「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(68ページ目) - Weblio英語例文検索

In a microscope system, an exposure illuminating unit 32 has a plurality of second objective lenses in which the correction and adjustment of magnification are performed with respect to each of a plurality of objective lenses mounted on a revolver.例文帳に追加

露光照明ユニット３２は、レボルバに装着されている複数の対物レンズのそれぞれに対して倍率補正調整がなされている第２対物レンズを複数有している。 - 特許庁

An atomic force microscope 100 comprises: a cantilever support 13 for supporting a cantilever 14; and a Z scanner 12 for driving the cantilever support 13 with a height direction as a driving direction.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１００は、カンチレバー１４を支持するカンチレバー支持具１３と、高さ方向を駆動方向としてカンチレバー支持具１３を駆動するＺスキャナ１２とを備えている。 - 特許庁

To provide a probe for perpendicular scanning microscope which can supersensitively detect surface information of a sample by a nano-tube tip as a probe standing approximately perpendicular to the sample surface.例文帳に追加

探針となるナノチューブ先端が試料面に対し略垂直状に当接して試料の表面情報を高感度に検出できる垂直式走査型顕微鏡用プローブを実現する。 - 特許庁

To obtain a transmission electron microscope allowing easy interpretation of a dark-field image, capable of capturing a dynamic phenomenon occurring in a sample, and allowing observation of the dark-field image of a minute area.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡によって、暗視野像の解釈が容易で、試料で生じている動的現象を捉えることができ、且つ微小領域の暗視野像の観察を可能とする。 - 特許庁

To provide a sample holder having large convenience by reducing a time until data acquisition becomes possible in the use of an electron microscope.例文帳に追加

本発明は、電子顕微鏡の利用におけるデーター取得開始が可能になるまでの待ち時間を軽減させること可能で、大幅な利便を有する試料ホルダーを提供することを目的とする。 - 特許庁

To solve the problem that it is incapable of effectively using a light emitting diode as a light source for illumination and selecting an excitation wavelength in a conventional fluorescence measurement apparatus such as a fluorescence microscope.例文帳に追加

従来の蛍光顕微鏡等の蛍光測定装置では、発光ダイオードを照明用光源として有効に用い、且つ、励起波長の選択を行えるようにすることができない。 - 特許庁

A control circuit 15 of a microscope photographing apparatus comprises a CPU 16, an LED driving pulse generator 17 connected to the CPU 16, a memory device 18, and an AD converter 19.例文帳に追加

顕微鏡撮影装置の制御回路１５はＣＰＵ１６とＣＰＵ１６に接続されたＬＥＤ駆動パルス発生器１７、メモリ装置１８及びＡＤコンバータ１９から構成される。 - 特許庁

To provide a microscope in which an illumination head can be fixed at a predetermined position, when transmission illumination observation is performed and the illumination head can be freely turned when biased emission illumination observation is performed.例文帳に追加

本発明では、透過照明観察時には照明ヘッドを所定位置で固定し、偏射照明観察時には照明ヘッドを自由に回動することができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a recipe preparation apparatus and method for preparing a recipe for highly accurately measuring the dimension of an oblique or elongate pattern without using a scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明は、斜めや細長いパターンを高精度に寸法測定するレシピを、走査型電子顕微鏡を使用しないで作成するレシピ作成装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a wave front evaluation method applicable to various optical systems easily with a simple system, to evaluate quantitatively the flatness of a wave front, and to correct aberration in a microscope easily and surely.例文帳に追加

簡単なシステムで、容易に様々な光学系に適用することができ、波面の平坦度を定量的に評価して、容易かつ確実に顕微鏡における収差の補正を行う。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope observation sample forming method for a magnetic material which minimizes magnetic field turbulence, accompanying the sample shape and allowing observation and analysis with high precision.例文帳に追加

試料形状に伴う磁場の乱れを最小限にし、より高い精度で観察や分析が可能な、磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法の提供。 - 特許庁

To provide a microscope imaging apparatus which repeatedly obtains images at a desired photographing interval, which is capable of saving power as the whole system including a computer.例文帳に追加

所望の撮影間隔で繰り返し画像を取得する顕微鏡撮像装置であって、計算機を含むシステム全体で省電力化できる顕微鏡撮像装置を提供する。 - 特許庁

To operate a scanning electron microscope with high precision and high speed by curtailing a process for inspection position setting or an input operation or the like.例文帳に追加

本発明は、検査位置合わせに関する処理、或いは入力作業等を削減することで、高精度かつ高速に走査電子顕微鏡を稼動せしめることを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a mechanism allowing observation while maintaining eccentricity even for a sample with a dimension larger than a standard sample thickness (height) in a sample stage for a scanning electron microscope car the like.例文帳に追加

