「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(78ページ目) - Weblio英語例文検索

This manufacturing method of a sample for a transmission type electron microscope includes a process for forming a protective film of an amorphous structure to the observation cross section of the specific place of a semiconductor device, a process for removing the periphery of the observation cross section to which the protective film is formed and a process for forming the region containing the protective film into a thin film state.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法において、半導体デバイスの特定箇所の観察断面に非晶質構造の保護膜を形成する工程と；前記保護膜が形成された観察断面の周囲を除去する工程と；少なくとも前記保護膜を含む領域を薄膜化する工程とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

The evaluation method of the formation of the serum protein composite to the biometal includes a process <1> for incubating the biometal in serum, a process <2> for washing the biometal with a buffer solution, a process <3> for washing the biometal with refined water and a process <4> for observing the presence of the formation of the serum protein composite to the biometal by a scanning electron microscope.例文帳に追加

生体用金属に対する血清タンパク質複合体形成の評価方法であって、少なくとも、＜１＞生体用金属を血清中でインキュベーションする工程、＜２＞緩衝液で洗浄する工程、＜３＞精製水で洗浄する工程、および、＜４＞生体用金属に対しての血清タンパク質複合体形成の有無を走査型電子顕微鏡で観察する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

The method for observing the dispersion of particles in a solution includes a process for dripping the solution on a macromolecular film floating on liquid, a process for obtaining a film in which particles are dispersed by drying the dripped solution, and a process for observing the film by using a transmission type microscope.例文帳に追加

本発明は、溶液中の粒子の分散を観察する方法であって、液体上に浮揚された高分子膜上に、前記溶液を滴下する工程と、該滴下された溶液を乾燥して粒子が分散した膜を得る工程と、透過型顕微鏡を用いて、該膜を観察する工程とを包含する方法を提供する。 - 特許庁

Therefore, when viewing the electronic image display panel 12, the viewer stereoscopically views an electronic image displayed on the electronic image display panel 12 with original binocular parallax by an objective lens 5 of a surgical microscope 2 so that the line of sight of viewer's eye P may not make a large angle to the electronic image display panel 12.例文帳に追加

従って、電子映像表示パネル１２を観察している際に、観察者の眼Ｐの視軸が電子映像表示パネル１２に対して大きな角度をもつことがなく、電子映像表示パネル１２に表示された電子映像を、手術顕微鏡２の対物レンズ５による本来の両眼視差で立体観察することができる。 - 特許庁

The aluminum alloy sheet is subjected to cold rolling at a working ratio of 30 to 60%, the average crystal grain size obtained by a cutting method is ≤30 μm, and the area occupancy ratio of intermetallic compounds on the surface obtained by the image analysis of an observed picture in a scanning type electron microscope is 1.0 to 5.0%.例文帳に追加

このアルミニウム合金板は、加工率が３０乃至６０％の冷間圧延が施され、切断法により求めた平均結晶粒径が３０μｍ以下であり、走査型電子顕微鏡の観察画面像の画像解析により求めた表面における金属間化合物の面積占有率が１．０乃至５．０％である。 - 特許庁

To provide a method capable of clearly observing suspended particulate matter in an atmosphere with a microscope without being affected by backgrounds, accurately measuring the amount of the suspended particulate matter in the atmosphere, and accurately identifying chemical substances contained in the suspended particulate matter in the atmosphere.例文帳に追加

大気中の浮遊粒子状物質を背景の影響を受けることなく顕微鏡で鮮明に観察し、あるいは大気中の浮遊粒子状物質の量を正確に測定し、更には大気中の浮遊粒子状物質に含まれる化学物質を正確に同定することのできる方法を提供する。 - 特許庁

The colloidal silica is produced by using an active silicic acid as a raw material in the presence of triazole, and contains triazole in the liquid phase and a group of non-spherical heteromorphic silica particles which has a major axis/minor axis ratio by a transmission electron microscope in the range of 1.0-5 and an average value of the major axis/minor axis ratio of 1.2-3.例文帳に追加

トリアゾールの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、液相にトリアゾールを含有し、透過型電子顕微鏡による長径／短径比が１．０〜５の範囲にありかつ長径／短径比の平均値が１．２〜３である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。 - 特許庁

This method is to adjust the multi-pole lenses of the electron spectrometer having a plurality of the multi-pole lenses attached to a transmission electron microscope, and optimum conditions are found by simulation using a parameter design method using the exciting currents of the multi-pole lenses as parameters in this lens adjusting method.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡に付随している複数個の多重極子レンズを有する電子分光器の多重極子レンズを調整する方法であって、多重極子レンズの励磁電流をパラメータとしたパラメータ設計手法を用いたシミュレーションにより最適条件を求めるレンズ調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens which can correct various aberration generated by the change of the thickness of a medium between the objective lens and a sample, can easily find a lens position for most sharply imaging, can improve the efficiency of observation and maximize the performance.例文帳に追加

