「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(67ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a stage position measuring device for an electronic microscope using a laser interference measuring machine for measuring the position of a stage, if inclinable, with high accuracy.例文帳に追加

傾斜可能なステージであっても、レーザ干渉測長器を用いて高精度のステージの位置測定を行うことができる走査電子顕微鏡等のステージ位置測定装置を実現する。 - 特許庁

To provide a microscope device in which a function assigned to an operation switch can be easily viewed without greatly displacing an eye from a sample observation state and looking at the operation switch.例文帳に追加

操作スイッチに割り当てられている機能を標本観察状態から眼を大きくずらして操作スイッチを眼視することなく容易に視認可能な顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

This test sample is observed with an optical microscope and the observed image is picked up with an image pickup element such as a CDC camera to form a sample image.例文帳に追加

次に、この試験サンプルを光学顕微鏡によって観察し、この光学顕微鏡によって観察した観察画像を、ＣＣＤカメラ等の撮像素子により撮像し、サンプル画像を生成する。 - 特許庁

To provide microscopy and a microscope capable of observing desired information of samples with an extremely high S/N ratio in a short time without having to raise the intensity of a light source.例文帳に追加

試料の所望の情報を、短時間で、しかも光源の強度を高くすることなく、極めて高いＳ／Ｎで顕微鏡観察できる顕微鏡法および顕微鏡を提供する。 - 特許庁

According to the method, a machining probe 1a (or 1b) of a scanning probe microscope, which has a vertical surface or a vertical edge and is harder than a sample material, is press-fitted into a dent measuring sample to form a dent.例文帳に追加

垂直面または垂直な稜を持った試料材質よりも硬い加工用の走査プローブ顕微鏡探針1a(または1b)を圧痕測定用の試料に押し込んで圧痕を形成する。 - 特許庁

To be able to feed or discharge various kinds of solutions or gases required for culturing cells, in a state of reduced stimulation to the cells, at a long-term observation of cells under a microscope.例文帳に追加

顕微鏡下での細胞長期観察時に、細胞培養に必要な各種の液体または気体を細胞への刺激を低減した状態で供給排出できるようにすること。 - 特許庁

To provide a microscopic optical analysis system hardly generating thermal drift of a visual field of an optical microscope even if brightness of illumination light is raised, and detecting and identifying surely even fine foreign matters or the like.例文帳に追加

照明光の輝度を上げても光学顕微鏡の視野のサーマルドリフトが生じにくく、微小な異物等も確実に検出・同定できる顕微光学分析システムを提供する。 - 特許庁

To enhance performance of a near field light recording apparatus and a near field light microscope each using a near field light generation element by enhancing optical efficiency of the near field light generation element.例文帳に追加

近視野光発生素子の光効率を向上させ、その近視野光発生素子を用いた近視野光記録装置および近視野光顕微鏡の性能を向上させる。 - 特許庁

To measure an electrical impedance along the surface rugged shape by bringing a distance between a sample and a probe close to a level common to an atomic force microscope or bringing them into contact with each other.例文帳に追加

試料・探針間の距離を原子間力顕微鏡で一般的なレベルまで接近あるいは接触させて、表面凹凸に沿った電気インピーダンスの測定を可能とする。 - 特許庁

A laser color microscope 100 includes a laser light optical system (a first optical system) 1 and a white light optical system (a second optical system) 2, and the optical systems have a common objective lens 17.例文帳に追加

レーザカラー顕微鏡）１００は、レーザ光光学系（第１光学系）１と白色光光学系（第２光学系）２とを含み、これらは共通の対物レンズ１７を有する。 - 特許庁

To provide an information processing apparatus, position control method, and program for controlling the position of an object to be operated, such as a stage in a microscope system, using a pointing device, and to provide a storage medium therefor.例文帳に追加

ポインティング・デバイスを用いて、顕微鏡システムにおけるステージなどの操作対象を位置制御する情報処理装置、位置制御方法、プログラムおよび記録媒体を提供すること。 - 特許庁

To provide a charged particle microscope device capable of detecting a signal at the time when a charged state of an observation sample or an electrostatic state of a defect part becomes optimal, and to provide a control method of a charged particle beam.例文帳に追加

観察試料又は欠陥部の帯電状態が最適になった時点で信号検出をできる荷電粒子顕微鏡装置及び荷電粒子ビーム制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope of a simple structure, in which a part being scanned is reduced in weight and a light beam follows a cantilever, depending on the bending deformation of a tubular piezoelectric body.例文帳に追加

走査される部分が軽量化された、円筒型圧電体の湾曲変形に応じて光ビームがカンチレバーを追従する簡単な構成の走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope having a dark field lighting device by which an examinee can be irradiated with the light emitted by a light source with high efficiency an lighting unevenness can be reduced.例文帳に追加

光源から出射された光を高効率で被検体に照射することができ、しかも照明むらの少ない暗視野照明装置を有する実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of obtaining precise measurement data by eliminating noise component characteristically arises only in specific scanning direction of the measurement device.例文帳に追加

