「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(55ページ目) - Weblio英語例文検索

In the microscope system 1, a fresh slide glass SG is obtained and held by the supply arm 35, and is kept in a stand-by state near the stage 15 together with the empty ejection arm 36.例文帳に追加

また顕微鏡システム１は、スライドガラスＳＧの撮像処理中に、供給アーム３５により新たなスライドガラスＳＧを取得して保持させ、空の排出アーム３６と共にステージ１５の近傍で待機させておく。 - 特許庁

In this microscope, opening dimensions of rectangle stop 40A is calculated by a microcomputer 70 on the basis of the dimensions of an imaging element disposed on the imaging device and/or the powers m1, m2 of variable magnification optical systems 5, 6.例文帳に追加

この顕微鏡では、撮像装置に設置された撮像素子の寸法および／または変倍光学系５，６の倍率ｍ１，ｍ２を基に、矩形絞り４０Ａの開口寸法がマイクロコンピュータ７０により算出される。 - 特許庁

To provide an optical apparatus for observation, with the optical apparatus configured so as to be switched between the position used for microscope observation and the position used for other purposes, by moving the illumination light source through a simple mechanism and using only simple operations.例文帳に追加

簡単な機構でかつ容易な操作のみで照明光源を移動させて顕微観察用途とそれ以外の用途にそれぞれ適した位置に切り換え得るようにした観察用光学機器を提供する。 - 特許庁

By supplying air to the bearing part 21 and making a rolling body 22 float in the midst of aligning the microscope A, a base board 16 floats and is freely moved with respect to the top board 17.例文帳に追加

そして、顕微鏡Ａの位置合わせ中において、ベアリング部２１にエアーを供給して転動体２２を浮上させることで、ベース板１６が浮上し、天板１７に対しベース板１６を自由に移動させることができる。 - 特許庁

The silver particle is provided, wherein the shape by electron microscope observation is nongranular; the central particle diameter (D50) is 0.05 to 3.0 μm, and also, the content of carbon is 0.03 to 3 mass%.例文帳に追加

電子顕微鏡観察による形状が非粒状であり、中心粒径（Ｄ５０）が０．０５μｍ〜３．０μｍであり、且つ、カーボン含有量が０．０３〜３質量％であることを特徴とする銀粒子を提案する。 - 特許庁

That is, the contents set in the microscope once can be stored by the set contents obtaining means, so that the same set contents are reproduced later without depending on operator's memory and notes.例文帳に追加

すなわち、一度顕微鏡に設定した内容を設定内容取得手段に記憶させることができるので、操作者の記憶やメモを介すことなく後に同一の設定内容を再現することが可能となる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can measure exact information on solid shape of a sample, simultaneously with the distribution information on the local properties of the sample by highest throughput, without damaging the sample.例文帳に追加

高スループットで試料にダメージを与えずに、試料の正確な立体形状情報と同時に試料の局所的特性に関する分布情報を計測できる走査プローブ顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

When performing alignment, an optical positive image, which is an image of observing the end face different from the observation face of the electron microscope from an oblique direction, is photographed at an observation-target portion arbitrarily selected from among a plurality of the observation target portions.例文帳に追加

アライメントの際には、複数ある観察対象部位から任意に選択した観察対象部位で、電子顕微鏡の観察面とは異なる端面を斜めから観察した光顕画像を撮影する。 - 特許庁

To provide a stereomicroscope that makes left brightness and right brightness equal and has an inter-optical-axis distance-varying function without increasing the size of the body of the stereomicroscope, and to provide a lens drive mechanism for a microscope, which achieves the stereomicroscope.例文帳に追加

左右の明るさを同等にでき、実体顕微鏡本体の大型化を招くことなく光軸間距離可変機能を有する実体顕微鏡と、これを実現する顕微鏡のレンズ駆動機構を提供する。 - 特許庁

To keep the clean state of a sample or the working region around the sample in case of doing the work during observation by microscope and to achieve good workability.例文帳に追加

顕微鏡装置において、顕微鏡観察を行いつつ作業を行う場合に、試料あるいは試料の周囲の作業領域の清浄性を保つことができるとともに作業性が良好となるようにする。 - 特許庁

To improve the accuracy of measuring marks themselves and to prevent the erroneous judgment by the personal differences among measuring persons, the optical axis misalignment of an optical microscope used for measurement, etc., in measuring misalignment in superposition between different layers.例文帳に追加

異なるレイヤー間の重ね合わせずれ測定において、測定マーク自身の精度自体の向上と、測定者間による個人差や測定に用いる光学顕微鏡の光軸ずれ等による誤判定を防止。 - 特許庁

