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the Microscopeの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 4533



例文

(1) This composite yarn comprises the modified cross-section regenerated cellulose fibers having 1.1-10 degree of modified cross section of the fibers and 10-50 nm fiber surface roughness parameter Ra measured under an atomic force microscope.例文帳に追加

(1) 繊維の異型度が1.1〜10で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメーターRaが10〜50nmである異型断面再生セルロース繊維を含有する複合糸。 - 特許庁

A first liquid crystal panel is aligned by using three alignment marks on the panel and three cameras on a probe stage, and an alignment state of a probe and an electrode of the panel is confirmed by using a microscope.例文帳に追加

1枚目の液晶パネルは,パネル上の三つのアライメントマークとプローブステージ上の三つのカメラを用いてアライメントし,かつ,顕微鏡を用いてプローブとパネルの電極との位置合わせ状態を確認する。 - 特許庁

The microscope includes at least two objective lenses and the image forming lens.例文帳に追加

試料から生じる蛍光を受光する対物レンズと、この対物レンズを通った光を結像する結像レンズを有する顕微鏡において、前記顕微鏡は少なくとも2組の対物レンズおよび結像レンズを備えている。 - 特許庁

The selectively activated convex surface provides an activated region having an adhesive characteristic, when activated (typically using a laser passed through an optical path in the microscope).例文帳に追加

この選択的に活性化された凸状表面は、活性化された場合(典型的には、顕微鏡における光学光路を通るレーザを用いて)、接着特性を有する活性化された領域を提供する。 - 特許庁

例文

In order to solve the problems, the scanning electron microscope is proposed that is equipped with a function in which device conditions are monitored based on information obtained in a state that electron beam does not reach a sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために、電子ビームを試料に到達させない状態で、得られた情報に基づいて、装置コンディションをモニタする機能を備えた走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁


例文

The substrate for reaction chip is composed of an organic polymer, which reduces the relative fluorescence intensity of visible light transmitted through a slide glass for fluorescence microscope to 10 or smaller, when fluorescence spectra are measured.例文帳に追加

蛍光スペクトルを測定したとき、蛍光顕微鏡用スライドガラスに対する可視光における相対蛍光強度が10以下であることを特徴とする有機系高分子からなる反応チップ用基板。 - 特許庁

A scanning type laser microscope 2 has irradiation means which irradiates the top of a sample 38 with a beam emitted from a light source 4 through an objective lens 34 and generates fluorescence from the sample 38.例文帳に追加

走査型のレーザー顕微鏡2は、光源4から出射したビームを対物レンズ34を介して標本38上に照射して、この標本38から蛍光を発生させる照射手段を有する。 - 特許庁

By the above mechanism, a processing by using an ion beam, and observation of secondary electron image in optional direction through an electron microscope are made possible without taking out a fine piece of sample from the sample stand.例文帳に追加

このような構成によれば、微小試料片を試料台から取り外すことなく、イオンビームによる加工および任意の方向からの二次電子像および電子顕微鏡観察が可能となる。 - 特許庁

To apply thin film processing by the other pre-processing method on a sample processed by a focused ion beam processing method or the like, and to observe and analyze it as it is by an electron microscope.例文帳に追加

本発明の目的は、集束イオンビーム加工法などにより加工した試料をさらに他の前処理法で薄膜加工し、そのまま電子顕微鏡により観察および分析することにある。 - 特許庁

例文

The compound adheres spontaneously and irreversibly to DNA in an aqueous medium, and the marked DNA can be detected by means of a fluorescence microscope or known staining techniques.例文帳に追加

水溶性媒質中でこれらの化合物は自然に又は不可逆的にDNAに吸着し、この標識されたDNAは蛍光顕微鏡で、あるいは周知の染色法などで検出される。 - 特許庁

例文

To produce a scanning tunnel microscope(STM) probe preventing the contamination of a probe and using the function of STM without improving an STM device to obtain high resolving power.例文帳に追加

探針の汚染を防ぎ、STM装置に改良を加えることなく、STMの機能を使用して、しかも、高い分解能を得ることができる走査トンネル顕微鏡探針の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which allows the inspection of a sample at various wavelengths and (or) in wavelength ranges and does not require the post adjustment of wavelength intrinsic component elements in an optical path at this time.例文帳に追加

