「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(69ページ目) - Weblio英語例文検索

The scanning laser microscope is provided with drive parts (25a, 25b) to drive a plurality of mirrors (11a, 11b) to reflect luminous flux while adjusting the wavelength width and wavelength band of spectrally resolved luminous flux, and a control part 27 to control the drive parts.例文帳に追加

スペクトル分解された光束の波長幅と波長域とを調整しながら前記光束を反射する複数のミラー（１１ａ、１１ｂ）を駆動する駆動部（２５ａ、２５ｂ）と、前記駆動部を制御する制御部２７とを備えた。 - 特許庁

The microscope equipped with a vertical illuminating optical system A employs an imaging optical system D which converges transmitted illumination light traveling from a sample 13 after passing through a half-mirror 4 arranged halfway in the optical path of the vertical illuminating optical system A.例文帳に追加

落射照明光学系Ａを備える顕微鏡において、落射照明光学系Ａの光路の途中に配置されたハーフミラー４を透過した標本１３からの透過照明光を集光させる結像光学系Ｄを採用した。 - 特許庁

In the microscope 100, a sample 4 may be kept stationary, while providing devices 24 and 26 both in an illumination beam path 2 and in an detection beam path 5, the devices 24 and 26 making two beam paths 2, 5 slide in their region near the sample.例文帳に追加

顕微鏡１００において、試料４を定置に保持することができ、照明光路２と検出光路５とには、この両光路２，５を試料近傍領域において摺動させる装置２４，２６が設けられている。 - 特許庁

To provide an illuminating apparatus including means configured to cope with the movement of a pupil surface caused by zooming, without using a complicated zoom system in which the conjugate relation between an image and a pupil is secured, and to provide a zoom microscope including the illuminating apparatus.例文帳に追加

複雑な構成となる像及び瞳の共役関係を保ったズーム系とすることなく、ズーミングによる瞳面の移動に対処する手段を設けた照明装置、及び、この照明装置を備えたズーム顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope that prevents an inspection time from being extended due to vertical vibration of a sample when obtaining a two-dimensional image by irradiating the sample with an electron beam inclined with respect to the perpendicular direction of the sample.例文帳に追加

試料の垂直方向に対して傾斜させた電子ビームを試料に照射して二次元像を得るときに、試料の上下振動が原因で検査時間が長くなることを防止できる走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an objective lens including a built-in electric component and an electrode allowing electric connection to the outside, to provide an external connecting means allowing electric connection with the electrode of the objective lens, and to provide a microscope having them.例文帳に追加

電気的部品を内蔵し、外部との電気的接続を可能にする電極を有する対物レンズと、この対物レンズの電極と電気的接続を可能にする外部接続手段と、これらを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The microscope 110 has an excitation light input port 112 for capturing excitation light from the excitation light source 130 and an output port 113 for outputting fluorescence generated by the excitation light.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡１１０は、励起光源部１３０からの励起光を取り込むための励起光入力ポート１１２と、励起光により発生された蛍光を出力するための出力ポート１１３とを有している。 - 特許庁

The microscope 1 provided with an illuminating optical system 5, an objective lens 6, and a spectroscope 14 is provided with an imaging optical system 12 taking an entrance aperture 14a of the spectroscope 14 and a pupil surface 7 of the objective lens as a conjugate pair.例文帳に追加

照明光学系５、対物レンズ６および分光器１４を備える顕微鏡１において、分光器１４の入射開口１４ａと対物レンズの瞳面７とを共役とする結像光学系１２を備えるようにする。 - 特許庁

When characterization of the tip of a diamond probe 1 for machining is needed, a high resolution scanning electron microscope observation at a high accelerating voltage is performed for the tip of the diamond probe 1 in use for machining under a water vapor atmosphere.例文帳に追加

加工用ダイヤモンド探針１の先端のキャラクタリゼーションが必要なときは使用している加工用ダイヤモンド探針1の先端を水蒸気雰囲気下での高加速電圧の高分解能走査電子顕微鏡観察を行う。 - 特許庁

To offer an auxiliary illuminating arrangement for a slit lamp in which the entire image of the eye of a patient including an image of slit light is fetched from an imaging device by a video capture means without causing the patient to sense almost no dazzle and preventing operation of a slit lamp microscope.例文帳に追加

