「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(73ページ目) - Weblio英語例文検索

In the time lapse observation, while performing an autofocus, the inverted microscope system does not allow an application of the exiting light to the observation sample, when photographing the observation sample after finishing the autofocus, allows the application of the exiting light to the observation sample, and after finishing the photographing, does not allow the application of the exciting light to the observation sample again.例文帳に追加

タイムラプス観察において、オートフォーカスを行なっている間は、励起光を観察試料に対して照射しない状態とし、オートフォーカスが完了した後、観察試料の撮影を行うときに、励起光を観察試料に対して照射する状態とし、さらに撮影が完了した後は、励起光を観察試料に再び照射しない状態にすることを特徴とする倒立顕微鏡システム。 - 特許庁

This confocal optical microscope 100 has an excitation optical system for irradiating a sample with excitation light, and the system is constituted of an excitation light source 101, a dichroic mirror 106 and an objective lens 107.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡１００は励起光を試料に照射する励起光学系を有し、それは励起用光源１０１とダイクロイックミラー１０６と対物レンズ１０７とから構成される。 - 特許庁

To provide a sample preparation device for a microscope capable of preventing a sample observation surface from being deformed or damaged, and preventing a load of an exhaust system for exhausting the vacuum chamber inside from being increased.例文帳に追加

試料の観察表面が変形したり、ダメージを受けたりせず、真空チャンバ内を排気する排気装置の負荷が増大しない顕微鏡用試料作成装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of imaging a clear two-dimensional image and a three-dimensional image as the whole image, even when a high-brightness or low-brightness portion exists locally in an imaging domain.例文帳に追加

撮像領域内に局所的に高輝度又は低輝度の部位が存在しても、画像全体として鮮明な２次元画像及び３次元画像を撮像できる共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a microscope device which easily keeps a photodetector and a surface of a glass slide in a parallel state even when dimension in a longitudinal direction of the photodetector is made large, and is accurately focused.例文帳に追加

受光部の長手方向の寸法を大きくした場合であっても、容易に受光部とスライドガラスの面を平行状態に保つことが可能であり、精度よく合焦できる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The aluminum support shows a surface area ratio ΔS of not less than 5% calculated by formula (I) based on three-dimensional data measured using an interatomic force microscope (AFM) and not higher than 20% steepness a45.例文帳に追加

ここで、ΔＳ^5(0.02-0.2)は、原子間力顕微鏡を用いて得られる３次元データから、波長０．０２〜０．２μｍの成分を抽出して求めた値であり、ΔＳ^5は以下の式（Ｉ）より算出した値である。 - 特許庁

The X-ray microscope 1 is equipped with: an X-ray source 10 emitting an X-ray; an oblique incidence mirror for illumination 20; an oblique incidence mirror for image formation 30; an X-ray detector 40; and a moving means 50.例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡１は、Ｘ線を発するＸ線源１０、照明用斜入射ミラー２０、結像用斜入射ミラー３０、Ｘ線検出器４０及び移動手段５０を備えている。 - 特許庁

A controller 111 controls a scanning confocal microscope 100, and sequentially acquires a slice image for an observation surface for each height of a sample 101 over an acquired range in the height direction.例文帳に追加

コントローラ１１１は、走査型共焦点顕微鏡１００を制御して、試料１０１の高さ毎の観察面に対するスライス画像を、高さ方向の取得範囲に亘り順次取得させる。 - 特許庁

To provide a fluorescent microscope which is made compact so as to facilitate transportation and management, can be disposed in a narrow place such as the inside of an incubator or a clean bench, and can achieve a samples observation through a remote control.例文帳に追加

運搬と管理が容易なように蛍光顕微鏡のコンパクト化を図り、インキュベーターやクリーンベンチ内部など狭い場所にも配置可能で、遠隔制御を通じた試料観察が可能であること。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus that is easily manufactured, has a simple configuration, and is easily operated, in order to observe images of a plurality of specimen cross-sections of different focusing positions in the direction of an optical axis, and to provide a microscope device.例文帳に追加

光軸方向に合焦位置の異なる複数の標本断面の画像を観察するため、装置の製造や構成が簡単で操作の容易な結像装置及び顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

A mirror body 51 of a microscope part 11 has on its reverse surface an opening part (61) for an objective lens group (3) and is fitted with a slide-type shutter 63 which closes the opening part (61).例文帳に追加