種々の波長および(または)波長範囲で試料の検査を可能にし、その際波長固有の構成要素の後調整を光路内で行なう必要のない走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an SNOM(scanning-type near-field optical microscope) that can be operated in air for obtaining a high-resolution SNOM image where the influence of scattered light from an area other than the tip of a probe has been eliminated as much as possible.例文帳に追加

探針先端以外からの散乱光の影響が極力排除された、従って高分解能なSNOM像を得ることのできる、空気中で動作可能なSNOMを提供する。 - 特許庁

To provide an extremely thin illumination light producing device for microscope and an observation method with which stereoscopic information of cells and the like can be acquired by using the device.例文帳に追加

顕微鏡用極薄照明光発生装置および前記顕微鏡用極薄照明光発生装置を用いて、細胞等の立体情報を獲得することができる観察方法を提供する。 - 特許庁

A microminiaturized structure is formed on the surface of a substrate, by scanning a probe of a scanning probe microscope so as to abut on or come close to the surface of the substrate, and moving the microminiaturized structure by the cooperation between the microminiaturized structure present on the surface of the substrate and the probe.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のプローブを基板表面に当接または近接させながら走査して、前記基板表面に存在する微細構造材と前記プローブとの間の相互作用によって、前記微細構造材を移動させて、前記基板表面上に微細構造を形成することを特徴とする。 - 特許庁

The video microscope further has an encoder 23 which detects the position of the one moving lens 9 of the zoom lens 2, an NA arithmetic unit 24 which determines the NA of the zoom lens 2 in accordance with the information from this encoder 23 and a filter arithmetic unit 25 which determines the filter coefficient according to the NA determined by this NA arithmetic unit 24.例文帳に追加

ビデオマイクロスコープは、さらに、ズームレンズ2の一方の可動レンズ9の位置を検出するエンコーダ23と、エンコーダ23からの情報に基づいてズームレンズ2のNAを求めるNA演算装置24と、NA演算装置24で求められたNAに従ってフィルタ係数を求めるフィルタ演算装置25とを有している。 - 特許庁

The position of the stage 101 can be electrically controlled in X-Y-Z directions, and the microscope system 100 includes: a stage X-Y controller 115 for controlling the position of the stage 101 in the X-Y directions; and a stage Z drive control part 116 for controlling the position of the stage 101 in the Z direction.例文帳に追加

ステージ101はX−Y−Z方向の位置が電動制御可能であり、顕微鏡システム100は、ステージ101のX−Y方向の位置を制御するステージX−Y制御部115と、ステージ101のX−Y方向の位置を制御するステージZ駆動制御部116とを備えている。 - 特許庁

When the displacement of the preparation PRT relative to the standard position PR is detected, the microscope 20 pushes the stage 21 from a movement start position, which is a position at the time of detection, toward a direction to respond to the displacement at an extrusion speed, and draws it back to the movement start position at a slower speed than the extrusion speed.例文帳に追加

基準位置RPに対するプレパラートPRTの位置ずれが検出された場合、顕微鏡20はステージ21を、検出時点の位置である移動開始位置から位置ずれに対応する方向へ押出速度で押し出し、該押出速度よりも遅い引戻速度で移動開始位置まで引き戻す。 - 特許庁

The laser scanning microscope of the present invention is characterized in being provided with: a scanner (11) which scans a face to be observed with a laser beam; detection means (11 and 203) which detect the variation in the velocity of the scanning; and power control means (204 and 205) which vary the power of the laser beam according to the detected variation in the velocity.例文帳に追加

本発明のレーザ走査顕微鏡は、レーザ光で被観察面上を走査するスキャナ(11)と、前記走査の速度変化を検出する検出手段(11,203)と、前記検出された前記速度変化に応じて前記レーザ光のパワーを変化させるパワー制御手段(204,205)とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The optical microscope comprises a light source 11, a detector 27 for detecting the light from a specimen 21, a confocal optical system 30 for linearly collecting the light from the light source 11 and guiding the same to the specimen 21, and a diffraction grating 25 for diffusing the light passing through a slit 23 in the vertical direction with the slit 23.例文帳に追加

光学顕微鏡は、光源11と、試料21からの光を検出する検出器27と、光源11からの光をライン状に集光して試料21に導く共焦点光学系30と、スリット23を通過した光をスリット23と垂直方向に分散させる回折格子25と、を備えている。 - 特許庁