患者に眩しさを殆ど感じさせず、かつ細隙灯顕微鏡の操作を妨げることなく、ビデオキャプチャー手段によって、撮像装置からスリット光の像を含む患者の眼の全体の画像が取り込まれるようにする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for avoiding the trouble of sample stand changing, and accurately measuring the temperature depending characteristic of physical properties by tracing measurement of the temperature variation on an identical measurement point and an identical measurement area.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、試料を測定する際、試料台の交換の手間をなくすとともに、同一測定ポイント同一測定領域の温度変化を追跡測定し、物性の温度依存特性を正確に測定すること。 - 特許庁

By measuring the phase transition temperature of the compound (XA-1) with a texture observation by using a polarizing microscope, in the time of elevating temperature, it shows a smectic phase from 101 to 133°C, and also shows a nematic phase from 133 to 146°C.例文帳に追加

得られた化合物（ＸＡ−１）の相転移温度を偏光顕微鏡によるテクスチャー観察によって行うと、昇温時において、１０１℃から１３３℃までスメクチック相を呈し、１３３℃から１４６℃までネマチック相を呈する。 - 特許庁

To provide a photodetector capable of obtaining a proper image data corresponding to observation conditions in response to the change of the observation conditions of a sample automatically and a scanning type confocal microscope with the photodetector.例文帳に追加

試料の観察条件の変化に自動的に対応して、その観察条件に応じた適切な画像データを取得することが可能な光検出回路および該光検出回路を備えた走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A confocal microscope includes a light source that emits excitation light that excites a sample, and a confocal optical system that guides fluorescent light generated from the sample by focusing the excitation light to the sample to an image pickup device.例文帳に追加

試料を励起する励起光を射出する光源と、試料に前記励起光を集光させることにより試料から発生した蛍光を撮像装置に導く共焦点光学系と、を備えた共焦点顕微鏡に関する。 - 特許庁

In a camera chamber 160 of the nodular graphite cast iron quality measuring device 1000, a monochrome CCD camera 150 equipped with a microscope 153 and a light source 170 are arranged, and the optical axis of the camera 150 is set in a vertical direction.例文帳に追加

球状黒鉛鋳鉄品質測定装置１０００のカメラ室１６０には、顕微鏡１５３を備えたモノクロＣＣＤカメラ１５０と光源装置１７０とが配設され、カメラ１５０の光軸は鉛直方向に設けられている。 - 特許庁

The microscope stage equipped with a lower stage 2 and an upper stage 3 slidably coming into contact with a prescribed plane of the lower stage 2 is disposed with a grip 8 provided with a surface having a large coefficient of friction in a portion of the upper stage 3.例文帳に追加

シタステージ２と、このシタステージ２の所定の平面に対して摺動自在に接触するウエステージ３とを備えた顕微鏡ステージにおいて、ウエステージ３の一部に摩擦係数の大きい表面を持ったグリップ８を配置した。 - 特許庁

To reduce the influence of achromatic aberration at an objective lens in a color microscope furnished with a plurality of light sources, in which a color image is obtained by condensing light having different wavelengths of the light sources on a specimen through the common objective lens.例文帳に追加

複数の光源を具備し、これらの光源の波長の異なる光を共通の対物レンズを通して試料に集光させることによりカラー画像を得るカラー顕微鏡において、対物レンズでの色収差の影響を低減する。 - 特許庁

The black defect is removed by the same method as anodic oxidation by using that DLC is oxidized by partial VUV light irradiation from a scanning proximity place optical microscope probe in an ozone atmosphere, it becomes the volatile component and is removed.例文帳に追加

またはオゾン雰囲気下での走査近接場光学顕微鏡探針からの局所VUV光照射でDLCが酸化され揮発性成分となって除去されることを利用し、陽極酸化と同様な方法で黒欠陥を除去する。 - 特許庁

To provide an electron beam device capable of appropriately processing stereo scopic detection data obtained from an electron microscope, three-dimensionally observing an image of a sample correctly and highly precisely, and measuring the three dimensional shape of the sample based on the observation.例文帳に追加

電子顕微鏡から得られたステレオの検出データを適切に処理して、試料像を正確に精度よく立体観察可能とし、かつこれに基づき三次元形状計測を行うことができる電子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect correction method for a photomask using a scanning probe microscope, the method giving less damage on the photomask, and to provide a method for manufacturing a photomask using the method.例文帳に追加

