「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(70ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a cantilever holder which can be used under various environments, regardless of the kinds of solution and gas and which can efficiently vibrate a cantilever, and to provide a scanning probe microscope with improved measurement accuracy being equipped with the holder.例文帳に追加

溶液やガスの種類を問わず、様々な環境下で使用可能で、カンチレバーを効率的に加振可能にしたカンチレバーホルダ及びそれを備えて測定精度を向上させた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a temperature measurement probe, a temperature measurement device and a temperature measurement method using the probe, which can be used in a general-purpose scanning probe microscope device and are hardly affected by the heat deformation of samples.例文帳に追加

汎用の走査型プローブ顕微鏡装置でも使用可能で、かつ試料の熱変形の影響を受けにくい温度測定用プローブ、および前記プローブを用いた温度測定装置および温度測定方法を提供する - 特許庁

To provide a scanning probe microscope constituted so as to eliminate the replacing necessity of a scanner corresponding to an observation target or an observation purpose and capable of performing the observation from a microregion to a wide region while holding high resolving power.例文帳に追加

観察対象や観察目的に応じてスキャナを交換する必要が無く、高い分解能を保ったまま、微小領域から広域までの観察を行うことのできる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an AF device capable of automatically setting AF control information for an objective lens required for AF operation control, a microscope device with the same, and a medium for storing a control program for the AF device.例文帳に追加

ＡＦ動作制御に必要な対物レンズのＡＦ制御情報を自動で設定可能なＡＦ装置と、これを有する顕微鏡装置、及びＡＦ装置の制御プログラムを記憶する媒体を提供すること。 - 特許庁

To provide a reinforcing method and a reinforcing device enabling a carbon nanotube to strongly adhere to a probe, which adheres to a tip of the probe of a handling equipment such as a scanning probe microscope, carbon nanotube tweezers or the like.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡あるいはカーボンナノチューブピンセットなどのハンドリング機器のプローブ先端部に付着されているカーボンナノチューブをプローブに強く付着させる補強方法および補強装置を提供する。 - 特許庁

To provide a template matching method by which erroneous determination is prevented even when a ground pattern appears in extracting a pattern matched with a template from the images using a design pattern as the template, and to provide a scanning electron microscope.例文帳に追加

設計パターンをテンプレートとし、画像からテンプレートと一致するパターンを抽出するときに、画像に下地パターンが現れていても誤判断のないテンプレートマッチング方法、および走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An air bearing is introduced into a pipette rotating shaft fitted to a rotating shaft of a microscope to improve the rotational accuracy of a pipette, whereby the intracellular three-dimensional fine structure is observed with higher accuracy and quickly.例文帳に追加

顕微鏡の回転軸に取り付けられたピペット回転軸に空気軸受を導入し，ピペットの回転精度を向上させることによって，より高精度かつ迅速な細胞内3次元微細構造の観察を行う。 - 特許庁

To mount an intermediate matter such as a wavelength conversion filter on a sample lighting optical system such as a microscope and perform lighting while making good use of the characteristic and feature of the intermediate matter, when lighting a sample with a converted wavelength.例文帳に追加

顕微鏡などの試料照明用光学系に波長変換フィルタのような中間物を装着し、変換した波長で試料を照明するとき、中間物の特性、特徴を生かした照明をする。 - 特許庁

Spherical graphite particles (G2) having a cabbage like appearance formed so that the graphite chips are directed to various directions in the observation of broken-out surfaces with a microscope is manufactured by allowing raw material graphite particles to collide with each other in a fluidizing state.例文帳に追加

原料黒鉛粒子(G_1)を流動状態で衝突させて、破断面の顕微鏡観察で黒鉛切片が種々の方向に向かうキャベツ状の外観を有する球形化黒鉛粒子(G_2)を製造する。 - 特許庁

When a sample having a low reflective index on the sample surface is observed, an operator moves an optical microscope 21 along an optical axis O so as to focus an illuminating light transmitted by a half mirror 23 onto the cantilever.例文帳に追加

試料表面の反射率が低い試料を観察するときは、オペレータは、ハーフミラー２３を透過した照明光がカンチレバ上にフォーカスするように、光学顕微鏡２１を光軸Ｏ方向に沿って移動させる。 - 特許庁

