「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(63ページ目) - Weblio英語例文検索

The illuminating optical system has a first lens group and a second lens group for forming an image of the field iris 124 on an object's region 108 via a microscopic main objective lens 101 of the operation microscope 100.例文帳に追加

照明光学系は、視野絞り１２４を手術用顕微鏡１００の顕微鏡主対物レンズ１０１を介して物体領域１０８へ結像する役目をする第１のレンズ群と第２のレンズ群を有している。 - 特許庁

The fluorescent screen 20 also acts as an electron beam detecting screen, and a current corresponding to the electron beam quantity detected with the fluorescent screen 20 is sent to an electron microscope controlling computer 18 through an amplifier 22.例文帳に追加

蛍光板２０は電子線検出板を兼ねており、蛍光板２０で検出された電子ビーム量に対応する電流は増幅器２２を介して電子顕微鏡制御用コンピューター１８に送られるように成っている。 - 特許庁

To provide a cantilever capable of improving face resolution of SCM furthermore than in the case of using the conventional cantilever, concerning the cantilever used for a scanning capacity microscope (SCM).例文帳に追加

走査型容量顕微鏡（ＳＣＭ）に用いられるカンチレバーにおいて、当該ＳＣＭの面分解能を従来のカンチレバーを用いた場合よりも、さらに向上させることができるカンチレバーを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an electron beam microscope device having a scan control capable of improving throughput of the device by shortening the substantial scanning time without changing image acquisition condition at the time of electron beam scanning.例文帳に追加

本発明の目的は、電子線走査時の画像取得条件を変えることなく実質走査時間を高速化し、装置のスループットを向上可能な走査制御を有する電子線顕微鏡装置提供することにある。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope in which a rapid change of an irradiation current can be suppressed against intensity changes of a focusing lens at changing the irradiation current by changing the intensity of the focusing lens.例文帳に追加

集束レンズの強度を変化させて照射電流を変化させるに際して、集束レンズの強度変化に対して、照射電流の急激な変化を抑えることができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Concerning the dielectric porcelain composition having a main component containing barium titanate, in the case of observation with an electronic transmission microscope, this composition contains crystal grains having interference stripes more than 30% of the field of observation view.例文帳に追加

チタン酸バリウムを含む主成分を有する誘電体磁器組成物であって、透過電子顕微鏡により観察した際に、干渉縞を有する結晶粒子を観察視野の３０％以上含有する。 - 特許庁

To provide an adhesive composition for an optical element that continuously suppresses the emission of fluorescence from a cement excited by an excitation light falling on cemented optical elements of a fluorescence microscope and is free from discoloration of the cement and peeling of the cemented surface and to provide a cemented structure.例文帳に追加

蛍光顕微鏡の接合光学素子に対し、励起光による接合剤の蛍光を連続的に抑え、変色や剥がれのない光学素子の接着剤組成物及び接着構造体を提供する。 - 特許庁

At the bottom end of a main operation tool 7 inserted and extracted in a tank 1 having pool water, a chamber 13 is attached to the end of the operation tool 7 and in this chamber 13, a high magnification microscope 5 is placed through a position controlling mechanism 6.例文帳に追加

プール水を有する貯槽１内を挿脱する操作具７を主体とし、この操作具７の下端にチャンバ13を取付け、このチャンバ13内に高倍率顕微鏡５を位置調整機構６を介して設ける。 - 特許庁

The condenser lens for the microscope is constituted, by arranging a cemented negative meniscus lens (L1) which is concave to a light source side and three single-body positive lenses (L2, L3, and L4), in this order, from the light source side to an observed body side.例文帳に追加

この顕微鏡用コンデンサレンズは、光源側から被観察物側へ向かって順に、光源側に凹面を向けた接合負メニスカスレンズ（Ｌ１）と、３枚の単体正レンズ（Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４）とを配置してなる。 - 特許庁

