「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(72ページ目) - Weblio英語例文検索

The scanning electron microscope according to the present invention scans a sample along one or more straight lines and adds, to a detection signal for each scan line, information for identifying a start position and an end position of the scan line as address information indicating a scan position on the sample.例文帳に追加

本発明に係る走査型電子顕微鏡は、試料を１以上の直線状に走査し、走査線の開始位置と終了位置を特定する情報を、試料上の走査位置を示すアドレス情報として、１走査線毎の検出信号に付与する。 - 特許庁

The microscope device further comprises two wedge prisms 51a and 51b disposed on an optical path between the detection system 30 and the half mirror 17, and rotary mechanisms 52a and 52b holding the wedge prisms 51a and 51b so as to allow them to rotate severally.例文帳に追加

さらに測定顕微鏡装置は、焦点検出系３０とハーフミラー１７の間の光路上に配置された２つのウェッジプリズム５１ａと５１ｂと、ウェッジプリズム５１ａと５１ｂをそれぞれ回転可能に保持している回転機構５２ａと５２ｂとを有している。 - 特許庁

In the method of correcting a photomask defect, after making an electrical continuity in an isolated pattern by a metal deposition film 7 by use of an electron beam or a helium ion beam generating from a gas field ion source, the defect 3 is corrected; and after the correction, the metal deposition film 7 is physically removed by an AFM (atomic force microscope) scratch working probe 9.例文帳に追加

電子ビームまたはガスフィールドイオン源から発生するヘリウムイオンビームを用いた金属デポジション膜7で孤立したパターンに導通を作ってから欠陥3を修正し、修正後金属デポジション膜7をAFMスクラッチ加工探針9で物理的に除去する。 - 特許庁

Surface of electrode is scraped by irradiating ion beam, image of drilled face of the activator is observed by a scanning ion microscope (SIM), and a property of the electrode is evaluated on the basis of contrast of the activator in observed SIM image.例文帳に追加

イオンビームの照射によって電極表面をその厚さ方向に堀削して、堀削面における活物質層の走査イオン顕微鏡（ＳＩＭ）像を観察し、観察されたＳＩＭ像における活物質のコントラストに基づき電極の性能を評価する。 - 特許庁

A matrix computing part 66 calculates a vector indicating the electron microscope image of the sample by performing matrix computation based on the electron beam irradiation matrix and a vector representing time-series detection signals detected by the secondary electron detector.例文帳に追加

行列演算部６６は、上記電子線照射行列と、上記２次電子検出器において検出された時系列の検出信号を表したベクトルとに基づいて行列演算を行うことによって、試料の電子顕微鏡画像を示すベクトルを算出する。 - 特許庁

To provide a vernier for calculating the positional deviation of a colored pixel, with respect to a black matrix, and accurately and stably calculating the position deviation, without being affected by the focal depth of a microscope or without being affected by the fringe part of a measurement mark, and to provide a method of measuring exposure position.例文帳に追加

ブラックマトリックスに対する着色画素の位置ズレを算出するバーニアで、顕微鏡の焦点深度に影響されず、測定用マークのフリンジ部に影響されず精度よく、安定して位置ズレを算出するバーニア、及び露光位置の測定方法を提供する。 - 特許庁

A sample 11 is placed on a stage 101 of a microscope body 10 and a light shielding member 18 is deposited to cover the sample 11 on the stage 101 so that the vertical illuminating observation of the sample 11 is performed.例文帳に追加

顕微鏡本体１０のステージ部１０１上に試料１１を載置して、このステージ部１０１上の試料１１を被うように遮光部材１８を被着して試料１１の落射照明観察を行うように構成し、所期の目的を達成したものである。 - 特許庁

To provide an inspection system by which investigation or the like of the causes of defects of a semiconductor sample can be easily performed by making the work for observing defects detected by a SEM (scanning electron microscope)-aided appearance inspection apparatus is surely performable with the use of a review apparatus with high definition.例文帳に追加

