「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(79ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a sample measuring method for removing impure substances adhered to a sample chamber of an electron microscope or the like, capable of restraining adverse effects to subsequent manufacturing processes, and to provide a charged particle apparatus.例文帳に追加

本発明の目的は、電子顕微鏡の試料室等において付着する不純物を除去し、その後の製造プロセスへの悪影響を抑制し得る試料測定方法、及び荷電粒子線装置の提供にある。 - 特許庁

This transmission electron microscope is provided with a phase plate 8 for generating a phase difference between an electron beam passing through a predetermined region including a rear focal point of an object lens 6 and an electron beam passing through a region excluding the predetermined region.例文帳に追加

対物レンズ６の後焦点を含む所定の領域を通過する電子線と、前記所定の領域外の領域を通過する電子線との間に位相差を生じさせる位相板８を備える。 - 特許庁

The observation apparatus includes an incident-light illumination optical system, a transmitting illumination optical system, an imaging unit 18, an input device 56, a storage unit 58, an imaging controller 51, a microscope controller 52, and an imaging information management unit 54.例文帳に追加

観察装置は、落射照明光学系、透過照明光学系、撮影部１８、入力装置５６、記憶装置５８、撮影制御部５１、顕微鏡制御部５２および撮影情報管理部５４を備える。 - 特許庁

To selectively detect a secondary electron signal and a reflected electron signal regarding a secondary electron-reflected electron detecting device and a scanning electron microscope having the secondary electron-reflected electron detecting device.例文帳に追加

本発明は２次電子・反射電子検出装置及び２次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡に関し、２次電子信号と反射電子信号を選択的に検出することを目的としている。 - 特許庁

To provide a cathode luminescence specimen holder to easily perform cathode luminescence analysis by using an existing transmission electron microscope (TEM) and a spectroscopic analyzer using the cathode luminescence specimen holder.例文帳に追加

既設の透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）を用いてカソードルミネッセンス分析を容易に行うことを可能とするカソードルミネッセンス用試料ホルダ、及び該カソードルミネッセンス用試料ホルダを用いた分光分析装置を提供する。 - 特許庁

The microscope part 110 has an objective lens 114; a dichroic mirror 116 for separating excitation light from fluorescence; and an excitation light irradiation part 120 for irradiating excitation light to a sample S, while switching each different wavelength thereof.例文帳に追加

顕微鏡部１１０は、対物レンズ１１４と、励起光と蛍光を分離するダイクロイックミラー１１６と、波長の異なる励起光を切り替えながら試料Ｓに照射する励起光照射部１２０とを有している。 - 特許庁

To provide an electrode ring and an electron microscope capable of suppressing a variation in electric field distribution around the axial center of a hollow hole serving as a passage path of an electron beam and secondary electrons emitted from a sample.例文帳に追加

電子ビーム及び試料から放出される２次電子の通過経路となる中空孔の軸中心まわりの電界分布のばらつきを抑えることのできる電極リング及び電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The liquid permeable film has pores with 50μm-1mm film thickness and 1μm-10μm diameters and optical transparency observable by a microscope, is disposed on a solid medium such as an agar medium and used.例文帳に追加

上記液体透過性フィルムは膜厚が５０μｍ〜１ｍｍ、直径１μｍ〜１０μｍの孔を有し、顕微鏡観察が可能な光透過性であり、寒天培地のような固体培地上に配置して使用することができる。 - 特許庁

To provide a device for detecting microorganism, capable of observing microcolonies with a microscope mounted with a high magnification object lens, without polluted with various bacteria, and to provide a method for detecting microorganism and using the device.例文帳に追加

雑菌に汚染されることなく、高倍率の対物レンズを装着した顕微鏡で微小なコロニーを観察することのできる微生物検出用デバイス及びこれを用いた微生物の検出方法を提供すること。 - 特許庁

The electron beam apparatus or a transmission electron microscope comprises at least one specimen holder 8 having at least one holding element 18 and at least one identification unit 20.例文帳に追加