A sample stage 5 and a gas supply unit 9 are disposed in the sample chamber 7 of a focus ion beam system and a microscope 31 is interposed between a sample 6 on the sample stage 5 and the gas nozzle 10 of the gas supply unit 9.例文帳に追加

集束イオンビーム装置の試料室７内に試料ステージ５とガス供給ユニット９とを設け、試料ステージ５上の試料６とガス供給ユニット９のガスノズル１０との間にマイクロスコープ３１を設ける。 - 特許庁

A confocal laser microscope is used to observe autofluorescence emitted by a sampled stratum corneum, image data divided in the height direction of the stratum corneum are compared and analyzed, and the multilayer exfoliation state of the stratum corneum is measured.例文帳に追加

共焦点レーザー顕微鏡を用いて、採取した角層試料が発する自家蛍光を観察し、角層の高さ方向に分割した画像データを比較分析して角層の重層剥離状態を測定する。 - 特許庁

To provide a scanning type optical microscope which can guide fluorescent light to a photodetector without lowering the confocal effect and without causing a loss of the fluorescent light for respective wavelengths of the fluorescent light on the multiple dying.例文帳に追加

多重染色時の各蛍光波長に対して、共焦点効果を落とすことなく、かつ蛍光を損失することなく光検出器に導くことができる走査型光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an image processor for improving the success rate and accuracy of pattern matching of two images without lowering the efficiency of the inspection work of length measurement or the like, an image processing method and a scanning electron microscope.例文帳に追加

２つの画像のパターンマッチングの成功率および精度を向上させ、しかも、測長などの検査作業の効率を低下させない画像処理装置、画像処理方法および走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A microscopic sample is displaced at high speed in the optical axis direction of the microscope by extending/shortening the piezoelectric element using a calibration table of the voltage-extension characteristics for a piezoelectric element without using a feedback circuit etc.例文帳に追加

ピエゾ素子の電圧−伸長特性の校正表を用いることにより、フィードバック回路等を用いることなく高速にピエゾ素子を伸長・短縮させ、顕微試料を顕微鏡の光軸方向に高速に変位させる。 - 特許庁

The operation variable of a light source (2) generating multiple photon excitation and/or the system variable of a confocal scanning microscope is suited to the characteristics of a fluorescent material as to the optimum fluorescent photon collection quantity.例文帳に追加

最適蛍光光子収量に関して、多光子励起を生ずる光源（２）の動作変数および／または共焦点走査型顕微鏡のシステム変数が蛍光材料の特性に適合していることを特徴とする。 - 特許庁

When the organic sample observation device is used as the stereoscopic microscope, the mirror 9 is rotated by 90° from the posture (A) and switched to a posture (B).例文帳に追加

生体試料１から放出された蛍光１７は対物レンズ７で無限遠焦点系に導入され、ダイクロイックミラー９、吸収フィルタ１３を通して撮像用投影レンズ８に導かれ、撮像装置３で撮像される。 - 特許庁

To provide a method for determining the angle of incidence of the irradiating light to irradiate a portion in the vicinity of a tip of a probe to realize the high resolution and high contrast, and a scan near-field optical microscope.例文帳に追加

本発明は、高分解能及び高コントラストを実現可能としたプローブ先端近傍を照射する照射光の入射角度を決定する方法及び走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To perform X-ray analysis without requiring the move of a specimen or the aligning of an analysis object position accompanying the move of the specimen, as to X-ray analysis at an analysis position detected by an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡によって検出した分析位置におけるＸ線分析において、試料の移動、および試料の移動に伴う分析対象位置の位置合わせを要することなくＸ線分析を行う。 - 特許庁

The first lens-barrel upper part 130 has a reflection mirror 140 to deflect the luminous flux from a microscope body to which the lens-barrel base 110 is attached toward a reflection mirror 120 of the lens-barrel base 110 at all times.例文帳に追加

第一の鏡筒上部１３０は、鏡筒基部１１０が取り付けられる顕微鏡本体からの光束を、常時、鏡筒基部１１０の反射ミラー１２０に向けて偏向する反射ミラー１４０を有している。 - 特許庁

The bacteria measuring device 56 uses a CCD camera 60 with an optical microscope for observing bacterial threads deposited on a film 58 and uses an analyzer 62 for analysis to find the quantity and speed of the growth of the bacteria.例文帳に追加