ＳＥＭ式外観検査装置で検出した欠陥をレビュー装置で高分解能観察する作業を容易、且つ確実に行えるようにし、半導体試料の欠陥に対する原因究明等が容易に行える検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an imaging tool with which the same image pickup as the one with a general purpose video camera and magnification imaging at high magnification like the one with a "video microscope" can be easily properly chosen according to need while making the effective use of easy magnification change by a zoom function.例文帳に追加

ズーム機能による手軽な倍率変更を有効に活かしつつ、汎用的なビデオカメラにおけると同様な撮像と“ビデオ顕微鏡”におけるような高倍率での拡大撮像を必要に応じて手軽に使い分けることができる撮像具の提供。 - 特許庁

This microscopic observation device is constituted by connecting the face-mounted display 30 put on the face of an observer to the ocular part 11 of the microscope through an ocular CCD camera 12 and superior usability is obtained by this face-mounted display 30.例文帳に追加

かゝる本発明は、顕微鏡１０の接眼部１１に接眼用ＣＣＤカメラ１２を介して観察者の顔面に装着されるフェイス・マウント・ディスプレイ３０を接続した顕微観察装置にあり、このフェイス・マウント・ディスプレイ３０によって、優れた使い勝手が得られる。 - 特許庁

This microscope where observation data are acquired by irradiating an observation object with the deep ultraviolet light has a control part measuring the line width of a pattern provided at the prescribed position of the observation object and stopping the irradiation of the observation object with the deep ultraviolet light when the line width of the pattern attains a prescribed limiting value.例文帳に追加

観察対象に深紫外光を照射して観察データを取得する顕微鏡において、該観察対象の所定の位置に設けられたパターンの線幅を測定し、該パターンの線幅が所定の制限値に達した場合に、該観察対象への深紫外光の照射を停止する制御部を有することを特徴とする。 - 特許庁

In this probe microscope having a probe, an electrode arranged through a sample and a measuring instrument which applies voltage across the probe and the electrode to detect the current flowing to the sample between the probe and the electrode, voltage is applied across two desired points in the sample to detect the produced migration to thereby determine the insulating failure.例文帳に追加

探針と試料を介して配置される電極と、探針と電極間に電圧を印加して探針と電極間の試料に流れる電流を検出する測定装置を有するプローブ顕微鏡において、試料内における所望の二点間に電圧を印加することにより、発生するマイグレーションを検知して絶縁不良を判定するプローブ顕微鏡にある。 - 特許庁

In the illuminator of the microscope provided with a holding member holding a plurality of filter cassettes, at least one 50 of the plurality of the filter cassettes is provided with a dichroic mirror 66 reflecting the illumination light and the angle of the dichroic mirror 66 to the objective lens is changed by a cam mechanism provided in the filter cassette 50.例文帳に追加

複数のフィルタカセットを保持する保持部材を備えている顕微鏡の照明装置において、複数のフィルタカセットの少なくとも１つのフィルタカセット５０に照明光を反射するダイクロイックミラー６６を設けるとともに、対物レンズに対するダイクロイックミラー６６の角度をフィルタカセット５０に備えたカム機構によって変化させるようにした。 - 特許庁

The fluorescent microscope 1 demodulates, by modulating the spatial intensity distribution of the intermediate image with the scan mask 4, the component shifted to the frequency equal to or lower than the cutoff frequency f_c to the original high frequency component, and communicates the frequency component to an imaging surface through an imaging lens 6 to be converted to digital image data including super resolution components by an imaging element 7.例文帳に追加

そして、蛍光顕微鏡１は、スキャンマスク４で中間像の空間強度分布を変調することによって、カットオフ周波数f_c以下の周波数にシフトした成分を元の高周波成分に復調して、撮像レンズ６により撮像面に伝達し、撮像素子７により超解像成分を含むデジタル画像データに変換する。 - 特許庁