A reticle stage 100 is moved in a vertical direction of the figure, the focus of an objective lens 104a of a microscope 104 is matched with the mark 106 of the back surface 50b of a mask 10, and the image of the mark 106 is acquired in an image acquisition device 108 and stored in a memory 109.例文帳に追加

レチクルステージ１００を図の上下方向に動かして、顕微鏡１０４の対物レンズ１０４ａのフォーカスを、マスク１０の裏面５０ｂのマーク１０６に合わせ、マーク１０６の画像を画像取得装置１０８で取得し、メモリ１０９に記憶する。 - 特許庁

To provide an ocular optical system of a microscope which can increase the degree of freedom of the posture of an observer to an ocular part by preventing a visual field pupil from being vignetted by making the pupil of the ocular optical system follow up the line of sight of the observer.例文帳に追加

本発明の目的とするところは、観察者の視線に接眼光学系の瞳を追従させて、視野瞳の蹴られを防止し、接眼部に対する観察者の姿勢の自由度を高めるようにした顕微鏡の接眼光学系を提供することにある。 - 特許庁

Resultantly, the state of a sample 11 can be easily checked only by taking an eye off the eye contact part of the microscope and turning the eye line downward as shown in 20A of the Fig.1 and the observation of sample images, check of sample state and manipulator operation etc. can be smoothly performed.例文帳に追加

その結果、２０Ａのように顕微鏡の接眼部から眼を離して視線を下方に落とすだけで試料１１の状態を容易に確認することができ、試料像の観察と試料状態の確認やマニュピレータ操作等をスムーズに行うことができる。 - 特許庁

With this arrangement, when the CNT probe, due to distortion or slipping, collides with the sample surface, destruction and deformation of the tip part of the base probe and tip part of the joined part can be prevented to provide the CNT cantilever having high durability for a scanning probe microscope.例文帳に追加

このような構成により、ＣＮＴ探針の撓みや滑りによる試料表面との衝突時にベース探針先端部と接合部先端部の破壊や変形が防止でき、高い耐久性を持った走査型プローブ顕微鏡用ＣＮＴカンチレバーを提供できる。 - 特許庁

When the cross section of the resin pellet is observed by a polarization microscope, a spherurite can not be observed in the center part, a lubricant is not contained in the resin pellet and the pellets with an angle of repose of ≤23° when the resin pellets are piled are obtained.例文帳に追加

これにより樹脂ペレットの切断面を偏光顕微鏡で観察したとき、中心部において、球晶が観察されず、または樹脂ペレット中に滑剤を含有せず、かつ前記樹脂ペレットを積み上げたときの安息角が２３度以下のペレットを得る。 - 特許庁

Thus, the constitution of slide movement which hardly causes an error resulting from switching the objective lens 500 to form the image singly and which is simple is used, and then accurate observation is achieved while switching magnification according to the state of a subject to be observed by the microscope of the finite correction optical system.例文帳に追加

単独で結像させる対物レンズ５００の切替による誤差が生じにくく簡単な構成のスライド移動の構成を利用でき、有限補正光学系の顕微鏡で被観察物の状態に応じて倍率を切り替えつつ高精度な観察ができる。 - 特許庁

In the laser scanning microscope scanning an image field 4, the laser beam is deflected to a stop 6 arranged near the image field 4 in order to shut off the laser beam 1 if the laser beam 1 is not intended to be incident on the image field 4.例文帳に追加

結像領域（４）を走査するレーザ走査顕微鏡において、結像領域（４）に対するレーザ・ビーム（１）の入射が意図されなければ該レーザ・ビーム（１）を遮断すべく該ビームは結像領域（４）に近接して配置された絞り（６）に向けて偏向される。 - 特許庁

Since a formula +∞=-∞=1=-1=0 may cause the possibility that "1" equal to the infinite universe, the observation of a hydrogen atom of mass 1 (atomic number 1) with a highly accurate microscope enables the observation of the infinite universe, thereby solving the problem.例文帳に追加