本発明に係わる電子ビーム装置、特に透過電子顕微鏡は、試料を保持する少なくとも１つの保持要素（１８）及び少なくとも１つの識別ユニット（２０）を有する少なくとも１つの試料ホルダ（６）を具備する。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a spin polarization in an optical column of a mapping electron microscope or in a beam outgoing port back part of an electron spectrometer, and to provide a suitable system in which the above method is performed.例文帳に追加

写像する電子顕微鏡の光学コラム内、または電子分光計のビーム出射口後部において、スピン偏極を分析するための方法と、その方法を実施するための適切なシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope with a camera for image observation, capable of rotating an observation image to an optional angle without changing the visual field.例文帳に追加

本発明は像観察用カメラを備える電子顕微鏡に関し、視野を変えることなく観察像を任意の角度に回転させることができる像観察用カメラを備える電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

The magnesium oxide powder has a cubic particle shape when observed by a scanning electron microscope, and has a cumulative 50% particle diameter (D_50) of at least 1.0 μm by a laser diffraction scattering type particle size distribution measurement method.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡にて観察した粒子形状が立方体状であり、かつレーザ回折散乱式粒度分布測定による累積５０％粒子径（Ｄ_５０）が１．０μｍ以上である酸化マグネシウム粉末。 - 特許庁

To provide a fluorescent microscope in simple structure which can form an image of an ultraviolet area by directly detecting fluorescent light of an ultraviolet part generated by short-wavelength ultraviolet-ray excitation and is adaptive to the ultraviolet area.例文帳に追加

短波長の紫外線励起によって生じる紫外部の蛍光を直接検出し、紫外領域の像を形成することのできる、簡単な構造を持つ紫外領域対応の蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a zoom lens that has a small size and a superior optical performance and that, while securing a working distance longer than that of a microscope, has the ability to continuously perform variable magnification from reduced magnification to unmagnification, and also to provide an image pickup unit.例文帳に追加

小型で良好な光学性能を有し、顕微鏡よりも長い作動距離を確保しつつ、縮小倍率から等倍率まで連続的に変倍できるズームレンズ、および撮像装置を提供する。 - 特許庁

A probe, means for replacing the inside of a sample chamber with prescribed gas and means for turning into images by ion current detection or absorbed current detection are incorporated to realize a safe SEM (scanning electron microscope) whose risk of electrical discharge is low.例文帳に追加

探針と、試料室内を所定のガスで置換する手段と、イオン電流検出や吸収電流検出による画像化手段を備えることにより、放電の危険性の低い安全なＳＥＭを実現する。 - 特許庁

To provide an image generation device capable of generating a wide-range high-definition fluorescence tiling image having high positioning accuracy obtained by a low magnification image and a fluorescence image having magnification higher than that of the low magnification image of a sample and to provide a microscope device having the image generation device.例文帳に追加

標本の低倍画像と低倍画像より高倍の蛍光画像とから位置決め精度が高く、広い範囲の高精細な蛍光タイリング画像を生成することができる画像生成装置と、これを有する顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope unit in which the relative distance between an objective lens and a work can be kept constant by changing a main body attachment or main body assembling when a revolver is attached/detached even after the main body is attached to an equipment having been installed once.例文帳に追加

被設置機器に本体を一旦取り付けた後でも、レボルバの着脱を行う場合、本体取付あるいは本体組合せを変えることで対物レンズとワークとの相対距離を一定に保つことができる顕微鏡ユニットを提供する。 - 特許庁

The optical arrangement for a microscope is equipped with the beam splitter (1) arranged in a divergent and/or convergent beam path for separating an illumination light (2) that is produced by an illumination source from a detection light (3) that is emitted by a sample being tested.例文帳に追加

照明源によって発生した照明光（２）と検査対象である試料から出る検出光（３）とを分離させるように発散光路および／または収束光路内に配置されるビームスプリッター（１）を備えた顕微鏡用光学装置。 - 特許庁

To provide a frequency detection device of a vibrator capable of being detected in a wide frequency detection range while highly holding detection sensitivity of a resonant frequency of the vibrator, an atomic force microscope, and a frequency detection method and a program of the vibrator.例文帳に追加