The microscope observation device includes: a specimen table 11 for fixedly supporting the substrate 10A to be observed; an immersion objective lens 14; supply means 16 and 17 for supplying the liquid 20 between the leading end of the objective lens and the substrate; and liquid receiving means 22 to 24 for receiving the liquid 21 dripping from the substrate after supplied by the supply means.例文帳に追加

観察対象の基板１０Ａを固定的に支持する試料台１１と、液浸系の対物レンズ１４と、対物レンズの先端と基板との間に液体２０を供給する供給手段１６,１７と、供給手段により供給された液体のうち基板から落下する液体２１を受ける液体受け手段２２〜２４とを備える。 - 特許庁

To provide a method of correcting the defects of a photomask which is capable of precisely removing the residual defects below 500 nm without the damage on a quartz substrate and segments exclusive of the defects after the correction of the remaining defects formed on a mask and is capable of easily detecting even the end point of the correction and a scanning probe microscope used for the same.例文帳に追加

マスクに形成された残留欠陥修正後の石英基板や欠陥以外の部分へのダメージが無く、５００ｎｍ以下の残留欠陥を精度良く除去することが可能で、修正のエンドポイントも容易に検出できるフォトマスクの欠陥修正方法及びそれに用いる走査プローブ顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

The laser scanning microscope has: lasers 1, 2 and 3 emitting the laser beams having the different wavelength; a scanning means 30 two-dimensionally scanning a sample 9 with the laser beam; and a wavelength selection means 5 selecting the wavelength of the laser beam on a go-path and the laser beam on a return-path when scanning nearly the same scanning line position on the sample back and forth.例文帳に追加

異なる波長のレーザ光を射出するレーザ１，２，３と、前記レーザ光を標本９上で二次元に走査する走査手段３０と、前記標本上のほぼ同一の走査線位置上を往復走査するとき、往路のレーザ光と復路のレーザ光の波長を選択する波長選択手段５を有するレーザ走査顕微鏡。 - 特許庁

The Kerr effect microscope is equipped with a light source 1, the objective 14, a Berek prism 13 making light from the light source 1 incident on a sample through the objective 14, and a holding mechanism holding the objective 14 and the Berek prism 13 so that a position where the light emitted from the Berek prism 13 is made incident on the objective 14 can be adjusted.例文帳に追加

本発明によるカー効果顕微鏡は，光源１と，対物レンズ１４と，光源１からの光を対物レンズ１４を介して試料に入射するベレークプリズム１３と，ベレークプリズム１３から出射された光が対物レンズ１４に入射される位置が調節可能であるように，対物レンズ１４とベレークプリズム１３とを保持する保持機構とを備えている。 - 特許庁

A joint section where the carbon nanotube adheres to the tip of the probe of the scanning probe microscope or the handling equipment, is dipped in a dielectric liquid section, and a portion of liquid is solidified around the joint section in order to form a reinforcing section, by applying a potential difference between the joint section and the liquid section by using an external power source, thereby reinforcing the joint section.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡あるいはハンドリング機器のプローブ先端部とカーボンナノチューブとの付着部である接合部を誘電体である液体部に浸し、該接合部と液体部間に外部電源装置によって電位差を付与させて接合部周囲に液体の一部を固化させて補強部を形成し、以って接合部を強化する。 - 特許庁

In transferring a sample held in the sample holder in the transmission electron microscope, its transmission image is obtained with the sample held by the sample holder, a statistical treatment is performed on the obtained sample and the transmission image of a grid of the sample holder, and a velocity of the sample transfer is controlled based on the statistical treatment.例文帳に追加

透過電子顕微鏡において、試料ホルダに保持された試料を移動する場合において、試料が試料ホルダに保持された状態でその透過像を獲得し、獲得した試料と試料ホルダのグリッドの透過像に対して統計的処理を行ない、該統計的処理に基づいて試料移動の速度を制御するように構成する。 - 特許庁

