「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(75ページ目) - Weblio英語例文検索

The transmission electron microscope having a sample arranged in a sample surface 9b includes an objective lens 11b, a first projection lens system 61b having a plurality of lenses, a second projection lens system 63b having a plurality of lenses, and the analysis system.例文帳に追加

試料面内９ｂに試料を配置した透過電子顕微鏡は、対物レンズ１１ｂ、複数のレンズを有する第１投影レンズ系６１ｂ、複数のレンズを有する第２投影レンズ系６３ｂ、および分析系を備える。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of attaining both photographing and preservation of a moving image and a still image and especially attaining photographing and preservation of the moving image and photographing of the still image with high image quality.例文帳に追加

本発明の目的は、動画の撮影・保存と静止画撮影・保存がいずれも可能な走査電子顕微鏡、特に動画の撮像・保存と、高画質な静止画像が撮影できる走査電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide an objective lens for an electron microscope system requiring a smaller space and having a minimum magnetic field outside the objective lens, and to provide an improved inspection system for performing image formation for a subject and manipulation of the subject simultaneously.例文帳に追加

必要とされる空間がより少なく、対物レンズ外部の磁界が最小限である電子顕微鏡システムのための対物レンズ、被検物体の像形成および操作を同時に行うための改良検査システムを提供する。 - 特許庁

The microtomy for the transmission type electron microscope is characterized by that only glass fiber is eroded by dipping glass fiber mixed polymer in a hydrofluoric acid solution with a concentration of ≥0.01 vol.% and ≤1 vol.% for ≥ five minutes and ≤24 hours.例文帳に追加

ガラス繊維配合ポリマーを、0.01vol％以上1vol%以下の濃度のフッ化水素酸水溶液に5分以上24時間以下浸漬し、ガラス繊維のみを浸食させることを特徴とする透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法。 - 特許庁

To provide an interference objective lens for selecting easily and surely an interference image having an interference picture and a bright field image not superposed with the interference picture, and to provide an interference microscope equipped with the interference objective lens.例文帳に追加

干渉像を有する干渉画像と干渉像が重畳されていない明視野画像を容易、且つ確実に選択可能に取得できる干渉対物レンズと、その干渉対物レンズを備える干渉顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The converged electron beam 2 allowed to irradiate a semiconductor device 1 from a transmission electron microscope 4 transmits through the semiconductor device 1 as transmitted electron beam 3 to be allowed to be incident on a magnetic field deflecting type energy filter 7 through a slit 5.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡４から半導体装置１に照射された収束電子線２は、透過電子線３として半導体装置１を透過し、スリット５を介して磁場偏向型エネルギーフィルタ７に入射される。 - 特許庁

The probe array can be used to produce traces of diffusively transferred chemicals with sub-1 micrometer resolution, and can function as an arrayed scanning probe microscope for subsequent reading of the variation of transferred patterns.例文帳に追加

プローブアレーは、拡散移転される化合物のトレースを、サブ１マイクロメートル解像度で生成するために使用されることができ、続いて移転されたパターンの変化を読み取る配列走査プローブ顕微鏡として機能することができる。 - 特許庁

To provide a stereoscopic observation apparatus capable of attaining both functions of a stereoscopic endoscope and a stereoscopic microscope while preventing the endoscope from becoming large in size, and also, capable of easily and quickly switching the functions.例文帳に追加

内視鏡が大型化することを防止しながら立体視内視鏡と立体視顕微鏡との両方の機能を併せ持つことができ、かつその切り替えを容易かつ迅速に行なうことができる立体視観察装置を提供する。 - 特許庁

In addition, the manufactured glass substrate has a minute wave height (NRa) not larger than 0.15 nm measured on its surface by means of a three dimensional surface structure analyzing microscope through setting the measurement wave length (λ) to be 0.2-1.4 mm.例文帳に追加

また、製造されたガラス基板は、三次元表面構造解析顕微鏡を用い、測定波長（λ）を０．２〜１．４ｍｍに設定して測定された表面の微小うねりの高さ（ＮＲａ）が０．１５ｎｍ以下とされている。 - 特許庁