＋∞＝−∞＝１＝−１＝０ の数式から「１」イコール無限大の宇宙である可能性があるので、質量１（元素記号番号１）の水素原子を精度の高い顕微鏡で観察するとそこに無限の宇宙を観察する事ができる事により、この問題を解決する。 - 特許庁

This microscope 1 includes an objective lens 9 for observing the sample, the transmission bright field lighting system 17, and a base part 3 having a mounting mechanism for mounting the transmission dark field lighting system 25 on the lower side or the upper side of the transmission bright field lighting system 17.例文帳に追加

標本を観察するための対物レンズ９と、透過明視野照明装置１７と、透過明視野照明装置１７の下側または上側に透過暗視野照明装置２５を装着するための装着機構を有するベース部３を備える顕微鏡１。 - 特許庁

The aqueous solution is dropped onto an observation plate, followed by drying; the drying is stopped, when moisture is not observed visually by naked eyes; and the coupling condition and the aggregation condition of the suspended matter deposited and actualized on the observation plate are observed by an optical microscope.例文帳に追加

観測用プレートに水溶液を滴下させ、それを乾燥させて肉眼で水分が視認できなくなったら乾燥を止め、観測用プレート上に析出顕在化した懸濁物質の結合状態、集合状態を光学顕微鏡により観察するようにした。 - 特許庁

Further, the cross section of the monofilament can be distinguished between two layers of a sheath layer and core layer on being observed by an optical microscope, and the ratio R (%) of the mean diameter r_2 of the core layer to the fiber cross sectional diameter r_1 is ≤90%.例文帳に追加

さらに、前記モノフィラメント繊維の断面が、光学顕微鏡によって観察した際に、シース層とコア層の二層に識別可能であり、コア層の平均直径ｒ_２の繊維断面直径ｒ_１に対する比率Ｒ（％）が９０％以下であるポリベンザゾール繊維ロープ。 - 特許庁

To provide a microscope system with which an observation object is easily tracked without causing troublesomeness on display even if operation of a microscope that causes a change of observation environment is performed when observation images obtained by imaging the same observation object by a plurality of observation methods are superposed to be observed.例文帳に追加

本発明では、同一の観察体に対して複数の観察方法で撮像した観察画像を重畳させて観察しているときに、観察環境の変化を生じさせる顕微鏡の動作が行われた場合でも、表示上の煩わしさがなく、容易に観察体の追跡を行うことができる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a pattern forming method and a pattern forming apparatus by which a pattern in a relatively wide region of a square millimeter or larger can be formed in a short time by electrochemical lithographic pattern forming method and the pattern can be formed without using an expensive apparatus such as an AFM (atomic force microscope) and an STM (scanning tunneling microscope).例文帳に追加

電気化学リソグラフィーによるパターン形成方法において、平方ミリメートル以上の比較的広い領域に渡るパターン形成を、短時間で行うことを可能とするとともに、ＡＦＭ、ＳＴＭなどの高価な装置を用いることなくパターンを形成し得るパターン形成方法及びパターン形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide ionic fine particles having characteristics of both of water-insoluble ionic particles and a water-soluble crosslinked polymer, invisible by an ordinary optical microscope and visible by a phase contrast microscope and having ionic character of cationic or amphoteric character, and to provide application of the same.例文帳に追加

水不溶性のイオン性粒子と水溶性架橋ポリマーの双方の特徴を兼ね備え、通常の光学顕微鏡では確認できず位相差顕微鏡ではじめて確認できる粒子であって、カチオン性あるいは両性のイオン性を持つことを特徴とするイオン性微粒子とその用途を提供することである。 - 特許庁

A resolution evaluation chart 11 for a fluorescence microscope includes: a substrate 12 which is optically smooth to illumination light of a fluorescence microscope; and a light-emitting part (area excluding non-emitting parts 14,16,18) having a two-dimensional structure which is formed on the substrate 12 and includes quantum dots which are excited by illumination light to emit light.例文帳に追加

