「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(74ページ目) - Weblio英語例文検索

To manufacture inexpensively with high yield and high reliability a cantilever having new magnetic characteristic and optical characteristic or the like using a compound semiconductor as a material, which is suitable to be used for a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡での利用に適した、化合物半導体を素材とする新しい磁気特性、光学特性等をもつカンチレバーを高い歩留まりと信頼性で安価に製造する。 - 特許庁

To provide a test piece observation method capable of allocating an observation field of vision selectively to a portion required for observation of the test piece that is an observation object, and to provide an electron microscope.例文帳に追加

本発明は、観察対象となる試料の観察に要する個所に対し、選択的に観察視野を割り当てることが可能な試料観察方法、及び電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a video type microscope which is capable of suppressing formation of bright points which are light source images within the image of a subject photographed in photographing a subject having a smooth surface.例文帳に追加

滑らかな表面を有する被写体を撮影する際に、撮影された被写体の画像内に光源像である輝点が形成されることを抑制可能なビデオ型顕微鏡を、提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray analysis apparatus, capable of surely observing a sample and performing desired X-ray analysis even when the sample cannot be observed easily with an ordinary optical microscope.例文帳に追加

通常の光学顕微鏡によっては観察しにくい試料であっても、これを確実に観察することができ、所望のＸ線分析を行うことができるＸ線分析装置を提供すること。 - 特許庁

To realize a transmission electronic microscope which can prevent beams having large energy density from entering into the light receiving surface of a camera when it is changed from an enlarged image observation mode into a diffraction image observation mode.例文帳に追加

拡大像観察モードから回折像観察モードに切り替わった場合にエネルギ密度が大きなビームがカメラの受光面に入射することを防止しうる透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a confocal scanning type microscope which can easily acquire an observation picture focused on an observation target part, and in which reproducibility in measurement using the observation picture is improved.例文帳に追加

観察対象部で焦点の合った観察画像を容易に取得可能で、また観察画像を用いた計測での再現性を向上させた共焦点走査型顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a microscope device, fit for the purpose of presentation of a lock-in free detection method and simultaneous detection of various vibration modes, that utilizes coherent anti-Stokes Raman scattering method.例文帳に追加

コヒーレントアンチストークスラマン散乱法を利用する顕微鏡装置において、ロックインフリーな検出方法を提示し、かつ多種の振動モードを同時検出する目的に適った顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a focus maintenance device capable of detecting AF light only even when a wavelength of AF light is overlapped with wavelengths of signal light and illumination light and a microscope apparatus having the focus maintenance device.例文帳に追加

ＡＦ光の波長が信号光・照明光の波長と重複しても、ＡＦ光のみを検出できる焦点維持装置、及び、この焦点維持装置を有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method appropriate for wafer edge observation using an electron microscope for investigating generation factors of foreign substances or the like, when these foreign substances or defects are discovered in wafer inspection.例文帳に追加

ウェハ検査において異物や欠陥を見つけた場合に、これら異物等の発生原因を探求するための電子顕微鏡を用いたウェハエッジ観察に関する好適な方法を提供する。 - 特許庁

To provide an observation technology by a phase retrieval type electron microscope, making the intensity distribution of a parallel electron beam with a microscopic diameter in measuring a real image and an electron diffraction pattern bright and uniform.例文帳に追加

実像と電子回折像を測定する際の微小径かつ平行な電子線を、明るくかつ均一な強度分布にする位相回復方式の電子顕微鏡による観察技術を提供する。 - 特許庁

To obtain a photoemission electron microscope of which position alignment of an analysis portion and a photoelectron observation portion by an Auger electron spectral analysis on the test piece for obtaining a photoelectron observation image with high resolution is easy.例文帳に追加

分解能の高い光電子観察画像を得るために、試料上で、オージェ電子分光分析による分析部位と光電子観測部位との位置合わせが容易な光電子顕微鏡装置を得る。 - 特許庁

Accordingly, an objective phase ring effective for enabling wavelength-specific phase microscopy may not interfere with normal usage of the microscope for other applications such as, for example, fluorescence microscopy.例文帳に追加