細菌測定装置５６は、フィルム５８に付着した菌糸を、光学顕微鏡付きのＣＣＤカメラ６０で観察し、解析装置６２で解析することによって、細菌の成長量と成長速度を求める。 - 特許庁

To obtain a fluorescence microscope in which a plurality of objectives can be mounted and interference between the objective and a stage accompanied with switching operation for the objective is avoided even when the space of a spot where the objective is installed is restricted.例文帳に追加

対物レンズを設置する箇所のスペースが制限されている場合であっても、複数の対物レンズを搭載することができ且つ対物レンズの切り替え操作に伴う対物レンズとステージとの干渉を回避する。 - 特許庁

To provide a physical quantity measuring instrument capable of two-dimensionally or three-dimensionally measuring the physical quantities, such as concentration, temperature, pH and the like of a fluid in the flow channel or the like of a microreactor with high accuracy and at a high speed by adapting a confocal microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡を適用し、マイクロリアクタの流路などにおける流体の濃度、温度、ｐＨ等の物理量を高精度、高速に２次元または３次元測定できる装置を提供する。 - 特許庁

The texture structure thereof has the texture characteristics that the metal Si and Si compound cannot be observed by X-ray diffraction and the granular texture cannot be observed by a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

その組織構造は、Ｘ線回折によって金属ＳｉおよびＳｉ化合物が観察されず、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えたものである。 - 特許庁

To provide an analyzer used with an excellent electron microscope apparatus capable of shortening the analyzing time and improving the analyzing accuracy by suppressing the occurrence of the contamination on an analysis object surface.例文帳に追加

分析時間の短縮を図れるとともに分析対象体表面のコンタミネーションの発生を抑制して分析精度の向上を図れるといった、優れた電子顕微鏡装置と共に用いる分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens which corrects various aberration caused by the change of the thickness of a medium existing between the objective lens and a sample, and has the maximized performance.例文帳に追加

対物レンズと標本との間にある媒質の厚さの変化によって生じる諸収差を補正できる対物レンズにおいて、性能を最大限に引き出すことが可能な顕微鏡対物レンズを提供すること。 - 特許庁

In the scattering near-field optical microscope, an excited laser beam is an ultraviolet/deep-ultraviolet laser beam and a metal is employed as a material for a probe end, the metal having dielectric constant of -2 or lower at the wavelength of the excited laser.例文帳に追加

散乱型近接場光学顕微鏡において、励起レーザー光が紫外・深紫外レーザー光であり、プローブ先端の材料に励起レーザーの波長で誘電率が−２以下である金属を採用する。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of executing optimum pulse width adjustment for shortening the pulse width of a laser beam on the position of a sample, preferably making it to the shortest width and observing the sample under an optimum condition.例文帳に追加

標本位置でのレーザビームのパルス幅を短く、望ましくは最短にする最適なパルス幅調整を行うことができ、最適な条件下での観察を行うことができるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The scanning microscope capable of acquiring the confocal image and the evanescence illumination image information is equipped with a transparent board 9 which has a first face and a second face and which supports a sample on the first face.例文帳に追加

本発明による共焦点像とエバネッセンス照明像情報を取得できる走査顕微鏡は、第１の面と第２の面を備え前記第１の面に標本を支持する透明板９を備えている。 - 特許庁

To shorten an inspection time, to always allow the optical axis of a microscope to coincide with that of a transmission illumination part by positionally correcting the same at an arbitrary position and to hold the uniformity of luminous intensity at the time of microscopic observation.例文帳に追加

検査時間の短縮化が図れ、かつ、任意の位置で位置補正して、常に顕微鏡と透過照明部との光軸を一致させ、しかも顕微鏡による観察時における照度の均一性を保つ。 - 特許庁

The reflecting X-ray microscope includes the convex mirror 1 constituting a Schwarzschild optical system, the concave mirror 2 provided with an aperture 8 and a diaphragm 9 for preventing illuminating light 5 from being blocked by the optical system, and an image detector 4.例文帳に追加

シュバルツシルド光学系を構成する凸面鏡１と、照明光５が光学系で遮られるのを避けるための開口部８と絞り９が設けられた凹面鏡２と、画像検出器４とを具備する。 - 特許庁

To solve the point at issue that the feedback of a scanning probe microscope responds to the resonance frequency of a tube scanner to exert an effect on a measuring image as noise.例文帳に追加

本発明が解決しようとする問題点は、チューブスキャナの共振周波数に走査形プローブ顕微鏡のフィードバックが応答し、測定画像にノイズとして影響してしまうという点である。 - 特許庁