測定データから測定装置の一定の走査方向にのみ特有に出現するノイズ成分を除去し、精度の高い測定データを得られる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which has a spatial resolution greatly beyond a wavelength limit, being able to obtain a high resolution even by using the light in a visible range, and having a wide range of choice on observable objects.例文帳に追加

波長限界を大きく超えた空間分解能を有し、可視域の光を利用しても高い分解能が得られ、観測可能な対象の選択肢も広い顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A replica of a skin surface state is sampled (step 10) and is measured by using a confocal microscope so as to obtain three-dimensional shape measurement data of the replica (step 11).例文帳に追加

皮膚表面状態を採取したレプリカを採取し（ステップ１０）、これを共焦点顕微鏡を用いて計測することによりレプリカの三次元形状計測データを求める（ステップ１１）。 - 特許庁

To optimize easily various parameters for extracting the line edge shape of a pattern with high precision and over a wide range in a semiconductor device inspection process using a scanning type microscope.例文帳に追加

走査型顕微鏡を用いた半導体装置検査工程においてパターンのラインエッジ形状を高精度で広範囲に渡って抽出するための各種パラメータを簡便に最適化する。 - 特許庁

The zoom microscope includes a replaceable infinity correction objective lens 11, an aperture stop 12, an afocal zoom system 13, and an imaging optical system 14 which are arranged in this order from a specimen 10A side.例文帳に追加

標本１０Ａの側から順に、交換可能な無限遠補正型の対物レンズ１１と、開口絞り１２と、アフォーカルズーム系１３と、結像光学系１４とを配置する。 - 特許庁

To provide a surgical microscope which allows to diagnose pathologically even a tumor tissue as being undistinguishable by preoperative imaging diagnosis and can efficiently provide an operator with the pathological diagnosis result.例文帳に追加

術前の画像診断で判別できない腫瘍組織の病理診断を可能にし、この病理診断結果を術者へ効率的に提示可能な手術用顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a controller for a microscope constituted so that the arrangement of a switch and a handle can be changed suitable for a left-handed user instead of a right-handed user and having high flexibility in terms of operability.例文帳に追加

スイッチやハンドルの配置を右利き検者用の配置から左利き検者用の配置に変更可能で操作性の自由度が大きな顕微鏡用制御コントローラ装置を提供する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided with a rough moving stage 400 having a coarse moving mechanism optionally movable on XY-plane and a sample base 430, the rough moving stage 400 is placed on a frame 550.例文帳に追加

ＸＹ平面を任意に移行可能な粗動機構４００と試料台４３０を有する粗動ステージ４００を備え、この粗動ステージ４００のがフレーム５５０上に載置されている。 - 特許庁

To provide a focal point maintenance device configured to reduce affection of stray light by monitoring the stray light and performing a signal processing when maintaining and controlling a focal point, and a microscope device.例文帳に追加

迷光をモニタし、焦点維持制御時に信号処理を行うことで迷光の影響を低減するように構成された焦点維持装置、及び、顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The sample stage 3 of this scanning probe microscope has a base 13, a moving block 15, a rotary bolt 17, a first pressing plate 19, a second pressing plate 21 and four fixing bolts 23.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の試料台３は、基台１３と、可動ブロック１５と、回転ボルト１７と、第一押さえ板１９と、第二押さえ板２１と、４本の固定ボルト２３とを備えている。 - 特許庁

To provide an information processor for avoiding a risk for missing a to-be-observed object observed by a user using a microscope, an information processing method, and a program of the same.例文帳に追加

ユーザによる顕微鏡での観察対象物の見落としの危険性を回避できるようにするための情報処理装置、情報処理方法及びそのプログラムを提供すること。 - 特許庁

The microscope 10 is provided with a light source unit 16 having a visible ray source emitting visible rays, a UV ray source emitting UV rays, and an IR ray source emitting IR rays.例文帳に追加

顕微鏡１０は、光源ユニット１６、可視光を発する可視光源と、紫外線を発する紫外光源と、赤外線を発する赤外光源とを有する光源ユニット１６を備える。 - 特許庁

To perform wide area irradiation of a light flux of a long wavelength onto a sample and spot-irradiation of a light flux of a short wavelength from the same light source regarding a microscope device.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡装置に関し、同一の光源からの長波長の光束を試料に広域照射し短波長の光束をスポット照射することを目的とする。 - 特許庁

To easily carry out excellent phase contract observation in accordance with the size of a subject without using a complicatedly constructed phase plate or an object lens in a phase contrast microscope.例文帳に追加

位相差顕微鏡において、複雑な構成の位相板や対物レンズを用いることなく被検体の大きさに対応して、容易に良好な位相差観察を行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a plurality of electrically independent probes, capable of operating a micro-material having the size below 100 nm, and electric measurement thereof.例文帳に追加

電気的に独立した複数のプローブを有し、１００ｎｍ以下程度の微小な物質の操作を可能とし、かつ電気測定を可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This invention relates to the double confocal scanning type microscope having an irradiation beam passage 2 of at least one light source 3 and a detection beam passage 4 of at least one detector 5.例文帳に追加