それ故、波長特異的位相顕微鏡検査を可能にするために有効な対物位相リングは、例えば、蛍光顕微鏡検査のような他の適用のための顕微鏡の一般的な使用法を阻害しない。 - 特許庁

To realize a control method of an electron beam in a transmission type electron microscope which enables such a control that an electron beam can be focused in the optimal range irrespective of a photographing position.例文帳に追加

写真撮影位置にかかわらず、最適な領域で電子ビームの焦点合わせ等の調整動作を行うことができる透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法を実現する。 - 特許庁

it is usually a slow-growing cancer that may not have symptoms but can be found with regular pap tests (a procedure in which cells are scraped from the cervix and looked at under a microscope). 例文帳に追加

通常は増殖の遅いがんであり、症状がみられない場合もあるが、定期的なパパニコロウ試験（子宮頸部からこすり取った細胞を顕微鏡で調べる検査）で発見されることがある。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

In a confocal microscope 11, luminous fluxes into which light is split by a light splitting member 22 and emitted from pin holes 22a and 22b are detected by the optical detectors 23a and 23b.例文帳に追加

共焦点顕微鏡１１では、光分離部材２２により分離されてピンホール２２ａおよび２２ｂから射出される光束が光検出器２３ａおよび２３ｂによりそれぞれ検出される。 - 特許庁

To provide an observation method for a microstructure of a polymeric material capable of analyzing a phase separation structure, a lamellar structure and an oriented state of a crystal of the polymeric material by a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡により高分子材料の相分離構造、ラメラ構造および結晶の配向状態を解析することが可能な高分子材料の微細構造の観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mechanism for applying high-voltage to a sample for scanning electron microscope and capable of reducing a load to be applied to a sample stage and capable of eliminating the generation of accidents such as disconnection of a high-voltage cable.例文帳に追加

走査電子顕微鏡等用の試料に高電圧を印加する機構に関して、試料ステージへの負荷を軽減し、高電圧ケーブル断線等の事故をなくす機構を提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus for preventing an image distortion indicating a width and a dimension of a gap of a circuit formed by an SEM (scanning electron microscope) under the influence of an external electromagnetic radiation emitted from an adjacent manufacturing apparatus.例文帳に追加

隣接する製造装置から放出された外部電磁放射の影響下でＳＥＭにより形成された回路の幅及び間隔の寸法を示す画像の歪みを防止する装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope by which a phase object or the ruggedness of a surface can be observed at comparatively low image formation power ≤4 times in a wide observation range and in a comparatively narrow range of spatial frequency distribution.例文帳に追加

結像倍率４倍以下の比較的低倍率で広い観察範囲で、空間周波数分布が比較的狭い範囲で、位相物体や表面の凹凸の観察を可能にする顕微鏡。 - 特許庁

When the surface of the semiconductor which is a measuring target is observed by a scanning tunnel microscope (STM), the STM image of the surface of the semiconductor by applying positive voltage to the semiconductor on the basis of a probe is compared with the STM image of the surface of the semiconductor obtained by applying negative voltage to the semiconductor on the basis of the probe to detect the impurity atom in the semiconductor.例文帳に追加

被測定対象物である半導体表面を走査型トンネル顕微鏡(STM)で観察する際に、探針を基準として半導体に正の電圧を印加して得られた半導体表面のSTM像と、探針を基準として半導体に負の電圧を印加して得られた半導体表面のSTM像とを比較することにより、半導体中の不純物原子を検出することを特徴とする半導体不純物原子検出方法である。 - 特許庁

In the inspection method of the nonmetal inclusion in steel, the surface of steel subjected to mirror surface polishing is observed using an optical microscope using a single wavelength laser beam source as an illumination light source and the nonmetal inclusion is discriminated on the basis of the brightness difference between steel and the nonmetal inclusion in the observed variable density image.例文帳に追加

本発明に係る鋼中非金属介在物検査方法は、照明光源として単波長レーザ光源を使用した光学顕微鏡を用いて鏡面研磨した鋼の表面を観察し、観察した濃淡画像における鋼と非金属介在物との輝度差に基づいて、非金属介在物を識別することを特徴とする。 - 特許庁