走査電子顕微鏡等用の試料ステージにおいて、標準の試料厚さ（高さ）よりも大きな寸法の試料でも、ユーセントリシティを保ちながら観察できる機構を提供すること。 - 特許庁

A cantilever for the scanning probe microscope or a sensor is manufactured by a method for molding integrally a beam, a chip and a pedestal from an arsenic-based, antimony-based or nitrogen-based 3-5 group compound semiconductor.例文帳に追加

砒素系、アンチモン系、窒素系３−５族化合物半導体でビーム+チップ+台座を一体成型する方法で走査プローブ顕微鏡用、又はセンサー用カンチレバーを製造する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope prevented from unnecessarily restricting the flexibility in a set magnification of an image focused by an electron beam spectrally diffracted by an electron spectrometer.例文帳に追加

電子分光器により分光された電子ビームにより結像される像の設定倍率の自由度に不必要な制限が加わらない透過型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an automatic preparation exchanging apparatus capable of automatically and efficiently performing a supply/exchange work of many preparations with pathologic tissue samples or the like to a microscope.例文帳に追加

病理組織等の試料の入った多数のプレパラートの顕微鏡への供給・交換作業を自動的に効率良く行うことのできるプレパラート自動交換装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope equipped with an automatic focusing device capable of easily positioning a focal position adjusting lens for adjusting the focal position of illuminating light for autofocus at a desired position on a sample.例文帳に追加

オートフォーカス用の照明光の焦点位置を調整する焦点位置調整レンズを標本の所望の位置に容易に合わせることができるオートフォーカス装置を備えた顕微鏡。 - 特許庁

To provide a method and a device for manufacturing a probe for a scanning probe microscope that can easily create the probe with a tip projection with a size of nanometer in a vacuum.例文帳に追加

ナノメートルサイズの先端突起を有する探針を真空下で簡便に作り出すことができる走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic system with camera, which acquires polarizing information and optical anisotropic information on an object to be observed by a microscope at the frame rate of an imaging device.例文帳に追加

顕微鏡で観察する対象物の偏光情報や光学異方性情報を撮像素子のフレームレートで取得することができるカメラ付き顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

A surface analysis method of an insulation material with an atomic force microscope includes performing AFM measurement by suppressing charging of the insulation material due to static electricity under high humidity environment.例文帳に追加

高湿度環境下で絶縁材料の静電気による帯電を抑制してＡＦＭ測定を行う原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法である。 - 特許庁

In the manufacturing device of a semiconductor package, an infrared microscope 50 faces a junction tool 40 with a stage 20, a mounting substrate 10 and a semiconductor package 30 therebetween.例文帳に追加

赤外線顕微鏡５０が、ステージ２０、実装基板１０、半導体パッケージ３０を挟んで、接合ツール４０と対向する状態で配設された半導体パッケージの製造装置を用いる。 - 特許庁

The photogravure plate cell shape measuring apparatus has a camera microscope 2 having a polarization angle changing means 20, and picks up a plurality of cell images at different polarization angles.例文帳に追加

グラビア版セル形状測定装置には、偏光角度変更手段２０を備えたカメラ顕微鏡２が備えられ、それぞれ異なる偏光角度で複数枚のセル画像を撮像する。 - 特許庁

To enable an electron microscope equipped with a plurality of secondary electron or reflecting electron detectors to carry out control of contrast/brightness of the plurality of detectors in one control operation.例文帳に追加

複数の二次電子若しくは反射電子検出器を持つ電子顕微鏡において、複数の検出器のコントラスト／明るさの制御をひとつの制御操作で行えるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope capable of using an ordinary objective lens for special observation, and enhancing degree of freedom in replacement of the objective lens.例文帳に追加

本発明の目的は、通常の対物レンズを特殊観察に用いることが可能であり、しかもその対物レンズの交換自由度を高めることのできる顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a positive photoresist composition giving a resist pattern with a suppressed change in line width when observed with a scanning electron microscope(SEM) in the production of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造において、得られたレジストパターンを走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）で観察したときに、線幅の変動が軽減したポジ型フォトレジスト組成物を提供すること。 - 特許庁

To shorten the time required for automatic focusing in semiconductor defect automatic review by use of an electron beam type microscope to improve throughput for observing a sample.例文帳に追加

電子線式顕微鏡を用いた半導体欠陥自動レビューにおける自動焦点合わせに要する時間を短縮することができ、試料を観察するスループットを向上させる。 - 特許庁

To provide a microchip and a microchip energization unit capable of heating a sample surely up to a prescribed temperature, and observing the sample in a recessed part for analysis by a microscope.例文帳に追加