本発明は、走査型プローブ顕微鏡を用いたフォトマスクの欠陥修正方法であって、フォトマスクへのダメージが少ないフォトマスクの欠陥修正方法、およびそれを用いたフォトマスクの製造方法を提供することを主目的とする。 - 特許庁

To learn states of parts with high commonality of the whole tumor and the whole tumor in detail by micro analysis of a tumor and analysis by paring the parts and to provide an analytic method by an analytic microscope.例文帳に追加

腫瘍のミクロなかつ腫瘍全体での共通性の高い部分を対とした解析により、その部分の状態および腫瘍全体を詳細に知ろうとするもので、解析的顕微鏡による解析方法を提供する。 - 特許庁

A microscope (detecting means) 10 observes a polarization holding optical fiber 1 in a direction parallel to an irradiation direction of refractive index varying exciting light A and a computer 18 finds the bearing of the optical fiber 1 according to the observed image.例文帳に追加

顕微鏡（検出手段）１０は、屈折率変化誘起光Ａの照射方向と平行な方向から偏波保持光ファイバ１を観察し、コンピュータ１８は、この観察像に基づいて偏波保持光ファイバ１の方位を求める。 - 特許庁

The thickness measurement means 51 is constituted by a non-contact laser length-measuring device 51A and a thickness-calculating means 51B, wherein the laser length-measuring device 51A is attached on a biobjective microscope 12, enabling measurement of the whole surface.例文帳に追加

また、厚さ測定手段５１は、非接触のレーザ測長器５１Ａと厚さ演算手段５１Ｂとから構成し、レーザ測長器５１Ａを双体物顕微鏡１２に取付け、ワーク全面に亘って測定できるように構成した。 - 特許庁

To improve operability of a microscope, and also monitor moving pictures with the same image quality between a local side and a remote side, by reducing delay of the digital moving pictures for monitoring samples to transfer to the remote side as much as possible compressed.例文帳に追加

リモート側に転送する標本モニタ用のデジタル動画像の遅延をできるだけ少なくして顕微鏡の操作性を向上させるとともに，ローカル側とリモート側で同一の画像品質の動画像をモニタできるようにする。 - 特許庁

To measure the thermal capacity per unit area, thermal permeability and thermal diffusivity of a micro-area and a thin film on the surface of a sample with high spatial resolution by measuring a thermo-reflectance signal of the sample by use of a thermophysical property microscope.例文帳に追加

熱物性顕微鏡を用いて試料の熱反射信号を測定し、試料表面の微小領域及び薄膜の単位体積あたり熱容量、熱浸透率、熱拡散率を高い空間分解能により測定すること。 - 特許庁

The scanning probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 directed to a sample 12 and a measuring part for measuring the physical quantity generated between the probe and the sample while the probe scans a surface of the sample, regularly maintains the physical quantity in the measuring part, scans and measures the surface of the sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対して探針２０が向くように設けられたカンチレバー２１と、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる物理量を測定する測定部を備え、測定部で物理量を一定に保ちながら探針で試料の表面を走査して試料の表面を測定する。 - 特許庁

The steel material satisfies a prescribed chemical component composition, and in the steel material, when the size of each inclusion is defined as the length of the widest portion in the direction perpendicular to the maximum length of the projection of the inclusion as observed with a microscope, inclusions each characterized in that the size is ≥2 μm are dispersed.例文帳に追加

鋼材は、所定の化学成分組成を満足し、且つ顕微鏡観察したときの介在物の最大投影長さに垂直な方向で最も幅の大きい長さを介在物の大きさとしたときに、その大きさが２μｍ以上である介在物が分散したものであると共に、該介在物は下記（１）式および（２）式の関係を満足するものである。 - 特許庁

The constituent materials of the toner are so selected that a charge control resin has hardness which is the same as the hardness of a binder resin or the charge control resin is harder than the binder resin, as measured with a scanning probe microscope in a viscoelasticity evaluation mode, with respect to the binder resin and the charge control resin, which are present in the particle interiors or particle surfaces of the toner.例文帳に追加

トナーの内部あるいは表面にある該バインダー樹脂と該荷電制御樹脂に対して、走査型プローブ顕微鏡による粘弾性評価モードによる測定を行った場合に、該荷電制御樹脂の硬さが、該バインダー樹脂の硬さと同じか、または、該荷電制御樹脂が、該バインダー樹脂よりも硬くなるようにトナーの構成材料を選択する。 - 特許庁

