「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(62ページ目) - Weblio英語例文検索

In this chemical bonding condition analyzing method for elements in tungsten and its compound, the chemical bonding condition of the measuring material is analyzed by analyzing the characteristic X-ray wavelength provided from the electron microscope.例文帳に追加

タングステンおよびその化合物における元素の化学結合状態分析方法において、測定用材料を電子顕微鏡から取得される特性Ｘ線波長を解析することによって、化学結合状態を分析する。 - 特許庁

To vary magnification with extremely less off-centering while coping with the wide magnification variable range, then, to improve the workability in microscopic observation, and also, to attain the cost reduction and the miniaturization, as for a microscope and a zoom objective lens.例文帳に追加

顕微鏡およびズーム対物レンズにおいて、幅広い変倍範囲に対応しながら芯ずれの非常に少ない倍率切換を行え、それにより顕微鏡観察の作業性を向上でき、しかも低コスト化、小型化が図れるようにする。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope capable of controlling the charge-up amount of a sample between the minimum amount required for observing images and the maximum amount not damaging the sample itself and capturing observed images with less distortion.例文帳に追加

試料のチャージアップ量を、像観察に必要な最低量と、試料自身を損傷させることなく、かつ、歪みの少ない観察画像を得られる最大量の間になるように制御の可能な写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The emission generated from this reverse current is measured by an emission microscope and the defective part is identified, and the defective part is insulated by irradiating a laser beam and, thereby, the short circuit area is repaired.例文帳に追加

この逆方向電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射して絶縁化させることによりショート箇所を修理するという発光装置の作製方法。 - 特許庁

The microscope has an illuminating optical system 7 and a light guide 5 for guiding illuminating light to the illuminating optical system 7, and an emission position 5b of the illuminating light can be moved within a plane perpendicular to an optical axis I of the illuminating optical system 7.例文帳に追加

照明光学系７と、前記照明光学系７に照明光を導くライトガイド５を有し、前記照明光の出射位置５ｂは、前記照明光学系７の光軸Ｉに垂直な面内で移動可能である顕微鏡。 - 特許庁

The diaphragm 12 is arranged at a position nearer to the imaging apparatus side by as long as 2/3 or more of a distance from a shoulder position 11a in the microscope attaching part 11 to a shoulder position 13a in the imaging apparatus attaching part 13 as seen from the object side.例文帳に追加

絞り１２が、物体側からみて顕微鏡取り付け部１１内の胴付き位置１１ａから撮像装置取り付け部１３内の胴付き位置１３ａまでの間の距離の２／３の位置以上撮像装置側に寄った位置に配置される。 - 特許庁

This objective lens 810 of a microscope in the culture observation device is provided by positioning its tip end part at the inside of a culturing space 202, and the rest of its part at the inside space 156 of a culturing device sub-main body at a lower temperature than that of the culturing space 202.例文帳に追加

培養観察装置内の顕微鏡の対物レンズ８１０は、先端部分が培養空間２０２内に位置し、残りの部分は培養空間２０２より低湿度の培養装置副本体の内部空間１５６内に位置している。 - 特許庁

The computing unit 8 analyzes an image imaged by a microscope 6, it finds the peripheral length and the area on the projection image of each spherical particle 22, and a surface index S_i which affects the acoustic radiating force of each particle is computed by using them.例文帳に追加

さらに、演算装置８は、マイクロスコープ６で撮像された画像を解析し、球形状の各粒子２２の投影像の周長や面積を求め、これらを用いて個々の粒子の音響放射力に影響を与える表面指数Ｓ_iを演算する。 - 特許庁

The second prism 18 is held to a second prism locking plate 41 which is movable in a direction of being closer to the first prism 17 and in a direction of being farther from the first prism 17, and to a second pressing plate 42, and the second prism 18 is moved while viewing the prism gap by a microscope 51.例文帳に追加

第１プリズム１７に近づく方向と遠ざかる方向に移動自在な第２プリズム係止板４１，第２押圧板４２に第２プリズム１８を保持し、顕微鏡５１でプリズム間隔を観察しながら第２プリズム１８を移動させる。 - 特許庁

