「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(76ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an apparatus to generate the harmonics of the irradiated laser beam from a fine area by irradiating the laser beam on the fine area of the nanometer order of a non-linear optical substance layer, a scan probe microscope to analyze the molecular orientation structure with the resolution of the nanometer order using this harmonic generator, and a display device of extremely high screen quality by the pixels of the nanometer order.例文帳に追加

非線型光学物質層のｎｍオーダーの微細領域にレーザー光を照射し、該微細領域から該照射レーザー光の高調波を発生させる装置、更にこの高調波発生装置を用いてｎｍオーダーの分解能で分子配向構造を分析できる走査プローブ顕微鏡およびｎｍオーダーの画素による極めて高画質の表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for quantitatively measuring the surface potential distribution of a solid, especially a semiconductor with high space dissolving capacity using a scanning type tunnel microscope by solving the conventional technical problem that the distance between a probe and the surface of a sample and the thickness of the depleted layer of the surface of the sample are unclear and the measurement in the depleted layer region is difficult, and an apparatus therefor.例文帳に追加

探針／試料表面距離が不明、試料表面の空乏層 厚が不明、空乏層領域での計測が困難、という従来技術の問題点を解決し、固体表面、特に半導体表面の表面電位分布を、走査型トンネル顕微鏡を用いて高い空間分解能で定量的に計測する方法とそのための装置を提供する。 - 特許庁

In the case of measuring the surface area of the cured product subjected to desmear processing in a measuring region having a size of 100 μm×100 μm by using an atomic force microscope when the cured product subjected to the desmear processing by using the thermosetting film is obtained, the surface area of the cured product subjected to the desmear processing in the measuring region is 20000 μm^2 or larger.例文帳に追加

上記熱硬化性フィルムを用いたデスミア処理された硬化物を得たときに、原子間力顕微鏡を用いて、１００μｍ×１００μｍの大きさの測定領域における上記デスミア処理された硬化物の表面積を測定した場合に、測定領域における上記デスミア処理された硬化物の表面積が２００００μｍ^２以上である。 - 特許庁

The surface atom visualizing apparatus 1 is equipped with an exciting unit 2 for irradiating the surface atom of the solid sample 5 with high-energy exciting light 9 for exciteing itinerant valence electrons, to convert the same into photoelectrons and an electron microscope unit 3 for forming an atomic image on the surface of the solid sample 5, on the basis of the photoelectrons excited from the itinerant valence electrons by the exciting unit 2.例文帳に追加

表面原子可視化装置１は、固体試料５の表面原子に高エネルギ励起光９を照射し、遍歴的な価電子を励起して光電子に変換する励起ユニット２と、励起ユニット２によって遍歴的な価電子から励起された光電子に基づいて、固体試料表面上の原子像を生成する電子顕微鏡ユニット３とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The confocal microscope has the spectroscopic unit which spectroscopes an optical image outputted from the Nipkow disk system confocal scanner and performs multicolor observation of the sample, wherein the spectroscopic unit is provided with a plurality of spectroscopic means having the different reflection and transmission characteristics according to the spectroscopy for the optical image and an inversion means that inverts the optical image reflected by the spectroscopic means.例文帳に追加

ニポウディスク方式共焦点スキャナから出力される光学像を分光する分光光学ユニットを有し、試料の多色観察を行う共焦点顕微鏡において、 前記分光光学ユニットは、前記光学像を分光する反射透過特性の異なる複数の分光手段と、 これら分光手段で反射された光学像を反転させる反転手段と、を備えた構成とする。 - 特許庁

The microscope apparatus is provided with the first scanning optical system A for obtaining the scanning image of a specimen and the second scanning optical system B for developing a specific phenomenon in the specific area of the specimen, means 30 for performing laser scanning independently with each of the first scanning optical system and the second scanning optical system and operation recording means 23 for recording the operation of the laser scanning.例文帳に追加

標本の走査画像を得るための第１の走査光学系Ａと、標本の特定の部位に特異現象を発現させるための第２の走査光学系Ｂと、前記第１の走査光学系と前記第２の走査光学系のそれぞれについて、独立してレーザ走査を行う手段３０と、前記レーザ走査の動作を記録する動作記録手段２３と、を備えた。 - 特許庁