To provide a polishing device and a polished surface observing method using this where observation working efficiency does not so decrease even when repeating of polishing and observation of the polished member is diligently performed, the focal distance of a microscope may be constant, and the space is not taken.例文帳に追加

被研磨部材の研磨、観察の反復をこまめに行っても観察作業効率が余り落ちず、マイクロスコープの焦点距離は一定でよく、場所を取らない研磨装置及びこれを用いた被研磨面観察方法を得ることである。 - 特許庁

The optical microscope 100 is equipped with a refractive power variable lens 20, a refractive power changing mechanism 30 and a lens driving mechanism 40, and a microplate M in which the sample S is stored together with the culture solution is placed on an XY moving stage 6.例文帳に追加

光学顕微鏡１００には、屈折力可変レンズ２０、屈折力変更機構３０およびレンズ駆動機構４０とが備えられ、マイクロプレートＭは、標本Ｓを培養液とともに収容し、ＸＹ移動ステージ６上に載置されている。 - 特許庁

This microscope has a light source 1, a condenser lens 5, an opening 6a arranged in the front side focal position of the condenser lens 5, an objective lens 7 and a modulator 14 which is arranged in a position approximately conjugate with the opening 6a and has a region of transmittance T(%).例文帳に追加

光源１と、コンデンサレンズ５と、コンデンサレンズ５の前側焦点位置に配置された開口６aと、対物レンズ７と、開口６aと略共役な位置に配置されていて透過率Ｔ（％）の領域を持つ変調器１４とを備えている。 - 特許庁

The colloidal silica is produced from active silicic acid as an original material in the presence of an alcohol, and contains the alcohol and a group of silica particles in various nonspherical shapes wherein a ratio of long length diameter/short length diameter observed by a transmission electron microscope is 1.2-6.例文帳に追加

アルコールの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、アルコールを含有し、透過型電子顕微鏡観察による長径／短径比が１．２〜６である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of obtaining a good image with less aberration, even when the position of a pupil conjugate surface is fluctuated in the case of observing a phase object by relaying a pupil of an object lens and arranging a pupil modulation element on the pupil conjugate surface.例文帳に追加

対物レンズの瞳をリレーして、瞳共役面に瞳変調素子を配置して位相物体を観察する際に、瞳共役面の位置が変動しても、収差の発生が少ない良好な像が得られる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The perovskite type compound oxide particle consists of a single crystal particle of a perovskite type compound oxide, has 5-50 nm average particle size, which is calculated by using the results measured by using a transmission electron microscope, and contains a noble metal in a crystal lattice of the single crystal particle.例文帳に追加

ペロブスカイト型複合酸化物の単結晶粒子からなり、透過型電子顕微鏡の観測結果から求めた平均粒子径が５ｎｍ以上５０ｎｍ以下であり、その結晶格子中に貴金属元素が含まれている構成とする。 - 特許庁

The scanning electron microscope 1 is provided with an electron gun 2 in which a metal film, a carbon film, a diamond film, and a diamond-like carbon film which transmit accelerating electrons and can endure the atmosphere are provided at the electron gun window 35, and a sealed container 33 is maintained in vacuum.例文帳に追加

電子銃窓３５に加速電子を透過し大気に耐える金属膜、炭素膜、ダイヤモンド膜、ダイヤモンドライクカーボン膜を設け、密封容器３３内が真空に保たれる電子銃２を備える走査型電子顕微鏡装置１とする。 - 特許庁

To provide a distance measuring method, which can accurately measure the distance between an examined sample and an optical observation device under a disadvantageous condition of extremely low contract, etc., and/or over the whole visual field, and to provide a microscope which implements the method.例文帳に追加