This invention makes it possible to measure automatically each height of a plurality of the fine particles (9) by a combination of a control of the microscope camera (4) with a personal computer (8) and an imaging processing technology.例文帳に追加

この発明は、パーソナルコンピュータ（８）による顕微鏡カメラ（４）の制御と、画像処理技術を組み合わせることによって、複数個の微粉体（９）のそれぞれの高さを自動的に計測することを可能にする。 - 特許庁

A camera 104 images an image (phase contrast image) in a cell culture container A, which is observed by using a phase-contrast microscope for observing floating cells being cultured in the cell culture container A and acquires the image.例文帳に追加

カメラ１０４は、細胞培養容器Ａ内で培養されている浮遊細胞を観察するための位相差顕微鏡を用いて観察した細胞培養容器Ａ内の画像（位相差画像）を撮像して取得する。 - 特許庁

To provide a cover glass for a total reflection illuminating fluorescence microscope, through which the pulling capacity of an ameba in ameboid movement and the motion of motor protein in a cell can be visualized simultaneously.例文帳に追加

本発明は、アメーバ運動におけるアメーバの牽引力と細胞内におけるモーターたん白質の動きを同時に視認することを可能にした全反射照明蛍光顕微鏡用のカバーガラスを提供するものである。 - 特許庁

To satisfy a problem required so as to inexpensively and easily measure zeta potential using a microscope coming into general use for the purpose of utilizing zeta potential increased in importance by accompanying the development of surface science.例文帳に追加

界面科学の発展に伴い重要性を増しているゼータ電位の利用のため、ゼータ電位測定を、一般に普及している顕微鏡を使用し、安価に且つ手軽に測定できるようにすることが求められている。 - 特許庁

A photoirradiation heating means for irradiating the sample with IR light from a horizontal direction to a sample is arranged within a heat treatment unit 4 arranged on a state of an optical microscope 1 for observing the sample from above.例文帳に追加

試料を上方から観察する光学顕微鏡１の載置台上に配置された熱処理ユニット４内には、水平方向から試料に対して赤外光照射を行なう光照射加熱手段が配置されている。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of obtaining a confocal effect in all the directions in an observation image field by using a multi-pinhole array as an optical filtering element for obtaining the confocal effect.例文帳に追加

共焦点効果を得るための光学的フィルタリング素子としてマルチピンホールアレイを使用することにより、観察像面内のすべての方向について共焦点効果を得られる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Since illumination light reaches a ceramic substrate 12a in an uppermost layer through the groove 19, a shadow boundary X' by an outer circumferential edge X of the ceramic substrate 12a in an uppermost layer can be observed by an optical microscope.例文帳に追加

照明光は溝１９を通って最上層のセラミック基板１２ａに達するから、光学顕微鏡で最上層のセラミック基板１２ａの外周縁Ｘによる陰影境界線Ｘ’を観察することができる。 - 特許庁

To eliminate use of deposition, and improve the productivity in a preparation of a sample for a transmission electron microscope, when the thin sample which is processed and prepared by a charged particle beam is fixed to a sample holder.例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の作製において、荷電粒子ビームによって加工して作製した薄片試料を試料ホルダに固定する際に、デポジションを用いないようにすることにより生産性を向上させる。 - 特許庁

This microscope is equipped with cylindrical optical path partitions 31, 32 and 33 partitioning an observation optical path O1 near the optical axis of an objective lens from an illumination optical path for vertical dark-field O2 around the optical path O1, and realizes a vertical dark-field observation.例文帳に追加

対物レンズの光軸近傍の観察光路（Ｏ１）とその周辺の落射暗視野用照明光路（Ｏ２）とを隔てる筒状の光路隔壁（３１、３２、３３）を備えており、落射暗視野観察が可能である。 - 特許庁

To provide an acidophilic bacteria inspecting system for enabling inspection even by an inexperienced person, reducing the fatigue of an inspector, and eliminates detection omission of an acidophilic bacteria by automating the detection of acidophilic bacteria using a microscope.例文帳に追加

