「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(59ページ目) - Weblio英語例文検索

A high speed video camera 9 enlarges, with a microscope lens 8, the state where the photosensitive layer of the photosensitive colored resin sheet 14 is adhered to the adhering face 12a of the glass substrate 12 and images the state when the thermo-compression roller 5 passes through the downside of an opening 3c of a holding base plate 3.例文帳に追加

ハイスピードビデオカメラ９は、熱圧着ローラ５が保持基板３の開口３ｃの下方を通過する際に、感光性着色樹脂シート１４の感光層がガラス基板１２の貼着面１２ａに貼着される状態を顕微鏡レンズ８で拡大して撮像する。 - 特許庁

This invention relates to the device for optically coupling the light (1) of at least one wavelength of the laser beam source (2) to the optical assembly (3), more specifically the confocal scanning microscope, having an optically active element (4) acting to select the wavelength and to set the power of the coupling light (5).例文帳に追加

本発明は、レーザ光源（２）の少なくとも１つの波長の光（１）を、具体的には波長を選択し、結合光（５）のパワーを設定するために作用する光学活性素子（４）を有する光学組立物（３）、好ましくは共焦点走査型顕微鏡に結合するための装置に関する。 - 特許庁

The measuring method for microorganism contains a step to label the microorganism with fluorescent light, a step to pass the sample liquid containing the microorganism as a micro-flow, a step to photograph the microorganism in the micro-flow with a fluorescent microscope by color photography, and a step to count the number of microorganisms from the photographed image.例文帳に追加

また、微生物の計測方法が、微生物を蛍光標識する工程と、微生物を含むサンプル液をマイクロフローとして流す工程と、マイクロフロー中の微生物を蛍光顕微鏡を介してカラー撮影する工程と、撮影された画像から微生物の数を計測する工程とを含む。 - 特許庁

To make the displacing amount of a finely moving element which minutely changes the height position of a probe with respect to a sample controllable to a desired amount when the probe is brought nearer to the surface of the sample and stopped in a measurable state at the time of measuring the surface of the sample under a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で試料の表面を測定する場合において試料表面に探針を接近させ測定可能状態で停止するとき、試料に対する探針の高さ位置を微小に変える微動要素の変位量を所望量に制御できるようにする - 特許庁

In this method of preparing the sample for direct observation in the transmission electron microscope, of an interface between the iron oxide and solid carbon for analyzing the reduction process of the iron oxide by the solid carbon, the iron oxide which is an observation object is broken and carbon is deposited on the broken face.例文帳に追加

酸化鉄の固体炭素による還元過程を解析するために酸化鉄と固体炭素の界面を透過電子顕微鏡内で直接観察する試料の作製方法であって、観察対象物である酸化鉄を破断しその破断面に炭素を蒸着することとする。 - 特許庁

The host system 2 determines a setting and an operation which are to be reproduced on the basis of the post-changeover wizard screen and the history data recorded in the operation history record unit 4 when the wizards screen to be executed are changed over, and controls the microscope apparatus 1 in accordance with the present setting and present operation.例文帳に追加

ホストシステム２は、実行させるウィザード画面を切り替えた時に、切り替え後のウィザード画面と操作来歴記録部４に記録された来歴データとに基づいて再現させる設定及び操作を決定し、当該設定及び操作に応じて顕微鏡装置１を制御する。 - 特許庁

This microscope is provided with a light source, an objective lens condensing luminous flux from the light source on a sample, a scanning optical system for scanning the sample with the luminous flux from the light source, a photodetector 109 for detecting the luminous flux from the sample and an arithmetic part arithmetically operating the output of the photodetector 109.例文帳に追加

光源と、光源からの光束を標本上に集光する対物レンズと、光源からの光束を標本上で走査させるための走査光学系と、標本からの光束を検出するための光検出器１０９と、光検出器の出力を演算する演算部とを有する。 - 特許庁

A space is thereby generated between a support film 7 for the mesh 6 for the transmission electron microscope and the observation area including the specified portion 2 desired to be observed, and reworking is allowed further from both sides of the specified portion 2 by the FIB 3, using the space, after the observation.例文帳に追加

これにより、透過型顕微鏡用メッシュ６の支持膜７と観察したい特定箇所２を含む観察領域との間に空間ができることにより、この空間を用いて、観察した後に更に特定箇所２の両側からＦＩＢ３で再加工できることとなる。 - 特許庁