極めて低いコントラスト等の不利な条件下での及び／又は視野全体に亘っての被検試料と光学観察装置との間の正確な距離測定が可能な距離測定方法及び当該方法を実行する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The objective optical system 4 for the microscope includes, in order from the side of a sample surface 5: a first lens group including at least two lenses of negative refractive power and having negative refractive power as a whole; and a second lens group including positive refractive power.例文帳に追加

顕微鏡用の対物光学系４は、標本面５側から順に、負の屈折力を有する少なくとも２つのレンズを含み、全体で負の屈折力を有する第１レンズ群と、正の屈折力を有する第２レンズ群と、を含む。 - 特許庁

The surgical microscope for observing infrared fluorescence includes a camera system 25 having three chips 35, 36, 37, wherein infrared light emanating from an object 9 is supplied to only one chip among the three chips of the camera via a dichroic beam splitter 33.例文帳に追加

赤外蛍光を観察するための手術用顕微鏡は、３つのチップ３５、３６、３７を有するカメラシステム２５を含み、対象物９から発する赤外光は、ダイクロイックビームスプリッタ３３を介して３つのカメラチップのうちの１つのみに供給される。 - 特許庁

To provide a microscope system for surgical operation which can record a plurality of pictures photographed during a surgical operation with high picture quality and reproduce the recorded images in a state very close to the observation state during the surgical operation.例文帳に追加

術中に撮影される複数の画像を高画質に記録することができ、しかも、記録画像を再生する際には術中の観察状態と極めて近い状態で再生することのできる手術用顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To easily adhere a sample on a metal mesh without breaking an organic film adhered on the mesh without breaking the sample for an electron microscope or without flying and losing the sample.例文帳に追加

本発明は、電子顕微鏡用試料を破壊したり、飛ばして紛失したりすることがなく、また金属メッシュに張られた有機膜を破ることなく、容易に金属メッシュ上に試料を張り付けることができることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a multifocal confocal Raman spectroscopic microscope capable of obtaining a planar spectrum image at a high speed and obtaining a plurality of band images at the same time without damaging a sample even in the case where the sample is a living cell.例文帳に追加

試料が生細胞である場合においても試料にダメージを与えることなく、面的なスペクトルイメージを高速に取得することができ、複数のバンドのイメージを同時に取得することができる多焦点共焦点ラマン分光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

There is used an ultrasonic microscope 1a in which ultrasonic waves are generated by using pulsed light, the generated ultrasonic waves are converged by an acoustic lens 2 and radiated to a sample 6 and the sample 6 is observed by using the reflected ultrasonic waves.例文帳に追加

パルス光を用いて超音波を発生させ、発生した超音波を音響レンズ２で収束させて試料６に照射し、試料６で反射した反射超音波を用いて、試料６を観察する超音波顕微鏡１ａを用いる。 - 特許庁

To provide a technology for cleanly removing chips with the shaving of defects by a scanning probe microscope, without being restricted even by the surface tension of adsorption water existing on the surface or static charge with friction on a sample surface.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による欠陥部削り落としに伴う切り粉が、表面に存在する吸着水の表面張力や摩擦にともなう帯電によっても試料面に拘束されることなく綺麗に除去される技術を提示する。 - 特許庁

A control section 10 obtains microscopic information on each constituting unit constituting a microscope main body 6, transmits the microscopic information and receives control information, to control the operation of each constituting unit based on the received control information.例文帳に追加

制御部１０は、顕微鏡本体６を構成する各構成ユニットに関する顕微鏡情報の取得、該顕微鏡情報の送信、及び、制御情報の受信を行い、受信した制御情報に基づいて各構成ユニットの動作を制御する。 - 特許庁

To provide a microscope equipped with a light source image detection optical system capable of reducing the light intensity of a light source image with a simple constitution without increasing the number of components, and wherein, the light source can be easily positioned with desired accuracy without causing eye strain.例文帳に追加