顕微鏡部１１の鏡体５１には、下面に対物レンズ群３用の開口部６１が形成されると共に、この開口部６１を閉鎖するスライド式シャッタ６３が取り付けられている。 - 特許庁

To provide a neutron microscope, along with a neutron transmission magnified image forming method, capable of magnifying a state in a substance or structure in a non-destructive manner using a neutron by a transmission image to observe the same.例文帳に追加

中性子を用い、非破壊で物質や構造内部の状況を透過画像により拡大し観察できる中性子顕微鏡及び中性子透過拡大画像形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mold for optical imprint which can be observed with an SEM (Scanning Electron Microscope), can be inspected with high throughput, and can form high-definition pattern, and to provide an optical imprint method using the same.例文帳に追加

ＳＥＭ観察が可能であり高スループットで検査を行うことができ、かつ、高精細なパターン形成が可能な光インプリント用のモールドと、これを用いた光インプリント方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device including an imaging part which repeatedly images an object to be observed and generates a plurality of images, and by which the change of growing environment during time lapse photography is easily obtained.例文帳に追加

被観察物の像を繰り返し撮像して複数の画像を生成する撮像部を備えた顕微鏡装置において、タイムラプス撮影時の生育環境の変化を容易に把握可能とすること。 - 特許庁

To provide a tomography and tomograph that can measure the thickness of affected parts easily and accurately by using short wave infrared light, or an invisible ray as a laser source of a confocal microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡のレーザ光源は近赤外光、すなわち不可視光を用い、患部の厚さを簡便かつ正確に測定することができる断層像形成方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

To provide an objective lens for an optical microscope, with the objective lens, having a simple structure or a means for preventing axis displacement, after effective alignment adjustment and for reducing degradation in visibility, using a simple structure.例文帳に追加

簡単な構造にて、有効に心出し調整後に於ける心ずれが防止され、見えの劣化が低減される機構又は手段を有する光学顕微鏡用の対物レンズを提供すること。 - 特許庁

To provide a system for simultaneously evaluating effects of a plurality of drugs in a method for rapidly and simply evaluating effects of the drugs by observing morphology change of a drug-treated filamentous bacterium by a microscope.例文帳に追加

薬剤処理した糸状菌の形態変化を顕微観察することで、薬剤の効果を迅速かつ簡便に評価する方法において複数の薬剤の効果を同時に評価するシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a microregion scanning apparatus utilizing a cylindrical piezoelectric element which does not cause hindrance to application of an SPM to various fields, particularly mounting of the SPM on a biological inverted microscope.例文帳に追加

ＳＰＭの様々な分野への応用、特にＳＰＭを生物用倒立顕微鏡に搭載する際に障害とならない円筒型圧電素子利用の微小領域走査装置を提供すること。 - 特許庁

This composition has an initiation temperature of phase difference increase (Ts) measured using a scanning viscoelasticity microscope of not lower than 25°C, and this sheet having an easily formable surface is prepared by processing the resin composition into a sheet form.例文帳に追加

走査粘弾性顕微鏡を用いて、測定される位相差増大開始温度Ｔｓが２５℃以上である組成物、及び該樹脂組成物をシート状に加工してなる易表面賦形性シート。 - 特許庁

A main component constituting functional particles and powder capable of visually checking the specific shape when observed by a microscope are combinedly used and formed into particles to produce functional particles having a function capable of distinguishing oneself from others.例文帳に追加

機能性粒子を構成する主要成分の他に、顕微鏡で観察した際に特異な形状を視認できる粉体を併用して粒子化し自他識別能を有した機能性粒子を製造する。 - 特許庁

To provide a microscopic image pickup unit having a smooth observation environment without giving unnecessary labor to an operator at the time of picking up an observation image obtained by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡から得られる観察画像の撮像時に、操作者に対して余計な労力をあたえず、円滑な観察環境を提供することができる顕微鏡用撮像装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a near-field light sensing optical system, whose noise level is low and by which a clear optical contrast can be obtained and to improve the reproducing resolution of an optical recording and reproducing apparatus and a near-field optical microscope.例文帳に追加