An electrically driven zoom lens barrel 23 of the optical microscope 20 is arranged so as to extend in a Z axis direction at a side of a sample mounting stand 30, and an optical axis conversion mirror is arranged at an upper end part of the electrically driven zoom lens barrel 23.例文帳に追加

光学顕微鏡２０の電動ズーム鏡筒２３は、試料載置台３０の側方においてＺ軸方向に延びるように配置され、光軸変換ミラーは電動ズーム鏡筒２３の上端部に配置されている。 - 特許庁

A specimen transfer system S used for a semiconductor scanning electron microscope is equipped with a specimen chamber 1, a specimen replacing chamber 2, a loading board 11, a specimen transfer path, a transfer means of the specimens 13, and a control device of controlling the transfer means.例文帳に追加

半導体用走査電子顕微鏡用の試料搬送システムＳは、試料室１、試料交換室２、ロードポート１１、試料搬送経路、試料１３の搬送手段、搬送手段を制御する制御装置を備えている。 - 特許庁

Since a zoom optical system 10 of a normal light path A is formed horizontally, and a high-power optical path C is formed horizontally outside the zoom optical system 10, thereby reducing the vertical size H1 of a microscope body.例文帳に追加

通常光路Ａのズーム光学系１０を水平に形成し、高倍率光路Ｃをそのズーム光学系１０の水平方向外側にそれぞれ形成したため、顕微鏡本体の上下寸法Ｈ１を短縮することができる。 - 特許庁

The microscope 1 calculates an AF evaluation value expressing the contrast based on a brightness signal Y in an AF detecting frame AA of a selected area selected partially in an image corresponding to an image picked-up imaging area CA.例文帳に追加

顕微鏡１は、撮像される撮像領域ＣＡに対応する画像において、部分的に選択された選択領域であるＡＦ検出枠ＡＡにおける輝度信号Ｙから、コントラストを表すＡＦ評価値を算出する。 - 特許庁

To provide a resolution-evaluating method of an electron microscope, a program and an information storage medium, by which the resolution can be evaluated with high accuracy even in case that a picked-up image involves a factor degrading the accuracy of evaluation.例文帳に追加

撮像画像に評価精度を悪化させる要因がある場合であっても、高精度に分解能を評価することが可能な、電子顕微鏡の分解能評価方法、プログラム、及び情報記憶媒体を提供すること。 - 特許庁

To damp the vibration by converting vibration energy into heat energy when a constituent member of a microscopic analysis device such as an electron microscope is vibrated in a natural vibration mode by the input of ambient vibration, sound.例文帳に追加

周囲の振動、音響の入力により、電子顕微鏡等の顕微分析装置の構成部材がそれぞれの固有振動モードにて振動するとき、その振動エネルギを熱エネルギに変換して前記振動を減衰させること。 - 特許庁

The immersion oil for the microscope is composed by blending (B) phthalic acid ester by 2-20 mass parts and (C1) liquid paraffine and/or (C2) paraffine halide by 5-50 mass parts in (A) liquid diene copolymer by 100 mass parts.例文帳に追加

（Ａ）液状ジエン系共重合体１００質量部に対して、（Ｂ）フタル酸エステル２〜２０質量部及び（Ｃ１）流動パラフィン及び／又は（Ｃ２）ハロゲン化パラフィン５〜５０質量部を配合する顕微鏡用液浸油である。 - 特許庁

(4) It is confirmed that the ultra-thin isolation membrane having an unprecedented new structure and composition is formed by observing and analyzing images, electron diffraction diagrams and electron energy loss spectroscopy spectrums of the membrane by use of a transmission electron microscope.例文帳に追加

４）本膜を透過型電子顕微鏡により像、電子回折図形および電子エネルギー損失分光法スペクトルを観察、解析し、従来にない新しい構造と組成を有する極薄単離膜が生成していることを確認する。 - 特許庁

CANTILEVER ARRAY, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME, SLIDING DEVICE FOR GUIDE AND ROTATION MECHANISM, SENSOR, HOMODYNE LASER INTERFEROMETER, LASER DOPPLER INTERFEROMETER WITH PHOTOEXCITATION FUNCTION OF SAMPLE AND EXCITATION METHOD FOR CANTILEVER例文帳に追加

