追加

顕微鏡本体１の下部の左右の両側面に焦準ハンドル１０，１１を有し、対物レンズを切り換えるスイッチ２５，２６を前面３０の左側に配置した。 - 特許庁

To provide an optical fiber end face inspection device and its method capable of making the accuracy of inspection higher than before when the condition of an end face of an optical fiber is inspected by using an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡を用いて光ファイバ端面の状態を検査するとき、従来に比べてその検査精度を向上可能な光ファイバ端面検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide microscope constitutional units which are improved in system extension, wherein the number of cables is reduced to the utmost, while noise-resistance is high and, less labor and time is required in assemblage.例文帳に追加

システム拡張性に優れ、ケーブルの本数を最小限に抑えることができ、かつ耐ノイズ性が高く、組み立ての際の手間が少なくなる顕微鏡構成ユニットを提供する。 - 特許庁

To realize a focus detecting device and an autofocusing microscope by which the position of a sample surface is highly accurately and easily detected even though the sample has unevenness on its surface and which are easily assembled.例文帳に追加

表面に凹凸のある試料であっても、試料表面の位置を高精度且つ容易に検出可能で、組立も容易な焦点検出装置及び自動焦点顕微鏡の実現。 - 特許庁

The optical inspection instrument, for instance, a change device for a microscope includes a changing optical element which includes two optical paths for a first optical image and is rotatably arranged in the change device.例文帳に追加

光学検査装置、例えば顕微鏡用の変更装置は、第１の光学像用の２つの光路を含み、変更装置内に回転可能に配置された変更光学素子を備える。 - 特許庁

SIGNAL DETECTING DEVICE BY SCANNING PROBE, PROBE MICROSCOPE BY THE DEVICE, SIGNAL DETECTING METHOD BY SCANNING PROBE AND OBSERVING METHOD FOR OBSERVING SAMPLE SURFACE USING THE METHOD例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出装置、該装置によるプローブ顕微鏡、及び走査型プローブによる信号検出方法、該方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 - 特許庁

In a scanning confocal microscope 100 including a galvanometer mirror 5 for scanning a sample, light from the sample is spectrally diffracted by utilizing a VPH grating 1, and the spectrally diffracted light is detected a photodetector 13.例文帳に追加

標本を走査するガルバノミラー５を備えた共焦点走査型顕微鏡１００は、ＶＰＨグレーティング１を利用して標本からの光を分光し、光検出器１３で検出する。 - 特許庁