Since the microscope 16 is focused to the bottom face B of a pattern at the end point of etching, a signal indicative of focusing to the bottom face B of a pattern at the end point of etching can be detected by the detector 21 when the pattern depth reaches the etching end point depth D.例文帳に追加

顕微鏡１６はエッチング終点におけるパターン底面Ｂに合焦するように設定されているので、パターン深さがエッチング終点深さＤとなったときに、検出器２１によりエッチング終点時のパターン底面Ｂへの合焦を示す信号が検出可能となる。 - 特許庁

Thus, the many actuation distances are selected by the small number of the attachment lenses 30, without having to spend handling time and expense of preparing the new attachment lens 30 and to change the attaching position of the microscope only by replacing the adapter 20, so that the flexibility of design is increased.例文帳に追加

その結果、アダプタ２０を取り換えるだけで新たなアタッチメントレンズ３０を作成したり顕微鏡の取り付け位置を変更したりする等の手間や費用をかけることなく、少数のアタッチメントレンズ３０で多数の作動距離を選択することができ、設計の自由度を増やすことができる。 - 特許庁

To provide a DLP type slit optical scanning microscope capable of attaining slit light illumination by irradiating a sample with slit light under the control of a DMD, and capable of easily adjusting the position and the extent of the illuminating light on the sample and the thickness (size) of the slit through which the sample is irradiated.例文帳に追加

ＤＭＤの制御の下にスリット光を照射して、スリット光照明を実現し、標本上の照明光の位置及び範囲並びに標本を照射するスリットの厚さ（太さ）を容易に調整することができるＤＬＰ式スリット光走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the atomic force microscope that separates the light from a light source 21 into S-polarized light and P-polarized light by a lotion prism 28 to measure the relative displacement of the article 1 to be inspected and the cantilever 12, the function for measuring the displacement of the cantilever 12 by using a reference mirror 63 as a measurement standard is provided.例文帳に追加

光源２１からの光をローションプリズム２８によってＳ偏光とＰ偏光に分離して、被検物１とカンチレバー１２との相対変位を計測する原子間力顕微鏡において、参照ミラー６３を計測基準としてカンチレバー変位を計測する機能を設ける。 - 特許庁

The position detection error between the sensors 13a and 13b is ready measured using the microscope 5a and when an exposure of a wafer is performed on the stage 15a (or 15b) on one side of the stages 15a and 15b, an alignment of the wafer is performed using the sensor 13b (or 13a) on the other stage 15b (or 15a).例文帳に追加

アライメントセンサ１３ａ，１３ｂの位置検出誤差をレチクルアライメント顕微鏡５ａを用いて計測しておき、一方のウエハステージ１５ａ（又は１５ｂ）で露光を行う際に、他方のウエハステージ１５ｂ（又は１５ａ）ではアライメントセンサ１３ｂ（又は１３ａ）を用いてウエハのアライメントを行う。 - 特許庁

To provide a microscope wherein the excellent field of illumination in both of low magnification observation and high magnification observation is secured without requiring optical axis adjustment.例文帳に追加

低倍率観察時及び高倍率観察時の双方における良好な照野を、光軸調整を要することなく確保できる手段の提供を課題とする。 - 特許庁

Driving mechanisms including a motor drive revolver 110, aperture-stop switching device 120, etc., disposed in the microscope 100 are driven by a drive member (a drive motor 121, etc.).例文帳に追加

顕微鏡１００内に設けられた電動レボルバ装置１１０、開口絞り開閉装置１２０等の駆動機構は、駆動部（駆動モータ１２１等）によって駆動される。 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION METHOD OF BOUND STATE AND AGGREGATE STATE (PATTERN) OF SUSPENDED MATTER IN AQUEOUS SOLUTION AND SUSPENDED MATTER PATTERN IMAGING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

水溶液中の懸濁物質の結合状態、集合状態（模様）の光学顕微鏡観察方法と、その観察方法を使用した懸濁物質の模様の撮影方法 - 特許庁

To provide a charged particle beam device such as an electron scanning microscope to construct a three-dimensional image (stereoscopic image) from an image obtained by the beam inclination of a right/left disparity angle.例文帳に追加

左右視差角分のビーム傾斜により得られる画像から立体画像（ステレオ画像）を構築する走査電子顕微鏡などの荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a very versatile optical system capable of reducing the illumination unevenness or observation image unevenness with a simple structure, and to provide an illumination device and a microscope device.例文帳に追加

簡易な構成で照明ムラや観察像のムラを低減することができる汎用性の高い光学系、照明装置および顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a fixing device of a sample for fixing a biological sample in a state where cells, or the like are alive at an optional point in time while observing by a horizontal optical microscope.例文帳に追加