カンチレバーアレイ、その製造方法及びそれを用いた走査型プローブ顕微鏡、案内・回転機構の摺動装置、センサ、ホモダインレーザ干渉計、試料の光励振機能を有するレーザドップラー干渉計ならびにカンチレバーの励振方法 - 特許庁

The method for producing the carbon black comprises subjecting a raw material of the carbon black having 0.5-0.8 μm mode diameter in the size distribution curve drawn by using the structure lengths measured by the transmission electron microscope, and ≥1 μm half width thereof to a heat treatment in a gas flow containing hydrogen to remove an acidic functional group.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡によって測定されたストラクチャー長さを用いて描かれた粒度分布曲線の最大頻度径が０．５〜０．８μｍで、その半値幅が１μｍ以上であるカーボンブラック原料を、水素を含む気流中、加熱処理して酸性官能基を脱離させることを特徴とするカーボンブラックの製造方法。 - 特許庁

This microscope has a cantilever 14 with the probe 15, a Z micromotion part 13b changing an interval between a sample 17 and the probe 15, an XY scan control part 19 imparting relative displacement in the sample surface direction between the sample 17 and the probe 15, displacement detection means 21, 22 detecting displacement occurring in the cantilever 14, and a Z direction control part 20.例文帳に追加

探針１５を有するカンチレバー１４、試料１７と探針の間隔を変化させるＺ微動部１３ｂと、試料と探針の間で試料表面方向に相対変位を与えるＸＹ走査制御部１９と、カンチレバーで生じる変位を検出する変位検出手段２１，２２と、Ｚ方向制御部２０とを備える。 - 特許庁

In this method of differentiating the subcorneal cell collected from the skin, an ultraviolet ray is emitted from an ultraviolet ray source toward the subcorneal cell on a slide glass sealed with an immersion oil, under observation by a microscope or magnification video, and fluorescence intensity of the subcorneal cell excited by the ultraviolet ray is used as the index.例文帳に追加

皮膚より採取した角層細胞を鑑別する方法であって、顕微鏡下、乃至は、拡大ビデオでの観察下、油浸オイルで封入されたスライドグラス上の角層細胞に、紫外線光源より紫外線を照射し、紫外線によって励起される、角層細胞の蛍光強度を指標とすることを特徴とする。 - 特許庁

The imaging device for the microscope photographs a predetermined image for correction which is displayed on the display screen of a desired display device by using the imaging device as a correction tool, and allows the operator to make color matching adjustments more easily by referring to obtained chromaticity information for correction and chromaticity information of the display part itself.例文帳に追加

本発明は、撮像装置を校正ツールとして用いて、所望する表示装置の表示画面に表示される予め定めた校正用画像を撮影して、得られた校正用色度情報と、表示部自身の色度情報を参照して、より簡便に色合わせ調整を行う顕微鏡用撮像装置である。 - 特許庁

This information acquiring method acquires information about material in the solvent and comprises processes to hold the material in the solvent, to make the solvent as an amorphous solid phase, and to acquire information about the material held by the amorphous solvent by using an electron microscope.例文帳に追加

溶媒中における物質に関する情報の取得方法であって、前記物質を溶媒中で保持する工程と、前記溶媒を非晶質な固相状態にする工程と、前記非晶質の溶媒に保持された物質に関する情報を電子顕微鏡を用いて取得する工程とを有する情報取得方法。 - 特許庁

A scanning microscope displays a stage operation panel which is on the same display as the one that displays images, rotating ft in synchronization with a rotational angle of scan rotation at all times, the direction of the marks for XY operation buttons 3-6 in the stage operation panel can be reversed and displayed simultaneously, and synchronizing with that, XY stage reversed the direction of movement respectively.例文帳に追加

画像を表示している画面と同一の画面上にあるステージ操作パネルをスキャンローテーションの回転角度に常に連動して回転して表示し、ステージ操作パネル内のＸＹ操作ボタン3〜6のマークの向きを同時に反転して表示でき、それに連動してＸＹステージが動く方向をそれぞれ反転する。 - 特許庁

The observation instrument comprises: an observation assisting tool 10 used in a state that it is supported by the holder, and having a sample receiving area F for receiving the sample to be observed; and a transparent substrate 20 for covering the sample receiving area F on the observation assisting tool 10, and observes the sample by a microscope.例文帳に追加