本発明は、少なくとも１つの光源（３）の照射ビーム経路（２）と、少なくとも１つの検出器（５）の検出ビーム経路（４）と、を有する二重共焦点走査型顕微鏡に関する。 - 特許庁

To provide a scanning optical microscope having an optical system for detection which can exactly guide the light from a specimen to a confocal diaphragm and is low in cost and small in size.例文帳に追加

本発明は、標本からの光を正確に共焦点絞りに導くことができ、しかも価格的に安価で小型な検出光学系を有する走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a particle-optical microscope capable of suppressing signal loss between a scintillator and a photomultiplier tube and an excessive electrical current resulting from largeness of the photomultiplier tube.例文帳に追加

粒子光学顕微鏡において、光電子増倍管が大きい結果生じるシンチレータと光電子増倍管との間での信号損失、及び、過剰に流れる電流を抑制する。 - 特許庁

To provide an illuminator for a microscope capable of efficiently illuminating a sample even by using a laser beam which is not linearly polarized light, and illuminating the sample simultaneously with a plurality of laser beams having different wavelength.例文帳に追加

直線偏光でないレーザを用いても効率よく照明でき、しかも波長の異なる複数のレーザ光を同時に標本に照明できる顕微鏡照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning magnetic microscope capable of accurately estimating crystal conditions or the like of a sample by irradiating a sample such as a semiconductor material with an electron beam while being scanned.例文帳に追加

電子ビームを走査させながら半導体材料などの試料に照射させ、試料の結晶状況などの評価を精度良く行ない得る走査型磁気顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope (SEM) capable of shortening a time for length measuring inspection at a deficiency analysis time by a manual work or the like, and its image display method.例文帳に追加

手作業による不具合解析時などにおける測長検査の時間短縮を図ることが可能な走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）およびその画像表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope can accurately measure a sample potential or a sample height, while preventing damages and the like by a charged-particle radiation.例文帳に追加

本発明は、電子線照射によるダメージ等を抑制しつつ、試料の電位、或いは試料高さを正確に測定することが可能な走査電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a frozen microtome and a thin leaf for observation by a microscope of tissue samples for avoiding frozen artifacts as much as possible and for easily handling the tissue samples.例文帳に追加

冷凍アーティファクツをできるだけ避けることができ、組織試料の取り扱いが容易な、冷凍ミクロトームと組織試料の顕微鏡観察用薄片の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type laser microscope device that can easily and accurately control the light intensity of laser light having a plurality of wavelengths or whose abnormal place can easily be specified.例文帳に追加

複数波長のレーザ光の光強度を簡易に正確に制御し、あるいは簡易に装置の異常箇所が特定できる走査型レ−ザ顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of varying the magnitude of probe current in one using a condenser lens formed by a permanent magnet.例文帳に追加

本発明は、永久磁石により構成されるコンデンサレンズを使用した走査電子顕微鏡において、プローブ電流の大きさを可変できる走査電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

An optical microscope 10 includes: a specimen stage 12; an imaging optical system including an objective lens 14 and an imaging lens 18; and an objective stage 16 supporting the objective lens 14.例文帳に追加

光学顕微鏡１０は、標本ステージ１２と、対物レンズ１４と結像レンズ１８を含む結像光学系と、対物レンズ１４を支持している対物ステージ１６を有している。 - 特許庁

To provide an easy-to-operate differential interference microscope, capable of moving a Nomarski prism to a desired position on an optical axis interlocked with the switching of an objective at observation of differential interference.例文帳に追加

微分干渉観察時に対物レンズの切換えに連動させてノマルスキープリズムを光軸上の所望位置に移動させることができる操作の容易な微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Hereby, four samples are formed by one-time sampling work, and size setting is performed beforehand so that the filtration region of each sample has a diameter below a visual field of a small-sized microscope.例文帳に追加

これにより、１回のサンプリング作業で４個のサンプルができ上がることになるが、各サンプルの濾過領域が、小型顕微鏡の視野以下の直径となるよう予め寸法設定しておく。 - 特許庁

To provide a quantitative analyzer for quantitatively analyzing a specific substance with high sensitivity by determining whether the photographing focus of a sample photographed by a fluorescence microscope matches a predetermined quantified value in a real time.例文帳に追加

蛍光顕微鏡で撮影した試料の撮影焦点が一致しているか否かをリアルタイムに判定し、特定物質を高感度で定量分析する定量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surgical microscope suitable for use in surgical eye procedures and providing an especially contrast-rich and detail-accurate viewing image of the surgical area for a viewer.例文帳に追加

眼の手術での使用に適していて、しかも観察者のために、手術領域の、特にコントラストに富み、かつディテールの正確な観察画像を可能にする手術顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To speed up a probe microscope for detecting changes of resonance frequencies caused by a force generated when a vibrating probe is brought close to the surface of a sample and stabilize it by reducing noise.例文帳に追加

振動させたプローブを試料表面に近づけたときに生じる力による振動周波数の変化を検出するプローブ顕微鏡の高速化、ノイズ低減による安定化。 - 特許庁