「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(77ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an illumination apparatus for a microscope capable of irradiating a specimen with light beams of a plurality of wavelengths simultaneously with the same irradiation intensity distribution and independently setting the wavelength and the intensity of each light beam, and to provide an image processing apparatus using the same.例文帳に追加

標本に複数の波長の光を同時にかつ同一の照射強度分布で照射することができ、夫々の光の波長や強度を独立して設定することができる顕微鏡の照明装置及びその照明装置を用いた画像処理装置を提供する。 - 特許庁

The microscope having at least one of the iris diaphragm, field stop and fine focus adjustment handle as an adjustable member is provided with a mounting part for freely removably mounting a scale member having the scale corresponding to at least one of the adjustable members.例文帳に追加

開口絞り、視野絞り及び焦準用微動ハンドルの少なくとも１つを調節可能な部材として有する顕微鏡において、前記調節可能な部材の少なくとも１つに対応する目盛りを備えた目盛り部材を取外し自在に取付けるための取付け部を設ける。 - 特許庁

The lighting system for the microscope includes, at least one light source and a reflector for providing diffused lighting, and the reflector at least partially surrounds an observation beam path between a microscope objective mirror and an object to be observed; and the reflector, at least partially has elasticity and can be reversibly deformed from at least a first spatial form to at least a second spatial form.例文帳に追加

少なくとも一つの光源と、拡散照明をもたらすためのリフレクターとを備えて構成され、前記リフレクターが少なくとも部分的に、顕微鏡対物鏡と観察されるべき対象物との間の観察ビーム路を取り囲んでいる、顕微鏡用照明装置において、リフレクターは少なくとも部分的に弾性があって、且つ少なくとも第一空間的形態から少なくとも第二空間的形態へ可逆的に変形可能である、照明装置によって解決される。 - 特許庁

To provide an automatic focus detecting method capable of always detecting a high-precision focus even on an object image to be processed which has a step and is composed of a complicated pattern in a device which performs image processing such as size measurement by using a combination of a microscope and an imaging device which picks up a light image of an object formed by the microscope.例文帳に追加

顕微鏡とこれにより形成され被写体の光像を撮像する撮像装置とを組み合わせ、寸法測定等の画像処理を行う装置において、段差があり、複雑なパタ−ンで構成される被写体像でも、常に、処理対象となる被写体像に対して高精度の焦点を検出することができる自動焦点検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe control method of a scanning probe microscope capable of measuring an irregular shape or the like of the sample surface by a step-in method relative to a measuring point determined beforehand, heightening throughput of measurement, and reducing breakage or damage caused by collision of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸形状等を予め決められた測定点についてステップイン方式で測定し、測定のスループプットを高め、探針の衝突による破損・ダメージを減少できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

A joined body 14B joined with an evaluated sample 10 to be evaluated and a standard sample 12 is irradiated with an electron beam E1 of a transmission electron microscope from a side way of the joined body to include the evaluated sample and the standard sample within an irradiation spot 28.例文帳に追加

評価すべき被評価試料１０と標準試料１２とが接合された接合体１４Ｂに、接合体の側方から、被評価試料と標準試料とを照射スポット２８内に含むように透過型電子顕微鏡の電子ビームＥ１を照射する。 - 特許庁

To provide an edge detecting method and a device, wherein the edge can be detected stably by suppressing an effect of noises even in the case of an image having an inferior S/N ratio obtained by a charged particle beam device such as a scanning electron microscope or the like.例文帳に追加

本発明は、走査電子顕微鏡等の荷電粒子線装置によって得られたＳ／Ｎ比の悪い画像であっても、ノイズの影響を抑えて安定してエッジを検出することが可能なエッジ検出方法、及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To apply a bias voltage to a sample independently at approach, to cut off sample bias at measurement, to measure the current between probes, and further to reduce the influence of a displacement current, when measuring current at the probe side in a multi-probe microscope.例文帳に追加

本発明が解決しようとする問題点は、マルチプローブ顕微鏡において、アプローチ時に試料に独立してバイアス電圧が印加できず、電流計測時に試料バイアスを切り離し、探針間の電流計測を行ことができなかったという点である。 - 特許庁