This microscope is constituted by installing a CCD camera in a main body tube and installing an illumination lamp in proximity to the front end opening of the main body tube and is so formed that the central axis direction of the CCD camera is irradiated with light while the light quantity is made uniform.例文帳に追加

本体鏡胴内にＣＣＤカメラを設置し、本体鏡胴の先端開口に近接して照明ランプを配置し、ＣＣＤカメラの中心軸方向に光量を均等にしつつ照射するようにしたことを特徴とする。 - 特許庁

To measure the surface physical properties of a sample without being influenced by the variation of contact areas by securing the contact area between a probe and the sample, preventing plastic deformation, and seizing the contact area in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、プローブと試料との接触面積を確保し塑性変形を防止し、かつ、接触面積を把握することで接触面積のバラツキによる影響を無くして試料の表面物性を測定することを課題とする。 - 特許庁

A tool table 15 is placed on a rotary table 30, and turned by πradian, a blade tip 16a of the tool 16 is detected by a microscope, and the tool position is adjusted or corrected so that the blade tip 16a before the turning is agreed with that after the turning.例文帳に追加

工具台１５をロータリテーブル３０に積載しπラジアン旋回させ、工具１６の刃先端１６ａを顕微鏡により検知し、旋回前と旋回後の刃先端１６ａを一致させるよう工具位置を調整または補正して加工する。 - 特許庁

To solve the problem, wherein when the resolution of a scanning electron microscope is monitored, preparation of a sample and employment of measurement algorithm capable of reducing the pattern dependence of resolution index value to be measured is required for accurately measuring the change in the size of electron beam.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の分解能をモニタする場合，計測する分解能指標値のパターン依存性を低減できるようなサンプルの準備と計測アルゴリズムの採用が，電子ビームサイズの変化を高精度に計測するために必要である。 - 特許庁

This invention is applied to the microscope which performs the observation of a sample while illuminating a sample with an illuminator and has an eyepiece lens-barrel which performs the observation with the naked eye and an imaging optical lens-barrel which enables the observation with an imaging device such as a camera.例文帳に追加

本発明は、標本を照明装置で照明しつつ観察が行なわれ、肉眼による観察を行う接眼鏡筒およびカメラ等の撮像装置による観察が可能な撮像光学鏡筒を有する顕微鏡に適用される。 - 特許庁

As to this heating device 1 for the microscope; the end parts of a pair of electrodes 7 and 7 extend in a direction where they come closer to each other so that a current rapidly starts flowing in a transparent conductive film 6 existing in the opposed area of the electrodes when the electrodes 7 and 7 are energized.例文帳に追加

顕微鏡用加温装置１では、一対の電極７，７の一端部は互いに近づく方向へ延びているので、電極７，７に通電すると、その対向領域にある透明導電膜６に速やかに電流が流れる。 - 特許庁

A second verification execution part 35 causes a microscope image of the piece determined to be non-defective at the first verification to be displayed in parallel with the device image, and causes a quality determination result made by the inspector to be stored as a second verification result in the storage part 31.例文帳に追加

第２のベリファイ実行部３５は、第１のベリファイで良品と判定されたピースの顕微鏡画像と検査装置画像を並行表示させ、検査員による良否判定結果を第２のベリファイの結果として記憶部３１に格納する。 - 特許庁

To obtain a scanning probe microscope capable of expanding a measuring range in the measurement of a sample of which the surface irregularities are severe and capable of measuring accurate physical characteristics not affected by the unstable deformation of the leading end of the laser reflecting surface of a cantilever.例文帳に追加

表面凹凸の激しい試料の測定において測定範囲を広げること および カンチレバーのレーザ反射面先端の不安定変形の影響の無い正確な物理特性を測定可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This microscope optical system is constituted of the low magnifying power observation optical system 2 with performing observation from the upper direction of a sample 1, an illuminating optical system 3, and the high magnifying power observation optical system 4 performing observation from the lower direction of the sample 1.例文帳に追加

本発明の顕微鏡光学系は、標本１の上方向から観察する低倍率の観察光学系２と、照明光学系３と、標本１の下方向から観察する高倍率の観察光学系４とにより構成している。 - 特許庁