蛍光顕微鏡用解像度評価チャート１１は、蛍光顕微鏡の照明光に対して光学的に平滑な基板１２と、基板１２上に形成され、照明光により励起され発光する量子ドットを含む、２次元構造を有する発光部（非発光部分１４，１６，１８を除いた部分）とを備える。 - 特許庁

To provide a vibration method of a cantilever for a scanning probe microscope including an excitation mechanism capable of vibrating the cantilever efficiently, capable of suppressing a noise of a displacement detection mechanism, suppressing a vibration noise of a member, and performing measurement having high resolution, concerning a scanning probe microscope in a vibration system.例文帳に追加

振動方式の走査型プローブ顕微鏡において、効率的にカンチレバーを振動させることができる加振機構を備え、変位検出機構のノイズを抑制するとともに、部材の振動ノイズを抑え、分解能の高い測定が可能となるような走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーの加振方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic image processing device capable of specifying an optical device such as a fluorescent cube set in a fluorescence microscope based on a result of detection of an imaging apparatus for imaging a sample observed by the fluorescence microscope, and a microscopic image processing program and a microscopic image processing method.例文帳に追加

蛍光顕微鏡により観察される試料を撮像する撮像装置の検出結果に基づいて、蛍光顕微鏡にセットされる蛍光キューブなどの光学素子を特定することが可能な顕微鏡画像処理装置、顕微鏡画像処理プログラムおよび顕微鏡画像処理方法を提供すること。 - 特許庁

The supporting stand which is used in a operation room 4 installed with the MRI where an electric shield is applied on a wall face of the operating room installed with the MRI and the power source 8 of the supporting stand which supports a microscope is located outside the operating room 4.例文帳に追加

ＭＲＩを設置した手術室４内で使用され、顕微鏡１を支持するＭＲＩ用の支持スタンド２であって、ＭＲＩを設置した手術室の壁面に電気シールドを施し、顕微鏡を支持する支持スタンドの電源８を手術室４の外部に配することを特徴とする。 - 特許庁

By adjusting the image of the face 22 so as not to produce the fringe, the face 22 becomes precisely vertical with respect to a light axis 15 of the microscope 40, and an axis of the coated fiber 10 have been adjusted precisely in parallel with the optical axis 45.例文帳に追加

光反射面２２の画像において干渉縞が生じないように調整できれば、光反射面２２が干渉顕微鏡４０の光軸４５に対して精密に直角になり、光ファイバ心線１０の軸が光軸４５に精密に平行になるよう調整できたことになる。 - 特許庁

A microscope 11 is provided with an object lens 22 for throwing the fluorescence developed from the specimen 13 on an observation optical system for forming the image of the specimen 13 and an image guide 25 composed of a plurality of optical fibers and throwing the fluorescence developed from the specimen 13 on the object lens 22.例文帳に追加

顕微鏡１１には、標本１３から発現した蛍光を標本１３の像を結像させるための観察光学系に入射させる対物レンズ２２と、複数の光ファイバからなり、標本１３から発現した蛍光を対物レンズ２２に入射させるイメージガイド２５とが設けられている。 - 特許庁

This magnetic field applying device of the transmission electron microscope comprises a plurality of deflectors to swingingly return the optical axis deflection of an irradiated electron beam generated simultaneously with application of the magnetic field onto the optical axis, and is formed so that the deflection main surface of one deflector is disposed at a position extremely close to the surface of the sample 6.例文帳に追加

透過電子顕微鏡の磁場印加装置において、磁場印加と同時に発生する照射電子線の光軸偏向を軸上に振り戻す複数の偏向器からなり、１つの偏向器の偏向主面が試料６表面に極めて近い位置に配置されように構成される。 - 特許庁

The microscope 1 also includes: a lens barrel part 30 supported by the turntable 20; a sample stage 40 supported by the turntable 20 under the lens barrel part 30; and a pattern illumination 50 supported by the turntable 20 via the sample stage 40 under the sample stage 40.例文帳に追加