The nonwoven fabric 13 is mounted on a highly reflective metal-made material 11, fiber structure of the mounted nonwoven fabric 13 is evaluated using a confocal type laser microscope 12 provided with an objective lens 14 arranged opposedly to a highly reflective mounting face of the highly reflective metal-made material 11.例文帳に追加

金属製高反射材１１上に不織布１３を載置し、載置された不織布１３の繊維構造を、金属製高反射材１１の高反射な載置面に対向配置された対物レンズ１４を備えた共焦点型レーザ顕微鏡１２を用いて評価する。 - 特許庁

To provide a light intensity distribution correction optical system configured so that the intensity distribution of diverging light from a light source is made to be uniform, light utilization efficiency is improved, a difference in NA of the light source is easily absorbed, and cost reduction is achieved, and also to provide an optical microscope using the light intensity distribution correction optical system.例文帳に追加

光源からの発散光の光強度分布を均一化すると共に光利用効率を向上させ、光源のＮＡの違いを容易に吸収し、かつローコストな光強度分布補正光学系およびそれを用いた光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To sample an outermost-layer from the plane direction extending over a wide range, having no dirt, no damage and excellent reproducibility, at the time of forming a thin film sample for a transmission electron microscope, thereby evaluates structure and deposit of the outermost layer.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用薄膜試料の作成にあたり、汚れや破損のない、広範囲にわたる、再現性の良い、平面方向からの最表層サンプリングを可能にすることであり、また、これによって最表層の組織、析出物評価を可能にすることである。 - 特許庁

To obtain a pretreating device and method with a processing function for preventing a partially or wholly non-conductive sample from being charged up and contaminated at the time of applying a conductive paste on the surfaces of the sample and obtaining satisfactory images through an electron microscope.例文帳に追加

試料表面に導電性ペーストを塗布する際に、試料の一部またはすべてが非導電性である試料のチャージアップや汚染を防ぎ、良好な電子顕微鏡像が得られるための処理機能を有した前処理装置、ならびに前処理方法を提供する。 - 特許庁

The tunnel barrier 12 has such a quantum thin line constriction structure that a silicon oxide film 17 as an electric boundary supporting oxide film formed using an interatomic force microscope or the like is formed by oxidizing the quantum thin line from its surface to its nearly central part.例文帳に追加

トンネル障壁部１２は、原子間力顕微鏡等を用いて形成された電界支援酸化膜であるシリコン酸化膜１７が量子細線１１の表面からそのほぼ中心部まで酸化して形成された量子細線コンストリクション（＝くびれ）構造を有している。 - 特許庁

To effectively remove an amorphous layer without generating deposits again in relation to a sample-forming apparatus for a transmission type electron microscope which removes the amorphous layer generated to the side face of an observation part when forming the thin-filmed observation part by a convergent ion beam apparatus.例文帳に追加

本発明は、集束イオンビーム装置により薄膜化した観察部を作製する際にその側面に生成される非晶質層を除去する透過型電子顕微鏡用試料作製装置に関し、再デポを生じさせないで有効に非晶質層を除去する。 - 特許庁

To provide an eyepiece system, a telescope, binoculars and a microscope where an aspherical lens formed at low cost is used, eye relief being ≥80% of the focal distance of the entire eyepiece system is secured, and aberration is excellently compensated to the peripheral part of visual field.例文帳に追加

安価に形成可能な非球面レンズを使用した、接眼レンズ系全体の焦点距離の８０％以上のアイレリーフを有し、視野周辺部まで各収差が良好に補正された接眼レンズ系、及び望遠鏡、双眼鏡、顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The scanning type probe microscope is provided further with an acquisition-registering means for acquiring and registering a reference pattern for alignment, and a recipe formation means for recipe-registering the luminous energy to an illuminance when registering an image pattern to a recipe by the acquisition-registering means.例文帳に追加

さらに走査型プローブ顕微鏡は、アライメントのための参照用パターンを取得・登録する取得登録手段と、この取得登録手段によって画像パターンをレシピに登録した時の照度に光量をレシピに登録するレシピ化手段とを備える。 - 特許庁

This device is provided to a microscope, including an auto-focus unit 42 which focuses a light beam on an object based on the light beam returning from the object after it is projected to the object through an objective lens 41.例文帳に追加