The measurement on the plurality of items is performed, in which the AMP (auto measurement parameter) registration is performed for the setting of the parameters regarding the preparation of a line profile from a SEM (scanning electron microscope) image, as the common condition to all measurement items, and in which the plurality of AMP registrations for the edge detection method and the distance measurement value calculation method are performed.例文帳に追加

本発明においては、ＳＥＭ画像からラインプロファイルを作成するときに関わるパラメータの設定を全測定項目において共通の条件としてＡＭＰ登録を行い、また、エッジ検出方法と測長値算出方法を複数のＡＭＰ登録を行うことによって、複数項目の測定を行うようにした。 - 特許庁

In the method for analyzing the materials in the microcapsule of the sample for observation containing the microcapsule by the transmission electron microscope, the sample for observation is used as the sample for observation containing the microcapsule, where the microcapsule including monomer capable of photopolymerization is irradiated with light.例文帳に追加

マイクロカプセルを含む観察用試料のマイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法であって、該マイクロカプセルを含む観察用試料として、光重合可能なモノマーが内包されたマイクロカプセルに光照射をした観察用試料を用いることを特徴とする、マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法。 - 特許庁

The adhesive layer of the adhesive sheet (A) for collecting microorganisms is pressed to a test specimen to collect the microorganism and then, the culture medium layer of the culture medium sheet (B) is laminated to the adhesive surface in which microorganisms of the adhesive layer are collected and the microorganisms are cultured and the microorganisms proliferated through such culture are observed by a microscope to detect the microorganisms.例文帳に追加

上記（Ａ）の微生物捕集用粘着シートの粘着層を被験体に圧着して微生物を捕集し、次いで、粘着層の微生物を捕集した粘着面に上記（Ｂ）の培地シートの培地層を積重して、微生物を培養し、次いで、かかる培養を経て増殖した微生物を例えば顕微鏡観察することで、微生物の検出を行う。 - 特許庁

The microscope is provided with the objective lens 8 for condensing a luminous flux of linearly polarized light from illuminating optical systems 1 to 6 and projecting the luminous flux to a sample, and also, transmitting the luminous flux reflected by the sample, and a compensation optical system 104 for compensating the rotation of the luminous flux of the linearly polarized light in the polarizing direction caused by the objective lens 8.例文帳に追加

照明光学系１〜６からの直線偏光の光束を集光して標本に照射するとともに、標本により反射された光束を通過させる対物レンズ８と、対物レンズ８により光束に生じる直線偏光の偏光方向の回転を補償するための補償光学系１０４とを有する。 - 特許庁

In the probe 10 for the magnetic force microscope having a magnetic region at its pointed end part 12 and detecting the magnetic force caused by allowing the magnetic region to approach the surface of a sample, the magnetic region of the pointed end part 12 of the probe 10 is formed of a dia-ferromagnetic single crystal to micronize the self-magnetic field leaked from the magnetic region.例文帳に追加

尖端部１２に磁性体領域を有し、この磁性体領域を試料表面に接近させることにより生じる磁気力を検出する磁気力顕微鏡用プローブ１０であって、プローブ尖端部１２の磁性体領域が反強磁性単結晶で形成されるようにして、磁性体領域から漏れ出る自己磁場を微小にする。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens with a socket type frame for position correction which is applicable by being combined with various cover glasses and/or various liquid immersion liquid and/or at various working temperature, which can be moved in an axial direction, which can be used instead of a compression spring used for the microscope objective lens and other objective lens and further which can remove a defect of the spring.例文帳に追加

様々なカバーガラスおよび/または様々な液浸液と組み合わせて、および/または様々な作業温度において適用可能な軸方向に移動でき、顕微鏡対物レンズおよびその他の対物レンズに使用される圧縮バネの代わりになり、しかもバネの欠点を取り除くことができる位置修正用ソケット型フレームの付いた顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

To provide an instillator for ophthalmic operation in which an operator himself or herself can simply achieve the sure dropping of eye drops to a given point of an operation field in the ophthalmic operation under a microscope.例文帳に追加