The illumination mechanism 28 has: a light guide part 32 having an illumination light irradiation part for irradiating out illumination light LB toward the observation field to the first end side, wherein the second end side is extended to the outside of the optical microscope; and a light source 23 for supplying the illumination light to the second end side of the light guide part 32.例文帳に追加

照明機構28は、第一端部側に観察視野に向けて照明光LBを照出する照明光照出部を有するとともに第二端側が前記光学顕微鏡外に延出するライトガイド部32と、該ライトガイド部32の第二端側に照明光を供給する光源23とを有してなる。 - 特許庁

The liquid immersion microscope objective lens has cemented lenses consisting of a positive first lens group, a positive second lens group and a negative third lens group and having cementing surfaces convex to an image side and has the three-element cemented lenses having the second lens group consisting of the negative lens, the positive lens and the negative lens and having the cementing surface nearest the object side convex to the object side.例文帳に追加

正の第1レンズ群と、正の第2レンズ群と、負の第3レンズ群とよりなり、接合面が像側に凸である接合レンズを有し、第2レンズ群が負レンズ、正レンズ、負レンズからなり、最も物体側に近い接合面が物体側に凸である3枚接合レンズを有し、下記条件(1)、(2)を満足するようにした。 - 特許庁

The total reflection fluorescence microscope makes the change over of vertical illumination and total reflection illumination possible by changing the incident angle of the illumination light to be radiated to a sample through an objective lens 7 from a laser beam source, in which the incident angle of the illumination light from the objective lens 7 on the sample is regulated to a range making the total reflection illumination obtainable.例文帳に追加

レーザ光源から対物レンズ7を介して試料に照射される照明光の入射角を変化させ落射照明と全反射照明の切換えを可能にした全反射蛍光顕微鏡であって、照明光の対物レンズ7から試料への入射角を全反射照明が得られる範囲に規制する。 - 特許庁

The phase transition type recording medium has the phase transition material, of which relation: Lc>La is satisfied when brightness of the crystalline phase is Lc and brightness of the amorphous phase is La in an electronic ray image obtained by observing a surface of the phase transition material the phase of which changes between the crystalline phase and the amorphous phase with a scanning type electronic microscope, as the recording layer.例文帳に追加

結晶相とアモルファス相の間を相変化する相変化材料の表面を走査型電子顕微鏡で観察して得られる電子線像において、結晶相の輝度をLc、アモルファス相の輝度をLaとするとき、Lc>Laである相変化材料を記録層とする相変化型記録媒体。 - 特許庁

The scanning probe microscope includes a light source 35 for irradiating the photoreactive substance on the substrate 1, a sensor 27 for detecting the photoreaction produced in the photoreactive substance by inspection light, an arranging mechanism 145 for arranging a probe 40 to a photoreactive region where the photoreaction on the substrate 1 is detected and a scanning mechanism 45 for allowing the probe 40 to scan the photoreactive region.例文帳に追加

基板1上の光反応物質に検査光を照射する光源35、検査光により光反応物質で生じた光反応を検出するセンサー27、基板1上の光反応が検出される光反応部位に探針40を配置する配置機構145、及び探針40に光反応部位を走査させる走査機構45を備える。 - 特許庁

To obtain an illuminator for a stereoscopic microscope which can show resolution equal to or more than that obtained when a coaxial vertical illuminator is attached without the deficiency of illuminating luminosity in the case of being attached to the stereoscopic microscope, besides, whose cost is lower than that of the coaxial vertical illuminator, to which an auxiliary objective lens can be attached, and which can observe a sample with high magnification.例文帳に追加

実体顕微鏡に装着させると、照明光度を不足させることがなく、同軸落射照明装置を装着した場合の分解能と同等もしくはそれ以上の分解能を発揮させることができるにも拘らず、同軸落射照明装置よりも安価であり、補助対物レンズを取り付けることができ、高い倍率で試料を観察することができる実体顕微鏡の照明装置を提供する。 - 特許庁

The ferroelectric capacitor includes a first ferroelectric layer in which a ferroelectric is sandwiched between a pair of electrodes and the ferroelectric has a surface roughness (RMS), measured by an atomic force microscope, of not lower than 10 nm; and a second ferroelectric layer which is formed on the first ferroelectric layer and has a surface roughness (RMS), measured by the atomic force microscope, of not higher than 5 nm.例文帳に追加