ウェハ位置調整装置は、光ビームを対物レンズ４１を介して対象物に投光し対象物から戻ってくる光ビームに基づいて前記対象物に対する焦点合わせを行うオートフォーカスユニット４２を有するウェハ検査用の顕微鏡に備えられる。 - 特許庁

To provide a container for cell culture enabling microscope observation of the interior of a stored partition from the lower direction of the bottom also in a method for use of cell culture in a small amount of culture medium like a micro drop method.例文帳に追加

マイクロドロップ法のように少量の培養液中での細胞培養を目的とした使用方法においても、収容区画内を底部下方から顕微鏡観察が可能であり、容器内部を無駄なく区画して使用できる細胞培養用容器を提供する。 - 特許庁

This transmission electron microscope allows a sample stage holding a sample to be adjusted to be movable by a nano-drive mechanism in the Z-axis direction being an optical axis direction of an electron beam and X-axis and Y-axis directions (the X-axis and the Y-axis are orthogonal to each other) orthogonal thereto.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡は、試料を保持する試料ステージを、ナノ駆動構造により電子ビームの光軸方向であるＺ軸方向とそれに直交するＸ軸とＹ軸方向（Ｘ軸とＹ軸は互いに直交する）とに移動調整可能とする。 - 特許庁

The length of a known pattern provided, in advance, in a specified region on a sample is measured with a scanning electron microscope (S101-S104), and the length-measurement result is compared with the pattern design value to provide a magnification correction factor (S105 and S108).例文帳に追加

予め試料上の所定の領域に設けられた既知のパターンを走査形電子顕微鏡によって測長し（Ｓ１０１〜Ｓ１０４）、その測長結果を前記パターンの設計値と比較することにより倍率補正係数を導出する（Ｓ１０５，Ｓ１０８）。 - 特許庁

This operation microscope system is provided with a controller A33 disposed with push button switches 53 and 54 in an armrest L30 on which the left hand (arm) of an operator 21 is mounted and a controller B34 disposed with push button switches 53 and 54 on an armrest R31 on which the right hand (arm) of the operator is mounted.例文帳に追加

術者２１の左手（腕）の載置されるアームレストＬ３０に押しボタンスイッチ５３，５４を配したコントローラＡ３３を設け、術者の右手（腕）の載置されるアームレストＲ３１に押しボタンスイッチ５３，５４を配したコントローラＢ３４を設けて構成したものである。 - 特許庁

The physical quantity measuring instrument is so constituted as to be capable of two-dimensionally or three-dimensionally measuring the physical quantities of a sample to be measured, by adapting a laser-induced fluorescence method to the confocal microscope which uses a confocal scanner, having a two-port disk type pinhole array.例文帳に追加

ニポウディスク型のピンホールアレイを有する共焦点スキャナを用いた共焦点顕微鏡にレーザ誘起蛍光法を適応して、測定対象中の測定試料の物理量の２次元または３次元分布を測定することができるように構成する。 - 特許庁

In a parallel flat plate type dry etching device, a camera having a microscope function and a film thickness measurement function is installed inside an electrode opposite to an electrode for mounting the semiconductor substrate, and the etching state of the semiconductor substrate is observed by using this camera.例文帳に追加

平行平板型のドライエッチング装置において、半導体基板を載置する電極とは反対の電極の内部に顕微鏡機能および膜厚測定機能を有するカメラを設置し、このカメラを用いて半導体基板のエッチング状態を観測できるようにした。 - 特許庁

The object surface is observed by measuring a horizontal force relative to the object whose surface has a part having different hydrophobicity or hydrophilicity by using the scanning probe atomic force microscope having a probe of a cantilever type modified by an organic compound.例文帳に追加

表面に疎水性または親水性が異なる部分を有する対象物を有機化合物で修飾されたカンチレバータイプの探針を有する走査プローブ原子間力顕微鏡を用いて水平力を測定することで対象物の表面を観察する。 - 特許庁

A magnified image of the specimen is observed by a microscope 40, and a stage device 20 is two-dimensionally position-adjusted in X and Y directions so that the planned cutting line of the specimen lies on a cutting line mark in a visual field while its rotary position is also adjusted by a rotary stage 24.例文帳に追加

顕微鏡４０により試料の拡大像を観察し、試料の切断予定線が視野内の切断線マークに重さなるようにステージ装置２０をＸＹ方向に２次元位置調整するとともに、回転ステージ２４により回転位置も調整する。 - 特許庁