顕微鏡下における眼科手術において、術野の任意点への確実な点眼液の滴下を術者自身が簡便に達成することが可能な眼科手術用点眼装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To realize a method of manufacturing a membrane sample for a scanning transmission electron microscope which is suitable for being used in the inspection of a multilayer structure in a semiconductor device and which is handled easily, and to realize an observation method for the membrane sam ple.例文帳に追加

半導体デバイスの多層構造の検査に用いて好適であり、取り扱いが容易な走査透過電子顕微鏡用薄膜試料作製方法および薄膜試料の観察方法を実現する。 - 特許庁

To provide a removal method, for the offset of a scanning probe microscope, in which a Z-axis displacement offset is not generated or can be reduced even when the temperature of a viscoelastic substance is lowered when a coarse adjustment is changed over to a fine adjustment.例文帳に追加

粗動から微動への切替え時に、粘弾性体の温度が低下しても、Ｚ軸変位オフセットが生じない、あるいは低減できる走査型プローブ顕微鏡のオフセット除去方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide an optical path-selecting device which decreases troublesomeness in an optical path-selecting optical element and in opening and closing a shutter to prevent stray light, and also provide an illumination device having the same and a microscope having the same.例文帳に追加

光路選択光学素子やシャッタ開閉動作の煩わしさを軽減し、迷光を防止することが可能な光路選択装置と、これを有する照明装置、及びこれを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a portable binocular microscope by which the recording and the simultaneous observation of an image are easily executed even through it is small- sized and is light in weight and which is carried out and used to/at outdoors and to provide an image pickup method using it.例文帳に追加

小型軽量であっても画像の記録や同時観察などを簡便に行うことができ、野外に持ち出して使用できるような携帯用の双眼顕微鏡とそれを用いた撮像方法を提供する。 - 特許庁

An objective lens 13 and scaling optical systems 14a and 14b serve as a microscopic objective optical system which is provided in a casing 12 for the operating microscope 10 so as to obtain an optical image of the subject 2.例文帳に追加

対物レンズ１３及び変倍光学系１４ａ，１４ｂは、前記手術用顕微鏡１０の筐体１２に設けられ前記被検体２の光学像を得るための顕微鏡対物光学系となっている。 - 特許庁

In this mapping type electron microscope, an illuminating mirror cylinder 11 is disposed to have an angle of θ1 relative to an optical axis and an illuminating mirror cylinder 12 is disposed to have an angle of θ2 relative to the optical axis, these cylinders 11 and 12 emit electron beams to the center of a Wien filter 13.例文帳に追加

照明鏡筒１１は光軸とθ１の角度、照明鏡筒１２は光軸とθ２の角度をなして設けられ、ウィーンフィルター１３の中心に向けて電子ビームを放出している。 - 特許庁

To provide a thin-layer oblique illumination system that can move illumination light in a thin-layer shape along the depth of a sample while keeping constant illumination conditions in the sample, and to provide a microscope.例文帳に追加

標本の内部における照明条件を一定に保ちながら、薄層状の照明光を標本の深さ方向に移動させることができる薄層斜光照明装置および顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This microscope is provided with the stage 150 on which a sample is mounted, an objective lens 104 arranged under the stage 150, and an image-formation lens 106 and relay lenses 113 and 115 arranged in order on an optical axis 114.例文帳に追加

標本を搭載するためのステージ１５０と、ステージ１５０の下側に配置された対物レンズ１０４と、光軸１１４上に順に配置された結像レンズ１０６とリレーレンズ１１３，１１５とを有する。 - 特許庁

To improve the reproducibility of a position relation on a light source, a foreign matter and an opening part, to eliminate the need of a complicated operation for using an optical microscope and to highly precisely evaluate PRNU.例文帳に追加

光電変換素子を用いたラインセンサーにおいて、光源、異物、開口部の位置関係の再現性が良く、光学顕微鏡を使うような煩雑な操作が不要で、精度良くＰＲＮＵを評価することができるようにする。 - 特許庁

Furthermore, the magnetic domain observation microscope 1 includes, as a control system 12, a CPU 31, and a gray scale magnetic domain image generation section 33 for generating a gray scale magnetic domain image, and a color magnetic domain image generation section 34 for generating a color magnetic domain image from the gray scale magnetic domain image.例文帳に追加

さらに、制御系１２として、ＣＰＵ３１やグレースケール磁区像を生成するグレースケール磁区像生成部３３、グレースケール磁区像からカラー磁区像を生成するカラー磁区像生成部３４を有する。 - 特許庁