振動体の共振周波数の検出感度を高く保ったまま、広い周波数検出範囲で検出可能な振動体の周波数検出装置、原子間力顕微鏡、振動体の周波数検出方法およびプログラムを提供する。 - 特許庁

The microscope apparatus 100 includes a surface light source sheet 20 which is so disposed that it can be disposed in contact with an observation sample-mounting implement 50 housing an observation sample, and which functions as a light source for irradiating the observation sample with light rays.例文帳に追加

本発明に係る顕微鏡装置１００は、観察試料を収容する観察試料載置具５０と当接配置可能なように配置され、観察試料に光線を照射する光源として機能するシート状の面状光源シート２０を備える。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operation which makes display of an index to a microscopic observation image only when an operator is needed and is capable of preventing the unnecessary index from hindering the microscopic observation image.例文帳に追加

本発明は、術者の必要なときのみ顕微鏡観察像への指標の表示を行ない、不必要な指標が顕微鏡観察像の妨げとなることを防止することができる手術用顕微鏡を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

On the silver paste consisting of silver powder as a filler, an organic agent and a solvent, the silver powder with an average particle diameter D_IA of primary particles obtained by image analysis of a scanning electron microscope image of 0.6 μm or less, is adopted.例文帳に追加

フィラーとしての銀粉と有機剤と溶剤とからなる銀ペーストにおいて、前記銀粉は、走査型電子顕微鏡像の画像解析により得られる一次粒子の平均粒径Ｄ_ＩＡが０．６μｍ以下である銀ペーストを採用する。 - 特許庁

There is provided a moon grid 100 specialized for three-dimensional observation by a transmission electron microscope, and its manufacturing method, wherein the moon grid includes a sheet mesh 110 for protecting an upper structure, and a support film 120 equipped on the sheet mesh 110 and containing nanoparticles 130 dispersed.例文帳に追加

上部構造を保護するシートメッシュ１１０と、シートメッシュ１１０上に具備されてナノ粒子１３０が分散している支持膜１２０とを含む、透過電子顕微鏡３次元観察専用ムーングリッド１００とその製造方法を提供する。 - 特許庁

A drawing pattern 8 is heat-treated by local high temperature annealing using laser in the same device 1 immediately after carrying out pattern drawing by a solution 6 containing the inorganic material by using a cantilever 2 of a scanning type probe microscope on a substrate 5.例文帳に追加

基板５上に走査型プローブ顕微鏡のカンチレバー２を用いて無機材料を含む溶液６によるパターン描画を行った直後に、同一装置１内においてレーザを用いた局所高温アニールにより描画パターン８を加熱処理する。 - 特許庁

The manufacturing method is used for a micro grid 1 that includes a grid mesh 10 that is used for sample support when observed by an electron microscope and a thin film 20 placed on the grid mesh 10 that has pores 21.例文帳に追加

本発明の製造方法は、電子顕微鏡による観察の際に試料支持用として用いられる、グリッドメッシュ１０と、グリッドメッシュ１０上に設けられた、孔部２１を有する薄膜２０と、を備えたマイクログリッド１の製造方法である。 - 特許庁

To provide a laser scanning type microscope capable of moving only the focused position of an observation laser beam while keeping a state where an operation laser beam is focused on the same position on a sample, and a microscopic observation method.例文帳に追加

標本内の同じ位置に操作用レーザ光を合焦させた状態を維持しながら観察用レーザ光の合焦位置のみを移動させることのできるレーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Coordinate data Z of a height position in the confocal image data acquired by an infrared confocal scanning microscope 1 are corrected by a data correction-computing part 19, based on a refractive index data of the sample S input from a user interface 17.例文帳に追加

ユーザインタフェース１７からインプットされた試料Ｓの屈折率データに基づいてデータ補正演算部１９により赤外共焦点走査型顕微鏡１により取得された共焦点画像データの高さ位置の座標データＺを補正する。 - 特許庁

The system is equipped with a scanning electron microscope 30 for measuring a pattern line width in a vacuum chamber 20 for dry etching so as to carry out intermediate length measurement of a pattern line width while a dry-etched photomask substrate 10 is mounted in the vacuum chamber for dry etching.例文帳に追加