To realize a computing means which can optimize an amount of focal gap in STEM and which can erase a virtual image and receive a feedback of a condition by substantially shortening the period of time to obtain a computed image and by comparing an image of an electron microscope to the computed image right after observation in an observation method and an observation equipment by a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置に関し、ＳＴＥＭに於ける焦点ずれ量の最適化や虚像の消去を可能にする計算手段を実現し、そして、計算像を得る為の時間を大幅に短縮して電子顕微鏡像を観察直後に計算像と比較して条件をフィードバックできるようにする。 - 特許庁

On a sample holder 20 for an electron microscope, the electron beam that transmits through a sample S supported by a grid 28 and passes through an aperture member 31 with a main body portion 21 attached to a sample stand of a scanning electron microscope is irradiated on a secondary electron generating surface 32, resulting in a secondary electron being generated from the secondary electron generating surface 32.例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダ２０においては、走査型電子顕微鏡の試料台に本体部２１が取り付けられた状態で、グリッド２８によって支持された試料Ｓを透過し且つ絞り部材３１を通過した電子線が２次電子発生面３２に照射され、それにより、２次電子発生面３２から２次電子が発生させられる。 - 特許庁

To provide a defect evaluation method capable of precisely and rapidly preparing a flaky sample for electron microscope observation by a converged ion beam sample preparing device in relation to a semiconductor crystal including an internal defect used as an observation object and capable of evaluating the crystalline defect in detail by observing the flaky sample with an electron microscope.例文帳に追加

観察対象とする内部欠陥を含む半導体結晶に対し、収束イオンビーム試料作製装置による電子顕微鏡観察用薄片試料の作製を高精度かつ短時間で行うことができ、該薄片試料を電子顕微鏡で観察することによって詳細に結晶欠陥の評価を行うことができる欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a magnetic-resonance-type exchange interaction force microscope that incorporates magnetization inversion/modulation technique due to magnetic resonance being utilized by electronic spin resonance and nuclear magnetic resonance into an atomic force microscope, and accurately measures exchange interaction force operating between a probe and a sample, and the measuring method of the exchange interaction force using it.例文帳に追加

電子スピン共鳴や核磁気共鳴で利用されている磁気共鳴による磁化反転・変調技術を原子間力顕微鏡に取り入れ、探針・試料間に働く交換相互作用力を的確に計測する磁気共鳴型交換相互作用力顕微鏡及びそれを用いた交換相互作用力の測定方法を提供する。 - 特許庁

A transmission electron microscope with an irradiation system Cs collector mounted thereon is structured such that, when a mode is changed from a TEM system to an STEM system, a lens relaxation treatment by a predetermined frequency to gradually reduce the amplitude thereof to positive and negative sides centering a predetermined value is executed to a lens constituting the transmission electron microscope.例文帳に追加

照射系Ｃｓコレクターを搭載した透過電子顕微鏡において、モードをＴＥＭ系からＳＴＥＭ系に変化させた場合に、透過電子顕微鏡を構成するレンズに所定の値を中心として正負にその振幅が漸次減少していくような所定の周波数によるレンズ緩和処理を行なう、ように構成する。 - 特許庁

To provide a micro-grid structure for holding specimens of an electron microscope which can reduce the possibility of breakage of a specimen holding film as well as easily discriminable between such as the front and back surfaces of a specimen, and to provide a manufacturing method of the specimens.例文帳に追加

マイクログリッドが有する試料を載置するための支持膜の破損の可能性を低減し、また、試料の表裏等の区別を容易にできるマイクログリッド及び電子顕微鏡用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a stereo-microscope by which a stereoscopic effect is prevented from getting different even when the angle of convergence is different between respective testers and whose assembly adjustment is facilitated even in the case of structure obtaining the same stereoscopic effect.例文帳に追加

検者各々により輻輳角が異なっても、立体感が異なってしまうことがなく、また同じ立体感が得られる構造としても組立調整が容易な双眼実体顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The inverted microscope is equipped with a stage for placing a dish 113 in which a sample 112 is put, an objective lens 110 positioned under the dish 113, and an observation optical system for observing the sample 112.例文帳に追加