試料を確実に所定の温度に加温できて、しかも分析用凹部内の試料を顕微鏡によって観察することが可能なマイクロチップ、マイクロチップ通電ユニットを提供する。 - 特許庁

a procedure in which a sample of blood is viewed under a microscope to count different circulating blood cells (red blood cells, white blood cells, platelets, etc.) and see whether the cells look normal. 例文帳に追加

血液サンプルを顕微鏡下で観察し、さまざまな循環血液細胞（赤血球、白血球、血小板など）の数を数えたり、細胞の外観が正常かどうかを調べる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

when these pieces of dna bind to specific genes or areas of chromosomes on the slide, they light up when viewed under a microscope with a special light. 例文帳に追加

このdnaの断片がスライドグラス上で特定の遺伝子や染色体領域と結合した場合、特殊なライトと顕微鏡を用いて観察すると、結合している部分が光って見える。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

This microscope is equipped with a coarse adjustment mechanism 410 optionally movable on an XY-plane, and a coarse stage 400 having a sample stand 430, the coarse adjustment stage 400 being placed on a frame 550.例文帳に追加

ＸＹ平面を任意に移行可能な粗動機構４００と試料台４３０を有する粗動ステージ４００を備え、この粗動ステージ４００のがフレーム５５０上に載置されている。 - 特許庁

To provide a microscope device which suppresses hysteresis caused by inertia when rotating a rotation type optical element, and rotates the optical element to an instructed position with good reproducibility.例文帳に追加

本発明では、回転型光学素子を回転させる際に慣性により生じるヒステリシスを抑え、光学素子を再現良く指示位置に回転させる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

It is preferable to set the irradiation spot of the pulse laser by setting a threshold for the thickness distribution data obtained with the microscope and setting the sample area on the sample base having the thickness over the threshold as the ionization area or by checking against a calibration curve which indicates the relation between the thickness of the sample and the mass spectrum of ions generated by laser irradiation.例文帳に追加

パルスレーザーの照射場所の設定は顕微鏡によって求められる厚さ分布データに対して閾値を設定し、当該閾値以上の厚さを有するサンプル台上の試料領域をイオン化領域として設定することにより行うか、或いは試料の厚さとレーザー照射で生じるイオンの質量スペクトルとの関係を示す検量線と照合することにより行うのが好ましい。 - 特許庁

A second configuration of the Z-direction correction means has a tilt stage capable of adjusting a tilt angle unidirectionally or bidirectionally against a reference plane of the scanning probe microscope between a sample stand and the sample, and corrects the inclination caused by the characteristic of the sample or the scanner by the tilt stage.例文帳に追加

Ｚ方向補正手段の第２の形態は、試料台と試料との間において、走査型プローブ顕微鏡の基準面に対する傾斜角度を一方向又は二方向で調整可能とする傾斜ステージを備え、この傾斜ステージによって、試料あるいはスキャナーの特性による傾斜を補正する。 - 特許庁

The optical radiation pressure measuring device, the resonance frequency regulating method, the aperture diameter inspection device and the near field microscope provided with the aperture diameter inspection device utilize that a frequency characteristic of the resonance body is changed by the optical radiation pressure P when incident light 18 is irradiated on a reflecting means 64 provided on the resonance body.例文帳に追加

共振体に設けられた反射手段６４に入射光１８を照射したときの光放射圧Ｐにより共振体の周波数特性が変化することを利用した光放射圧測定装置、共振周波数調整方法、開口径検査装置及びそれを備えた近接場光学顕微鏡 - 特許庁

The light shielding plate 140 of the scanning type confocal microscope 100 is movable (X-Y direction) within the plane perpendicular to the optical axis L of the detecting light returning from a specimen 1 and is movable back and forth in the optical axis L direction (Z direction) around a point G conjugate with the spot on the specimen 1.例文帳に追加

走査型共焦点顕微鏡１００において、遮光板１４０は、標本１かから戻ってきた検出光の光軸Ｌに垂直な面内で移動可能で（Ｘ−Ｙ方向）、かつ、標本１上のスポットと共役な点Ｇを中心に光軸Ｌ方向（Ｚ方向）に前後移動可能である。 - 特許庁

When the stylus-type prove 10 is irradiated with illumination light from a laser light source 4 through the glass substrate 20, an interference fringe appears resulting from the gap G, and the position in the X-direction of the interference fringe is detected by a microscope 2 and a CCD camera 3, to thereby measure the irregularity quantity on the sample S surface.例文帳に追加