対物レンズと標本との間にある媒質の厚さの変化によって生じる諸収差を補正できる対物レンズにおいて、像が最も鮮明に見えるレンズの位置を容易に見付けて観察の効率を向上させることができると共に、性能を最大限に引き出すことが可能な顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

The probe 2 of a scan-type probe microscope is heated and scanned near the surface of a sample, applying etching gas to the mask to be treated so that the mask area to be treated (opaque defect) and etching gas react chemically by heat radiation from the probe 2, resulting in generation and evaporation of a volatile substance.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針２を熱して、マスクの被加工領域にエッチングガスを吹きつけながら試料表面に接近させた状態で走査させ、探針２からの輻射熱によりマスクの被加工領域（黒欠陥）とエッチングガスとで化学反応を起こさせ、揮発性物質を生成させ蒸発させる。 - 特許庁

The position of the light emitting point (chip surface active layer) of the semiconductor laser 21 is detected by an adjusting optical system consisting of a microscope 32 and a CCD camera 33 through a polarizing beam splitter 22, and a deviation from a prescribed position is calculated to perform the translational adjustment (positional adjustment in X and Y directions) for the semiconductor laser 21.例文帳に追加

半導体レーザ２１の発光点位置（チップ面活性層）を、偏光ビームスプリッタ２２を介して顕微鏡３２およびＣＣＤカメラ３３からなる調整光学系により検出し、所定の位置からのずれを算出して半導体レーザ２１の並進調整（ＸＹ方向位置調整）を行う。 - 特許庁

In the manipulation device for the minute work of the electron microscope, the dual probe 10 comprising a main probe 11 and a sub probe 12 bonded to the main probe 11 is provided to one or two or more manipulator units driven in X-axis, Y-axis and Z-axis directions and rotatable around a T-axis and/or an R-axis independently of each other.例文帳に追加

Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向への駆動及びＴ軸および／またはＲ軸の回転が各々独立に可能な1つ又は2つ以上のマニピュレータユニットにメインプローブ１１とそれに接合するサブプローブ１２よりなるデュアルプローブ１０を載置することを特徴とする電子顕微鏡微細作業用マニピュレーション装置である。 - 特許庁

This grid holder sandwiches from the upper and lower sides and fixes this grid for the transmission electron microscope having a base material 1 having at least one opening part 6, a carbon film 2 for covering a first face and the opening part of the base material, a metal later (for example, a tantalum layer) formed on the carbon film, and a ceramic layer (for example, an alumina layer).例文帳に追加

少なくとも１つの開口部６を有する基材１と、基材の第１面および開口部を被覆するカーボン膜２と、カーボン膜上に形成された金属層（例えばタンタル層）３と、セラミック層（例えば酸化アルミニウム層）４とを有する透過型電子顕微鏡用グリッドと、それを上下から挟んで固定するホルダー。 - 特許庁

To provide a local polarizing microscope analysis/spectral separation method and an apparatus for the method by composite evanescent wave dark field excitation capable of performing the microspectroscopy of optical isomerism, rotary dependency, circular polarization excitation fluorescence, magnetooptical characteristics, spin dependency, and the like in a minute substance, and to provide a substance operation method and a substance operation apparatus applying the method and the apparatus.例文帳に追加

微小物質の光学異性、回転依存性、円偏光励起蛍光、磁気光学特性、スピン依存性などを顕微分光できる合成エバネッセント波暗視野励起による局所偏光顕微鏡分析・分光方法および装置とこれを応用した物質操作方法および装置を提供する。 - 特許庁

The fluorescence microscope system is provided with: a sample (S) containing fluorescent substance; a glass plate (G) for supporting the sample; an illumination light source (I_L) used for illuminating the sample; and a microscopic optical system (M) including an objective lens (Ob) facing the sample so as to obtain the illuminated image.例文帳に追加

本発明による蛍光顕微鏡システムは、蛍光物質を含む標本（Ｓ）と、前記標本を支持するガラスプレート（Ｇ）と、前記標本の照明に用いられる照明光源（Ｉ_L ）と、前記照明による像を取得するために前記標本に向けられている対物レンズ（Ｏｂ）を含む顕微鏡光学系（Ｍ）を備えている。 - 特許庁

To provide a measuring device of dust for photographing scattered dust by a microscope, and discriminating the dust by image processing, and to provide the measuring device of dust and an estimation method of a generation source for estimating the generation source of each dust based on a result acquired by the measuring device of the dust.例文帳に追加