また、顕微鏡１は、この回転台２０に支持された鏡筒部３０と、鏡筒部３０の下方で回転台２０に支持された試料台４０と、試料台４０の下方で試料台４０を介して回転台２０に支持された模様体照明５０とを備えている。 - 特許庁

The microscope 1 is configured to take an upright position in which the lens barrel part 30 is positioned above the sample stage 40 and an inverted position in which the lens barrel part 30 is positioned under the sample stage 40 by rotating the turntable 20 with respect to the base 10.例文帳に追加

この顕微鏡１は、回転台２０を土台部１０に対し回転させることで、鏡筒部３０が試料台４０に対して上方に位置する正立位置と、鏡筒部３０が試料台４０に対して下方に位置する倒立位置とに配置することができるように構成されている。 - 特許庁

In the technique of discriminating the skin internal structure, with the skin surface information of the texture and/or the skin color or the like as an index, a parameter measured using a confocal laser microscope as the skin internal structure is estimated utilizing estimation formula obtained by multivariable analysis.例文帳に追加

キメ及び／又は肌色等の皮膚表面情報を指標に、皮膚内部構造として共焦点レーザー顕微鏡を用いて計測されたパラメータを、多変量解析によって得られた推定式を利用して推定することを特徴とする、皮膚内部構造を鑑別する技術に関する。 - 特許庁

The electron scanning microscope is provided with a plurality of apertures through which electron beams are capable of passing through and a mechanism in which the plurality of apertures are changed from one to another with the electron beams, and the method of static charge control of the sample is carried out by the changeover of the apertures.例文帳に追加

上記目的を達成するために、電子ビームが通過可能な開口を複数備え、前記電子ビームに対して前記複数の開口を切り替える機構を備えた走査電子顕微鏡、及び開口の切り替えによって、試料の帯電を制御する方法を提案する。 - 特許庁

A microscope body 8 is vertically moved by activating a vertical direction moving unit 7A in order to respectively observe the anterior segment and eyeground segment of the eye E to be examined and the observation focus position of at least either of the focus position of the anterior segment and the focus position of the eyeground segment is stored in a memory 61.例文帳に追加

被検眼Ｅの前眼部や眼底部をそれぞれ観察するために、上下方向移動ユニット７Ａを動作させて顕微鏡本体８を上下方向に移動させ、前眼部フォーカス位置および眼底部フォーカス位置の少なくとも一方の観察フォーカス位置をメモリ６１に記憶する。 - 特許庁

The confocal microscope with such a correction device exhibits a confocal screen, which illustrates a specimen mark (10), whereby the plane-parallel plate (9) is placed in front of the detector unit (2) in the light path (1), in order to center the illustration of the aperture diaphragm on the detector unit.例文帳に追加

このような補正装置を有する共焦点顕微鏡が、試料スポット（１０）を結像する共焦点絞りを有し、その際に開口絞りの結像を検出ユニットの上にセンタリングするために検出ユニット（２）の光路（１）中に平行平面の板（９）が予め配置されている。 - 特許庁

Since not only the assistant mirror 34 but also the video camera 35 attached if necessary are attached to the suspension arm 20 not rotated in a right and left direction X or to the body part of an surgical microscope 15 they are not rotated in the right and left direction X even if the weight in the right and left direction X is unbalanced.例文帳に追加

アシスタント鏡３４も、必要に応じて取付けるビデオカメラ３５も、左右方向Ｘで回転しない吊下アーム２０や、手術顕微鏡１５の本体部分に取付けられているため、左右方向での重量バランスが不均衡でも、それらが左右方向Ｘで回転することはない。 - 特許庁

In the fluorescence microscope, the imaging part 22 picks up the image for every filter set 1 interlocked with timing to switch the filter set 1 by the filter switching part 18 in timing set by a switching setting part 20, and the picked-up image is automatically updated and displayed in the picture display area G.例文帳に追加

この蛍光顕微鏡は、切替設定部２０で設定されたタイミングでフィルタ切替部１８がフィルタセット１を切り替えるタイミングに連動して撮像部２２が各フィルタセット１毎に撮像し、撮像した画像イメージが画像表示領域Ｇにおいて自動的に更新されて表示される。 - 特許庁