ホルダによって支持された状態において用いられ、観察対象となる試料を収容する試料収容領域Ｆを有する観察支援具１０と、観察支援具１０上の試料収容領域Ｆを覆う透明基板２０と、を有し、試料を顕微鏡により観察するための観察用器具である。 - 特許庁

The microscope 100 includes: the objective optical system 4 having such a configuration; the variable power optical system 6 including at least one movable lens and configured to vary power by moving the movable lens in the direction of an optical axis; and an imaging optical system 7 configured to image light emitted from the variable power optical system 6.例文帳に追加

また、顕微鏡１００は、そのように構成された対物光学系４と、少なくとも１つの可動レンズを含み、可動レンズが光軸方向に移動することにより変倍する変倍光学系６と、変倍光学系６から射出された光を結像させる結像光学系７と、を含む。 - 特許庁

The electron microscope includes: an objective lens 6 for converging electron beams and applying the converged electron beam to a sample 4; a sample chamber container 5 forming a sample chamber for storing the sample 4; a sample chamber magnetic shield 7 formed in the sample chamber container 5; and a cylindrical objective lens magnetic shield 8 surrounding the periphery of the objective lens 6.例文帳に追加

電子線を収束させて試料４に照射する対物レンズ６と、試料４を収納する試料室を形成する試料室容器５と、試料室容器５の内部に設けられた試料室磁気シールド７と、対物レンズ６の周囲を囲む筒形の対物レンズ磁気シールド８とを備える。 - 特許庁

In the transparent conductive base material, where the base material, a reflection prevention film, and the transparent conductive film are laminated in this order, the reflection prevention film is made of aluminum-doped zinc oxide, and the average surface roughness (Ra) of the reflection prevention film by an atomic force microscope is 1.0 nm or smaller.例文帳に追加

基材、反射防止膜及び透明導電膜が、この順で積層されてなる透明導電性基材であって、前記反射防止膜がアルミドープ酸化亜鉛からなり、かつ原子間力顕微鏡による前記反射防止膜の平均面粗さ（Ｒａ）が１．０ｎｍ以下であることを特徴とする透明導電性基材。 - 特許庁

The base 1 for the microscope is provided with an air blowout port 24 extended in a horizontal direction above a door 19a so as to form an air curtain in a duct 22, and an air supply source 27 is controlled so that air quantity may be larger at the time of opening the door 19a than at the time of closing the door 19a.例文帳に追加

この顕微鏡台１においては、ドア１９ａの上方で水平方向に延在してエアーカーテンを作り出すためのエアー吹出口２４をダクト２２に設け、ドア１９ａの閉鎖時における風量よりドアの開放時における風量を多くするようにエアー供給源２７を制御する。 - 特許庁

Furthermore, when the monofilament cross-section is observed by an optical microscope, it is distinguished into two layers of sheath and core layers, wherein the ratio R (%) of the average diameter r_2 of the core layer to the diameter r_1 of the monofilament cross section is 90% or less.例文帳に追加

凸型率（％）＝（凸型断面繊維の本数／マルチフィラメントの構成本数）×１００さらに、モノフィラメント繊維断面を光学顕微鏡によって観察した際、シース層とコア層の二層に識別可能で、コア層の平均直径ｒ_２の繊維断面直径ｒ_１に対する比率Ｒ（％）が９０％以下であるポリベンザゾール繊維。 - 特許庁

This is an electrostatic charge measuring method and a focus adjustment method, or a scanning electron microscope to measure the charge amount or to control an impressing voltage on the test piece by moving the scanning place of the electron beams on the test piece, and changing the impressing voltage on an energy filter.例文帳に追加

上記目的を達成するために、本発明の一態様によれば、試料上の電子ビームの走査個所を移動しつつ、エネルギーフィルタへの印加電圧を変化させることで、帯電量を測定、或いは試料への印加電圧を制御する帯電測定方法、焦点調整方法、或いは走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