レーザー光源４からの照明光をガラス基板２０を通して触針式プローブ１０へ照射すると、ギャップＧに起因して干渉縞が現れ、その干渉縞のＸ方向の位置を顕微鏡２とＣＣＤカメラ３で検出することにより、試料Ｓの表面の凹凸量を測定する。 - 特許庁

The image of a lymphocyte nucleus is also processed in addition to the image processing of a neutrophilic leukocyte nucleus and the image analytical result of the neutrophilic leukocyte nucleus is standardized by using an image analysis result obtained from the lymphocyte nucleus, so that image analysis prevented from the influence of coloring or the setting condition of the microscope can be executed.例文帳に追加

画像処理の対象とする好中球細胞核以外に、リンパ球細胞核も画像処理し、リンパ球細胞核から得られた画像解析結果を用いて好中球細胞核の画像解析結果を基準化することで染色や顕微鏡の設定条件に左右されない画像解析を行う。 - 特許庁

The apparatus is so constituted that the photographing information is displayed together with the observed image obtained by picking up the observed image captured into a microscope by a camera head 80 on a display element 819 of a control section 81 and that the display state of the photographing information of the observed image can be selectively varied and set, by which the desired end is attained.例文帳に追加

顕微鏡で取り込んだ観察像をカメラヘッド８０で撮像した観察画像と共に、その撮影情報を制御部８１の表示部８１９に表示して、その観察画像の撮像情報の表示状態を選択的に可変設定可能に構成し、所期の目的を達成した。 - 特許庁

The illuminator for the microscope is equipped with a plurality of laser beam sources 1 and 2, micromirror arrays (DMD) 4 and 5 respectively provided corresponding to the laser beam sources and reflecting the light beams from the laser beam sources, and light beam compositing means 10, 11, 19 and 15 compositing the light beams from the respective laser beam sources reflected by the respective micromirror arrays.例文帳に追加

複数のレーザ光源１，２と、各レーザ光源に対応して夫々設けられた、レーザ光源からの光線を反射させる微小鏡配列（ＤＭＤ）４，５と、各微小鏡配列で反射した各レーザ光源からの光線を合成する光線合成手段１０，１１、１９，１５とを備えている。 - 特許庁

The method of detecting the defects of the optically transparent member detects the existence of the refractive index discontinuity defects by using a polarization microscope, for which the area ratio for the intensity ratio of light of wavelength 650-750 nm to light of wavelength 250-650 nm is 0.4 or larger for the wavelength distribution of observation light.例文帳に追加

光透過性部材の欠陥検出方法であって、観察光の波長分布が波長２５０〜６５０ｎｍの光に対する波長６５０〜７５０ｎｍの光の強度比が面積比で０．４以上である偏光顕微鏡を用いて、屈折率不連続欠陥の有無を検出することを特徴とする欠陥検出方法。 - 特許庁

The sample holder 10 for an electron microscope loaded with a measuring target has a housing 16 having openings 28 and 28' permitting the electron beam applied to the measuring target and the detection means provided in the housing 16 to measure the position and flight time of the element dissociated from the measuring target.例文帳に追加

被測定体を搭載する電子顕微鏡用の試料ホルダ１０において、前記被測定体に照射される電子線が通過可能な開口２８、２８’を有する筐体１６と、前記筐体１６の内部に設けられ、前記被測定体から離脱した元素の位置および飛行時間を測定する検出手段とを有する。 - 特許庁

To provide an objective lens that has an electrical component incorporated therein, has an electrode that enables electrical connection with the external, to provide an external part connecting means that enables electrical connection with the electrode of the objective lens, and to provide a microscope that includes them.例文帳に追加

電気的部品を内蔵し、外部との電気的接続を可能にする電極を有する対物レンズと、この対物レンズの電極と電気的接続を可能にする外部接続手段と、これらを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The optical microscope 100 has a ring diaphragm 14 through which illuminating light from a light source 11 is made to pass in an illumination part, and a light shielding ring 17 corresponding to the ring diaphragm 14 on the rear side focal plane of a dispersion objective lens 8.例文帳に追加

光学顕微鏡１００は、照明部に光源１１からの照明光を通過させるリング絞り１４を有し、分散対物レンズ８の後ろ側焦点面にリング絞り１４に対応する遮光リング１７を有する。 - 特許庁

A microscope for intraocular observation is designed to view an eyeball as an observation object, and includes an observation optical system for observing the interior of the eye illuminated with illumination light and a filter unit 15 mounted on the lower end of a lens barrel 16.例文帳に追加

眼球を観察の対象物とするとともに、照明光が照射された眼内を観察する観察光学系を備える眼内観察用顕微鏡であって、鏡筒１６の下端部に装着されるフィルタユニット１５を備える。 - 特許庁