To provide a scanning optical microscope using a wavefront conversion element which is less deteriorated in abaxial performance, is simple in a method of controlling the wavefront conversion element and is simple in the constitution of a pupil relay optical system or does not require the same.例文帳に追加

軸外での性能劣化が少なく、波面変換素子の制御方法が簡単で、瞳リレー光学系の構成が簡単か不要な波面変換素子を用いた走査型光学顕微鏡 - 特許庁

To provide a microscope apparatus designed so that one part of a light shield body can be opened/closed by a simple operation, and a specimen can be easily replaced while the one part of the light shield is kept open, and the specimen can be easily viewed from above.例文帳に追加

簡易な操作で遮光体の一部を開閉することができ、遮光体の一部を開放した状態で標本の交換と上方からの視認とを容易に行うことができること。 - 特許庁

To make preheating time shorter and a temperature controls space smaller in order to facilitate the observation of the viable cells held at a temperature at which the cells are desired to be observed with a microscope placed within a room of ordinary temperature.例文帳に追加

常温の室内に置かれた顕微鏡で、観察したい温度に保持された生細胞を容易に観察できるようにするには予熱時間の短縮、温度制御空間の縮小が課題である。 - 特許庁

When each inspecting microscope unit 55 carries out an inspection using an incident light illumination, respective objective lenses are arranged such that their optical axes coincide with each other, thereby inspections of the front and the backside of the same portion can be carried out simultaneously.例文帳に追加

各検査用顕微鏡ユニット５５が落射照明で検査をするときは、各々の対物レンズを光軸が一致するように配置すれば、同一箇所の表面と裏面の検査を同時に行える。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which allows measurement of movements of the object, in particular both movements, which run essentially perpendicular to the measuring beam and which essentially run parallel to the measuring beam.例文帳に追加

物体の運動とくに測定光線に対して実質的に垂直な運動ならびに測定光線と実質的に平行な運動のいずれもが測定される走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a pattern inspection method, extracting an edge shape of a pattern from an image obtained by a scanning type microscope, and estimating the electric performance of a device from the extracted information to inspect the pattern.例文帳に追加

走査型顕微鏡で得られる画像からパターンのエッジ形状を抽出し、その抽出情報からデバイスの電気的性能を予測し、パターンを検査するパターン検査方法を提供する。 - 特許庁

In particular, the powder grain of the rod-shape silver powder is made of minute rod-shape, and one with its average major axis L of the primary particle as can be judged by a scanning electron microscope image being 10 μm or less is used.例文帳に追加

特に、前記ロッド状銀粉の粉粒は微小棒状であり、走査型電子顕微鏡像から判断できる一次粒子の平均長径Ｌが１０μｍ以下であるものを用いる。 - 特許庁

An interferometer is provided with a light source section 100 which emits light rays and a microscope section 200 which projects the light rays emitted from the section 100 toward objects 31 and 32 to be measured after transforming the light rays into parallel rays of light.例文帳に追加

干渉計は、光を発する光源部１００と、光源部１００からの光を平行光にして測定対象物３１，３２に向けて照射する顕微鏡部２００を備えている。 - 特許庁

The light passed through the optical path inside the microscope 300 is condensed on an object to be processed 500 with an object lens 312 in a form based on a beam forming slit 306, thus a machining is processed.例文帳に追加

顕微鏡３００内部の光路を通過した光は対物レンズ３１２により加工対象物５００上にビーム整形用スリット３０６に基づいた形状で集光され，加工が行われる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, capable of observing a sample of which the surface is extremely soft by enhancing the accuracy (S/N ratio) of a detection signal and the reliability of feedback control.例文帳に追加

表面が極めて柔らかい試料等を、検出信号の精度（Ｓ／Ｎ比）が高く、かつフィードバック制御を信頼性高くして観察することのできる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a slit lamp microscope device that examines a patient's eye by means of continuous illumination using an LED and can capture images of the eye during the examination by means of pulse illumination using the LED.例文帳に追加

LEDを用いて連続照明により患者眼の観察を行い、観察中にそのLEDを用いてパルス照明により眼の撮影を行うことができる細隙灯顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To solve the problem in the appearance inspection of a ferrule with the combination of a subject microscope with an epi-illumination light source, that an appearance failure can be detected only when they are set to a specified angle and specified rotating angle range.例文帳に追加

フェルールの外観検査を行うに当り、実体顕微鏡と落射光源の組合せで行なうと特定の角度、特定の回転角範囲に合わせないと外観不良が検出できない。 - 特許庁