一対の電極間に強誘電体を挟持させてなり、該強誘電体が、原子間力顕微鏡で測定した表面粗さ(RMS)が10nm以上である第1強誘電体層と、該第1強誘電体層上に形成され、原子間力顕微鏡で測定した表面粗さ(RMS)が5nm以下である第2強誘電体層とを有する強誘電体キャパシタである。 - 特許庁

To provide a scanning molecule counting method which detects signals from light emitting particles by measuring light for each of a plurality of wavelength bands different from each other using a confocal microscope or a multiphoton microscope, including a new method for correcting the reduction in the number of signals concurrently generated in the plurality of wavelength bands resulting from the deviation in position and dimensions of a photodetection region due to chromatic aberration of a lens.例文帳に追加

共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡を用いて複数の互いに異なる波長帯域毎に光を測定して発光粒子の信号を検出する走査分子計数法に於いて、レンズの色収差による光検出領域の位置と寸法のずれに起因する複数の波長帯域に同時に発生する信号の数の低減を補正する新規な手法を提案すること。 - 特許庁

From the image of a microscope micronucleus are detected, the chromosomes originating from the micronucleus are determined in dependence upon the hue of the micronucleus, a statistical processing on the distribution of the micronucleus in the sample is carried out by serially carrying out the classification on plural micronucleus and assigning with the main nucleus detected with the micronucleus.例文帳に追加

次に、顕微鏡にて画像化した画像情報に基づいて、小核を検出し、この小核の色調に基づいて小核の由来となる染色体を決定し、複数の小核について順次分類するとともに、小核とともに検出した主核と対応付けて、標本内の小核の分布に関する統計処理を行う。 - 特許庁

The method applied to the scanning probe microscope comprises a probe section, having the probe 20 facing the sample 12; a detection section for detecting physical quantities between the sample and the probe; a measuring section for measuring surface information of the sample, based on the physical quantity, when the probe scans the surface of the sample; and a moving mechanism that has at least two degrees of freedom.例文帳に追加

この探針制御方法は、試料12に対向する探針20を有する探針部、試料と探針の間の物理量を検出する検出部、探針が試料の表面を走査するとき物理量に基づき試料の表面情報を測定する測定部、少なくとも2自由度を有する移動機構を備え走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

The optical microscope 19 observes a photodetector surface 22a (first object plane) by transmitted light from the partial reflection mirrors 2, 3 and observes the hologram surface 21a (second object plane) by transmitted light after reciprocating between the partial reflection mirror 2 and the partial reflection mirror 3.例文帳に追加

光学顕微鏡19は、光検出器面22a(第一物面)については部分反射ミラー2,3の透過光により観察し、ホログラム面21a(第二物面)については部分反射ミラー2と部分反射ミラー3との間を往復後の透過光により観察する。 - 特許庁

The electronic microscope is provided with a full frame transfer type CCD element 109, captures an image according to a full frame transfer system in the case of photographing a still picture under the control of a CCD control section 110 and captures continuously a moving picture according to a frame transfer system in the case of photographing the moving picture.例文帳に追加

フルフレームトランスファ型CCD素子109を備え、CCD制御部110の制御下に、静止画撮像のときにはフルフレームトランスファ方式で画像を取り込み、動画撮像のときにはフレームトランスファ方式で画像の連続取込みを行う。 - 特許庁

This controller is provided with detecting means for detecting that at least one of the setting conditions of a microscope for carrying out the in-darkroom observation is set and inhibition means for inhibiting the display of a luminous display section when the detection described above is made by the detecting means.例文帳に追加

暗室内観察を行うための顕微鏡の設定条件の少なくとも1つが整えられたことを検知する検知手段と、前記検知手段により前記検知がなされると、発光表示部の表示を禁止する禁止手段とが備えられる。 - 特許庁

A microscope system 1 is provided with a transmission turret 6 for holding a plurality of filters 5 and for switching an arrangement of the filters 5, a stepping motor 21 for driving the transmission turret 6, and a transmission turret control part 25 for controlling the stepping motor 21 to control the arrangement of the filters 5.例文帳に追加