顕微鏡による抗酸菌検出を自動化することにより、熟練者でなくても検査を可能にし、検査者の疲労を軽減するとともに、抗酸菌の検出洩れをなくす抗酸菌検査システムを提供する。 - 特許庁

The shape of the surface of a disk 10 is captured as an image due to interference by using a differential interference microscope constituted of an optical detection head 16 and an analyser 22 and this image is converted to an electric signal by a photodiode 28.例文帳に追加

光学検出ヘッド１６〜検光子２２で構成される微分干渉顕微鏡を用いてディスク１０表面の形状を干渉による画像として捕らえ、この画像をホトダイオード２８で電気信号に変換する。 - 特許庁

To provide a sample table driving device for an atomic force microscope capable of measuring surface force of a sample to be measured with high accuracy and high resolution by controlling the movement of the sample table with high reliability and repeatability.例文帳に追加

高い信頼性及び再現性にて試料台を移動制御して試料の表面力を高精度及び高分解能で測定することができる原子間力顕微鏡の試料台駆動装置の提供。 - 特許庁

A stage 8 is horizontally moved in such a way that an immersion objective lens of an inverted fluorescence microscope may generate a horizontal trajectory 25 of a predetermined shape and size to the bottom surface of the microplate 20.例文帳に追加

倒立型蛍光顕微鏡の液浸対物レンズがマイクロプレート２０の底面に対して予め定められた形状と大きさの軌跡２５を水平方向に描くように、ステージ８を水平方向に移動させる。 - 特許庁

To provide a light source device capable of supplying light from a light source simultaneously to a plurality of optical devices including a microscope, and changing the light quantity instantly, and to provide an optical device having the light source device.例文帳に追加

顕微鏡を含む複数の光学装置に対して光源からの光を同時に供給、かつ瞬時にその光量を変更することができる光源装置と、これを有する光学装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an observation device which allows cell observation without using a conventional microscope between cells and an image sensor used for capturing the images of the cells, so as to attain cost reduction.例文帳に追加

細胞とこの細胞の画像を取得するためのイメージセンサとの間に従来利用していた顕微鏡を介在させないで、細胞の観察が可能となり、コストの低減が可能となる観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide an immersion system microscope objective in which the variations of aberrations caused by the thickness change of a cover glass or a temperature change is satisfactorily corrected even when an immersion liquid and a conventional cover glass with a high refractive index are used.例文帳に追加

高い屈折率の浸液と従来のカバーガラスとを用いた場合にも、カバーガラスの厚さ変化や温度変化に起因する諸収差の変動を良好に補正することのできる液浸系顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

To automatically image a desired evaluation point (EP) on a sample, and automatically measure a circuit pattern formed at the evaluation points, in the dimension measurement of a circuit pattern using a scanning electron microscope (SEM).例文帳に追加

走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いた回路パターンの寸法計測において、試料上の任意の評価ポイント（ＥＰ）を自動で撮像し，評価ポイントに形成された回路パターンを自動で計測することを可能にする。 - 特許庁

The microscope sample 10 has a resin-made phase body 11 having an unevenness pattern 16 of predetermined size in a predetermined shape and support members 12 and 13 which support the phase body.例文帳に追加

本発明の顕微鏡標本１０は、予め定めた形状および寸法の凹凸パターン１６を有する樹脂製の位相物体１１と、前記位相物体を支持する支持部材１２,１３とを備えたものである。 - 特許庁

In the electron source 10A used in an electron microscope 20, a field emission electron can be easily obtained in vacuum from a cathode 42 by using diamond of a work function 3.0 ev or lower for the cathode 42.例文帳に追加

電子顕微鏡２０に用いられている電子源１０Ａでは、仕事関数が３．０ｅｖ以下であるダイヤモンドを陰極部４２に用いることで、陰極部４２から真空中に電子が容易に電界放出可能となる。 - 特許庁

The inspection method includes applying a fluorescence in-situ hybridization method to suspended cells with a cell surface antigen fluorescence-stained and then observing cell nuclei with a fluorescence microscope focused on the nuclei.例文帳に追加

浮遊細胞の検査方法は、細胞表面抗原が蛍光染色された浮遊細胞を、蛍光インサイチューハイブリダイゼーション法に供し、次いで細胞の核にピントを合わせて核を蛍光顕微鏡で観察することを含む。 - 特許庁