飛散した粉塵について、それらを顕微鏡で撮影し、画像処理によって識別する粉塵の測定装置、およびこの粉塵の測定装置によって得られた結果に基づいてそれぞれの粉塵の発生源を推定する、粉塵の測定装置および発生源の推定方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

The image processor is equipped with a means for successively obtaining enlarged images of a sample in the same field of view from a microscope, a means for integrating plurality of the images successively obtained to form an integrated image and a means for superimposing the integrated images on the next one at a matching position to integrate them.例文帳に追加

顕微鏡から試料の拡大した同一の視野の画像を順次取得する手段と、順次取得した画像について、所定の複数毎を積算して積算画像を生成する手段と、積算画像と次の積算画像とをマッチングする位置で重ねて積算する手段とを備えるように構成する。 - 特許庁

To widen the contact area between a probe and a sample in measurement, to reduce the contact pressure thereby to restrain a sample surface from being deformed, to restrain the contact area with the sample from being dispersed, and to eliminate dispersion in physical property measurement of the sample surface to allow stable measurement, in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、測定時にプローブと試料との接触面積を大きくし、接触圧を下げ、試料表面の変形を抑えること、また試料との接触面積のばらつきを抑え、試料表面の物性測定においてばらつき無く安定に測定できるようにすること。 - 特許庁

A sample 2 is cut from a semiconductor chip to be made thin by mechanical polishing and the thin sample is attached to a single-ported mesh 6 for transmission type electron microscope observation and a Pt film 7 is formed to the part with specific depth of an end surface and irradiated with gallium ion beam 8 parallel to the main surface of the sample to make the part other than a principal part thin by etching.例文帳に追加

半導体チップから試料２を切り出し、機械的研磨により薄くした後、透過型電子顕微鏡観察用の単孔メッシュ６に取付け、端面の特定深さの部分にＰｔ膜７を形成し、試料の主面に平行なガリウムイオンビーム８を照射して要部以外の部分をエッチングして薄膜化する。 - 特許庁

This microscope device comprises an image formation optical system, a lighting system which illuminates an object surface of the image formation optical system, an imaging element arranged in the image formation region of the image formation optical system, and a detector which detects light quantity in the image formation region and in a predetermined region other than the imaging element.例文帳に追加

顕微鏡装置は、結像光学系と、結像光学系の物体面を照明する照明装置と、結像光学系の結像領域内に配置される撮像素子と、結像領域内であって撮像素子以外の所定領域における光量を検出する検出装置とを備えている。 - 特許庁

The stereoscopic microscope has the variable magnification lens body 4 fitted to an arm 3 capable of moving up and down along a prop 2 stood on a base 1, an objective 5 which is fitted to the variable magnification lens body 4, a lens barrel 6 for observation which is fitted to the variable magnification body 4, and an ocular 7 which is fitted to the lens barrel 6 for observation.例文帳に追加

実体顕微鏡は、ベース１に立てた支柱２に対して上下動可能なアーム３に取り付けられた変倍鏡体４と、変倍鏡体４に取り付けられた対物レンズ５と、変倍鏡体４に取り付けられた観察用鏡筒６と、観察用鏡筒６に取り付けられた接眼レンズ７とを有している。 - 特許庁

The ultraviolet microscope is provided with ultraviolet rays observation means (21-26, 41 and 43) by which a sample (11) is observed based on ultraviolet rays, gas supply means (51-57) by which an inert gas is supplied between the ultraviolet rays observation means and the sample, and a timing control means (13) which controls the inert gas supply timing by the gas supply means.例文帳に追加

紫外光により標本(１１)を観察する紫外光観察手段(２１〜２６,４１,４３)と、紫外光観察手段と標本との間に不活性ガスを供給するガス供給手段(５１〜５７)と、ガス供給手段による不活性ガスの供給タイミングを制御するタイミング制御手段(１３)とを備える。 - 特許庁

With the spherical aberration correction device of the electron microscope with two axial symmetry lenses (10, 11) between two multipole elements (8, 9), a rotation correction lens (12) giving electrons rotation action within the plane vertical to the light axis is arranged in a converging face of an electron orbit generated between the axial symmetry lenses.例文帳に追加

２つの多極子（８，９）間に２つの軸対称レンズ（１０，１１）を配置した電子顕微鏡の球面収差補正装置において、軸対称レンズ間にできる電子軌道の集光面内に、光軸と垂直な面内で電子に回転作用を与える回転補正レンズ（１２）を配置したものである。 - 特許庁