In the microscope, sample light is detected, and at least one combination of a means SM influencing spatial phase circularly and a means RM influencing it in a radial direction is arranged in the exciting light beam and/or the deexciting light beam and/or the switching light beam.例文帳に追加

本発明の顕微鏡では、試料光が検出され、励起光線および／または脱励起光線および／またはスイッチング光線中に、空間位相に円形に影響を及ぼす手段ＳＭおよび径方向に影響を及ぼす手段ＲＭの少なくとも１つの組合せが配置されている。 - 特許庁

Conversion parts 8, 9 which individually perform coordinate-conversion in each horizontal (X) direction and vertical direction (Y) are provided at a scan control part 12 to form two dimensional coordinates for scanning electron beams of a scanning electron microscope, and the electron beams are scanned in the arbitrary direction in the inspection object region of the sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子ビームを走査（スキャン）させるための２次元の座標を生成するスキャン制御部１２に、水平（Ｘ）方向及び垂直（Ｙ）方向毎に個別に座標変換する変換部８，９を備え、試料の検査対象領域で任意の方向に電子ビームを走査させる。 - 特許庁

To provide a method for inspection of a mounting state of an electronic component or the like capable of inspecting automatically without depending on the individual difference of an inspecting person and the material of an electrode pad, and performing image processing corresponding to a change of the background brightness observed by a differential interference microscope.例文帳に追加

この発明は、検査人の個人差または電極パッドの材質に依存すること無く自動的に検査することができ、また、微分干渉顕微鏡で観察された背景の明るさの変化に応じた画像処理が可能な電子部品実装状態検査方法等を提供する。 - 特許庁

The obtained hollow particle is comprised of a dense silica shell which has a diameter of a primary particle of 30-300 nm as measured by the transmission electron microscope method, and a particle size of 30-800 nm by the dynamic light scattering method, and which can not detect pores of 2-20 nm in a pore distribution measured by the mercury porosimetry.例文帳に追加

得られた中空粒子は透過型電子顕微鏡法による一次粒子径が３０〜３００ｎｍ、動的光散乱法による粒子径が３０〜８００ｎｍ、水銀圧入法により測定される細孔分布において２〜２０ｎｍの細孔が検出されない緻密なシリカ殻からなる。 - 特許庁

In this inspection device 100 for the microscope, a sample P is held by a sample stage 232a, a cooling atmosphere is formed around the sample stage 232a by air flow F225a, and normal temperature-drying air flow is formed around the cooling atmosphere by the air flow F21 and air flow F245.例文帳に追加

顕微鏡用の検査装置１００においては、サンプルステージ２３２ａによりサンプルＰが保持され、気流Ｆ２２５ａによりサンプルステージ２３２ａの周囲に冷却雰囲気が形成され、気流Ｆ２１および気流Ｆ２４５により冷却雰囲気の周囲に常温乾燥気流が形成される。 - 特許庁

To provide an objective mirror replacing device capable of replacing an objective mirror simply as much as possible, and at the same time, bringing a free space which is large as much as possible in the periphery of the objective mirror and an inspection sample placed on an operation position, and to provide a microscope including the objective mirror replacing device.例文帳に追加

できるだけ簡単な対物鏡交換を可能にし、一方で操作位置に置かれた対物鏡と検査標本の周囲に出来るだけ大きな自由空間をもたらす、対物鏡交換装置及び当該対物鏡交換装置を備えた顕微鏡を具体化することである。 - 特許庁

To provide an apparatus for detailed observation of defects detected by an optical defect inspection apparatus or by an optical visual inspection apparatus capable of placing a defect to be observed into the field of view of an electronic microscope or the like, without fail, and reducing the size of the apparatus.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

The panorama image synthesis technique in the wide-field imaging region (EP) using the scanning charged-particle microscope, optimizes an imaging sequence including arrangement of respective adjusting points and imaging order of respective local imaging regions and the respective adjusting points to create an imaging recipe.例文帳に追加

走査荷電粒子顕微鏡を用いた広視野な撮像領域（ＥＰ）におけるパノラマ画像合成技術において、各調整ポイントの配置並びに各局所撮像領域（及び各調整ポイントの撮像順からなる撮像シーケンスを最適化して撮像レシピとして作成することを特徴とする。 - 特許庁