The sample production device achieves sample production suitable for observation by a scanning electron microscope, by forming a micro irregularity every structure by focused ion beam assistant etching using assist gas for increasing the spatter yield difference for every material.例文帳に追加

材料毎のスパッタイールド差を大きくするアシストガスを利用した集束イオンビームアシストエッチングにより、構造毎の微小凹凸を形成することで、走査電子顕微鏡観察に適した試料作製を実現する。 - 特許庁

In this microscopic observation method of metallic soap particles in grease, the grease is sandwiched between the two transparent plates with a force having prescribed strength and observed by an optical microscope having differential interference or polarization function.例文帳に追加

グリース中の金属石鹸粒子の顕微鏡観察方法において、グリースを透明な２枚の板の間に所定の強度の力で挟み、微分干渉もしくは偏光機能を有した光学顕微鏡で観察する。 - 特許庁

Using a plurality of optical elements in a transmission electron microscope 500, an unscattered electron beam is adjusted to deflect to prevent incidence of the electron beam onto a contrast enhancing element 518 disposed in the diffraction plane.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡５００の複数の光学素子を用いることにより非散乱電子ビームを偏向して、回折平面に配置されたコントラスト向上素子５１８に該電子ビームが照射されないように調節する。 - 特許庁

In laser position regulation, an operator regulates a laser position regulating mechanism 27 so that laser spot is located in a proper position of the back surface of a cantilever 10 while observing the cantilever 10 through an optical microscope 29.例文帳に追加

また、レーザ位置調整時には、オペレータは、光学顕微鏡２９でカンチレバ１０を観察しながら、カンチレバ背面の適当な位置にレーザスポットが位置するように、前記レーザ位置調整機構２７を調整する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of automatically rationalizing various parameters in a measuring instrument corresponding to a cantilever and planned so as to enhance not only the efficiency of measuring work but also the stabilization and reliability of a measuring result.例文帳に追加

測定装置での各種パラメータを、カンチレバーに応じて自動的に適正化でき、測定作業の効率化、測定結果の安定化と信頼性向上を企図した走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system for operation capable of improving operation efficiency and reducing the burden of an operator by confirming a position to be observed in a part to be observed during the observation of a microscope for operation and improving operability for obtaining position information in a detected operating part space in the case of using a plurality of observing devices and treatment devices together.例文帳に追加

本発明は、手術用顕微鏡の観察中に、その観察部位において観察位置の確認が行なえるとともに、複数の観察装置、さらには処置装置を併用する際に、検出された術部空間における位置情報を得る操作性を向上させ、手術効率向上、術者の負担軽減を図ることができる手術用顕微鏡装置を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

The common sample holder for a scanning electron microscope device and a focused ion beam device is set mountable on a scanning electron microscope device with an electron beam backscatter pattern measurement function and on a focused-ion beam device with a microsampling function, and enables a crystal orientation analysis and microsampling, without having to remount a sample.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダーは、電子線後方散乱パターン計測機能を有した走査型電子顕微鏡装置と、マイクロサンプリング機能を装備した集束イオンビーム装置とに装着可能で、試料の載せ替え作業をせずに結晶方位解析とマイクロサンプリング加工が可能であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope or a sample inspection method using the scanning electron microscope which is high in reliability of an element spectrum of a sample or accuracy of quantification thereof by means of suppression of a system peak by regulating an amount of electrons scattering on an objective lens diaphragm to control electrons which deviate from a main electron beam trajectory and are irradiated beyond analysis points.例文帳に追加

本発明は対物レンズ絞り上で散乱する電子の量を制限し、主電子線軌道から外れ、分析点以外に照射される電子を制御することでシステムピークを抑制し、試料の元素スペクトルの信憑性または定量精度の高い走査電子顕微鏡または走査電子顕微鏡による試料検査方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a scanning microscope in which effect of noises on an observation image due to mechanical vibration can be reduced by fixing a coarse movement mechanism of a sample stage in order to compensate shortage of contact face pressure in slide mechanism/guide mechanism after finishing search for observation regions concerning the scanning microscope.例文帳に追加