The testing method of semiconductor device comprises a steps of forming an electrode 10 on the main surface of a semiconductor test sample, cutting out a semiconductor test sample, exposing the cross-section of the semiconductor test sample, and obtaining carrier distribution within the cross-section by scanning the cross-section with a probe 14 of the scanning probe microscope while the predetermined potential is applied to the electrode 10.例文帳に追加

半導体試料の主面上に電極１０を形成する工程と、半導体試料を切断し、該半導体試料の断面を露出させる工程と、前記電極１０に所定電位を与えながら、走査型プローブ顕微鏡のプローブ１４で上記断面を走査することにより、該断面内におけるキャリア分布を得ることを特徴とする半導体装置の検査方法。 - 特許庁

The preprocessing device 2 prepares the test water so as to meet a measurement condition, and the particle amount quantifying device 3 obtains an image of the test water by using a microscope and processes the image thereby quantifying the amount of colored particles, and the transparency calculating device 4 refers to a calibration curve measured beforehand and calculates the transparency from a value obtained by the particle amount quantifying device 3.例文帳に追加

前処理装置２は検水を測定条件に合わせ調製するものであり、粒子定量化装置は３、顕微鏡による該検水の画像を取り込み、該画像の処理をして着色粒子量を定量化するものであり、透視度算出装置４は、予め測定された検量線を参照し、前記粒子定量化装置３で得られた値から透視度を算出するものである。 - 特許庁

The microscope for observing a specimen cultured in a culture vessel is provided with a focusing part to adjust the focus to at least two planes comprising the first plane containing the specimen in the culture vessel and the second plane different from the first plane based on a prescribed condition and an image taking part to take images on the first and the second planes to form images.例文帳に追加

培養容器で培養される試料を観察する顕微鏡であって、培養容器において試料が存在する第１の面と、所定の条件に基づいて、第１の面と異なる第２の面との少なくとも２つの面に対して焦点調節を行う焦点調節部と、第１の面と第２の面とにおいて、撮像して画像を生成する撮像部とを備える。 - 特許庁

In this analysis method using the electron microscope for analyzing the material distribution condition of the material inside the capsule of the observation sample including the capsule, the observation sample including the capsule is prepared by irradiating the capsule storing a compound having a polymerizing group with ultrasonic waves.例文帳に追加

カプセルを含む観察用試料のカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法であって、前記カプセルを含む観察用試料として、重合性基を有する化合物が内包されたカプセルに超音波を照射した観察用試料を用いることを特徴とするカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法。 - 特許庁

This autocollimetor for irradiating an object to be measured with parallel light, and for measuring the inclination of the object to be measured by confirming reflected light thereof has a collimator lens for collimating the light to irradiate the object to be measured into the parallel light, and a microscope lens provided to be put in and out freely between the collimator lens and the object to be measured to converge the parallel light by the collimator lens.例文帳に追加

被測定物に対して平行光を照射し、その反射光を確認することにより被測定物の傾きを測定するオートコリメータであって、前記被測定物への照射光を平行光とするためのコリメートレンズと、前記コリメートレンズと前記被測定物との間に出し入れ自在に設けられ、前記コリメートレンズによる平行光を集光する顕微鏡レンズとを有する。 - 特許庁

The conductive electroless plating powder in which a nickel film is formed by an electroless plating method on the surface of the core member powder is characterized in that grain boundaries are not admitted at the section in the thickness direction of the nickel film when the section is observed by a scanning electron microscope at magnifying power up to 100,000 times.例文帳に追加

本発明の芯材粉体の表面に無電解めっき法によってニッケル皮膜を形成した導電性無電解めっき粉体は、前記ニッケル皮膜の厚さ方向断面を、走査型電子顕微鏡によって１０００００倍迄の拡大倍率で観察したときに、該断面に結晶粒界が認められないことを特徴とする。 - 特許庁

The scanning probe microscope comprises the plurality of probes 104, displacement detecting means 107 of the same number as the probes, and a sequential feedback circuit 109 for amplifying and modulating displacement signals of the same number of the probes obtained by the displacement detecting means 107 and sequentially inputting them to a scanner 101(b) as feedback signals.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、複数のプローブ１０４と、プローブと同数の変位検出手段１０７と、変位検出手段１０７によって得られるプローブと同数の変位信号を増幅変調し、スキャナ１０１(b)に順番にフィードバック信号として入力する順次フィードバック回路１０９とを有することを特徴とする。 - 特許庁