顕微鏡システム1は、複数のフィルタ5を保持してフィルタ5の配置を切り換える透過ターレット6と、透過ターレット6を駆動するステッピングモータ21と、ステッピングモータ21を制御して、フィルタ5の配置を制御する透過ターレット制御部25を備える。 - 特許庁

A pellet wherein when the cut face of the resin pellet is observed by means of a polarized microscope, no spherulite is observed in the central part and no lubricant is incorporated in the resin pellet and angle of repose is at most 23 degree when the resin pellets are piled up, is obtd.例文帳に追加

これにより樹脂ペレットの切断面を偏光顕微鏡で観察したとき、中心部において、球晶が観察されず、または樹脂ペレット中に滑剤を含有せず、かつ前記樹脂ペレットを積み上げたときの安息角が23度以下のペレットを得る。 - 特許庁

A rail cover reinforcing plate 5 is disposed near the location where assisting devices such as a large microscope and an easy movable type X-ray CT fluoroscopic apparatus pass over the rail cover 4, and prevents deformation of the rail cover 4 by the weight of the assisting devices.例文帳に追加

レールカバー補強板5は、大型顕微鏡や簡易移動型X線CT透視装置などの補助装置がレールカバー4上を通過する位置近傍に設けられ、補助装置の重量によりレールカバー4が変形するのを防止するようになされている。 - 特許庁

To provide an observation system for the capillary blood flow which is capable of appropriately emitting a proper amount of light to the blood capillary at the cuticle of a fingertip and quickly and appropriately fixing the cuticle of the fingertip corresponding to an optimal position of an objective lens of a microscope.例文帳に追加

指先の爪上皮部分の毛細血管に的確に適量の光りを照射でき、かつ、顕微鏡の対物レンズの最適位置に対応した指先の爪上皮部分を素早く的確に固定することができる毛細血管血流観測装置を提供する。 - 特許庁

In the the above optical microscope 3, since the probe light 9 is deflected by density gradation near the cell membrane of living cells, viability of cells and cell activity can rapidly and easily be judged and measured by measuring the deflection.例文帳に追加

上記の光学顕微鏡3によれば、プローブ光9が生きている細胞の細胞膜近傍での濃度勾配により偏向することから、該偏向を測定することで細胞の生死判別及び細胞活動を迅速にかつ簡易に判別・測定することができる。 - 特許庁

When aligning the crystal direction of the sample to an optical axis of a scanning transmission electron microscope, accurate and quick crystal direction alignment can be performed since a direction for inclining the sample can be directly determined from the shape of the electron beam diffraction image.例文帳に追加

本発明によれば、STEMの光軸に対して試料の結晶方位を合わせる際、試料を傾斜させるべき方向を電子線回折像の形状から直接判断することができるため、正確かつ迅速な結晶方位合せが可能となる。 - 特許庁

The microscope is equipped with an ocular 1, the objective lens 5, a stage supporting part 6, a lower stage 7, an upper stage 8, a surface light source 9 fit in the upper stage 8, and the specimen 10 placed and restricted to be detached on the light source 9 through a hard glass.例文帳に追加

顕微鏡は、接眼レンズ1と、対物レンズ5と、ステージ支持部6と、下ステージ7と、上ステージ8と、上ステージに嵌め込まれた面光源9と、硬質ガラスを介して面光源9上に取り外し可能に載置抑止された標本10を備えている。 - 特許庁

When emitting light onto the surface of a measurement sample 10 during two-dimensional scanning, the light receiving system 180 of the scanning laser microscope receives laser light which is reflected on the surface and reaches through an objective lens 150 and a confocal diaphragm 170, and outputs information on the quantity of light.例文帳に追加

受光系180は、二次元走査させながら測定サンプル10の表面に照射したときに該表面で反射して対物レンズ150及び共焦点絞り170を通過して到来するレーザ光を受光して、その光量の情報を出力する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of remarkably reducing dust-sticking on a sample such as a semiconductor wafer using an immersion objective lens and the occurrence of watermarks on the sample by quickly drying liquid remaining on the sample after performing the visual inspection of the sample.例文帳に追加