The stereoscopic microscope 10 is used for observation of a sample 11, and many holes 15 piercing a stage 12 in a prescribed direction are formed in the stage 12 on which the sample 11 is placed, and the stage 12 is provided with a porous member 14 made of a material which is opaque and has a low reflectivity.例文帳に追加

標本１１の観察に用いられる実体顕微鏡１０であって、標本１１を載置する載物台１２に、所定方向に貫通する多数の孔１５，１５，…が形成され、かつ、不透明で反射率が小さい物質からなる多孔質部材１４を設ける。 - 特許庁

This scanning probe microscope is characterized by having the electrically independent plural probes 10a, 10b or the like, among which two or more probes 10a, 10b or the like are nanotube probes and one or more probes 10a, 10b or the like are equipped with image observation function.例文帳に追加

電気的に独立した複数のプローブ１０ａ，１０ｂ等を有し、プローブ１０ａ，１０ｂ等のうち、２本以上のプローブ１０ａ，１０ｂ等がナノチューブプローブであり、かつ、１本以上のプローブ１０ａ，１０ｂ等が像観察機能を備えることを特徴とする走査型プローブ顕微鏡である。 - 特許庁

To provide a technique for obtaining accurate energy spectral for obtaining a sharp electron image by suppressing the charging or potential strain on the surface of an insulator sample, caused when the insulator sample is observed in the field of an photoemission electron microscopic technique, and to provide a photoemission electron microscope that applies this technique.例文帳に追加

放射電子顕微鏡技術の分野において、絶縁物試料を観察した際に生じる試料表面の帯電や電位歪みを抑制し、鮮明な電子像を得て正確なエネルギースペクトルを得るための手法と、それを応用した放射電子顕微鏡の提供。 - 特許庁

The optical element prepared from the optical ceramic is particularly suitable for use as a lens system in combination with lenses of glass, but also with other ceramic lens, in particular also in the field of digital cameras, mobile phone cameras, microscope, microlithography, optical data storage or other applications in the field of consumer or industry applications.例文帳に追加

光学セラミックから成る光学素子は、特にデジタルカメラ、携帯電話用カメラ、顕微鏡、マイクロリソグラフィー、光データ記憶、あるいはコンシューマあるいは産業分野における他用途において、ガラスレンズ、あるいは他のセラミックレンズと組み合わせたレンズ系として利用可能である。 - 特許庁

In a microscope including optical systems (4, 5, and 6) for microscopic observation in a column 2 erected on a base 11, the base 11 includes a leg piece 20 which is freely pulled out to both left and right sides of the base 11 and a storage box 30 which is freely pulled out to the front side of the base 11.例文帳に追加

基台１１に立設した支柱２に、顕微鏡観察する光学系（４，５，６）を設けた顕微鏡において、基台１１には、基台１１の左右側方に引き出し自在な脚片２０、基台１１の前方に引き出し自在な収納ボックス３０を設ける。 - 特許庁

This microscope is equipped with image-forming optical systems 4 and 11 forming a primary image O' of a sample, the projection optical system 15 projecting the primary image O' to the electronic imaging device 17, and a diaphragm 20 having a light-transmitting area where light is transmitted and a light-shielding area, where light is intercepted and controlling the irregular brightness.例文帳に追加

標本の一次像Ｏ’を形成する結像光学系４、１１と、一次像Ｏ’を電子撮像素子１７に投影する投影光学系１５と、光を透過する透過領域と光を遮光する遮光領域を有し明るさムラを制御する絞り２０とを備えた顕微鏡。 - 特許庁

To provide a method for efficiently cleaning a desired cleaning spot on the inner surface of a vacuum device without giving damage to the inner surface of a vacuum chamber nor heating resin components disposed outside the vacuum chamber more than required, with respect to the vacuum device represented by an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡などに代表される真空装置に対して、真空チャンバ内面にダメージを与えず、また真空装置外部に配置された樹脂部品を必要以上に加熱せず、真空装置内面のクリーニングしたい箇所を効率的にクリーニングする方法を提供する。 - 特許庁

The method for detecting microorganisms in a sample which is dyed by fluorescent dyeing by the microscope having an autofocusing function, includes a fluorescent particle-adding step for adding fluorescent particles having a height nearly equal to the microorganisms to the sample.例文帳に追加