倒立顕微鏡は、標本１１２を入れたディッシュ１１３を載置するためのステージと、ディッシュ１１３の下方に位置する対物レンズ１１０と、標本１１２を観察するための観察光学系とを備えている。 - 特許庁

A system controller 8 of the scanning laser microscope device outputs an A/D conversion clock (a) to an A/D converter 12 of the photometric apparatus 7 and outputs a pixel clock (p) to an arithmetic unit 13 of the photometric apparatus 7.例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡装置のシステムコントローラ８はＡ／Ｄ変換クロックａを測光装置７のＡ／Ｄ変換器１２に出力し、画素クロックｐを同じく測光装置７の演算装置１３に出力する。 - 特許庁

The microscope main body 100 is provided with a plurality of optical devices (electric revolver device 110, etc.), having a plurality of optical members (objective lens 115, etc.), driving motor 112, etc., which moves the optical members on the optical path and so on.例文帳に追加

顕微鏡本体１００は、複数の光学装置（電動レボルバ装置１１０等）を備え、これらは複数の光学部材（対物レンズ１１５等）とこれを光路上に移動させる駆動モータ１１２等とを有する。 - 特許庁

To provide a technique capable of carrying out repair and regeneration in a vacuum chamber without extracting and changing defective parts when the abrasion or breakage of a probe of a probe microscope, the flection or breakage of a micro-manipulator, or the abrasion or breakage of micro-tweezers occur.例文帳に追加

プローブ顕微鏡の探針の摩耗や折れ、マイクロマニピュレータの屈曲や折れ、マイクロピンセットの磨耗や折れが生じた際、取り出して交換することなく、真空チャンバ内で補修再生ができる技術を提示する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus equipped with an illuminating part having a small-scaled circuit for a control part to control the lighting of an LED light source, and also, configured to perform the replacement work of the LED light source in a short time.例文帳に追加

ＬＥＤ光源の点灯制御を行う制御部の回路規模が小さく、且つ、ＬＥＤ光源の交換作業を短時間で済ませることのできる照明部を備えた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

This is the manufacturing method of a microgrid 1 which is used for a test piece support at the time of observation by an electron microscope and has a grid mesh 10 and a thin film 20 having a pore installed on the grid mesh.例文帳に追加

電子顕微鏡による観察の際に試料支持用として用いられる、グリッドメッシュ１０と、グリッドメッシュ上に設けられた、孔部を有する薄膜２０と、を備えたマイクログリッド１の製造方法である。 - 特許庁

To generate a three-dimensional image of skin with high resolution of a cell level regarding a three-dimensional image generation apparatus for the skin with which the three-dimensional image of the skin is generated by using a confocal microscope.例文帳に追加

本発明は共焦点顕微鏡を用いて皮膚の三次元画像を生成する皮膚の三次元画像生成装置に関し、細胞レベルの高解像度を有した皮膚の三次元画像を生成することを課題とする。 - 特許庁

Herewith, a CdTe-system semiconductor substrate will be realized in which a projection with a height of ≥5 nm is not observed within the visual field of 10 μm×10 μm when the surface of the substrate is observed by an atomic force microscope.例文帳に追加

これにより、原子間力顕微鏡で基板表面を観察したときに１０μｍ×１０μｍの視野範囲内に高さ５ｎｍ以上の突起が観察されないＣｄＴｅ系半導体基板が実現される。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of substantially reducing the effects of hysteresis of piezoelectric elements even at rotation in a scanning direction and eliminating distortion of images in the case that relative scanning between a sample and a probe is performed by the piezoelectric elements.例文帳に追加

試料とプローブの相対的な走査をピエゾ素子によって行う場合に、走査方向の回転時にもピエゾ素子のヒステリシスの影響を著しく低減し、像のゆがみをなくした走査プローブ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

In the example of the electronic component mounting state inspection method disclosed herein, first an observation image of the electrode pads 10a via a transparent mount board 10 by a differential interference microscope 1 is obtained as electronic image data.例文帳に追加

本発明に係る電子部品実装状態検査方法の一例では、まず、微分干渉顕微鏡１による透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を、電子画像データとして得る。 - 特許庁