液浸系対物レンズを用いた半導体ウエハ等の標本の外観検査後に、標本上に残存する液体を速やかに乾燥して、標本への塵埃等の付着やウォーターマークの発生を著しく減少させることができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The method and device for scanning a sample with a scanning probe microscope includes a step for scanning the surface of the sample according to at least one scanning parameter to obtain data corresponding to the surface, and a step for substantially automatically identifying a transition part on the surface.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡でサンプルを走査する方法および装置は、少なくとも一つの走査パラメータに応じてサンプルの表面を走査して表面に対応するデータを取得するステップと、表面における変移部を略自動的に識別するステップとを有する。 - 特許庁

The microscope is provided with a means for detecting the presence or absence of positional deviation in matching tips of fingers, the manipulator 10 is provided with a charge increase prevention means due to electron beams, and an electromagnetic shield for shielding an electric field generated from actuators 20, 21 is provided in the actuators of the manipulator.例文帳に追加

指片同士の先端合わせの位置ずれの有無を検出する手段を備え、マニュピレータ10には、電子線によるチャージアップ防止手段を設けたり、マニュピレータのアクチュエータ20,21には、該アクチュエータから生じる電界をシールドするための電磁シールドを設けた。 - 特許庁

A control section 60 includes a microscope control section 62 that detects a focusing state of the observing optical system on the specimen S; and an objective lens control section 64 that controls the holding mechanism 28 so as to keep the observing optical system focusing on the specimen S.例文帳に追加

制御部60は、標本Sに対する観察光学系の合焦状態を検出する顕微鏡制御部62と、標本Sに対して観察光学系を合焦状態に維持するように保持機構28を制御する対物レンズ制御部64とを有する。 - 特許庁

The objective 1 for the microscope includes a lens system 11, an inner cylinder 12 supporting the lens system 11, an outer cylinder 15 encloses an outer circumference of the inner cylinder 12 to form an optical path L for lighting, and a shield mechanism M which shields the optical path L for lighting.例文帳に追加

レンズ系11と、レンズ系11を支持する内筒12と、内筒12の外周を包囲して照明用光路Lを形成する外筒15と、照明用光路Lを遮蔽可能な遮蔽機構Mと、を有することを特徴とする顕微鏡用対物レンズ1。 - 特許庁

To provide slide glass and a fluid chip capable of simplifying the attaching and detaching of the slide glass, positioning freely the slide glass, securing a sufficient space between the slide glass an objective lens, and fixing easily and stably the slide glass, in a stage of a microscope.例文帳に追加

顕微鏡のステージにおいて、スライドガラスの脱着の簡易化と、スライドガラスの自由な位置決めと、スライドガラスと対物レンズとの間での十分な空間の確保と、スライドガラスの簡単かつ安定な固定と、を実現可能なスライドガラス及び流体チップを提供する。 - 特許庁

Since the detecting unit 26 separated from a microscope body 10 is attachably and detachably connected to the scanning unit 12 through the multimode optical fiber 29, the detecting unit 26 is easily exchangeable with another detecting unit different in the number of detecting channels.例文帳に追加

顕微鏡本体10から分離されている検出ユニット26は、マルチモード光ファイバ29を介して走査ユニット12に着脱可能に接続されているので、検出ユニット26を検出チャネル数の異なる他の検出ユニットと容易に交換することができる。 - 特許庁

When an operator instructs a point near the inclined axis of the inclined axis pattern by an input device 23, the display control device 22 sets a focusing position on the inclined axis J, which is closest in distance from the instructed point and informs the electron microscope body control part 30 of focusing position information.例文帳に追加

入力装置23によりオペレータが傾斜軸パターンの傾斜軸近傍の点を指示すると、表示制御装置22は指示点から距離が最も近い傾斜軸J上に焦点合わせ位置を設定し、その焦点合わせ位置の情報を電子顕微鏡本体制御部30に通知する。 - 特許庁

例文

The inverted type fluorescence microscope 1 has a sample cover 3 on the front of a main body case 2, and the sample cover 3 is displaced downward along a lower cover 4 under the sample cover 3, which substantially constitutes a part of the main body case 2, whereby the sample is made to get in/out.例文帳に追加

倒立型蛍光顕微鏡1は、本体ケース2の前面に標本カバー3を有し、この標本カバー3は、その下の本体ケース2の一部を実質的に構成する下部カバー4に沿って下方に変位することができ、これにより標本の出し入れを行うことができる。 - 特許庁




  
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