微生物検出方法が、試料中の蛍光染色された微生物をオートフォーカス機能を有する顕微鏡によって検出する微生物検出方法であって、微生物と同等の高さを有する蛍光粒子を試料中に添加する蛍光粒子添加工程を具備する。 - 特許庁

To provide a scanning transmission electron microscope capable of independently setting capturing angle ranges of a scattered electron beam detector and an energy spectrometer, and not requiring to change a condition of the energy spectrometer for the change of the capturing angle range of the scattered electron beam detector.例文帳に追加

散乱電子線検出器の取り込み角度範囲の設定と独立にエネルギー分光器の取りこみ角度範囲が設定でき、散乱電子線検出器の取り込み角度範囲の変化に対してエネルギー分光器の条件を変更する必要がない走査透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The magnification of the microscope is varied to make an image of an object reference scale 10 and an ocular lens reference scale 6a optically match each other one over the other to determine a zoom position corresponding to the optical superposition match of a zoom system 4 in use.例文帳に追加

使用されるズームシステム４の当該光学的重畳一致に対応するズーム位置を決定するために、物体参照尺度１０の像と接眼レンズ参照尺度６ａとを中間像面７において光学的に重畳一致させるように、顕微鏡の倍率を変更する。 - 特許庁

Also, the scanning type probe microscope is equipped with a cantilever, having an elastomer for supporting the probe, an exciting means for exciting the cantilever and an exciting signal changeover means, for changing over at least two exciting signals inputted to the exciting means.例文帳に追加

また、探針と試料を相対的に走査する走査形プローブ顕微鏡において、探針を支持する弾性体を有するカンチレバーと、カンチレバーを加振する加振手段と、加振手段に入力する少なくとも２つの加振信号を切り換える加振信号切換手段と、を備えることである。 - 特許庁

To realize the reciprocation without the tilt of components to be positioned with simple means in a device for precisely positioning, in particular, the objective lens or the objective lens revolver of a microscope in a vertical direction.例文帳に追加

構成部品を精密位置決めするための装置、特に顕微鏡の対物レンズまたは対物レンズレボルバーを鉛直方向に精密位置決めするための装置において、位置決めされる構成部品の傾動のない往復運動が簡単な手段により可能であるように構成し、改良する。 - 特許庁

This method for inspecting the carbon aggregate in the epoxy resin composition including carbon black is characterized by observing the molding surface comprising the composition by an infrared microscope having imaging element spectral sensitivity of 400 to 1,200 nm.例文帳に追加

カーボンブラックを含むエポキシ樹脂組成物中のカーボン凝集物を検査する方法において、該組成物からなる成形品表面を、撮像素子分光感度が４００ｎｍ〜１２００ｎｍの赤外線顕微鏡で観察することを特徴とするエポキシ樹脂組成物中のカーボン凝集物検査方法。 - 特許庁

Nominal magnification of the microscope at the zoom position is determined, the actual magnification and nominal magnification are related to each other through a computer, and through the computer relating, magnification calculations for other zoom positions are made.例文帳に追加

前記ズーム位置における顕微鏡の公称倍率を決定し、前記実際倍率と前記公称倍率との計算機的な関係付けを行い、前記公称倍率と前記実際倍率との前記計算機的な関係付けに基づき他のズーム位置のための倍率計算を行うこと、を特徴とする。 - 特許庁

The visual inspection device for inspecting an appearance of the V groove which is formed in the silicon substrate and on which the optical fiber is mounted by using a microscope is provided with a coaxial vertical illumination means and a spread illumination means installed outside.例文帳に追加

シリコン基板上に形成された光ファイバ搭載用のＶ溝の外観を顕微鏡下で検査する装置において、同軸落射照明手段と外部取り付け拡散照明手段を設けたことを特徴とする検査装置、及びこれを使用することを特徴とするＶ溝外観の検査方法。 - 特許庁

With the help of a means of inputting a space size or a distance d an operator wishes to observe, and by calculating observation conditions alleviating influence of high contrast and superposed false images based on the values, desired modulation is applied on acceleration voltage or the like of the electron microscope.例文帳に追加