The microscope 11 includes a turning mirror 46 provided between an observation camera 29 for imaging a specimen 22 and an objective lens 24 to change the optical path of observation light from the specimen 22 by turning a reflecting surface thereof.例文帳に追加

顕微鏡１１には、標本２２を撮像する観察カメラ２９と、対物レンズ２４との間に、反射面を回動して標本２２からの観察光の光路を変更する回動ミラー４６が設けられている。 - 特許庁

To provide an electron microscope with a practical monochromator which can increase the image resolution by monochromatizing the energy of an irradiation electron beam and reducing the diameter of a light spot while decreasing chromatic aberration.例文帳に追加

照射電子ビームのエネルギーを単色化し、色収差を低減してスポット系を縮小することにより、像分解能を高めることのできる実用的なモノクロメータを備えた走査電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method for evaluating feature values such as the area, width, and height of the whole part or specific part of an SEM image(scanning electron microscope image) to be inspected without generating the fluctuation of evaluation.例文帳に追加

検査対象のＳＥＭ像（電子顕微鏡画像）に基づいて、その全体または特定部分の面積や幅、高さなどの特徴量を評価する評価方法で、評価にバラツキが発生しない方法を提供する。 - 特許庁

The electron microscope is provided with a sample table 33 to mount a sample on it, and an electron beam imaging part in order to irradiate an electron beam on the sample mounted on the sample table 33, and to form an electron beam observation image.例文帳に追加

電子顕微鏡は、試料を裁置する試料台３３と、試料台３３に裁置された試料に対して電子線を照射し電子線観察像を結像するための電子線撮像部とを備える。 - 特許庁

The laser scanning type microscope is provided with a laser beam source to oscillate a laser beam, an objective lens 100 to condense the laser beam on a specimen 101, and a laser scanning means 102 to scan the condensed laser beam.例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡は、レーザ光を発振するレーザ光源と、このレーザ光を試料１０１に集光する対物レンズ１００と、集光されるレーザ光を走査するレーザ走査手段１０２とを備えている。 - 特許庁

To provide a supporting device capable of easily making the optical axis (center of field) of an imaging means orthogonal to the turning shaft (center of turning) of a supporting member for supporting the imaging means, and a microscope equipped therewith.例文帳に追加

撮像手段の光軸（視野中心）と撮像手段を支持する支持部材の回動軸（回動中心）とを容易に直交させることが可能な支持装置およびそれを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a polarizing unit by which switching between observation using polarized light and the one without using the polarized light can be performed by one operation and which is economically constituted, and a microscope to which the polarizing unit is attached.例文帳に追加

偏光を使用する観察と偏光を使用しない観察との切り換えを一つの動作ででき、かつ経済的に構成できる偏光ユニットおよびこれが取り付けられる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A microscope stage (14) includes a platform (16), a sample holder (18) mounted on the platform (16) and a positioning device (20) for moving the sample holder (18) in a displacement surface parallel to the platform (16).例文帳に追加

プラットフォーム（１６）と、プラットフォーム（１６）に載置される試料ホルダ（１８）と、プラットフォーム（１６）に平行な変位面内で試料ホルダ（１８）を移動させるための位置決め装置（２０）を備える顕微鏡ステージ（１４）が記載される。 - 特許庁

To provide a method for etching a wafer by which a thin film pattern having prescribed dimensional precision can be deposited on a wafer even in the case the amount to be etched can not directly be measured by using a microscope or the like.例文帳に追加

顕微鏡等を用いてエッチング量を直接計測できない場合であっても、所定の寸法精度を有する薄膜パターンをウエハ上に形成することが可能なウエハのエッチング方法を提供すること。 - 特許庁

The microscope (30 to 80) includes an illuminating optical system (40) for irradiating the analyte under a prescribed illumination condition, an imaging optical system (70) for forming an image of the analyte, and an image sensor (80) for outputting an image signal.例文帳に追加

顕微鏡（３０〜８０）は、被検体に所定照明条件で照射する照明光学系（４０）と、被検体の像を形成する結像光学系（７０）と、画像信号を出力するイメージセンサ（８０）と、を備える。 - 特許庁