To provide a lens barrel and a microscope using the lens barrel in which a horizontal distance from the optical axis of an objective lens to the position of an eye point, the height of the eye point and the angle of depression at the time of observation can be varied so that any person can perform observation in natural observation posture and also in posture causing little fatigue regardlessly of his or her build.例文帳に追加

どのような体格の人にも、観察姿勢に無理がなく疲労の少ない姿勢で観察できるように、対物レンズ光軸からアイポイント位置までの水平距離とアイポイントの高さと観察時の俯角を変えることの出来る鏡筒とそれを用いた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope is configured such that a field stop 210 is arranged between the sample 116 placed on a stage 105 and a condenser lens 202 and the light reflectivity of the surface S1 on a side opposite to an objective lens 113 of the field stop 210 is higher than that of the surface of the stage 105.例文帳に追加

本発明の顕微鏡は、ステージ１０５上に載置された標本１１６とコンデンサレンズ２０２との間に視野絞り２１０を配置し、視野絞り２１０の対物レンズ１１３に対向する側の面Ｓ１を、ステージ１０５の表面よりも光反射率を高く構成している。 - 特許庁

To provide the subject method capable of easily and accurately specifying the inferior semiconductor element in a semiconductor device, even when the inferior semiconductor element is specified on the basis of the observation result by an emission microscope apparatus from the rear surface side of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの裏面側からのエミッション顕微鏡装置による観測結果に基づいて不良半導体素子を特定する場合でも、半導体デバイス中の不良半導体素子の特定を、容易化しかつ正確に行うことができる半導体素子不良解析方法を提供する。 - 特許庁

A microscope apparatus includes: an observation optical system 70 for magnifying and observing the specimen; and an illuminating device 80 for emitting spot light serving as an index when the specimen is positioned within the field of view of the observing optical system 70 or for emitting illuminating light for illuminating the inside of the field of view of the observation optical system 70.例文帳に追加

顕微鏡装置は、試料を拡大観察する観察光学系７０と、試料を観察光学系７０の視野内に位置させる際の指標となるスポット光、または観察光学系７０の視野内を照明するための照明光を照射する照明装置８０と、を備える。 - 特許庁

In addition, the turning handle 71 for X direction operation, the turning handle 72 for Y direction operation and the rough-fine adjustment changeover switch 73 constitute a stage handle unit 70 and the stage handle unit 70 is allowed to be attachable and detachable with respect to either of the left and right side surfaces of the microscope main body or the stage 140.例文帳に追加

また、Ｘ方向操作回転ハンドル７１、Ｙ方向操作回転ハンドル７２及び粗微動切換スイッチ７３をステージハンドルユニット７０として構成し、このステージハンドルユニット７０を顕微鏡本体又はステージ１４０の左右いずれの側面に対しても着脱できるようにした。 - 特許庁

The container has sufficient resistance to a high temperature and change of the temperature during nucleic acid amplification reaction by integrally molding the side wall part 2 and the bottom wall part 3 with the resin while the inside thereof can be observed by an optical microscope through the flat plate shaped bottom wall part 3.例文帳に追加

平板状の底壁部３を介して光学顕微鏡によって内部を観察可能でありながら、側壁部２と底壁部３とが樹脂から一体成形されていることにより核酸増幅反応時の高温や温度変化にも十分に耐性を有している。 - 特許庁

In the scanning charged particle microscope designed for semiconductor tests and measurements, the use of an image after image restoration to perform a pattern size measurement, defect detection, and defect classification or the like enables the improvement of the precision of measurement and the rise in the precision of detection and classification of a defect.例文帳に追加

さらに、半導体検査および半導体計測用の走査型荷電粒子顕微鏡において、画像復元後の画像を用いてパターン寸法計測、欠陥検出、欠陥分類等に用いることにより、計測精度向上や欠陥検出、欠陥分類の高精度化を可能とした。 - 特許庁