ノイズレベルが低く鮮明な光学コントラストが得られる近接場光検出光学系を提供し、光記録再生装置および近接場光学顕微鏡の再生分解能を向上する。 - 特許庁

To enable to change control contents described in memories of a microprocessor, an FPGA and a CPLD that are used as component elements of a scanning electron microscope, without moving from the development base of a manufacturer or a service center.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の構成要素として用いられるマイクロプロセッサ，ＦＰＧＡ，ＣＰＬＤのメモリに記述されている制御内容を、メーカの開発拠点・サービスセンタに居ながらにして変更する。 - 特許庁

DISTYRYLBENZENE DERIVATIVE AND MATERIAL FOR FORMING THREE DIMENSIONAL MEMORY, LIGHT LIMITING MATERIAL, CURING MATERIAL FOR PHOTOCURABLE RESIN FOR USE IN PHOTOFABRICATION, AND FLUORESCENT PIGMENT MATERIAL FOR USE IN TWO-PHOTON FLUORESCENT MICROSCOPE, EACH COMPRISING THE SAME例文帳に追加

ジスチリルベンゼン誘導体及びこれを用いた三次元メモリ材料、光制限材料、光造形用光硬化樹脂の硬化材料、並びに二光子蛍光顕微鏡用蛍光色素材料。 - 特許庁

A scanning confocal microscope 11 is provided with a piezoelectric element 28-1 for moving an object lens 25 in a z direction, and a piezoelectric element 28-2 for moving a stage 21 in the z direction.例文帳に追加

走査型の共焦点顕微鏡１１には、対物レンズ２５をｚ方向に移動させるピエゾ素子２８−１と、ステージ２１をｚ方向に移動させるピエゾ素子２８−２が設けられている。 - 特許庁

A thin-film sample 2 thinned down to allow for observation by a transmission type electron microscope is made from a model alloy 1 to be observed, and a mark 3 is manufactured on the thin-film sample 2.例文帳に追加

観察対象となるモデル合金１から、透過型電子顕微鏡で観察可能な厚さまで薄膜化された薄膜試料２が作製され、薄膜試料２にマーク３の作製が行なわれる。 - 特許庁

To perform the simultaneous beam transmission of a plurality of ultrashort pulse laser beams having different single wavelengths while suppressing an extension of time width, thereby making it possible to perform a high-speed observation on a microscope.例文帳に追加

複数の異なる単一波長の超短パルスレーザ光を、時間幅の拡がりを最小限に抑えつつ同時に光伝送して顕微鏡による観察等を高速に行えるようにすること。 - 特許庁

The particle suitably has an average primary particle diameter of from 20 nm to 1 μm measured by a transmission electron microscope method, and average particle diameter of from 20 nm to 3 μm measured by a dynamic light scattering method.例文帳に追加

その中空粒子としては透過型電子顕微鏡法による平均一次粒子径が２０ｎｍ〜１μｍ、動的光散乱法による平均粒子径が２０ｎｍ〜３μｍが好適である。 - 特許庁

To realize, in a detecting device and a confocal microscope having the detecting device, high resolution and high detection efficiency regardless of detected light rays of different wavelengths by using a simple structure means.例文帳に追加

検出装置と該検出装置を備えた共焦点顕微鏡において、波長が異なる検出光でも高解像度と高検出効率とを構造的に簡単な手段により実現する。 - 特許庁

To provide a machine tool with an observation point focusing support function which is able to easily focus on an object to be observed, despite of the use of a telecentric optical system microscope system.例文帳に追加

テレセントリック光学系顕微鏡システムを用いながらも、観察対象物に対する焦点合わせを容易に実施できるような観察点焦点合わせ支援機能付きの工作機械を提供すること。 - 特許庁

To provide an illumination optical system for microscope which allows the state of illumination to continuously change between Koehler illumination and critical illumination, and can always obtain illumination and brightness suitable for observation.例文帳に追加

照明状態をケーラ照明とクリティカル照明の間で連続的に変化させることができ、常に観察に適した照野と明るさを得ることの出来る顕微鏡用照明光学系を提供すること。 - 特許庁

Since the positions and inclinations of a specimen of a continuous section on a prepared slide are irregular, it is necessary to adjust its positions and angles on a computer so that continuous digital microscope photographs are superposed on each other.例文帳に追加

連続切片のプレパラート上の標本は位置、傾きが一定ではないので連続するデジタル顕微鏡写真が重なり合うようにコンピューター上で位置と角度を調整する必要がある。 - 特許庁