操作者が観測を希望する空間的な大きさまたは距離dを入力する手段と、この値に基づく像が高いコントラスト、且つ重畳する偽像の影響を低減せしめる観察条件を算出し、それに基づき電子顕微鏡の加速電圧等に所望の変調をかける。 - 特許庁

The composite electrolyte membrane consisting of polymer electrolyte and polymer nonelectrolyte, has a structure formed by dispersing the polymer electrolyte in the polymer nonelectrolyte granularly or a structure formed in layers respectively, when observing a section of the electrolyte membrane with a transmission electron microscope.例文帳に追加

すなわち、プロトン伝導度を燃料電池用電解質膜として使用できるよう保ちつつ、メタノールなどの水素含有液体透過性（クロスオーバー）をできるだけ小さくした電解質膜であり、なおかつ電極とのプロトン伝導経路を十分に形成しうる電解質膜を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of separately measuring frictional force deriving from surface force such as adsorptive force corresponding to the surface conditions of a sample and frictional force caused by the coefficient of friction of the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の摩擦力を測定する際に、試料の表面状態に対応した吸着力等の表面力に基づく摩擦力と、試料表面の摩擦係数に基づく摩擦力とを分離して測定することが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To produce steel in which the generation of the change of the structure in which the size of crystal grains different from a mother phase whitely shown by an optical microscope is refined to several tens nm is suppressed in case hardening steel and having an excellent life, particularly, an excellent rolling life even under high vibration and high loads and to provide a method for producing it.例文帳に追加

肌焼鋼において光学顕微鏡で白く見える母相と異なった結晶粒の大きさが数１０ｎｍに微細化した組織変化の発生を抑制し、高振動・高荷重下でも優れた寿命、特に転動寿命を有する鋼およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

A inspecting pattern, which is etched through the intermediary of the checking resist patterns 31a and 31b, is observed visually through an optical microscope, it is determined whether or not space between the checking patterns is within an proper range, and it is inspected as to whether the wiring pattern 20 of a product is properly etched.例文帳に追加

検査用レジストパターン３１ａ，３１ｂを介してエッチングされる検査パターンを光学顕微鏡を通して目視し、この検査パターン間の間隔が所定の適正範囲内になっているか否かを判定することにより、製品の配線パターン２０が適正にエッチングされているか否かを検査する。 - 特許庁

To provide a mask for manufacturing an observation sample of an electron microscope which surely controls the etching quantity of a member having an observed region or easily searches the observed region, and a manufacturing method and a manufacturing apparatus of the observation sample using the mask.例文帳に追加

観察対象領域を有する部材のエッチング量を確実に制御でき、あるいは、観察対象領域を容易に探すことができる電子顕微鏡の観察用試料作製用マスク、並びに、このマスクを用いた観察用試料の作製方法および作製装置を提供すること。 - 特許庁

(2) Alternatively, the composite yarn comprises the modified cross-section regenerated cellulose fibers having 1.1-10 degree of modified cross section of the fibers, 10-50 nm fiber surface roughness parameter Ra measured under the atomic force microscope and containing 0.2-5 wt.% of a fine powder having 0.05-10 μm 50% average particle diameter.例文帳に追加

(2) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメーターＲａが１０〜５０ｎｍであり、５０％平均粒径が０．０５〜１０μｍである微粉末を０．２〜５重量％含む異型断面再生セルロース繊維を含有する複合糸。 - 特許庁

In the confocal microscope 1 adopting a close pupil system where pupils are placed in the vicinities of two scanner mirrors for scanning of a sample 22, the luminance unevenness correction value of each of pixels constituting an acquired picture is preliminarily obtained and stored in a ROM 28, and a CPU 27 corrects the acquired picture in accordance with luminance unevenness correction values.例文帳に追加

試料２２を走査する２つのスキャナミラーの近傍に瞳が位置する近接瞳方式をいたコンフォーカル顕微鏡１において、予め取得画像を構成する各ピクセルの輝度ムラ補正値を求めてROM２８に記憶させ、CPU２７が輝度ムラ補正値に従って、取得した画像に補正をかける。 - 特許庁

The microscope has a columnar prop 2 fixed to a pedestal 1, a focusing part moving mechanism 3 which can move along the prop 2, a lens barrel moving mechanism 10, a focusing part 5 provided on the focusing part moving mechanism 3, and an objective 9 screwed and fixed in the focusing part 5.例文帳に追加