Diamond powder 3 that has a slower ion sputter speed than a probe material is allowed to adhere to the material of a probe for a scanning probe microscope, and the material of the probe is subjected to ion sputtering while the diamond powder 3 adheres until the least the diamond powder 3 disappears, thus forming a needle-shaped projection 6.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用探針の材料に、この探針材料よりイオンスパッタ速度が遅いダイアモンド粉末３を付着させ、このダイアモンド粉末３が付着した状態で、このダイアモンド粉末３が無くなるまで、或いはそれ以上に、前記探針材料をイオンスパッタすることにより、針状突起６を形成する。 - 特許庁

In the scanning electron microscope in which the inside of an inner pipe for passing an electron beam is set up to be vacuum and a low vacuum observation is possible with an objective restriction arranged between the inner pipe and a specimen chamber, a two-stage objective restriction unit having another second objective restriction between the objective restriction and the specimen is arranged at an end of the inner pipe.例文帳に追加

本発明は、電子ビームが通過するインナーパイプ内部を真空とし、試料室との間に設けた対物絞りにより低真空観察が可能な走査電子顕微鏡において、対物絞りと試料との間にさらに第二の対物絞りを設けた２段対物絞りユニットをインナーパイプの端に設ける。 - 特許庁

In the confocal microscope apparatus where reflected light L3 from an object S to be measured and reference light L2 are coupled, and the interference light L4 is detected by an interference light detecting means 6, then, the tomographic image of the object S is obtained, an optical modulation part 20 for carrying out the frequency modulation of the reference light L2 is provided.例文帳に追加

測定対象Ｓからの反射光Ｌ３と参照光Ｌ２が合波され、その干渉光Ｌ４が干渉光検出手段６により検出され測定対象Ｓの断層画像が取得される共焦点顕微鏡装置において、参照光Ｌ２の周波数変調を行う光変調部２０が設けられている。 - 特許庁

The convex part is defined as the part protruding from outside of a polygon formed by connecting local minimum points to the inside direction of the fiber on a photograph of the cross section of the cellulose acetate fiber taken in a scanning electron microscope of 3000 magnification.例文帳に追加

本発明でいう凸部とは、対象となるセルロースアセテート繊維の繊維軸に垂直方向の断面を、走査型電子顕微鏡を用いて３０００倍の倍率で写真撮影し、繊維の内部方向に対して極小点となる部分を結んでできる多角形の外側に突出している部分を凸部とする。 - 特許庁

The microscope is constituted to perform focusing operation by storing magnification of an objective 5, calculating the driving speed of a focusing mechanism 8 based on the magnification of the objective 5 and zoom magnification, and driving a stepping motor for focusing 14b for driving the mechanism 8 so as to movably adjust space between the objective 5 and a stage 3.例文帳に追加

対物レンズ５の倍率を記憶して、この対物レンズ５の倍率とズーム倍率とに基づいて焦準機構８の駆動速度を算出して、焦準機構８を駆動する焦準用ステッピングモータ１４ｂを駆動して対物レンズ５とステージ３との間隔を移動調整して焦準操作するように構成した。 - 特許庁

To achieve flexible use by the easiest operation in fewest adjusting steps, in terms of a microscope including a light source and a detector device and configured such that the optical path of illuminating light extends between the light source and a specimen and the optical path 2 of a detecting line extends between the specimen and the detector device.例文帳に追加

光源及び検出器装置を有し、光源と試料との間で照明光線光路が、そして試料と検出器装置との間で検出線光路２が延在する顕微鏡に関するものであり、最も少ない調整手数でもってフレキシブルな利用が最も簡単な操作で可能となるように、構成すること。 - 特許庁

In this case, when carrying out focus detection using a laser beam reflected from the surface of a boundary between a cover glass or slide glass and a cell or culture media, the microscope focus maintaining device can alter the luminous flux diameter of the laser beam to a luminous flux diameter corresponding to NA smaller than the refractive index of the cell or culture media.例文帳に追加

ここで、顕微鏡フォーカス維持装置は、カバーガラスやスライドガラスと細胞や培養液との境界面からのレーザー光ビームの反射光を利用してフォーカス検出する場合、レーザー光ビームの光束径を細胞や培養液の屈折率よりも小さいＮＡに相当する光束径に変更可能としている。 - 特許庁

The magnetic field objective lens for an electron microscope has a first magnetic field lens and a second magnetic field lens generating a magnetic field in the vicinity of a sample mounting region along an optical axis, and in the sample mounting region, the magnetic fields by the first magnetic field lens and the second magnetic field lens are canceled each other to zero.例文帳に追加