The device comprises a sample chamber which enables atmosphere control, a sample holder 14 which introduces a volatile substance containing sample in the sample chamber, a scanning electron microscope for observing this sample held, a manipulator which samples the sample held in the sample holder 14, and a sample holder 15 for taking out the sample sampled to the outside of the sample chamber 2.例文帳に追加

雰囲気制御が可能な試料チャンバー２、試料チャンバー内に揮発性物質含有試料を導入する試料ホルダー１４、この保持された試料を観察するための走査電子顕微鏡、試料ホルダー１４に保持された試料をサンプリングするマニピュレータ、サンプリングされた試料を試料チャンバー２の外部に取り出すための試料ホルダー１５を具備する。 - 特許庁

The microscope apparatus stage which makes the main stage exactly movable to the observation position by finely adjusting the knob provided at the stage base to move the main stage, and is inexpensive and suppresses the observation error is provided.例文帳に追加

本発明は、固定ステージであるステージベースと、ステージベース上面に設けられボールを介して移動可能な主ステージと、ステージベースに設けられ主ステージを移動させるつまみ部を配置し、対物レンズを切り換えた際につまみ部によりベルトの送り速度を微調整することで主ステージを的確に観察位置に移動可能で、安価で観察誤差を抑えた顕微鏡装置ステージを提供する。 - 特許庁

To provide a microobservation apparatus capable of displaying an image of an observation sample of which the change accompanying the lapse of time is detected, together with the effect that the change is detected when the image of the sample gained by a microscope is observed, and to provide a microobservation method and a microobservation program which are executed in the microobservation apparatus.例文帳に追加

顕微鏡によって取得した観察試料の画像を観察する際、時間経過に伴う変化が検出された観察試料の画像を、変化が検出された旨とともに表示することが可能な顕微観察装置、該顕微観察装置において実行される顕微観察方法および顕微観察プログラムを提供すること。 - 特許庁

This cantilever for a scanning type probe microscope is provided with: a flexible beam 120 with one end 121 fixed to a base part 110; a probe 130 formed on the side of the other end 122 of the flexible beam 120; and a through-hole 140 formed in a region including the prove 130 and the side of the other end 122 of the flexible beam 120.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーは、一端１２１が基部１１０に固定されている可撓性の可撓梁１２０と、可撓梁１２０の他端１２２の側に設けられている探針１３０と、探針１３０と可撓梁１２０の他端１２２の側とを含む領域に形成されている貫通孔１４０とを備えている。 - 特許庁

As a result of an intensive study, an image is acquired by a combination apparatus of a microscope and the image analyzer and, by classifying the granular structure on the basis of the size thereof to analyze the same, the forming state of the granular structure is quantitatively measured more accurately.例文帳に追加

上記課題を解決すべく鋭意研究の結果、顕微鏡と画像解析装置を組み合わせた装置によって取得した画像を、顆粒状構造物をその大きさによって分類して解析することにより、顆粒状構造物の生成状況をより正確に、かつ定量的に測定できることを見出し、本発明を完成するに至った。 - 特許庁

The cell analysis system is equipped with a cell observing device, which has a flow channel for allowing a cell-containing solution to flow provided therein, has a transparent surface for observing the cells in the flow channel and is characterized in that the upper and under surfaces of the flow channel are parallel, and a microscope for observing the cells in the flow channel.例文帳に追加

細胞含有溶液を流動させるための流路を内部に備え、前記流路内の細胞を観察するための透明な面を備えた細胞観察用デバイスであって、前記流路の上面と下面が平行である細胞観察用デバイスと、前記流路内の細胞を観察するための顕微鏡とを備えた細胞解析システム。 - 特許庁

The method comprises: condensing and irradiating pulse laser beams from beneath of a solution with an objective lens 5 of a microscope, thereby generating plasma emission at the upper portion of the solution surface; and condensing the emission spectrum with an objective lens 9 at the upper portion of the solution and measuring it with a spectrometer 12, thereby analyzing a metallic element contained in the solution.例文帳に追加