In this imaging device for a video microscope including a lens having a magnification varying mechanism, any of changing a correction amount of color tone in accordance with an object, changing an enhancement correction amount in accordance with the object, changing the correction amount of the color tone in accordance with the magnification of the lens, and changing the enhancement correction amount in accordance with the magnification of the lens is carried out.例文帳に追加

倍率可変機構を有するレンズを備えるビデオマイクロスコープ用撮像装置において、被写体に応じて、色調の補正量を変えること、被写体に応じて、エンハンス補正量を変えること、レンズの倍率に応じて、色調の補正量を変えること、レンズの倍率に応じて、エンハンスの補正量を変えることのいずれかをおこなう。 - 特許庁

While the surface of channels of a field effect transistor is being scanned by a probe, the surface potential of the channels and potentials by trap charge just beneath the probe at each point are measured through potential measurement using an atomic force microscope, and the local mobility is calculated from the measured potentials, and further the distribution of mobility is obtained based on the mobilities calculated at each point.例文帳に追加

探針で電界効果トランジスタのチャンネル表面を走査しながら、各点において探針直下のチャンネルの表面電位およびトラップ電荷による電位を、原子間力顕微鏡を用いた電位測定により測定し求めた電位から局所的な移動度を算出し、さらに各点で算出された移動度に基づいて移動度分布を求める。 - 特許庁

This sample-drawing holder 1 for drawing the sample 10 installed on the scanning probe microscope is equipped with the pair of grippers 9 for gripping both ends of the sample, a support member 4 for supporting movably the pair of grippers 9, and a moving mechanism 7 for moving the pair of grippers 9 on the facing positions in the mutually separating directions.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡に設置された試料１０を延伸させる試料延伸ホルダー１であって、試料１０の両端部を把持する一対の把持具９と、一対の把持具９を移動可能に支持する支持部材４と、対向位置にある一対の把持具９を互いに離間する方向に移動させる移動機構７とを備えた。 - 特許庁

A mask of a several micron-several hundred micron unit is applied to the edge part of the mask for prescribing an ion irradiation region and an ion non-irradiation region and the positional relation of the mask, and the sample is confirmed, on the basis of the mark to facilitate the observation due to an optical microscope to manufacture a cross-sectional sample high in positional precision of about several microns.例文帳に追加

イオン照射領域とイオン非照射領域を規定するマスクのエッジ部に数ミクロンから数百ミクロン単位のマークを付けることにより、このマークに注目してマスクと試料の位置関係を確認して光学顕微鏡での観察を容易にし、数ミクロン程度の位置精度の高い断面試料を作製することを特徴としている。 - 特許庁

In the evaluation method for the optical characteristics of the optical compensation element using a liquid crystal molecular material, the surface of an optical compensation layer is observed by a polarization microscope, the dimension of each granular domain formed by differences between the axial orientations of liquid crystal molecules are evaluated, and the dimension of the domains has a diameter of 5 μm or less.例文帳に追加

液晶性分子材料を用いた光学補償素子の光学特性の評価方法において、偏光顕微鏡により光学補償層の表面を観察し、液晶性分子の軸方位の違いにより形成された粒状のドメインの大きさを評価し、該ドメインの大きさが直径５μｍ以下であることを特徴とする。 - 特許庁

In order to solve the subject matter, the scanning electron microscope is provided to measure the sample height and the sample potential using measured results obtained at the applied state of a voltage to a sample, so as not to get the charged-particle radiation of an electronic beam to the sample when it is radiated to the sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために、試料に向かって電子線等の荷電粒子線等を照射する際に、当該荷電粒子線が試料に到達しないように、試料に電圧を印加した状態で得られる電子等の荷電粒子の検出結果を用いて、試料高さや試料電位を測定する走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

An electron source, in which, after the carbon nanotube is fitted to the central part of the tip of the conductive substrate through a conductive bonding material or an organic material, the carbon nanotube is jointed by ohmic contact by carrying out carbonization treatment of the organic material by heat treatment or diffusion bonding, is applied to the electron microscope and the electron beam lithography device.例文帳に追加

導電性基材の先端中央部に、導電性接合材料を介するか、あるいは有機材料を介してカーボンナノチューブを取付けた後、熱処理により該有機材料を炭化処理するか、または拡散接合によりカーボンナノチューブをオーミックコンタクト接合した電子源を電子顕微鏡，電子線描画装置に適用する。 - 特許庁