ドライエッチング用真空チャンバー２０にパターン線幅を測長する走査型電子顕微鏡３０を備え、ドライエッチングしたフォトマスク基板１０をドライエッチング用真空チャンバー内に載置した状態でパターン線幅を中間測長する。 - 特許庁

In the scanning electron microscope 10, deflection images 21, 23 in which a voltage value or a current value of the deflection signals s4, s5 to deflect electron beams 13 is cut out as luminance is obtained simultaneously with an observation image from an image cut-out part 19.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡１０において、画像切出部１９より、電子線１３を偏向する偏向信号ｓ４，ｓ５の電圧値若しくは電流値を輝度として切り出した偏向画像２１，２３を、観察画像と同時に取得する。 - 特許庁

To provide an ultraviolet microscope which does not generate a photochemical reaction between ultraviolet rays and contaminants in an ambience of an optical path, and can prevent the degradation of optical performance and extend the lifetime of a product.例文帳に追加

本発明は、紫外線顕微鏡に関し、紫外光と光路雰囲気中の汚染物質との光化学反応を発生させることなく、光学性能の低下を防止し、製品寿命を長くすることができる紫外線顕微鏡を提供する - 特許庁

To provide both a probe-rotating mechanism capable of highly accurately and correctly measuring even an extremely irregularly shaped object and an object having large level differences by changing the direction of a probe and a scanning probe microscope with the same.例文帳に追加

プローブの向きを変えることによって、凹凸形状の激しい物体や、段差の大きな物体においても高精度で正確な測定が可能となるプローブ回転機構、および該プローブ回転機構を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope using at least one or more motor-driving parts, and capable of preventing the motor-driving part from driving because an observer inadvertently depressing an operation part without using an expensive PC system or a liquid crystal display part or the like.例文帳に追加

少なくとも１つ以上の電動駆動部を用いた顕微鏡において、高価なＰＣシステムや液晶などの表示部を用いず、観察者が誤って操作部を押すことで電動部が駆動してしまうことが無い顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This microscope is composed of photographing optical systems 1, 2, 3, 4L and 4R for taking left and right pictures having parallax and ocular optical systems 7L, 7R, 8L, 8R, 9 and 11 observing the pictures by left and right eyes 12L and 12R by displaying the pictures on picture display means 6R, 6M and 6L.例文帳に追加

左右の視差のある画像を撮影する撮影光学系１，２，３，４Ｌ，４Ｒと、その画像を画像表示手段６Ｒ，６Ｍ，６Ｌに表示して左右の目１２Ｌ，１２Ｒで観察する接眼光学系７Ｌ，７Ｒ，８Ｌ，８Ｒ，９，１１から成っている。 - 特許庁

To provide a measuring method/means which can measure a shape of an arbitrary pattern such as surrounded by non parallel lines when a pattern length is to be measured with the use of display image information of a scanning microscope or the like and which prevents personal differences and errors for each measurement.例文帳に追加

走査型顕微鏡等のディスプレイ画像情報を用いたパターン測長において非平行線で囲まれたような任意パターンの形状測定が可能で、個人差や測定毎の誤差が出にくい測定手法／手段を提供する。 - 特許庁

To properly provide information about the inside of a visual field necessary for a surgeon or its assistant and to provide a surgical microscope device facilitating surger for securing an objective microscopic visual field during the surgery.例文帳に追加

本発明は、術者あるいは助手などに必要な視野内情報を適切に提供し、また、術中、目的の顕微鏡視野を確保する操作を簡便に行うことができる手術用顕微鏡装置を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a preparation method of a specimen for observing a defective part of a semiconductor device substrate, which enables the fine defective part of the semiconductor device substrate to be easily specified in a short time, so that a thin specimen suitable for transmission electron microscope observation can be made.例文帳に追加

短時間で容易に、半導体デバイス基板の微小な欠陥部を特定でき、透過形電子顕微鏡観察に適した薄片試料とすることが可能な半導体デバイス基板の欠陥部観察用試料の作製方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for measuring frictional force and a friction coefficient by using a scanning probe microscope for measuring frictional force as an absolute value not depending on the slope or shape of a specimen with respect to friction between a probe given arbitrary physical properties and a surface of the specimen.例文帳に追加