部品点数を増大させることなく簡易な構成で光源像の光の強度を低減可能な光源像検出光学系を備え、目に負担を招くことなく所望の精度で容易に光源の位置合わせを行うことができること。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of securing a desired length measurement accuracy by turning the pixel size of a CCD element or the size of a light spot to the size for providing at least about four pixels at all times for one edge of a fine cycle structure to be an object.例文帳に追加

ＣＣＤ素子の画素サイズ又は光スポットの大きさを、対象となる微細周期構造の１つのエッジに対して常に少なくとも４画素程度含まれる大きさにして所望の測長精度を確保できるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The orientation flat 4a of a wafer 4, being held with a wafer holding unit which can move in the stage, is magnified with a microscope to obtain an image data, measure an edge location using an image processing means, and to obtain deviation of angle θ_0 for the holding reference location L_1.例文帳に追加

ステージで移動可能なウエハ保持部に保持されたウエハ４のオリフラ４ａを、顕微鏡で拡大して、画像データを取得し、画像処理手段を用いてエッジ位置を測定し、保持基準位置Ｌ_１に対する角度ずれθ_０を求める。 - 特許庁

A cantilever 12 having a probe 12a for characteristic measurement is resonated by an exciting section 5, the vibration of the cantilever 12 is detected by a vibration detecting section 6, and AFM (Atomic Force Microscope) observation of a sample is determined based on the detection result by a control/arithmetic section 9.例文帳に追加

特性計測用プローブ１２ａが形成されたカンチレバー１２を励振部５により共振させ、カンチレバー１２の振動を振動検出部６で検出し、その検出結果に基づいて試料のＡＦＭ観察を制御・演算部９で求める。 - 特許庁

In the microscope provided with an illumination optical system 12 irradiating an object to be observed O with an illumination light L1 from a light source 12a via an opening diaphragm 12e, a light diffusion element 12f is disposed on the position of the opening diaphragm 12e.例文帳に追加

光源１２ａからの照明光Ｌ１を、開口絞り１２ｅを介して観察物Ｏに照射する照明光学系１２を備えた顕微鏡において、開口絞り１２ｅの位置に、光拡散性素子１２ｆを備える構成を採用した。 - 特許庁

To provide a forming method of an outgoing wiring, which effects the forming of leader wiring and connection to a substrate simultaneously while retaining collimation between a test piece and the substrate, and a manufacturing method of the test piece for scanning-type probe microscope to which this forming method is applied.例文帳に追加

引出配線の形成と基板との接合を同時に行い、かつ試料と基板の平行性を保持する引出配線の形成方法及びこの形成方法を適用した走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁

An image of the fluorescein ring part passed through two prisms and a microscope is captured, the deviation ΔL of two half fluorescein rings is accurately measured by image analysis, and a pressure of a measurer is controlled to make the deviation quantity ΔL less than or equal to a fixed value.例文帳に追加

２個のプリズムと顕微鏡を通過したフルオレスセインリング部の画像を取り込み、画像解析により２つの半割れフルオレスセインリングのずれ量ΔＬを正確に計測し、ずれ量ΔＬが一定値以下になるように、測圧子の押付力を制御する。 - 特許庁

To provide an electronic imaging apparatus wherein a change in color reproduction and a sense of edge emphasis is less even when the gamma characteristic is changed and deterioration in the S/N due to edge emphasis is less and to provide a microscope system employing the electronic imaging apparatus.例文帳に追加

γ特性を変化させても色再現、エッジ強調感の変化が少なく、エッジ強調によるＳ／Ｎの低下が少ない電子的撮像装置及びその電子的撮像装置を使用する顕微鏡システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which is capable of adapting the image formation of the illumination rays and rotating point of a ray deflector to the axial position of a pupil for various objective lenses and illumination wavelengths and a method for scanning a target.例文帳に追加

様々な対物レンズ及び照明波長のためのひとみの軸方向位置に対して光線偏向装置の照明光線・回転点の結像を適合することが可能である、走査顕微鏡、及び、目標物を走査するための方法を提案する - 特許庁