To promptly and easily reduce light intensity of flare light according to change of the light intensity of the flare light and to prevent image quality deterioration of an observation image even when the light intensity of the flare light which reaches an imaging surface changes by change of a kind of sample, etc. in a flare reduction unit and the microscope using it.例文帳に追加

フレア低減ユニットおよびそれを用いた顕微鏡において、標本の種類などが変わることにより結像面に到達するフレア光の光量が変わっても、それに応じて迅速かつ容易にフレア光の光量を低減でき、観察画像の画質劣化を防止することができるようにする。 - 特許庁

The objective propylene resin composition comprises a propylene resin and an elastomer, and the distribution and the dispersion mode of the specific elastomer in the propylene resin composition measured with an ultrasonic microscope are both adjusted to a specific shape morphology having a percolating structure.例文帳に追加

プロピレン系樹脂と弾性体からなるプロピレン系樹脂組成物において、超音波顕微鏡などで測定されるプロピレン系樹脂組成物中に存在する特定の弾性体の分布・分散形態をパーコレート構造を有する特定の形態モルフォロジーにすることにより提供されるプロピレン系樹脂組成物。 - 特許庁

The transmission illumination apparatus for the microscope is provided with a glass plate 7 for placing the sample 8, a surface light source 10 for emitting almost uniform illumination light towards the glass plate 7 and a light directing member 9 which limits diffusion of illumination light emitted from the surface light source 10 in at least one direction.例文帳に追加

顕微鏡用透過照明装置は、試料８を載置するためのガラスプレート７と、ガラスプレート７に向けてほぼ均一な照明光を射出する面光源１０と、面光源１０から射出される照明光の拡散を少なくとも一方向に関して制限する光指向部材９とを備えている。 - 特許庁

The scanning electromagnetic wave microscope is characterized by that it comprises an electromagnetic wave generating means, an electromagnetic wave emitting means or an electromagnetic wave inducing means of emitting or propagating an electromagnetic wave generated by the electromagnetic wave generating means to one or both of a probe and the sample, and the probe provided near the sample surface.例文帳に追加

本発明の走査型電磁波顕微鏡は、電磁波発生手段と、電磁波発生手段で発生させた電磁波をプローブやサンプルの一方、または双方に入射または伝播させる電磁波入射手段または電磁波誘導手段と、サンプル表面に近接して設けられたプローブとからなることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a lens barrel for microscope having light and inexpensive constitution, in which the height of an imaging apparatus attaching part can be secured without using an optical element for extending an image position and there is no degradation of colors and an image of an imaging optical path.例文帳に追加

像位置を延ばすための光学素子を用いることなく撮像装置取付部の高さを確保し、撮像光路の色と像の劣化のない、軽量かつ安価な構成の顕微鏡鏡筒を実現する。 - 特許庁

This confocal scanning microscope is equipped with a light source 1 and a digital micro-mirror device 5 which is equipped with a number of mirrors and which converts light from the light source 1 into dot-shaped illumination light by a selected mirror.例文帳に追加

本発明による共焦点走査顕微鏡は、光源と、多数のミラーを備え選択されたミラーにより前記光源からの光を点状の照明光に変換するデジタルマイクロミラー装置５を備えている。 - 特許庁

This microscope contains an electron gun 1 for irradiating an electron beam 13 to an article to be observed 11, such as a semiconductor wafer where a minute working pattern is formed, or the like, a throttle means 3, an optical means 2, and a voltage applying means 4.例文帳に追加

微細加工パターンが形成された半導体のウエハーなどの被観察物１１に対し電子ビーム１３を照射する電子銃１と、絞り手段３と、光学手段２と、電圧印加手段４とを含んでいる。 - 特許庁

To facilitate sample alignment when samples are the samples that are scattered with regularity in a minimum region in a flat plane which has almost no features and is hardly discovered by direct observation of an observation face with an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡による観察面の直接観察では発見しにくい、平坦で特徴の少ない面内の極小領域に規則性を持って点在する試料であった場合に、アライメントを容易にする。 - 特許庁

To provide a heating device for a microscope by which the temperature of a transparent plate for heating on which an inspection sample is placed or a transparent plate for protection are always kept at a specified temperature, whose temperature disribution is uniform, and which can be made thinner.例文帳に追加

従来の顕微鏡用加温装置は検体を載せる発熱用透明板または保護用透明板が常に所望の温度に保つのが難しく、またその温度分布が不均一になりがちである。 - 特許庁

To provide a specimen holder for an electron microscope, to which the present invention relates, and which permits a field of view to be obtained at a tilt angle that is made as close as possible to 90° and can be manipulated easily.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡用試料ホルダーに関し、可能な限り９０°に近い傾斜角度で視野を得ることができ、また操作性のよい電子顕微鏡用試料ホルダーを提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an optical element with a dielectric multi-layered film which can obtain a visual field while suppressing lightness unevenness and color unevenness as much as possible even when the element is arranged in an optical path and a microscope which uses it.例文帳に追加