細胞など生きた状態の生体試料を水平型光学顕微鏡で観察しながら任意の時点で固定することができる試料の固定装置を提供する。 - 特許庁

To enable switching of at least two of the observation methods in an optical microscope system for e.g. bright field observation, dark field observation, and differential interference observation.例文帳に追加

例えば明視野観察、暗視野観察又は微分干渉観察などの光学顕微鏡系の観察法の少なくとも２種の観察法を切り替え可能とすること。 - 特許庁

To provide a method of observing testpieces wherein charged amount of the observation position can be controlled stably to a desired one, and provide an electron microscope by which this can be realized.例文帳に追加

観察箇所の帯電量を所望の帯電量に安定して制御することができる試料観察方法、及びそれを実現する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In this substrate inspection device 1, a microscope unit 32 is loaded movably on a guide member 30 parallel to the X-direction which is a conveyance direction of a substrate W.例文帳に追加

基板検査装置１は、基板Ｗの搬送方向であるＸ方向に平行なガイド部材３０に顕微鏡ユニット３２が移動自在に搭載されている。 - 特許庁

In order to solve the problems, a device is proposed in which a prescribed treatment is carried out by a line as a unit (scanning line as a unit) when an image is processed in a scanning electron microscope.例文帳に追加

上記課題を解決するために、走査電子顕微鏡の画像処理に際し、ライン単位（走査線単位）で所定の処理を実施する装置を提案する。 - 特許庁

To perform position alignment of a mask and a work piece by detecting two alignment marks located outside the depth of focus range without moving an alignment microscope in an optical axis direction.例文帳に追加

アライメント顕微鏡を光軸方向に移動させることなく、焦点深度範囲外にある２つのアライメントマークを検出しマスクとワークの位置合せをすること。 - 特許庁

To provide a resolution evaluation chart for a fluorescence microscope which is capable of coping with a light source having a wide wavelength region and is continuously usable, and a method of manufacturing the chart.例文帳に追加

幅広い波長領域の光源に対応でき継続的に使用可能な蛍光顕微鏡用解像度評価チャートおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning capacitance microscope(SCM) with which a p-n junction position in a semiconductor sample can be specified with high detection sensitivity and to provide a measuring method using the SCM.例文帳に追加

半導体試料中のｐ−ｎ接合位置を高い検出感度で特定できる走査型容量顕微鏡（ＳＣＭ）とそれを用いた測定方法を提供する。 - 特許庁

A transmission type microscope 315 comprises an objective lens 306 and a cover glass 452 which is arranged between the objective lens 306 and a sample 307 and is formed of a negative refractive index medium 301.例文帳に追加

透過型顕微鏡３１５は、対物レンズ３０６と、標本３０７との間に配置され、負屈折率媒質３０１で形成されたカバーグラス４５２を有する。 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING CRYSTALLOGRAPHIC ORIENTATION RELATIONSHIP OF ADJACENT CRYSTAL GRAINS USING GONIOMETER OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF EXAMINING CHARACTERISTICS OF GRAIN BOUNDARY USING THE SAME例文帳に追加

透過電子顕微鏡のゴニオメ−タを利用した隣り合う結晶粒の結晶学的方位関係測定装置及びそれによる結晶粒界の特性の糾明方法 - 特許庁

The inspection and repair system 1 comprises an optical microscope 11, an video image retrieval device 12, a photon detector 13, a data process controller 14, and a high energy beam generating device 15.例文帳に追加

検査修復システム１は、光学顕微鏡１１、映像取出し装置１２、光子検知器１３、データ処理コントローラ１４、及び高エネルギービーム発生装置１５を備える。 - 特許庁

A revolver dark field-lighting optical path R2 and an observation optical path R1 are ensured in the state where an objective lens optical axis coincides with a microscope optical path.例文帳に追加

対物レンズ光軸ＯＬと顕微鏡光軸ＲＬとが一致している状態ではレボルバ暗視野照明光路Ｒ２と観察光路Ｒ１とは確保されている。 - 特許庁

To provide a method for red-tuning the resonance frequency of a photonic crystal structure that includes a plurality of holes by using a near-field scanning optical microscope (NSOM) system.例文帳に追加

近接場走査型光学顕微鏡（ＮＳＯＭ）システムを用いて、複数のホールを有するフォトニック結晶構造の共振周波数を赤チューニングするための方法である。 - 特許庁

To provide a confocal scanning type microscope in which compensation is easily carried out in consideration of the field curvature of an objective lens when measuring various specimens.例文帳に追加