After the sample 10a to measure the resistance characteristics is irradiated with cation beams and charged, the sample 10a is observed with a scanning ion microscope, and the part (low resistance part) 6 where the electric resistance is different from the other area is detected from the contrast of electronic images (secondary electronic images) by a secondary electron from the sample 10a to be tested.例文帳に追加

抵抗特性を測定すべき被検試料１０ａに陽イオンビームを照射して帯電させた後、被検試料１０ａを走査イオン顕微鏡にて観察し、被検試料１０ａから生じる二次電子による電子像（二次電子像）のコントラストから、電気抵抗値がその他の領域とは異なる箇所（低抵抗箇所）６を検出する。 - 特許庁

In the microscopic surface temperature distribution measuring device 100, a material having a predetermined relationship with temperature dependency of a resonance frequency is used as the cantilever 1 in the scanning probe microscope, temperature change of the cantilever 1 is measured as change of the resonance frequency, and a temperature is measured by converting the change into temperature on the basis of the predetermined relationship.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡におけるカンチレバー１として、共振周波数の温度依存性に所定の関係を有する材料を用い、前記カンチレバー１の温度変化を前記共振周波数の変化として測定し、前記所定の関係により温度に換算して測温する微小表面温度分布測定装置１００とする。 - 特許庁

The fluorescent microscope has the objective lens 21 and is provided with imaging means 21 and 23 for forming the fluorescent image of a specimen 20 marked by a fluorescent substance, vertical illumination means 13 to 18 for illuminating the specimen 20 and beam attenuating means 14 for attenuating the light intensity near an optical axis 20a of the objective lens 21 out of the incident light for illumination on the objective lens 21.例文帳に追加

対物レンズ２１を有し、蛍光物質で標識された標本２０の蛍光像を形成する結像手段２１，２３と、標本２０を照明する落射照明手段１３〜１８と、対物レンズ２１に入射する照明光のうち、対物レンズ２１の光軸２０ａ付近の光強度を低減させる減光手段１４とを備える。 - 特許庁

To provide a microscope with which an observation with high resolution and an observation with low resolution can be changed over as desired at the time of observing a substrate and the higher resolution can be attained at a low cost and an immersion objective lens.例文帳に追加

基板を観察する際に、低分解能での観察と高分解能での観察とを必要に応じて切り換えることができ、且つ、安価に高分解能化が可能な顕微鏡装置および液浸対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a vertical illuminator for observing fluorescence, which can, successively and over a wide range, adjust the light quantity of a plurality of beams of illumination light radiated to a specimen and which can be inexpensively constituted, and to provide a fluorescent microscope equipped with the vertical illuminator.例文帳に追加

標本に対する複数の照明光の光量を広い範囲で連続的に調整することができると共に安価に構成できる蛍光観察用の落射照明装置、およびそれを備えた蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The method for making a preparation for an optical microscope for observation includes a process for bonding side edge parts of at least one side of a cover glass to the lower material by sealing a gap between them with at least one kind of a sealing material.例文帳に追加

試料を観察するための光学顕微鏡用プレパラートを作製する方法であって、以下：カバーガラスの少なくとも片面の辺縁部と下部材との間を、少なくとも一種のシーリング材で接着する工程、を包含する、方法。 - 特許庁

A display control device 22 displays an image photographed by a TV camera 21, on a monitor 24 and makes a superimposed display of an inclined axis pattern on the monitor 24 on the basis of inclined axis information from an electron microscope body control part 30.例文帳に追加

表示制御装置２２は、ＴＶカメラ２１で撮像した画像をモニタ２４に表示すると共に、電子顕微鏡本体制御部３０からの傾斜軸情報に基づいて傾斜軸パターンをモニタ２４に重畳表示する。 - 特許庁

An optical microscope device is provided with a casing 20 which stores an optical member 21, a sample room 10 having an airtight structure and an environmental control section which controls temperature and humidity of the sample room 10 and controls temperature of the casing 20.例文帳に追加