光路中に配置しても明るさムラや色ムラを極力抑えた視野を得ることができる誘電体多層膜を有する光学素子及びそれを用いた顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope, allowing an image satisfactory for observing of the irregular shapes of an object of observation to be observed correctly and accurately three-directionally, and to provide a three-dimensional image display method that uses it.例文帳に追加

被観察対象物の凹凸形状を観察するに十分な画像を正確に精度よく立体観察可能とする走査型電子顕微鏡装置およびこれを用いた三次元画像表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image pickup device of a microscope, which can ensure a frame rate without losing the framing or focus operability even when a sample is dark and avoid disturbance in sample observation due to deteriorated S/N.例文帳に追加

標本が暗い場合でもフレーミングや合焦の操作性を損なうことのないフレームレートを確保できるとともに、Ｓ／Ｎ劣化による標本観察の妨げを回避できる顕微鏡用撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operation capable of making an inputting means of an electric driving part of a first observation means and an inputting means of an electric driving part of a second observation means the same and improving operability of both means.例文帳に追加

第１の観察手段の電動駆動部の入力手段と、第２の観察手段の電動駆動部の入力手段とを同一にし、両者の操作性を向上させる手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device of a critical-dimension measuring scanning electron microscope (CD-SEM) or the like, measuring accurately a pattern dimension on a photomask for nanoimprint by a retarding voltage application system.例文帳に追加

リターディング電圧印加方式によってナノインプリント用フォトマスク上のパターン寸法を正確に測定することができる微小寸法測定走査電子顕微鏡（CD-SEM）等の荷電粒子線装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a microscope which is suitable for the high-resolution three-dimensional viewing of millimeter-size biological objects, wherein fast acquisition of data is possible and a structure is technically as simple as possible to implement.例文帳に追加

データの迅速な撮影が可能であって、構成が技術的にできるだけ簡単に実現されるような、ミリメータサイズの生物学的な対象物の高解像度による３次元的な観察に適した顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an objective lens that is equal in outside diameter to an objective lens used for bright field observation and enables dark field observation by using a bright field illuminating optical system, and to provide a microscope that has the objective lens.例文帳に追加

対物レンズの外径が明視野観察用対物レンズと同等で、明視野照明光学系を用いて暗視野観察を可能とする対物レンズ及び該対物レンズを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope system and a light quantity detector which allows quantitative observation by informing an operator of the quantity of light radiated to a sample by a luminous stimulus.例文帳に追加

オペレータに対して、光刺激により標本に照射した光量を通知することにより、定量的な観察を可能とする走査型レーザ顕微鏡装置及び光量検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A transparent conductive oxide layer 19 is set as an anode, and a probe 21 of an atomic force microscope is placed with a predetermined interval from a surface of the transparent conductive oxide layer 19, which is set as a cathode.例文帳に追加

透明導電性酸化物層１９を陽極とし、透明導電性酸化物層１９の表面から所定の間隔を隔てて原子間力顕微鏡の探針２１を設置しこれを陰極とする。 - 特許庁

To provide a device of switching between bright and dark visual fields for microscope by which three kinds of conditions of bright visual field illumination, dark visual field illumination and dazzling preventing illumination can be switched without spoiling the operability while keeping miniaturization.例文帳に追加

小型化を維持し、かつ、操作性を損なうことなく、明視野照明、暗視野照明および防眩照明の３種の状態に切り換えることができる顕微鏡の明暗視野切換装置を提供する。 - 特許庁

To confirm the state of a sample in a reaction process of decomposition or synthesis with a stable quality picture at a high frame rate on a real time basis and to perform fluorescence observation in a centrifugal microscope.例文帳に追加

遠心顕微鏡において、分離あるいは合成の反応過程におけるサンプルの状態を高フレームレートで安定した画質の映像でリアルタイムに確認することが可能であると共に、蛍光観察を可能とする。 - 特許庁

To provide a minute object preparing method and device, capable of manufacturing minute objects by coupling together two members in the correct positional relationship such as a nano-tube probe, while enlarging image photographing takes place in an electron microscope device.例文帳に追加

電子顕微鏡装置内で拡大撮像しながら、ナノチューブプローブ等のように、２部材を正しい位置関係で相互に結合して微小物を製造できる微小物作成方法とその装置を開発する。 - 特許庁