電子顕微鏡用磁界型対物レンズは、光軸に沿う試料配置領域の近傍に磁場を発生させる第１磁界型レンズおよび第２磁界型レンズを有し、前記試料配置領域において、前記第１磁界型レンズおよび前記第２磁界型レンズによる磁場が互いに打ち消されてゼロになる。 - 特許庁

The immersion microscope objective lens is a lens for observing or measuring a sample (the refractive index nd is 1.33 to 1.5) represented by the living cells, the living tissues or the living body solid and is designed so that the immersion liquid used is a synthetic oil having a refractive index of 1.34 to 1.5.例文帳に追加

生体細胞または生体組織または生体の固体に代表されるような試料（屈折率ｎｄが１．３３〜１．５）を観察するまたは計測するための液浸用顕微鏡対物レンズであって、使用される液浸液が、屈折率が１．３４〜１．５の合成オイルであるとして設計されている。 - 特許庁

In one embodiment, the microscopic observation system 1 is provided with: an observation unit 3 observing a sample using a microscope; an observation system control unit 3 controlling the operation of the observation part 3; and a characteristic data memory unit 7 memorizing characteristic data decided in accordance with the attribute value showing the attribute of the sample per attribute value.例文帳に追加

本発明のある実施の形態において、顕微鏡観察システム１は、顕微鏡を用いて標本を観察する観察部３と、観察部３の動作を制御する観察システム制御部５と、標本の属性を示す属性値に応じて定められた特性データを属性値毎に記憶する特性データ記憶部７とを備える。 - 特許庁

The chemical-mechanical-property evaluating method supplies a slurry polishing agent on the surface of a polishing pad and evaluates the Young's modulus of the polish relating object of a polished object, etc. obtained in the chemical mechanical polish for subjecting the pad and such a thin-plate-form polished object as a semiconductor wafer into a relative motion, by using an inter-atom microscope device.例文帳に追加

スラリー状の研磨剤を研磨パッド表面に供給して、パッドと半導体ウエハ等の薄板状被被研磨物とを相対運動させる科学的及び機械的な研磨における、被研磨物などの研磨関連物の表面のヤング率を、原子間力顕微鏡装置を用いて評価する。 - 特許庁

The detecting device for an optical device, particularly for the confocal microscope, includes: a detector; an aperture plate (2) disposed within an optical path (1) of a detected light ray so as to be positioned in front of the detector; and a lens (3) disposed in front of the aperture plate (2) and used to focus the detected light ray on the aperture plate (2).例文帳に追加

検出器と、該検出器の前に位置するように検出光の光路（１）内に配置されるアパーチャープレート（２）と、該アパーチャープレート（２）の前に配置される、検出光をアパーチャープレート（２）に合焦させるためのレンズ（３）とを備える光学装置用検出装置、特に共焦点顕微鏡用検出装置。 - 特許庁

In the method, a scanning microscope provided with both a stage 10 for fixing a sample 80 and a cantilever 30 having a probe 40 at its tip part is used to evaluate the local adhesion of the thin film 81 to a substrate 82 in the sample 80, in which the thin film 81 adheres onto the substrate 82.例文帳に追加

本発明の局所密着性評価方法は、試料８０を固定するステージ１０と、探針４０を先端部に有したカンチレバー３０と、を備えた走査型プローブ顕微鏡を用いて、基体８２上に薄膜８１が密着した試料８０の、薄膜８１の基体８２に対する密着性を評価する方法である。 - 特許庁

The controller 50 of the microscope obtains the mutual distance (d) of diaphragm images divided into two by a pupil division prism 33 by using data from an AF line sensor 37, and obtains representative wavelength λ showing the spectral characteristic of the reflected light from the sample 1 by using data from a spectral characteristic sensor 40.例文帳に追加

この顕微鏡の制御装置５０は、瞳分割プリズム３３で二つに分割された絞り像の相互間隔ｄをＡＦ用ラインセンサ３７からのデータを用いて求めると共に、試料１からの反射光の分光特性を示す代表波長λを分光特性センサ４０からのデータを用いて求める。 - 特許庁