For the charged particle beam apparatus which performs observation, recording and analysis of an image from a scanning microscope, a digital space-time filter arithmetic circuit 17 for processing detected signals is provided in an image signal system.例文帳に追加

走査型顕微鏡の画像観察、記録、分析を行なう荷電粒子ビーム装置において、検出した信号を処理するディジタル時空間フィルタ演算回路１７を画像信号系に設けて構成する。 - 特許庁

To provide a focus detector for a microscope accurately detecting a focusing position even when a peak shape obtained when relation between the intensity of a light quantity signal and a relative position is made a graph, is flat.例文帳に追加

光量信号の強度と相対位置との関係をグラフ化したときのピーク形状が平坦な場合でも、合焦位置を正確に検出できる顕微鏡の焦点検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a probe for a scanning probe microscope (SPM), particularly a method for fabricating the probe using (111) single crystal silicon.例文帳に追加

本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）のための探針の製造方法に関し、特に（１１１）単結晶シリコンを用いた探針の製造方法に関する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope constituted so as to accurately and quantitatively evaluate the leading end shape of its probe by simple work, and also to provide an evaluation method of its probe.例文帳に追加

簡単な作業を行うことで探針の先端形状を評価でき、定量的な評価を正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡およびその探針評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pair of tweezers capable of holding a sample for observation by an electron microscope and easily detecting the holding force with high accuracy, and a holding force control device.例文帳に追加

電子顕微鏡観察用の試料を挟持可能なものであって、挟持する力（挟持力）を容易且つ高精度に検出することができるピンセット及びその挟持力制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a a vertical illuminator which can continuously adjust the light quantity of a plurality of light for illumination with respect to a specimen in a wide wavelength region and can be inexpensively configured and a fluorescent microscope.例文帳に追加

標本に対する複数の照明光の光量を広い波長域で連続的に調整でき、安価に構成できる蛍光観察用の落射照明装置、および蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a sample stage reduced in the number of part items and allowing compacification in a height direction, and to provide a scanning probe microscope high in a characteristic frequency and allowing an observation of high resolution as a result thereof.例文帳に追加

部品点数が少なく、高さ方向の小型化が可能な試料ステージ、および固有振動数が高く、その結果、分解能の高い観察が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する - 特許庁

A laser emitting image including at least linear optical image is obtained by the light L1 passing though a hologram element 9, a collimator lens 4, a condenser 5, a half mirror 6 and a microscope lens 7 one after another.例文帳に追加

ホログラム素子９、コリメートレンズ４、集光レンズ５、ハーフミラー６および顕微鏡レンズ７を順次経由した光Ｌ１によって、少なくとも線状光像を含むレーザ発光画像を取得する。 - 特許庁

To provide an operating microscope system which permits a sub operator to enlarge a site of operation for observation with his/her own field of vision even in a position where he/she is beside a main operator or a position where he/she faces the main operator.例文帳に追加

主術者と並んだ位置においても対向した位置においても、副術者が自己の視野で術部を拡大して観察することが可能となる手術顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide an endoscopic device and a microscope for operations allowing an operator to easily move a hard mirror in the visual field in microscopic observation.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡観察視野内においても、硬性鏡の移動操作を行いやすくすることができる内視鏡装置と手術用顕微鏡を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a confocal electric light emission spectral microscope capable of simultaneously obtaining a spectrum for an electric light emitting element and a mechanical external structure for the element and also capable of obtaining an electric light emission video with high resolution.例文帳に追加

電気発光素子の分光スペクトルと素子の機械的外形構造を同時に得ることができ、かつ高分解能の電気発光映像を得ることができる電気発光分光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an optical element switching device for a microscope capable of satisfactorily performing various types of observation including dark field observation, and also, which is obtained at low cost by eliminating the duplication of optical elements.例文帳に追加

暗視野観察を含めた各種観察を良好に行なうことができ、しかも、光学素子の重複を無くして価格的にも安価にできる顕微鏡の光学素子切換装置を提供する。 - 特許庁

To provide a process of reviewing failure using electronic microscope and to provide a failure reviewing device which can reduce a man-hour of user required for setting automatic focus by electron beam and to facilitate the observation of a sample.例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた欠陥のレビュー方法、および欠陥のレビュー装置において、電子ビームの自動焦点合わせの設定に要するユーザの工数を低減し、試料の観察を容易化する。 - 特許庁