顕微鏡を使用して溶液の下からパルスレーザー光線を対物レンズ５で集光して照射ことより、溶液表面上部でプラズマ発光が発生する、その発光スペクトルを溶液上部の対物レンズ９で集光して分光装置１２で測定して、溶液に含まれる金属元素を分析することを特徴とする。 - 特許庁

In the cell protrusion extraction method for extracting only the protrusion from the image of the cell body obtained by picking up with a microscope, a binarization process is applied to the obtained cell image, a binarized image is obtained and the cell body is extracted from a compressed image (DC component) obtained by applying a wavelet transform process to the binarized image.例文帳に追加

細胞体を顕微鏡により撮像して得られた画像から突起部のみを抽出する細胞突起抽出方法において、取得した細胞画像に対して二値化処理を行って二値化画像を取得し、この二値化画像をウェーブレット変換処理することにより得られた圧縮画像（ＤＣ成分）から細胞本体部を抽出する。 - 特許庁

The microscope stage provided with a stationary stage 11 and a circular stage 12 freely slidingly coming into contact with a thrust surface 11c on a projecting part 11b of this stationary stage 11 controls the moving competence of the circular stage 12 by adjusting the contact area of the thrust surface 11c on the projecting part 11b by which the circular stage 12 is slid.例文帳に追加

固定ステージ１１と、この固定ステージ１１の突出部１１ｂ上のスラスト面１１ｃに対して摺動自在に接触する円形ステージ１２を備えた顕微鏡ステージであって、円形ステージ１２が摺動される突出部１１ｂ上のスラスト面１１ｃの接触面積を調整して円形ステージ１２の移動力量を制御する。 - 特許庁

It includes a step of forming a pattern by inputting the position and size data of the designed pattern and impacting power data for them into an impacting machine having chips and punching the processing surface, and a step of checking the processing surface with a microscope and grinding the surface with a grinder if defective then processing the surface after adjusting the processing conditions.例文帳に追加

設計されたパターンの位置、パターンのサイズデータ及びこれらに対応する打撃力データをチップ付き打撃装置に入力して加工面を打撃することにより、パターンを形成する段階と、加工面をマイクロスコープで確認し、異常があれば、加工面を研磨機で押し出し、加工条件を調節した後再加工する段階とを含む。 - 特許庁

The filter slider 101 for the microscope adhered and fixed with a first optical element 103 and with a second optical element 102 at a mounting member 104, so as to face each other is provided with a vent hole 106 for making the space between the first optical element 103 and the second optical element 102 at the mounting member 104 described above, communicate with the outside.例文帳に追加

第１の光学素子１０３と第２の光学素子１０２とを対向させて、取付け部材１０４に接着固定した顕微鏡用フィルタースライダ１０１において、前記第１の光学素子１０３と前記第２の光学素子１０２との空間部を外部に連通させる通気孔１０６を前記取付け部材１０４に設ける。 - 特許庁

The objective lens adjustment mechanism is constituted by providing a fixing part 10 supported by a microscope system 2, an objective lens supporting part 20 which supports the objective lens 3, flexible parts 11-14 provided between the fixing part and the objective lens supporting part, and a pressurization part 41 which bends the flexible parts 11-14 by pressurizing the objective lens 3 or the objective lens supporting part 20.例文帳に追加

対物レンズ調整機構を、顕微鏡装置２に支持される固定部１０と、対物レンズ３を支持する対物レンズ支持部２０と、固定部と対物レンズ支持部との間に設けられた可撓部１１〜１４と、対物レンズ３又は対物レンズ支持部２０を押圧することにより、可撓部１１〜１４を撓ませる押圧部４１と、を備えて構成する。 - 特許庁

The confocal microscope provided with the acousto-optical element 2 is characterized in that an acoustic absorption material 4 is fitted on the light incident face, the light emitting face and all outer circumferential faces of the acousto-optical element 2 except the face on which a transducer 3 for giving vibration on the acousto-optical element 2 is fitted.例文帳に追加

音響光学素子２を備える共焦点顕微鏡において、音響光学素子２における光の入射面および出射面ならびに該音響光学素子２に振動を与えるトランスデューサ３が取り付けられている取付面以外の全ての外周面に吸音材４が取り付けられた共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