本発明は走査型顕微鏡に関し、滑り機構・ガイド機構における当たり面圧力の不足を補うため、観察部位の探索を終了した後に、試料ステージの粗動機構を固定し、機械的振動による観察画像へのノイズの影響を低減することができる走査型顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

A unit region where the pattern is formed is detected from the acquired image of the scanning probe microscope to calculate various characteristics in the detected unit region, and the irregularity of the various characteristics in a measuring region, the correlation between respective characteristics, the two-dimensional arrangement precision of each region in the measuring region and the like are displayed to easily grasp the characteristics of the pattern.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の取得画像から、パターンを形成する単位領域の検出を行い、各検出単位領域内における各種特性を算出し、測定領域内での各種特性のばらつき、各特性間の相関、測定領域内での各領域の二次元配列精度等を表示してパターンの特性が容易に把握できるようにする。 - 特許庁

The X-ray detected by the method described above is discharged mostly from the region within the diffusion range of the incident electron in the observation sample support member, and if the diffusion range of the incident electron is controlled to about a few nm, the resolution of the scanning X-ray microscope can be not more than 10 nm which has been considered to be the theoretical limit by the conventional method.例文帳に追加

上述の手法で検知されるＸ線は、概ね、観察試料支持部材内での入射電子の拡散範囲内の領域から放出されることとなり、当該入射電子の拡散範囲を数ｎｍ程度に制御すれば、得られる走査型Ｘ線顕微鏡像の分解能は、従来の手法の理論的限界とされていた１０ｎｍ以下とすることが可能となる。 - 特許庁

The amount of scanning and the amount of interval control are controlled in such a way that the relative velocity between the probe and the sample in the direction of the surface of the sample may be constant in the probe scanning control device, scanning probe microscope, working device, probe scanning control method, measuring method, and working method for detecting information on the sample by relatively scanning the sample with the probe.例文帳に追加

探針を試料に対し相対走査して該試料上の情報を検出するプローブの走査制御装置、走査型プローブ顕微鏡、加工装置、およびプローブの走査制御方法、測定方法、加工方法において、前記試料表面方向において探針と試料とのなす相対速度が一定となるように、走査量と間隔制御量を制御するように構成する。 - 特許庁

A microscopic observation method for observing an observation object by an optical microscope is provided for performing the steps including: a thin film-forming step of forming a thin film at least absorbing or scattering light on a surface of the observation object containing a plurality of types of constituent materials to thereby prepare an observation sample; and an observing step of observing the observation sample by the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡によって観察対象物を観察するための顕微観察方法であって、複数種の構成材料を含む観察対象物の表面に少なくとも光を吸収又は散乱する薄膜を形成する薄膜形成工程を実施することにより観察用試料を作製し、さらに、該観察用試料を光学顕微鏡によって観察する観察工程を実施する顕微観察方法を提供する。 - 特許庁

The probe of the scanning heat microscope comprises a cantilever, a first conductive layer formed in the cantilever, an insulating layer formed on the first conductive layer and having a hole, a second conductive layer formed on the surface of the insulating layer, a thermocouple, and a carbon nanotube installed at an end of the thermocouple.例文帳に追加

本発明に係る走査型顕微鏡のプローブは、カンチレバーと、該カンチレバーに形成される第一導電層と、該第一導電層に形成され、穴が設けられる絶縁層と、該絶縁層の表面に形成される第二導電層と、熱電対と、該熱電対の端部に設置されるカーボンナノチューブと、を含む。 - 特許庁

A comparison arithmetic section 82 compares data of the insertion states of an endoscope 35 and a bipolar 37 relative to the microscope observing field calculated by a WS33 with data of the position of the display prohibition region which is set by the setting region recording section 81, so as to supply the comparison result to the first input side of an image control section 83.例文帳に追加

比較演算部８２は、ＷＳ３３が算出した顕微鏡観察視野に対する内視鏡３５及びバイポーラ３７の挿入状態のデータと、設定領域記録部８１が設定する表示禁止領域の位置のデータを比較し、この比較結果を画像制御部８３の第１の入力側に供給する。 - 特許庁