顕微鏡は、架台１に固定された円柱形状の支柱２と、支柱２に沿って移動可能な焦準部移動機構３と、鏡筒移動機構１０と、焦準部移動機構３に設けられた焦準部５と、焦準部５にねじ込み固定された対物レンズ９とを有している。 - 特許庁

When the antitumor substance is administered into a human body, each erythrocyte in the blood is separated in a true circle state and erythrocytes having abnormal shapes, e.g. acanthrocyte are changed to normal erythrocytes and further, the diameter of leukocyte is made ≥2.5 times larger than that of erythrocyte when the blood is observed by a microscope in a blood cell analysis method.例文帳に追加

また、血液細胞分析法における顕微鏡で観察した場合に血液中の各赤血球は真円形状に分離し、有棘赤血球等の異常形状の赤血球を正常なものとし、更に白血球の径を赤血球の２．５倍以上とする。 - 特許庁

To realize a more accurate full-closed controller which eliminates the need for conventional expensive length measuring scales, by setting a marker or the like with high visibility on a slide glass, a stage or the like of a microscope and using a pattern image recognition method, and to realize a work by using the controller.例文帳に追加

視認度の高いマーカ等を顕微鏡のスライドガラスやステージ等に取り付け、パターン画像認識を利用することによって、従来の高価な測長スケールを全く必要としない、より高精度なフルクローズド制御装置とそれを用いて製作したワークを実現することを目的とする。 - 特許庁

As for the cover glass used for the total reflection illuminating fluorescence microscope, a substantially transparent thin film whose Young's modulus is 0.5 to 2KPa and whose refractive index is 1.4 to 1.5 exists on one surface of a glass substrate, and the thin film is formed such that many particulates are dispersed and fixed on its surface which is not in contact with the glass substrate.例文帳に追加

ガラス基板の片面上にヤング率０．５〜２ＫＰａで、屈折率１．４〜１．５の実質的に透明な薄膜が存在し、該薄膜はガラス基板と接していない表面に多数の微粒子が分散固定された全反射照明蛍光顕微鏡に用いるカバーガラスである。 - 特許庁

The scanning probe microscope 1 has a constitution with the lever excitation mechanism 1a, a moving means 5 for moving relatively a probe 3a and a sample S, a measuring means 6 for measuring displacement in the vibration state of the lever 3c, and a control means 8 for collecting observation data.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１を、レバー加振機構１ａと、探針３ａと試料Ｓとを相対的に移動させる移動手段５と、レバー３ｃの振動状態の変位を測定する測定手段６と、観測データを採取する制御手段８とを備えて構成した。 - 特許庁

When pictures are taken of element distribution of a sample and spectrum using the transmission type electron microscope of a energy filtering type, photography time of spectrum data concerning the element distribution or the spectrum pictured through a spectrometer, is time-shared so that it can respond to a drift of the sample.例文帳に追加

エネルギーフィルタ方式の透過型電子顕微鏡を用いて、試料の元素分布或いはスペクトルを撮影する場合に、分光計を通して撮影される元素分布或いはスペクトルに関する分光データの撮影時間を試料のドリフトに対応し得るように時分割する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a plate made of a resin that is suitable, when measuring the fluorescence intensity of each spot, using a microarray scanner in high-throughput screening applications in the movement of a biopolymer by a fluorescent microscope, the observation of the reaction of living organisms, gene relation, or drug design development.例文帳に追加

蛍光顕微鏡による生体高分子の動き、生物反応の観察、遺伝子関連、又は創薬開発におけるハイスループットスクリーニング用途におけるマイクロアレイスキャナーを用いた、スポット別の蛍光強度を測定する場合において好適な樹脂製プレートと製造方法を提供する。 - 特許庁

The subject is solved by the active carbon obtained by activating the oil raw coke whose rate of optical anisotropic organization under polarization microscope observation is 90% or more and rate of an anisotropic organization classified as a sphere in the optical anisotropic organization is 50% or more.例文帳に追加

偏光顕微鏡観察下での光学的異方性組織の割合が９０％以上であり、かつ、光学的異方性組織における球状と分類される異方性組織の割合が５０％以上である石油生コークスを賦活して得られる活性炭により上記課題が達成される。 - 特許庁