光学顕微鏡装置は、光学部材２１を収納する筺体２０と気密構造の試料室１０と試料室１０の温度および湿度を制御するとともに筺体の温度を制御する環境制御部を備えている。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope capable of correcting sequentially a relative displacement between a cantilever used in measurement and a measuring object not affected by thermal expansion or contraction of an instrument or the measuring object, and by instrument vibration or the like caused by floor vibration.例文帳に追加

測定に用いるカンチレバーと被測定物間の相対変位を逐次補正して、装置や被測定物の熱膨張や収縮、床振動による装置振動等の影響を受けない原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an illuminating module for surgical microscope, whose light is generated by LEDs, capable of simultanesouly having white light having the largest CRI value and variable color temperature, and then satisfying the conditions of formula CRI_Beleuchtungsmodul>80.例文帳に追加

ＬＥＤによって光が生成され、最大のＣＲＩ値と同時に可変の色温度をもつ白色の照明光を提供することを可能にし、式ＣＲＩ_Beleuchtungsmodul＞８０が成り立つような、手術用顕微鏡の照明モジュールを提供する。 - 特許庁

The microscope includes a means for changing an aperture angle of an optical system by varying diameters of a plurality of convergence lenses and diaphragms to change the aperture angle α of an electron beam in accordance with a virtual field corresponding to a single pixel, which is called as a pixel size.例文帳に追加

複数の収束レンズ及び絞りの穴径を変化させることにより光学系の開き角を変化させる手段をもち、１画素に相当する視野範囲、いわゆる画素サイズに応じて電子ビーム開き角αを変化させる。 - 特許庁

To provide a laser scan type microscope wherein an aperture diaphragm is arranged in front of a detector so as to have at least one detection optical path, and by which various kinds of wavelength of detected light are focused in the aperture diaphragm plane in the detection optical path.例文帳に追加

検出器の前に孔絞りが配置されている、少なくとも１つの検出光路を有するレーザ走査型顕微鏡であって、検出された光のさまざまな波長を検出光路内の孔絞り平面内へフォーカシングする。 - 特許庁

To provide a microscope stage in which respective final controlling elements are consolidated to one handle or are arranged in proximity to each other to improve operability while manual control of rotation of a rotary holder with the handle under the stage is made.例文帳に追加

回転ホルダの回転をステージ下のハンドルで手動操作することを可能としつつ、各操作部を一つハンドルに集約、又は互いに近接配置させて操作性の向上を図ることができる顕微鏡ステージを提供する。 - 特許庁

To make the magnitude of a magnetic field being applied controllable such that a uniform magnetic field can be applied to an object to be measured over the entire measuring range thereof in a scanning SQUID microscope having an SQUID as a magnetic sensor.例文帳に追加

ＳＱＵＩＤを磁気センサとした走査型のＳＱＵＩＤ顕微鏡において、計測対象物に測定範囲全域に渡って一様な磁場を印加できるように、印可磁場の大きさを制御することができるようにすること。 - 特許庁

In the stereoscopic microscope, an objective optical system 21 is arranged in a longitudinal direction state and a zoom optical system 22 is arranged in a lateral direction state and is divided into two groups arranged parallel to each other so that they are in the same level in a longitudinal direction.例文帳に追加

対物光学系２１を縦向き状態で配置する一方、ズーム光学系２２は横向き状態で配置し、且つ該ズーム光学系２２が縦方向で同じレベルとなる２系統に分かれた並列状態で配置されている。 - 特許庁

To provide an image processor which can inexpensively realize a TV camera for multiple microscope, which can usually observe an image by the monitor of general TV and can take in the image of a high pixel into a personal computer if need.例文帳に追加

通常は一般のＴＶ等でのモニタ観察ができ、必要に応じて、高画素の画像をパーソナルコンピュータ等に取り込めるマルチな顕微鏡用のＴＶカメラ装置を安価で実現することができる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

The motion of particles 14, 18 not trapped therein is observed by a microscope 26 connected to a video camera 28, and an image is analyzed by a computer 34 to measure a flow velocity and a flow direction of the liquid 20.例文帳に追加

トラップされない粒子１４，１８の動きをビデオカメラ２８が接続された顕微鏡２６によって観察し、コンピュータ３４によって画像解析することによって、液体２０の流動速度と流動方向を計測する。 - 特許庁