様々な試料を測定する際に、簡単に対物レンズの像面湾曲を考慮した補正をすることの出来る共焦点走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

MICROPLATE HAVING PERIODIC STRUCTURE, SURFACE PLASMON EXCITATION ENHANCED FLUORESCENCE MICROSCOPE USING THE SAME, FLUORESCENCE MICROPLATE READER, AND METHOD OF DETECTING SPECIFIC ANTIGEN/ANTIBODY REACTION例文帳に追加

周期構造を有するマイクロプレート、並びに、それを用いた表面プラズモン励起増強蛍光顕微鏡、蛍光マイクロプレートリーダーおよび特異的な抗原抗体反応の検出方法 - 特許庁

The illumination system 8 of a slit-lamp microscope (stereomicroscope) 1 is turnable in right and left directions and projects illumination light passed through an illumination diaphragm 56 to an eye to be examined.例文帳に追加

細隙灯顕微鏡（実体顕微鏡）１の照明系８は、左右方向に回動可能とされ、照明絞り５６を経由した照明光を被検眼に投射する。 - 特許庁

To provide a liquid immersion microscope apparatus designed so as to restrain soil from sticking to the surface of a substrate (a part which is in contact with a liquid) during liquid immersion observation.例文帳に追加

液浸観察時の基板の表面（液体との接触部分）における汚れの付着を抑制することができる液浸顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope which can obtain a satisfactory observation image by adequately ensuring a quantity of light around a visual field for observation without increasing the size of an objective lens.例文帳に追加

対物レンズの大型化を招くことなく、観察視野周辺の光量を十分に確保でき、良好な観察画像を得ることが可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a variable diaphragm capable of equalizing a light quantity in a view field observed through an imaging optics, and to provide a microscope having the variable diaphragm.例文帳に追加

結像光学系を介して観察される視野内の光量を均一にすることができる可変絞り及びこの可変絞りを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an observation image having higher image quality, when an optical element capable of controlling the amplitude and phase of light independently is used for a scanning microscope.例文帳に追加

光の振幅と位相を独立して制御可能な光学素子を走査型顕微鏡に用いる場合に、より画質のよい観察画像を得ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope capable of obtaining an excellent observation image of a sample even when a lens effect of a culture solution occurs in observing the sample in a culture container.例文帳に追加

培養容器中の試料を観察する際に培養液にレンズ効果が生じている場合でも、試料の良好な観察像を得ることが可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide: a stage control device that can improve efficiency of obtaining images of a sample without changing the depth of field; a stage control method; a stage control program; and a microscope.例文帳に追加

被写界深度を代えずに、サンプルに対する像の取得効率を向上させ得るステージ制御装置、ステージ制御方法、ステージ制御プログラム及び顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide a method for detecting microorganisms by which the accurate autofocusing on a specimen by a microscope is achieved more easily than a conventional method.例文帳に追加

従来よりも容易に標本に対する正確なオートフォーカスを顕微鏡に実行させることができる微生物検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

An image-obtaining section 61 photographs an embryos set to a microscope as a sample with a camera in time series to obtain observation images, and supplies the obtained observation images to an observation section 62.例文帳に追加

画像取得部６１は、顕微鏡に標本として設置されている胚をカメラにより時系列に撮影した観察画像を取得し、観察部６２に供給する。 - 特許庁

In the infrared microscope, visible light 12 from a visible light source 11 and infrared light 22 from an FTIR 21 take optical paths which are vertical to each other and are made incident to a cold filter 1.例文帳に追加

本発明では、可視光源１１からの可視光１２とＦＴＩＲ２１からの赤外光２２は、互いに直角な光路をとり、コールドフィルター１に入射する。 - 特許庁

To provide a method and device which can achieve an improvement in video image processing rate and a reduction in compressing cost at the time of transmitting a live image obtained through a microscope through a digital network.例文帳に追加

ビデオ画像処理率の向上と、顕微鏡の生画像をデジタルネットワークを介して伝送する際の圧縮コストの低減を達成する方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a stage positioning control apparatus capable of suppressing oscillation or drift of a stage loading and holding a wafer and capable of shortening positioning time in positioning control of the stage in an electron microscope apparatus.例文帳に追加

電子顕微鏡装置におけるステージの位置決め制御時において、ウェーハを搭載保持しているステージの振動やドリフトを抑えると共に、位置決め時間を短縮する。 - 特許庁