任意の物性を付与した探針と試料面間の摩擦について試料の傾き・形状によらない摩擦力を絶対値として測定する走査型プローブ顕微鏡による摩擦力および摩擦係数測定方法を提供する。 - 特許庁

A ferro-dielectric thin film 12 is attached onto a base board 11 which forms a work to be processed, and patterns are formed on the thin film using atomic force microscope which has an electroconductive probe 13 so that the desired nano-circuit pattern is partitioned.例文帳に追加

加工物を形成する基板１１上に強誘電体薄膜１２を付着し、次に、導電性探針１３を有する原子間力顕微鏡を用いて、強誘電体薄膜上にパターンを形成して、所望のナノ回路パターンを画定する。 - 特許庁

To provide an inspection microscope or the like that does not make an objective lens collide with a glass substrate, even in focusing by a manual operation when inspection is performed using a sample or the like for evaluation thicker than a substrate to be usually inspected.例文帳に追加

通常検査する基板等よりも厚い、例えば評価用サンプル等を用いて検査を行なう際の手動による操作でのフォーカス合わせにおいても、対物レンズをガラス基板に衝突させることがない検査顕微鏡等を提供すること。 - 特許庁

At the forward end part of a probe 2 in the scanning probe microscope, a carbon nanotube 3 having a conductive armchair type crystal structure or a carbon nanotube 3 having a forward end part modified chemically with a specified modifier molecule is provided.例文帳に追加

本発明の走査型プローブ顕微鏡における探針２の先端部分に、伝導性のアームチェア型結晶構造を有するカーボンナノチューブ３、又は先端部分が所定の修飾分子で化学的に修飾されたカーボンナノチューブ３を設ける。 - 特許庁

As shown in an electron microscope photograph (A), in this state, columnar crystals of small column diameters are mixed among columnar crystals of large column diameters, and the columnar crystals of small column diameters are filled into gaps among the columnar crystals of large column diameters.例文帳に追加

電子顕微鏡写真（Ａ）に見られるように、大きな柱径の柱状結晶の間に小さい柱径の柱状結晶を混在させ、大きな柱径の柱状結晶の間を柱径の小さい柱状結晶が埋めたような状態とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and method capable of easily searching for defects when reviewing the defects detected from the plane to be inspected of a body to be inspected such as a semiconductor wafer by an observing device such as a scanning microscope.例文帳に追加

半導体ウェーハ等の被検査体の被検査面から検出した欠陥を走査型顕微鏡等の観察装置によってレビューする際に欠陥の探索を容易に行うことができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The confocal scanning microscope 1 produces a confocal effect by a line slit member 5a arranged in a position optically conjugate to the focal position on the side of the sample 12 of the objective optical system 6, between the light source part 2 and the objective optical system 6 and intercepts the self-fluorescence by a line slit member 15a arranged in a position optically conjugate to the line slit member 5a in the imaging optical system 13.例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡１は、光源部２と対物光学系６の間で、且つ、対物光学系６の試料１２側の焦点位置と光学的に共役な位置に配置されたラインスリット部材５ａにより共焦点効果を生じさせ、撮像光学系１３内でラインスリット部材５ａと光学的に共役な位置に配置されたラインスリット部材１５ａにより自家蛍光を遮断する。 - 特許庁

This confocal microscope capable of obtaining a three- dimensional image by scanning the optical beam on a sample surface by a confocal scanner and axially scanning the optical beam by a moving mechanism, comprises a driving means for driving the moving mechanism, and the driving means outputs the driving waveform corrected on the basis of the reverse characteristic of the frequency characteristic on the displacement of the moving mechanism.例文帳に追加

共焦点スキャナにより光ビームで試料面を走査すると共に移動機構により光ビームを光軸方向に走査して試料の３次元画像が得られるように構成してなる共焦点顕微鏡装置において、前記移動機構を駆動する駆動手段を備え、この駆動手段からは前記移動機構の変位の周波数特性の逆特性に基づいて補正された駆動波形が出力されるようにする。 - 特許庁